JPS5914135A - 焦点検出方法 - Google Patents
焦点検出方法Info
- Publication number
- JPS5914135A JPS5914135A JP12190582A JP12190582A JPS5914135A JP S5914135 A JPS5914135 A JP S5914135A JP 12190582 A JP12190582 A JP 12190582A JP 12190582 A JP12190582 A JP 12190582A JP S5914135 A JPS5914135 A JP S5914135A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- astigmatism
- objective lens
- focused
- receiving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、レーザ光における焦点検出方法に関するも
のである。
のである。
近時、レーザ光を用いた各種機器が急テンポで開発され
、また、その応用範囲も広がりつつある。
、また、その応用範囲も広がりつつある。
レーザ光を用いた機器の一つとして、例えば、光学式ビ
デオティスフのような情報再生装置が提案されている。
デオティスフのような情報再生装置が提案されている。
この光学式ビデオディスクは、ディスク状記録媒体の光
ビーム記録層へ、レーザ光を集束せしめて照射し、音声
や画像の記録あるいはコンビーータからの情報の記憶等
を行なうものである。光ビーム記録層は、アルミニウム
、テルル等の金属簿膜からなっており、同記録層にはレ
ーザ集束光がビームスポットとじて照射され、極めて高
密度の記録が可能となっている。
ビーム記録層へ、レーザ光を集束せしめて照射し、音声
や画像の記録あるいはコンビーータからの情報の記憶等
を行なうものである。光ビーム記録層は、アルミニウム
、テルル等の金属簿膜からなっており、同記録層にはレ
ーザ集束光がビームスポットとじて照射され、極めて高
密度の記録が可能となっている。
レーザ光を集束して、例えば、光ビーム記録層へ集光点
として照射する場合、集束レーザ光の最もくひれだ部分
、いわば、ビームウエストヲ光ビーム記録層面に対応一
致させる必要があり、このためにはレーザ光の焦点検出
を行なう必要がある。
として照射する場合、集束レーザ光の最もくひれだ部分
、いわば、ビームウエストヲ光ビーム記録層面に対応一
致させる必要があり、このためにはレーザ光の焦点検出
を行なう必要がある。
第１図は従来の焦点検出方法に係るレ−デ光光学装置の
一例を示しており、半導体レーザ光源１からのレーザ光
は、結合レンズ２によって平行光となり、この平行光は
偏光ビームスプリッタ３へ入射し、次いでこれから反射
した光は１／４λ波長板４および対物レンズ５を通って
、光ビーム記録層であるディスク６の面に集光する。こ
の場合、ディスク面には、例えば、巾が０５μｍ、記録
方向の長さが２乃至３７１ｍ 、深さが０．１］μｍの
ビットをもって、情報が書き適寸れるようになっており
、対物レンズ５によって集光したスポット径が略１６μ
ｍになるように、光学系が設計されている。
一例を示しており、半導体レーザ光源１からのレーザ光
は、結合レンズ２によって平行光となり、この平行光は
偏光ビームスプリッタ３へ入射し、次いでこれから反射
した光は１／４λ波長板４および対物レンズ５を通って
、光ビーム記録層であるディスク６の面に集光する。こ
の場合、ディスク面には、例えば、巾が０５μｍ、記録
方向の長さが２乃至３７１ｍ 、深さが０．１］μｍの
ビットをもって、情報が書き適寸れるようになっており
、対物レンズ５によって集光したスポット径が略１６μ
ｍになるように、光学系が設計されている。
ここで、ディスク６から反射した反射光は、再び対物レ
