JPS59120808A - 板厚測定方法 - Google Patents
板厚測定方法Info
- Publication number
- JPS59120808A JPS59120808A JP22725782A JP22725782A JPS59120808A JP S59120808 A JPS59120808 A JP S59120808A JP 22725782 A JP22725782 A JP 22725782A JP 22725782 A JP22725782 A JP 22725782A JP S59120808 A JPS59120808 A JP S59120808A
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- Japan
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- thickness
- detector
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
- G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は，被測定体の搬送ラインに直交する方向に進退
可能に配置された放射線厚み計を用いて被測定体のエツ
ジから一定距離内側の板厚を連続的に測定する板厚測定
方法に関する。
可能に配置された放射線厚み計を用いて被測定体のエツ
ジから一定距離内側の板厚を連続的に測定する板厚測定
方法に関する。
鋼板あるいは非鉄金属などの被測定体の圧延工程におい
て，圧延中の被測定体の板厚を測定することは不可欠で
ある。
て，圧延中の被測定体の板厚を測定することは不可欠で
ある。
一般に，この種被測定体の断面形状は，第１図に示すよ
うに中心が肉厚となつている。ここで、下流側の圧延工
程を含めた品質管理上重要なことは，ボデイクラウン量
を適量に管理すること及びウエツジ量を最少に管理する
ことである。
うに中心が肉厚となつている。ここで、下流側の圧延工
程を含めた品質管理上重要なことは，ボデイクラウン量
を適量に管理すること及びウエツジ量を最少に管理する
ことである。
このボデイクラウン量は，
ウエツジ量は｜ａ−ｂ｜で夫々表わされる。
ここで，Ｃはセンターの板厚，ａ及びｂはエツジから所
定距離内側の板厚である。
定距離内側の板厚である。
例えば，目標板厚をＤとすると，第１図において，両端
部ｅは規格外れとなるため，最終板幅ｗの歩留向上のた
めには， の位置の板厚を測定し，圧延量を制御する必要がある。
部ｅは規格外れとなるため，最終板幅ｗの歩留向上のた
めには， の位置の板厚を測定し，圧延量を制御する必要がある。
ところで，被測定体１０は，第２図に示すように，不規
則に斜行搬送される。このため，厚み計２２の前段に被
測定体１０の先端のエツジ位置を検出する先端位置検出
器２１を配置するとともに厚み計２２の先端位置検出器
２１側にエツジ検出器２３を配置し，前記厚み計２２の
位置制御を行なつている。
則に斜行搬送される。このため，厚み計２２の前段に被
測定体１０の先端のエツジ位置を検出する先端位置検出
器２１を配置するとともに厚み計２２の先端位置検出器
２１側にエツジ検出器２３を配置し，前記厚み計２２の
位置制御を行なつている。
この両検出器２１，２３は，前記被測定体１０の搬送方
向に対して直交するように配置され，被測定体１０のエ
ツジ位置を検出するものである。
向に対して直交するように配置され，被測定体１０のエ
ツジ位置を検出するものである。
まず，この検出器２１からのエツジ位置信号により，前
記厚み計１０は，その測定中心が被測定体１０のエツジ
通過位置となる位置近傍に位置するように移動し，被測
定体１０の到来を待つ。この状態で，被測定体１０が到
来すると，前記エツジ検出器２３により被測定体１０の
エツジが検出される。以後，このエツジ検出器２３がエ
ツジ位置を常に監視する。そして，前記厚み計２２は，
この検出器出力に応じて，所定速度ｖでラインに対し垂
直方向に移動し，その測定中心が常に被測定体１０のエ
ツジから一定距離内側に対向するように制御される。
記厚み計１０は，その測定中心が被測定体１０のエツジ
通過位置となる位置近傍に位置するように移動し，被測
定体１０の到来を待つ。この状態で，被測定体１０が到
