JPS5914651A - セラミツクパツケ−ジ - Google Patents
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- JPS5914651A JPS5914651A JP57124760A JP12476082A JPS5914651A JP S5914651 A JPS5914651 A JP S5914651A JP 57124760 A JP57124760 A JP 57124760A JP 12476082 A JP12476082 A JP 12476082A JP S5914651 A JPS5914651 A JP S5914651A
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- Japan
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- package
- ceramic package
- ceramic
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- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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- H01L2224/732—Location after the connecting process
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体素子を収納するためのセラミックパッケ
ージの改良に関するものである。
ージの改良に関するものである。
従来、半導体素子、特に集積回路素子を収納するための
セラミックパッケージはs1図及びs2図に示すように
セラミックから成るパッケージ基体1と蓋体2及び半導
体素子と□外部回路とを電気的に接続するための外部リ
ード端子3により構成されておラー、その内部に半導体
素子4が収納され、ガラス、樹脂等の封止部材5により
気密封止されて半導体装置が製作される。
セラミックパッケージはs1図及びs2図に示すように
セラミックから成るパッケージ基体1と蓋体2及び半導
体素子と□外部回路とを電気的に接続するための外部リ
ード端子3により構成されておラー、その内部に半導体
素子4が収納され、ガラス、樹脂等の封止部材5により
気密封止されて半導体装置が製作される。
しかし乍ら、この従来のセラミックパッケージはセラミ
ックか副衝撃性に弱いことから、セラミックパッケージ
の組立工程、輸送工程及び半導体装置製作の自動ライン
化等において、パッケージ同志の衝突が不可避であり、
該パッケージの各面角部、特暴こ端面角部A、B、U、
Dを中心として欠けやクラックが頻繁に発生12、内部
に収納する半導体素子の気密が破れ、半導体装置として
の信頼性が著しく低下するどいった欠点を有していた。
ックか副衝撃性に弱いことから、セラミックパッケージ
の組立工程、輸送工程及び半導体装置製作の自動ライン
化等において、パッケージ同志の衝突が不可避であり、
該パッケージの各面角部、特暴こ端面角部A、B、U、
Dを中心として欠けやクラックが頻繁に発生12、内部
に収納する半導体素子の気密が破れ、半導体装置として
の信頼性が著しく低下するどいった欠点を有していた。
そこでこの従来のセラミックパッケージに於ける欠けや
クラックの発生を防止するために第3図に示すようなセ
ラミックパッケージの端面を曲面状にしたもの、第4図
に示すようなセラミックパッケージの外周端面角部)に
段差を設け、且つ丸味のある二つの稜部を形成したもの
、あるいは図示していないが外周端面角部を面取り加工
したもの等、パッケージ端面に凸状部を形成したセラミ
ックパッケージが提案されている。
クラックの発生を防止するために第3図に示すようなセ
ラミックパッケージの端面を曲面状にしたもの、第4図
に示すようなセラミックパッケージの外周端面角部)に
段差を設け、且つ丸味のある二つの稜部を形成したもの
、あるいは図示していないが外周端面角部を面取り加工
したもの等、パッケージ端面に凸状部を形成したセラミ
ックパッケージが提案されている。
しかし乍ら、これらセラミックパッケージはパッケージ
同志の衝突による衝撃力が弱い場合には、凸゛状部によ
り該−一は分散弱小化され、クラックや欠けを有効に防
止し得るものの、半導体装置の大量生産に伴なう苛酷な
条件下即ち衝突が頻繁に起り、かつその衝撃力が大きい