ンズ５によって平行光となり、この平行光は、１６λ波
長板４および偏光ビームスプリッタ３を通り、かつ、集
光レンズ７により受光部８に集光する。
ンズ５によって平行光となり、この平行光は、１６λ波
長板４および偏光ビームスプリッタ３を通り、かつ、集
光レンズ７により受光部８に集光する。
集光レンズ７と受光部８との間には７リントリカルレン
ズ９が設けられていて、このシリンドリカルレンズの作
用により、集光レンズ７からの集束光には、非点収差が
付与される。第２図は受光部８に置かれる受光素子（符
号１１で示す）を示しており、斯る受光素子１１の受光
面１１ａ、は、図に示すように、ビーム中心ＯＡに対し
て、放射状に等分に４分割された、分割受光領域Ａ、、
Ｂ、Ｃ，Ｉ）を有していて、素子１１はビーム中−００
Ａの周りに、図の如く４５度傾けて配置されている。
ズ９が設けられていて、このシリンドリカルレンズの作
用により、集光レンズ７からの集束光には、非点収差が
付与される。第２図は受光部８に置かれる受光素子（符
号１１で示す）を示しており、斯る受光素子１１の受光
面１１ａ、は、図に示すように、ビーム中心ＯＡに対し
て、放射状に等分に４分割された、分割受光領域Ａ、、
Ｂ、Ｃ，Ｉ）を有していて、素子１１はビーム中−００
Ａの周りに、図の如く４５度傾けて配置されている。
第１図において、ディスク６上に、対物レンズ５による
集光点、いわばピ〜ムウエストが存在するとき、受光素
子１１の受光面１１ａを（α）で示す、非点収差を生じ
た収束ビームのクロスオーバーポイントに位置させてお
くと、四面】１ａ上の光ビームのパターンは、第２図（
ａ）に示す如く円形となる。
集光点、いわばピ〜ムウエストが存在するとき、受光素
子１１の受光面１１ａを（α）で示す、非点収差を生じ
た収束ビームのクロスオーバーポイントに位置させてお
くと、四面】１ａ上の光ビームのパターンは、第２図（
ａ）に示す如く円形となる。
そして、互に向き合う一対の分割受光領域Ｂ、Ｄの受光
光量の総和と、今一つの分割受光領域Ａ。
光量の総和と、今一つの分割受光領域Ａ。
Ｃの受光量の総和とは相等しくなる。即ち、Ａ。
Ｂ、Ｃ，Ｄを光量の単位であるとすれば、次の如くにな
る。
る。
（Ｂ＋Ｄ）＝（Ａ十Ｃ）
一方、ディスク面が対物レンズ５によるビームの集光点
位置からはずれると、これに伴なって集光レノスフによ
る焦点位置もずれ込むことになる。
位置からはずれると、これに伴なって集光レノスフによ
る焦点位置もずれ込むことになる。
例えば、集光点に位置するディスク６の面が対物レンズ
５に近づくと、受光面１１ａ」−の受光パター／は第２
図（ｈ）に示す形状となり、光量の比較関係は次の如く
なる。
５に近づくと、受光面１１ａ」−の受光パター／は第２
図（ｈ）に示す形状となり、光量の比較関係は次の如く
なる。
（Ｂ＋Ｄ）（（Ａ十Ｃ）
他力、ディスク６が対物し／ス５から遠ざかると、受光
面１１ａ−）−の受光パターンは第２図（Ｃ）に示す形
状となり、光量の比較関係は次の如くになる。
面１１ａ−）−の受光パターンは第２図（Ｃ）に示す形
状となり、光量の比較関係は次の如くになる。
（Ｂ＋Ｄ）：＞（Ａ＋Ｃ）
即ち、一対の分割受光領域Ｂ、Ｄの受光光量の和と、今
一つの一対の分割受光領域Ａ、Ｃの受光光量の和とを相
互に比較することにより、ディスク６上の、集束ビーム
の集光状態を検出することができる。いわば、対物レン
ズ５をこの光軸方向に沿って動かし、受光素子ｌｌ上の
受光パターンが第２図（ａ）に示す形状となるようにす
れば、集光点をディスク６の面に合致させることができ
るのである。この場合、ディスク６を上記光軸方向に動
かしてもよいのであるが、対物レンズ５を動かすように
した方がより実用的である。
一つの一対の分割受光領域Ａ、Ｃの受光光量の和とを相
互に比較することにより、ディスク６上の、集束ビーム
の集光状態を検出することができる。いわば、対物レン
ズ５をこの光軸方向に沿って動かし、受光素子ｌｌ上の