来すると，前記エツジ検出器２３により被測定体１０の
エツジが検出される。以後，このエツジ検出器２３がエ
ツジ位置を常に監視する。そして，前記厚み計２２は，
この検出器出力に応じて，所定速度ｖでラインに対し垂
直方向に移動し，その測定中心が常に被測定体１０のエ
ツジから一定距離内側に対向するように制御される。
すなわち，前記エツジ検出器２３は，前記被測定体１０
のエツジがその測定範囲から外れた場合に 前記厚み計
２２に移動開始信号を供給するとともにその測定範囲内
にエフジが位置している場合には厚み計２２に停止信号
を供給するものである。
のエツジがその測定範囲から外れた場合に 前記厚み計
２２に移動開始信号を供給するとともにその測定範囲内
にエフジが位置している場合には厚み計２２に停止信号
を供給するものである。
このようにエツジ検出器
２３により厚み計２２をオンオフ制御しているため，信
号応答遅れの問題があり，被測定体１０の走行速度を下
げるか，厚み計２２の移動速度を速くするか，あるいは
エツジ検出器２３と厚み計２２との間に相当の距離を置
くかがその対策として考えられている。
号応答遅れの問題があり，被測定体１０の走行速度を下
げるか，厚み計２２の移動速度を速くするか，あるいは
エツジ検出器２３と厚み計２２との間に相当の距離を置
くかがその対策として考えられている。
しかしながら，第１の対策に対しては，ライン稼動率低
下という致命的な欠点があり，第２の対策に対しては，
厚み計２２の重量が５から６ドンもあり自づと限界があ
り，さらに第３の対策に対しては，エツジ検出位置から
厚み計２２へ致る間の被測定体１０の位置変化に対応で
きないという欠点がある。
下という致命的な欠点があり，第２の対策に対しては，
厚み計２２の重量が５から６ドンもあり自づと限界があ
り，さらに第３の対策に対しては，エツジ検出位置から
厚み計２２へ致る間の被測定体１０の位置変化に対応で
きないという欠点がある。
さらに，被測定体１０が斜行搬送されているため，その
エツジは僅かな時間べ前記エフジ検出器２３の検出範囲
から外れることになる。このことはオンオフ制御が頻繁
に行なわれることを意味し，よつて厚み計２２の駆動系
の摩耗損失が激しい。
エツジは僅かな時間べ前記エフジ検出器２３の検出範囲
から外れることになる。このことはオンオフ制御が頻繁
に行なわれることを意味し，よつて厚み計２２の駆動系
の摩耗損失が激しい。
本発明は，上記点に対応して成されたもので，エツジ追
従精度を向上させた板厚測定方法を提供するものである
。
従精度を向上させた板厚測定方法を提供するものである
。
本発明は，被測定体の搬送ラインに直交する方向に進退
可能に配置された放射線厚み計の上流側にエツジ傾斜検
出器を配置し，このエツジ傾斜検出器により搬送ライン
の基準線からのエツジの始端垂直位置及びその基準線と
直交する方向へのエツジ移動速度を検出し，このエツジ
傾斜検出器からのエツジの始端垂直位置信号により前記
放射線厚み計をそのエツジ始端通過位置へ移動させて待
機させ，被測定体が放射線厚み計の測定位置へ到来した
際，前記エツジ傾斜検出器からのエツジ移動速度信号に
基づき前記放射線厚み計を被測定体のエツジに追従させ
て，被測定体のエツジから一定距離内側の板厚を連続的
に測定する方法である。
可能に配置された放射線厚み計の上流側にエツジ傾斜検
出器を配置し，このエツジ傾斜検出器により搬送ライン
の基準線からのエツジの始端垂直位置及びその基準線と
直交する方向へのエツジ移動速度を検出し，このエツジ
傾斜検出器からのエツジの始端垂直位置信号により前記
放射線厚み計をそのエツジ始端通過位置へ移動させて待
機させ，被測定体が放射線厚み計の測定位置へ到来した
際，前記エツジ傾斜検出器からのエツジ移動速度信号に
基づき前記放射線厚み計を被測定体のエツジに追従させ
て，被測定体のエツジから一定距離内側の板厚を連続的
に測定する方法である。
以下，本発明の一実施例につき，第３図乃至第８図を参
照して説明する。
照して説明する。
ます，第３図を用いて本発明を実施するための構成を説
明する。
明する。
３０は放射線厚み計で，被測定体１０の搬送ラインに直
交して敷設されたレール３２上に車輪３１を介して移動
可能に載置されている。
交して敷設されたレール３２上に車輪３１を介して移動
可能に載置されている。