場合には、依然としてパッケージにクラックや欠けが発
生し、半導体装置としての信頼性を低下させるという欠
点は解消され得ないものであった。
同志の衝突による衝撃力が弱い場合には、凸゛状部によ
り該−一は分散弱小化され、クラックや欠けを有効に防
止し得るものの、半導体装置の大量生産に伴なう苛酷な
条件下即ち衝突が頻繁に起り、かつその衝撃力が大きい
場合には、依然としてパッケージにクラックや欠けが発
生し、半導体装置としての信頼性を低下させるという欠
点は解消され得ないものであった。
本発明者は上記従来の欠点の解消のために、第5図及び
j86図(Al(B)に示す表裏両面の角部に鋭角部1
5を形成するように凹部16を設け、パッケージ同志の
衝突による衝撃力を半導体装置としての機能に支障を来
さない部位、即ち鋭角部15に集中させるとともに該鋭
角部15を故意に欠けさせたり、クラックを発生させた
りすることによって吸収し、半導体装置の信頼性低下に
つながるクラックや欠けの発生を有効に回避させたセラ
ミックパッケージを先に提案した。
j86図(Al(B)に示す表裏両面の角部に鋭角部1
5を形成するように凹部16を設け、パッケージ同志の
衝突による衝撃力を半導体装置としての機能に支障を来
さない部位、即ち鋭角部15に集中させるとともに該鋭
角部15を故意に欠けさせたり、クラックを発生させた
りすることによって吸収し、半導体装置の信頼性低下に
つながるクラックや欠けの発生を有効に回避させたセラ
ミックパッケージを先に提案した。
しかし乍ら、このセラミックパッケージの側端面角部E
、F同志を故意に衝突させると、該角部が直角であるこ
と番こ起因して数%の頻度で角部に欠けやクラックが発
生ずることが実験上判明した。
、F同志を故意に衝突させると、該角部が直角であるこ
と番こ起因して数%の頻度で角部に欠けやクラックが発
生ずることが実験上判明した。
そこで本発明は本発明者が先に提案したセラミックパッ
ケージにおいて側端面角部同志が衝突するという最も苛
酷な条件においても欠けやクラックか有効に回避される
セラミックパッケージを提供することをその目的とする
ものである。
ケージにおいて側端面角部同志が衝突するという最も苛
酷な条件においても欠けやクラックか有効に回避される
セラミックパッケージを提供することをその目的とする
ものである。
本発明は半導体素子を収納するセラミックパッケージの
表裏両面の角部に鋭角部を形成するように凹部を設け、
且つ前記セラミックパッケージの端面を曲面状としたこ
とを特徴とするものである。
表裏両面の角部に鋭角部を形成するように凹部を設け、
且つ前記セラミックパッケージの端面を曲面状としたこ
とを特徴とするものである。
本発明は半導体素子を2枚の平板状のセラミック体間に
収納し、ガラスにて気密封止するガラス封止形セラミッ
クパッケージや半導体素子を複数枚のセラミック生シー
トを積層し、焼結一体化したセラミック体内に収納する
積揄形セラミックパッケージ等、クラックや欠けが製品
の信頼性の曲で重大欠陥となるいかなるセラミックパッ
ケージに対しても適用可能である。
収納し、ガラスにて気密封止するガラス封止形セラミッ
クパッケージや半導体素子を複数枚のセラミック生シー
トを積層し、焼結一体化したセラミック体内に収納する
積揄形セラミックパッケージ等、クラックや欠けが製品
の信頼性の曲で重大欠陥となるいかなるセラミックパッ
ケージに対しても適用可能である。
以下、本発明を第7図乃至第9図に示すガラス封止形セ
ラミックパッケージの実施例に基づき詳細に説明する。
ラミックパッケージの実施例に基づき詳細に説明する。
第7図において11はセラミックから成るパッケージ基
体、12は同じくセラミックから成る蓋体である。
体、12は同じくセラミックから成る蓋体である。
前記パッケージ基体11と蓋体12間には、半導体素子
が収納されるとともに該半導体素子を外部回路と接続す
るための外部リード端子13が配置されており、パッケ
ージ基体11と量体12は封止用ガラス18により内部
が気密となるように接合されている。
が収納されるとともに該半導体素子を外部回路と接続す
るための外部リード端子13が配置されており、パッケ
ージ基体11と量体12は封止用ガラス18により内部
が気密となるように接合されている。
前記パッケージ基体11及び蓋体12はそれぞれ第8図
(A1. (Blに示すように、中央部に半導体素子が
収納される凹部14が形成されており、更に凹部14か
形成された面とは反対の面の角部に鋭角部25を形成す