受光パターンが第２図（ａ）に示す形状となるようにす
れば、集光点をディスク６の面に合致させることができ
るのである。この場合、ディスク６を上記光軸方向に動
かしてもよいのであるが、対物レンズ５を動かすように
した方がより実用的である。
ところで、従来の方法は、例えば、特公昭５３−３７７
２２号公報、特公昭５：３−３９１２３号公報に示され
るように、非点収差を与える手段として、上述したよう
な７リンドリカルレンズを用いたものであるが、かよう
なプリントリカルレンズを用いると、シリンドリカルレ
ンズ自体、高精度の加工を必要とし、経済的に高性能の
特性を得ることが困難である。
２２号公報、特公昭５：３−３９１２３号公報に示され
るように、非点収差を与える手段として、上述したよう
な７リンドリカルレンズを用いたものであるが、かよう
なプリントリカルレンズを用いると、シリンドリカルレ
ンズ自体、高精度の加工を必要とし、経済的に高性能の
特性を得ることが困難である。
本発明は、斯る従来欠点を解消することを目的とし、そ
の特徴とするところは、非点収差を与える手段として平
行平面板若しくはプリズムを用いることにある。第３図
は、本発明を実施しだレーザ光光学装置の一例を示して
いる。なお、レーザ光源１からディスク６までの光学構
成は、第１図のものと同一であり、この部分の説明は省
略する。
の特徴とするところは、非点収差を与える手段として平
行平面板若しくはプリズムを用いることにある。第３図
は、本発明を実施しだレーザ光光学装置の一例を示して
いる。なお、レーザ光源１からディスク６までの光学構
成は、第１図のものと同一であり、この部分の説明は省
略する。
・第３図に示す情報再生装置用のレーザ光光学装置は、
シリンドリカルレンズ９（第１図参照）の代りに、符号
１３で示すような形状のガラスより成る平行平面板を用
いたものであり、この平行平面板１３に対し、斜めに入
射した光束は次に述へる理論に基づき７リンドリカルレ
ンスと同様に非点収差を生じる。
シリンドリカルレンズ９（第１図参照）の代りに、符号
１３で示すような形状のガラスより成る平行平面板を用
いたものであり、この平行平面板１３に対し、斜めに入
射した光束は次に述へる理論に基づき７リンドリカルレ
ンスと同様に非点収差を生じる。
即ち、第９図において、平行平面板に斜めに光が入射す
ると、子午的光束と、球欠的光束との集光位置が異なる
ため、非点収差が生じる。この非点収差ΔＰは次のよう
な式で表わすことができる。
ると、子午的光束と、球欠的光束との集光位置が異なる
ため、非点収差が生じる。この非点収差ΔＰは次のよう
な式で表わすことができる。
たゾし、上記式中、ｄはガラスの厚さを、ｎは屈折率を
、２は入射角を 、／は出射角をそれぞれ示している。
、２は入射角を 、／は出射角をそれぞれ示している。
今、屈折率１．５のガラスを厚さ１ｏ９４にして４５°
傾けて設置すると、諸元の値は次のようになる。
傾けて設置すると、諸元の値は次のようになる。
ｄ＝１０． ｎ＝１．５． ｊ＝＝４５゜一方、
ｔは屈折の法則により２８．１３°となり、これらの諸
元を」二記式に代入すると。ΔＰは−２，６９９７とな
り、約２７ｍ／ｒｒＬの非点収差が件られることになる
。
ｔは屈折の法則により２８．１３°となり、これらの諸
元を」二記式に代入すると。ΔＰは−２，６９９７とな
り、約２７ｍ／ｒｒＬの非点収差が件られることになる
。
即ち、第３図に示す方向の焦点位置と、第４図に示す方
向、いわば第３図に対して垂直方向の焦点位置（破線上
の位置）が異なることになる。従って、第１図の従来例
に示されるようなシリンドリカルレンズを用いたときと
同様に受光素子による焦点検出機能を達成することがで
きるのである。
向、いわば第３図に対して垂直方向の焦点位置（破線上
の位置）が異なることになる。従って、第１図の従来例
に示されるようなシリンドリカルレンズを用いたときと
同様に受光素子による焦点検出機能を達成することがで