また，この放射線厚み計３０の先端は，コ字状に形成さ
れ，その下辺部３４及び上辺部３３の夫々対向する位置
には，放射線例えばＸ線３５を放出するＸ線源（図示し
ない）及びそのＸ線３５を検出するＸ線検出器（図示し
ない）が配置されている。この上下辺部３３，１４の間
隔及び各位置は，前記被測定体１０の搬送ラインへの進
入及び搬送ラインからの退出に支障なく，しかもそれら
の間に被測定体１０が位置するように選定されている。
れ，その下辺部３４及び上辺部３３の夫々対向する位置
には，放射線例えばＸ線３５を放出するＸ線源（図示し
ない）及びそのＸ線３５を検出するＸ線検出器（図示し
ない）が配置されている。この上下辺部３３，１４の間
隔及び各位置は，前記被測定体１０の搬送ラインへの進
入及び搬送ラインからの退出に支障なく，しかもそれら
の間に被測定体１０が位置するように選定されている。
また，この下辺部３４の搬送ライン前段側には，搬送ラ
インに直交するように配置された細長い光源３６が取着
されている。また，この光源３６と対向する前記上辺部
３３には，前記光源３６から光線を受ける受光器３７が
取着されている。この受光器３７は，例えば複数の団体
受光素子を前記光源３６に対向し一直線上に配置して構
成されている。この受光器３７及び光源３６は，被測定
体１０のエツジ検出器３８を形成している。このエツジ
検出器３８は，その間を被測定体１０が通過する際，そ
のエツジ位置及び移動速度を検出するものである。
インに直交するように配置された細長い光源３６が取着
されている。また，この光源３６と対向する前記上辺部
３３には，前記光源３６から光線を受ける受光器３７が
取着されている。この受光器３７は，例えば複数の団体
受光素子を前記光源３６に対向し一直線上に配置して構
成されている。この受光器３７及び光源３６は，被測定
体１０のエツジ検出器３８を形成している。このエツジ
検出器３８は，その間を被測定体１０が通過する際，そ
のエツジ位置及び移動速度を検出するものである。
また，４０は前記厚み計３０より前段に配置されたエツ
ジ傾斜検出器である。このエフジ傾斜検出器４０は，前
記エツジ検出器３８と同様搬送ラインを挟んで対向配置
された光源４１と受光器４２とより構成されている。す
なわち，この光源４１は，搬送ラインに直交する細長い
光線を放出するものである。また，受光器４２は，複数
の固体受光素子を一直線上に配置して構成され，前記光
源４１に対向するとともに搬送ラインに直交するように
設置されている。
ジ傾斜検出器である。このエフジ傾斜検出器４０は，前
記エツジ検出器３８と同様搬送ラインを挟んで対向配置
された光源４１と受光器４２とより構成されている。す
なわち，この光源４１は，搬送ラインに直交する細長い
光線を放出するものである。また，受光器４２は，複数
の固体受光素子を一直線上に配置して構成され，前記光
源４１に対向するとともに搬送ラインに直交するように
設置されている。
このエツジ傾斜検出器４０及び前記エツジ検出器３８は
，制御部５０に接続されている。５１、５２は接続ケー
ブルである。
，制御部５０に接続されている。５１、５２は接続ケー
ブルである。
この制御部５０は，両者４０，３８からの信号を受け，
前記放射線厚み計３０の位置制御を行なうものである。
前記放射線厚み計３０の位置制御を行なうものである。
この制御部５０での位置制御につき，以下第４図乃至第
８図を参照して説明する。
８図を参照して説明する。
まず，第４図（Ａ）は，一つの被測定体１０の測定が終
了し，次の被測定体１０が前記エツジ傾斜検出器４０に
到来する以前の状態を示している。この状態で，放射線
厚み計３０には，待機位置への復帰信号Ｓａが供給され
る。そして，この厚み計３０は，Ｖ１の速度で矢印方向
すなわち搬送ラインから退出する方向へ高速で移動し，
同図（Ｂ）の位置で待期状態となる。この待機状態での
厚み計３０の測定点Ｏは，被測定体１０が基準線すなわ
ち被測定体１０のガイド１１に沿つて走行してきた場合
，そのエツジから一定距離Ｌ１内側となつている。
了し，次の被測定体１０が前記エツジ傾斜検出器４０に
到来する以前の状態を示している。この状態で，放射線
厚み計３０には，待機位置への復帰信号Ｓａが供給され
る。そして，この厚み計３０は，Ｖ１の速度で矢印方向
すなわち搬送ラインから退出する方向へ高速で移動し，