るように略すり林状の四部26が設けである。この鋭角
部25はパッケージ基体11及び蓋体12に印加される
衝撃力を集中させて受けるとともに、該衝撃力を鋭角部
25に欠けやクラックを発生させることによって吸収し
、衝撃力が半導体素子の収納される凹部14の方向に伝
達されるのを阻止して、半導体装置の信頼性低下1こつ
ながるようなりラックや欠けの発生を有効に回避する作
用を成す。
(A1. (Blに示すように、中央部に半導体素子が
収納される凹部14が形成されており、更に凹部14か
形成された面とは反対の面の角部に鋭角部25を形成す
るように略すり林状の四部26が設けである。この鋭角
部25はパッケージ基体11及び蓋体12に印加される
衝撃力を集中させて受けるとともに、該衝撃力を鋭角部
25に欠けやクラックを発生させることによって吸収し
、衝撃力が半導体素子の収納される凹部14の方向に伝
達されるのを阻止して、半導体装置の信頼性低下1こつ
ながるようなりラックや欠けの発生を有効に回避する作
用を成す。
また、前記パッケージ基体11及び蓋体12はその端面
X、Yが曲面状を成しており、側呻面角部17はすべて
鈍角に形成されている(第9図(A1、(B)参照)。
X、Yが曲面状を成しており、側呻面角部17はすべて
鈍角に形成されている(第9図(A1、(B)参照)。
このパッケージ基体11及び蓋体12の端面X、Yを曲
面状としたことにより側端面角部17同志の衝突による
衝撃力を分散緩和させ、側端面角部17に発生するクラ
ックや欠けを有効に回避することができる。
面状としたことにより側端面角部17同志の衝突による
衝撃力を分散緩和させ、側端面角部17に発生するクラ
ックや欠けを有効に回避することができる。
前記パッケージ基体11及び蓋体12は従来周知のプレ
ス成形法により製作され、第8図及び第9図(AL T
Blに示すようなパッケージ基体又は蓋体に対応した形
状を有するプレス型内にセラミック粉体を埋入させると
とも、に一定圧力を印加して成形し、次に得られた成形
品を一定温度で焼成することにより得られる。。
ス成形法により製作され、第8図及び第9図(AL T
Blに示すようなパッケージ基体又は蓋体に対応した形
状を有するプレス型内にセラミック粉体を埋入させると
とも、に一定圧力を印加して成形し、次に得られた成形
品を一定温度で焼成することにより得られる。。
かくして、本発明のセラミックパッケージによれば半導
体装置を大量生産する際にセラミックパツケージ同志、
特に側端面角部同志が激しく衝突を繰り返すという最も
苛酷な条件においてもその衝撃力はセラミックパッケー
ジの端面か曲面状であるために緩和され、パッケージ表
裏両面の角部に形成した鋭角部を欠けさせたり、鋭角部
にクラックを発生さぜたりするだけに止まる。その結果
、衝撃力はすべて鋭角部に吸収され、半導体素子が収納
される部位方向に伝達されるのを阻止する。
体装置を大量生産する際にセラミックパツケージ同志、
特に側端面角部同志が激しく衝突を繰り返すという最も
苛酷な条件においてもその衝撃力はセラミックパッケー
ジの端面か曲面状であるために緩和され、パッケージ表
裏両面の角部に形成した鋭角部を欠けさせたり、鋭角部
にクラックを発生さぜたりするだけに止まる。その結果
、衝撃力はすべて鋭角部に吸収され、半導体素子が収納
される部位方向に伝達されるのを阻止する。
これにより半導体装置の信頼性低下につながるようなり
ラックや欠けの発生か1%以下に押えられ、セラミック
パッケージの製造歩留りの向上に寄与でき、かつ半導体
装置としての信頼性の低下が顕著に防止される。
ラックや欠けの発生か1%以下に押えられ、セラミック
パッケージの製造歩留りの向上に寄与でき、かつ半導体
装置としての信頼性の低下が顕著に防止される。
尚、・本発明は上記実施例に限定されるものではなく本
発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種々の変更は可能
である。
発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種々の変更は可能
である。
第1図は従来のセラミックパッケージを示す斜視図、第
2図は第1図の断面図、第3図(A1. (Bl及びf
fi 4図(A1. (Blは他の従来のセラミックパ
ッケージに於ける基体及び蓋体の断面図、第5図は本発
明者が先に提案したセラミックパッケージの斜視図、第
6図四囲は第5図に示すセラミックパッケージの基体及
び蓋体の断面図、第7図は本発明の一実施例を示すセラ
ミックパッケージの斜視図、第8図(A)(Blは第7