きるのである。
なお、領域が４分割された受光素子による光検知により
、例えば、第８図に示すような制御回路をもって焦点検
出ならひにトラッキングを行なうことができる。図中、
符号１５は加算器を、１６は差動アンプを、】７はトラ
ッキング用駆動回路を、１８は焦点検出用の駆動回路を
それぞれ示している。
、例えば、第８図に示すような制御回路をもって焦点検
出ならひにトラッキングを行なうことができる。図中、
符号１５は加算器を、１６は差動アンプを、】７はトラ
ッキング用駆動回路を、１８は焦点検出用の駆動回路を
それぞれ示している。
このような制御回路において、互に向き合う一対の分割
受光領域の受光量と、他の一対の分割受光領域の受光量
との差に対応する信号をもって、焦点検出がなされ、こ
の結果に基づいて、焦点検出用駆動回路１８が作動し、
対物レンズ５がこの光軸方向に駆動せしめられて自動的
に焦点が合わされる。これに対し、トラッキング補正を
行なう場合には、」−記差信号をもってトラッキングの
ずれ量を検出し、この結果に基づき、トランキング用駆
動回路１７を作動せしめ、対物レンズ５を光軸と直交す
る方向に駆動する。なお、焦点検出の場合には受光量の
差は下記の（１）式の如くになり、トラッキング補正の
場合には受光量の差は下記の（２）式％式％ （１） （２） 第５図は、半行平面板の代りに、符号１９で示すように
台形プリズムを用いた例を示すもので、入射した光が台
形プリズムの底辺で１回反射されるため、光学機能は平
行平面板と同じである。なお、このような平行平面板や
プリズムはシリンドリカルレンズと比へて加工が簡単で
あり、特に平行平面板では例えば厚さ１０ｍ′／ｍ程度
のフロートガラスでよく平面研磨を行なう必要がない。
受光領域の受光量と、他の一対の分割受光領域の受光量
との差に対応する信号をもって、焦点検出がなされ、こ
の結果に基づいて、焦点検出用駆動回路１８が作動し、
対物レンズ５がこの光軸方向に駆動せしめられて自動的
に焦点が合わされる。これに対し、トラッキング補正を
行なう場合には、」−記差信号をもってトラッキングの
ずれ量を検出し、この結果に基づき、トランキング用駆
動回路１７を作動せしめ、対物レンズ５を光軸と直交す
る方向に駆動する。なお、焦点検出の場合には受光量の
差は下記の（１）式の如くになり、トラッキング補正の
場合には受光量の差は下記の（２）式％式％ （１） （２） 第５図は、半行平面板の代りに、符号１９で示すように
台形プリズムを用いた例を示すもので、入射した光が台
形プリズムの底辺で１回反射されるため、光学機能は平
行平面板と同じである。なお、このような平行平面板や
プリズムはシリンドリカルレンズと比へて加工が簡単で
あり、特に平行平面板では例えば厚さ１０ｍ′／ｍ程度
のフロートガラスでよく平面研磨を行なう必要がない。
以」二は、レーザ光源として半導体レーザを用いだもの
であるが、この他、Ｈｅ −Ｎｅ系レーザを用いてもよ
く、第６図に示す例は、レーザ光源としてそのＨｅ −
Ｎｅ系レーザを用いたものであって、Ｈｅ−Ｎｅ系レー
ザ光源２０からの光は、集光レンズ２１の機能により焦
点位置でビームスポットとなり、このあと、偏光ビーム
スプリンタ３で反射し、１／４λ波長板４を通って対物
レンズ５によりディスク６の面に集光する。ディスク面
から反射した光は、再度、対物レンズ５，１／４λ波長
板４およヒ偏光ビームスプリンタ３を通って、この偏光
ビームスプリンタ後方の受光素子面」−に集光する。
であるが、この他、Ｈｅ −Ｎｅ系レーザを用いてもよ
く、第６図に示す例は、レーザ光源としてそのＨｅ −
Ｎｅ系レーザを用いたものであって、Ｈｅ−Ｎｅ系レー
ザ光源２０からの光は、集光レンズ２１の機能により焦
点位置でビームスポットとなり、このあと、偏光ビーム
スプリンタ３で反射し、１／４λ波長板４を通って対物
レンズ５によりディスク６の面に集光する。ディスク面
から反射した光は、再度、対物レンズ５，１／４λ波長