同図（Ｂ）の位置で待期状態となる。この待機状態での
厚み計３０の測定点Ｏは，被測定体１０が基準線すなわ
ち被測定体１０のガイド１１に沿つて走行してきた場合
，そのエツジから一定距離Ｌ１内側となつている。
さて、この状態で第５図（Ａ）に示すようように，被測
定体１０が前記エツジ傾斜検出器４０位置へ到来すると
，この検出器４０から前記制御部５０へ被測定体１０の
エツジ信号が供給される。すなわち，この検出器４０か
らは，エツジの位置信号が出力される。この位置信号を
受けた制御部５０は，エツジの傾斜角度及び移動速度を
計算し，前記厚み計３０に傾斜信号Ｓａ及び速度信号Ｓ
ｂを供給する。
定体１０が前記エツジ傾斜検出器４０位置へ到来すると
，この検出器４０から前記制御部５０へ被測定体１０の
エツジ信号が供給される。すなわち，この検出器４０か
らは，エツジの位置信号が出力される。この位置信号を
受けた制御部５０は，エツジの傾斜角度及び移動速度を
計算し，前記厚み計３０に傾斜信号Ｓａ及び速度信号Ｓ
ｂを供給する。
これらの信号を受けた厚み計３０は，まず，速度Ｖ１で
ライン方向に移動し，被測定体１０が通過する際，その
測定点Ｏがエツジから一定距離ｌ１内側に対向する位置
で停止する（第５図（Ｂ）図示）。
ライン方向に移動し，被測定体１０が通過する際，その
測定点Ｏがエツジから一定距離ｌ１内側に対向する位置
で停止する（第５図（Ｂ）図示）。
そして，この厚み計３０は，その測定点Ｏに被測定体１
０が到来すると，前記傾斜信号Ｓａ及び速度信号Ｓｂか
ら得られる被測定体１０のエツジの移動軌跡に従つて，
第６図（Ａ）に示すように所定速度Ｖ２で移動する。な
お，この直前に被測定体１０のエツジは，前記エツジ検
出器３８で検出される。このエツジ検出器３８で検出さ
れたエツジ信号は，制御部５０に供給さる。この制御部
５０は，エツジ位置及び移動速度の補正信号Ｓｅ，Ｓｄ
を前記厚み計３０へ供給する。
０が到来すると，前記傾斜信号Ｓａ及び速度信号Ｓｂか
ら得られる被測定体１０のエツジの移動軌跡に従つて，
第６図（Ａ）に示すように所定速度Ｖ２で移動する。な
お，この直前に被測定体１０のエツジは，前記エツジ検
出器３８で検出される。このエツジ検出器３８で検出さ
れたエツジ信号は，制御部５０に供給さる。この制御部
５０は，エツジ位置及び移動速度の補正信号Ｓｅ，Ｓｄ
を前記厚み計３０へ供給する。
したがつて，厚み計３０は，前記エツジ傾斜検出器４０
及びエツジ検出器３８からの信号に基づき，被測定体１
０のエツジに治つて移動する。特に，被測定体１０が，
その速度及び傾斜角度を大きく変化させない限り，すな
わち，その測定許容範囲外とならなければ，厚み計３０
は，第７図（Ａ），（Ｂ）に示すように，移動速度Ｖ２
で被測定体１０のエツジから一定距離ｌ１内側の板厚を
正確に測定することになる。この際、従来のように厚み
計３０の駆動系を頻繁にオンオフ制御する必要がないと
いう効果を有する。
及びエツジ検出器３８からの信号に基づき，被測定体１
０のエツジに治つて移動する。特に，被測定体１０が，
その速度及び傾斜角度を大きく変化させない限り，すな
わち，その測定許容範囲外とならなければ，厚み計３０
は，第７図（Ａ），（Ｂ）に示すように，移動速度Ｖ２
で被測定体１０のエツジから一定距離ｌ１内側の板厚を
正確に測定することになる。この際、従来のように厚み
計３０の駆動系を頻繁にオンオフ制御する必要がないと
いう効果を有する。
また，被測定体１０が第８図（Ａ）（Ｂ）に示すように
，その傾斜角度が大きく変化し，厚み計３０の測定点Ｏ
から大きくずれた場合には，まずエツジ検出器３８がそ
の変化を検出する。そして，この検出信号を受けた制御
部５０は，前記厚み計３０に高速移動信号Ｓｅ１，Ｓｅ
２を供給する。したかつて，厚み計３０は，高速で被測
定体１０のエツジから距離ｌ１内側の板厚を測定すべく
移動する。以後，同様にエツジに沿つて移動し，所定位
置ｌ１の板厚を連続して測定する。
，その傾斜角度が大きく変化し，厚み計３０の測定点Ｏ
から大きくずれた場合には，まずエツジ検出器３８がそ
の変化を検出する。そして，この検出信号を受けた制御
部５０は，前記厚み計３０に高速移動信号Ｓｅ１，Ｓｅ
２を供給する。したかつて，厚み計３０は，高速で被測
定体１０のエツジから距離ｌ１内側の板厚を測定すべく
移動する。以後，同様にエツジに沿つて移動し，所定位