図に示すセラミックパッケージの基体及び蓋体の断面図
、第9図(A1. (Blは第7図に示す基体及び蓋体
の平面図である。 11・・・パッケージ基体、12・・・蓋体、25・・
・鋭角部、26・・・凹部、X、”Y・・・曲面状端面
特許出願人 京都セラミック株式会社 第1図 第2図 227 手続補正書(方式) 昭和57年IO月28日 特許庁長官 若杉和夫 殿 1事件の表示 昭和57年特許願第124760号 2発明の名称 セラミックパッケージ 3補正をする者 昭和57年10月7日(発送日昭和57年10月26日
)5補正の対象 [明細書の図面の簡単な説明の欄] 6禎正の内容 明細書箱7頁19行目乃至20行目に記載の「第3図(
A)、(B)及び第4図(A)、(B)Jを「第3図及
び第4図」に訂正する。
2図は第1図の断面図、第3図(A1. (Bl及びf
fi 4図(A1. (Blは他の従来のセラミックパ
ッケージに於ける基体及び蓋体の断面図、第5図は本発
明者が先に提案したセラミックパッケージの斜視図、第
6図四囲は第5図に示すセラミックパッケージの基体及
び蓋体の断面図、第7図は本発明の一実施例を示すセラ
ミックパッケージの斜視図、第8図(A)(Blは第7
図に示すセラミックパッケージの基体及び蓋体の断面図
、第9図(A1. (Blは第7図に示す基体及び蓋体
の平面図である。 11・・・パッケージ基体、12・・・蓋体、25・・
・鋭角部、26・・・凹部、X、”Y・・・曲面状端面
特許出願人 京都セラミック株式会社 第1図 第2図 227 手続補正書(方式) 昭和57年IO月28日 特許庁長官 若杉和夫 殿 1事件の表示 昭和57年特許願第124760号 2発明の名称 セラミックパッケージ 3補正をする者 昭和57年10月7日(発送日昭和57年10月26日
)5補正の対象 [明細書の図面の簡単な説明の欄] 6禎正の内容 明細書箱7頁19行目乃至20行目に記載の「第3図(
A)、(B)及び第4図(A)、(B)Jを「第3図及
び第4図」に訂正する。
Claims (1)
- (υ 半導体素子を収納するセラミックパッケージの表
裏両面の角部に鋭角部を形成するように四部を設け、且
つ前記セラミックパッケージの端面を曲面状としたこと
を特徴とするセラミ゛し゛クパッケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57124760A JPS5914651A (ja) | 1982-07-16 | 1982-07-16 | セラミツクパツケ−ジ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57124760A JPS5914651A (ja) | 1982-07-16 | 1982-07-16 | セラミツクパツケ−ジ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5914651A true JPS5914651A (ja) | 1984-01-25 |
Family
ID=14893431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57124760A Pending JPS5914651A (ja) | 1982-07-16 | 1982-07-16 | セラミツクパツケ−ジ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5914651A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005069369A1 (de) * | 2004-01-16 | 2005-07-28 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Integriertes bauelement |
-
1982
- 1982-07-16 JP JP57124760A patent/JPS5914651A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005069369A1 (de) * | 2004-01-16 | 2005-07-28 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Integriertes bauelement |
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