板４およヒ偏光ビームスプリンタ３を通って、この偏光
ビームスプリンタ後方の受光素子面」−に集光する。
偏光ビームスプリンタ３と受光素子との間には、第３図
に示す実施例と同様に平行平面板Ｉ３が設けられていて
、この平行平面板により第７図に示すように非点収差を
生じる。
に示す実施例と同様に平行平面板Ｉ３が設けられていて
、この平行平面板により第７図に示すように非点収差を
生じる。
ところで、偏光ビームスシリツタはＰ成分の光を透過し
、Ｓ成分の光を反射するようになっている。従って、レ
ーザ光源（半導体レーザ、Ｈｅ−Ｎｅレーザの双方）か
らの光は偏光しているために、Ｓ成分で反射されるよう
にその偏光ビームスプリノタを設置しである。反射した
Ｓ成分の光は、１／４λ波長板を通ることにより、円偏
光となり、ディスク而で反射することにより、位相がず
れるため、逆方向の円偏光となって町ひ１／４λ波長板
に入射する。逆方向に回転する円偏光で１／／、Ｉλ波
長板に入射した光は、Ｐ偏光の光束となり、このＰ偏光
で、偏光ビームスプリッタに入射した光は透過すること
になる。このように偏光を利用して偏光ビーノ・スプリ
ッタと１／４λ波長板とを用いることにより、効率よく
光の反射と透過を行なわせることができる。
、Ｓ成分の光を反射するようになっている。従って、レ
ーザ光源（半導体レーザ、Ｈｅ−Ｎｅレーザの双方）か
らの光は偏光しているために、Ｓ成分で反射されるよう
にその偏光ビームスプリノタを設置しである。反射した
Ｓ成分の光は、１／４λ波長板を通ることにより、円偏
光となり、ディスク而で反射することにより、位相がず
れるため、逆方向の円偏光となって町ひ１／４λ波長板
に入射する。逆方向に回転する円偏光で１／／、Ｉλ波
長板に入射した光は、Ｐ偏光の光束となり、このＰ偏光
で、偏光ビームスプリッタに入射した光は透過すること
になる。このように偏光を利用して偏光ビーノ・スプリ
ッタと１／４λ波長板とを用いることにより、効率よく
光の反射と透過を行なわせることができる。
以上本発明は、非点収差を付与するものとして、比較的
加工の簡単な平行平面板若しくはプリズムを用いる方式
の焦点検出方法であるから、この方法をレーザ光光学装
置に実施した場合、これをより簡単な低廉なものにする
ことができる。
加工の簡単な平行平面板若しくはプリズムを用いる方式
の焦点検出方法であるから、この方法をレーザ光光学装
置に実施した場合、これをより簡単な低廉なものにする
ことができる。
第１図は従来の焦点検出方法に係るレーザ光光学装置の
一例の構成図、第２図は受光素子の受光面における受光
パターンの態様を示す図、第３図は本発明の焦点検出方
法に係るレーザ光光学装置の構成図、第４図は同一ヒ装
置において非点収差が生じることを説明するだめの図、
第５図は本発明の焦点検出方法に係る別のレーザ光光学
装置の構成図、第６図は本発明の焦点検出方法に係るさ
らに別の例のレーザ光光学装置の構成図、第７図は同上
装置において非点収差が生じることを説明するだめの図
、第８図は本発明の焦点検出方法に係る対物レンズの１
駆動制御回路の一例を示す図、第９図は平行平面板が非
点収差を生じることを説明するだめの図である。 ５ 対物レンズ、 ６・ディスク、 】１ ・受光
素子、１３ 平行平面板、１９ プリズム。 ／Ｒイ （（１１ （６） 畝）（０）
一例の構成図、第２図は受光素子の受光面における受光
パターンの態様を示す図、第３図は本発明の焦点検出方
法に係るレーザ光光学装置の構成図、第４図は同一ヒ装
置において非点収差が生じることを説明するだめの図、
第５図は本発明の焦点検出方法に係る別のレーザ光光学
装置の構成図、第６図は本発明の焦点検出方法に係るさ
らに別の例のレーザ光光学装置の構成図、第７図は同上
装置において非点収差が生じることを説明するだめの図
、第８図は本発明の焦点検出方法に係る対物レンズの１
駆動制御回路の一例を示す図、第９図は平行平面板が非