置ｌ１の板厚を連続して測定する。
なお，エツジ傾斜検出器４０を多段に設置すれば，被測
定体１０の位置変化をより適確に知ることが可能となる
。
定体１０の位置変化をより適確に知ることが可能となる
。
本発明は，このように被測定体のエツジ位置信号にもと
づき，予め被測定体の所定位置に移動し，被測定体の到
来時点からそのエツジの移動軌跡に沿つて移動するよう
に厚み計を位置制御して板厚を測定するようにしたので
，従来のように頻繁に厚み計をオンオフ制御する必要が
なく，厚み計の駆動系の寿命を長持ちさせることができ
るとともに応答時間遅れの問題もなく，信頼性の高い板
厚データを得ることができるなどの効果を奏する。
づき，予め被測定体の所定位置に移動し，被測定体の到
来時点からそのエツジの移動軌跡に沿つて移動するよう
に厚み計を位置制御して板厚を測定するようにしたので
，従来のように頻繁に厚み計をオンオフ制御する必要が
なく，厚み計の駆動系の寿命を長持ちさせることができ
るとともに応答時間遅れの問題もなく，信頼性の高い板
厚データを得ることができるなどの効果を奏する。
第１図は被測定体の側面図，第２図は従来の板厚測定方
法の説明図，第３図乃至第８図は本発明の板厚測定方法
を説明するためのもので，第３図は本発明方法を実施す
るための装置の概略構成を示す斜視図，第４図乃至第８
図は夫々被測定体の各走行時点での作用を説明するため
の図である。 １０：被測定体 １１：ガイド ３０：厚み計 ３８：エツジ検出器 ４０：エツジ傾斜検出器 ５０：制御部
法の説明図，第３図乃至第８図は本発明の板厚測定方法
を説明するためのもので，第３図は本発明方法を実施す
るための装置の概略構成を示す斜視図，第４図乃至第８
図は夫々被測定体の各走行時点での作用を説明するため
の図である。 １０：被測定体 １１：ガイド ３０：厚み計 ３８：エツジ検出器 ４０：エツジ傾斜検出器 ５０：制御部
Claims (1)
- 被測定体の搬送ラインに直交する方向に進退可能に配置
された放射線厚み計を用いて被測定体のエツジから一定
距離内側の板厚を連続的に測定する方法において，前記
放射線厚み計の搬送ライン上流側に配置されたエツジ傾
斜検出器により搬送ラインの基準線からのエツジの始端
垂直位置及びその基準線と直交する方向へのエツジ移動
速度を検出し，このエツジ傾斜検出器からのエツジの始
端垂直位置信号により前記放射線厚み計をそのエツジ始
端通過位置へ移動させて待機させ，被測定体が放射線厚
み計の測定位置へ到来した際，前記エツジ傾斜検出器か
らのエツジ移動速度信号に基づき前記放射線厚み計を被
測定体のエツジに追従させて，被測定体のエツジから一
定距離内側の板厚を連続的に測定することを特徴とする
板厚測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22725782A JPS59120808A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 板厚測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22725782A JPS59120808A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 板厚測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59120808A true JPS59120808A (ja) | 1984-07-12 |
Family
ID=16857982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22725782A Pending JPS59120808A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 板厚測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59120808A (ja) |
-
1982
- 1982-12-28 JP JP22725782A patent/JPS59120808A/ja active Pending
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