点収差を生じることを説明するだめの図である。 ５ 対物レンズ、 ６・ディスク、 】１ ・受光
素子、１３ 平行平面板、１９ プリズム。 ／Ｒイ （（１１ （６） 畝）（０）
Claims (1)
- レーザ光を、対物レンズによって、記録媒体となるディ
スク面に集光点として結像せしめ、この反射光を、前記
対物レンズに通しだのち、集束せしめて集束ビームを得
、この集束ビームを、平行平面板若しくはプリズムに入
射せしめて非点収差を生ぜしめ、一方、その非点収差を
生じた集束ビームの、クロスオーバーポイント付近の光
路中に、受光面がビーム中心に対して放射状に等分に４
分割された受光素子を配置し、かつ、この受光素子へ前
記非点収差を生した集束ビーノ、を入射せしめ、互に向
き合う一対の分割受光領域の受光光量の総和と、今一つ
の、互に向き合う一対の分割受光領域の受光光量の総和
とが相等しくなるように、前記ディスク面と、対物レン
ズとの間の相対的な光学距離を補正して、前記集光点を
前記ディスク面に位置させるようにすることを特徴とす
る焦点検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12190582A JPS5914135A (ja) | 1982-07-13 | 1982-07-13 | 焦点検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12190582A JPS5914135A (ja) | 1982-07-13 | 1982-07-13 | 焦点検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5914135A true JPS5914135A (ja) | 1984-01-25 |
Family
ID=14822807
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12190582A Pending JPS5914135A (ja) | 1982-07-13 | 1982-07-13 | 焦点検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5914135A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0691531A (ja) * | 1992-07-31 | 1994-04-05 | Ngk Insulators Ltd | 砥石の目詰まり除去装置及び除去方法 |
| US6249493B1 (en) * | 1996-11-01 | 2001-06-19 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Recording or replay device and method for recognition of a focussing status |
-
1982
- 1982-07-13 JP JP12190582A patent/JPS5914135A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0691531A (ja) * | 1992-07-31 | 1994-04-05 | Ngk Insulators Ltd | 砥石の目詰まり除去装置及び除去方法 |
| US6249493B1 (en) * | 1996-11-01 | 2001-06-19 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Recording or replay device and method for recognition of a focussing status |
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