JPS5910613B2 - 発振回路 - Google Patents

発振回路

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JPS5910613B2
JPS5910613B2 JP52086868A JP8686877A JPS5910613B2 JP S5910613 B2 JPS5910613 B2 JP S5910613B2 JP 52086868 A JP52086868 A JP 52086868A JP 8686877 A JP8686877 A JP 8686877A JP S5910613 B2 JPS5910613 B2 JP S5910613B2
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洋 小林
眞二 須田
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Mitsubishi Electric Corp
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/354Astable circuits

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、絶縁ゲート電界効果トランジスタ(以下M
OSFETと略す)で構成した、発振停止機能を持った
パルス発振回路に関するものである。
従来、この種のパルス発振回路としては、例えば第1図
に示す回路があけられる。
第1図において、11,21,22,31はPチャンネ
ル形(以下「P形」と略す)MOSFET,1 2 ,
23,24,32はNチャンネル形(以下「N形」と略
す)MOSFET、41は容量素子、42は抵抗、43
,44はダイオードである。
P形FETIIとN形FET12とはインバータ10を
、P形FET 31とN形FET32とはインバータ
30を、P形FET21,22とM形FET 23,
24とはNAND回路20を構成している。
インバータ10の出力14はN[路20の一方の入力2
5に、NM並何路20の出力26はインバータ30の入
力33にそれぞれ接続され、インバータ10の入力13
とインバータ30の出力34との間には容量素子41が
接続され、インバータ100入力13とインバータ30
の出力34との間には抵抗42が接続されている。
以下、第1図に示される回路の動作を第2図に示す各部
波形を用いて説明する。
まず、NAND回路20の一方の入力21がVDDレベ
ル(正の電源電圧)の場合を考える。
インバータ100入力13の電圧がVSSレベル(零ボ
ルト)のとき、N形FET12はオツ状態でIP形FE
T11はオン状態となり、インバータ[0の出力14の
電圧はVDDレベルとなる。
しかるに、インバータ10の出力14にNAND 回路
20の一方の入力25I/i接続されているから、P形
FET21はオフ状態になり、N形FET23はオン状
態になる。
ところで、今NAND回路20の他方の入力27即ち?
セット入力はVDDレベルであるのでP形FET22は
オフ状態となり、N形FET24はオン状態となる。
従って、NAND回路20の出力26はVSSレベルと
なり、出力26とインバータ300入力33とは接続さ
れているから、P形FET31はオン状態、N形FET
32はオフ状態になり、インバータ30の出力34はV
DDレベルとなる。
インバータ30の出力34とインバータ100入力13
とは抵抗42を介して接続されているから、容量素子4
1は抵抗42を通して充電され、インバータ10の入力
13の電圧V3は、v03=0ボルトのとき1=0とす
ると、次式で与えられるOt ここで、CおよびRはそれぞれ容量素子41の容量およ
び抵抗42の抵抗値である。
V13が上昇していき、インバータ10の遷移電圧VT
Rをこえたとき、出力14はVDDレベルからVSSレ
ベルに反転する。
そのため、P形FET21はオン状態になり、N形FE
T23はオフ状態になり、従ってNAND回路20の出
力26はVSSレベルからVDDレベルに反転し、その
電圧の変化は容量素子41を通して、インバータ10の
入力13に伝えられる。
インバータ100入力13の電圧は、VDDレベル以上
になるとダイオード43によりクリツプされるのでVI
I)となる。
一方インバータ30の入力33はVDDレベルであるの
で、P形FET31はオフ状態となり、N形FET32
はオン状態となり、インバータ30の出力34はVSS
レベルとなる。
従って、容量素子41に貯えられている電荷は抵抗42
を通して放電される。
このとき、インバータ10の入力13の電圧V13は、
v13=VDDのときの時刻を1=0とすると、次式で
表わされる。
1?のようにして、v13がVDDから
下降していき、インバータ10の遷移電圧v1以下にな
れば、インバータ10の出力14は再びVDDレベルに
なり、従ってNAND回路20の出力はVSSレベルと
なり、その電圧の変化は容量素子41を通して、インバ
ータ100入力13に伝えられる。
この人力13の電圧はVSSレベル以下になるとダイオ
ード44によりクリツプされるからV3はVSS即ちO
ボルトとなる。
一方インバータ30の入力33はVSSレベルとなった
ので出力34はVDDレベルトなる。
従って、再び抵抗42を通して容量素子41は充電され
る。
以上説明して来たことがくりかえされ発振が持続し、そ
の発振の周期Tは、v13が(1)式に従ってOボルト
からVTRになるに要する時間T1と、(2)式に従っ
てVDDからVTRになるに要する時間T2との和であ
る。
即ち次式で与えられる。
この(3)式に示すように、第1図の発振器はRあるい
はCを変化させることにより、発振周波数を変化させる
ことができる。
次に、NAND回路20の一方の入力27がVSSレベ
ルの場合を考えると、P形FET22はオン状態、N形
FET24はオフ状態であり、NAND回路20の出力
26はもう一方の入力25の電圧レベルによらずVDD
レベルとなり、発振は停止する。
ところで、第1図に示す発振器の抵抗42を可変抵抗に
し可変発振周波数を作ると、(3)式によれば抵抗値R
と発振周期との関係は第3図の直線Aに示すようになる
しかし、容量素子41の充放電はNAND回路20,容
量素子41,抵抗42及びインバータ30の経路で行わ
れるため、抵抗Rに対しNAND回路及びインバータの
出力抵抗が無視出来ない値であるとすると、発振周期T
は次式の如くなる。
ここで、Roi!:NAND回路20とインバータ30
の出力抵抗の和である。
この式において抵抗Rと発振周期Tとの関係を表わすと
第3図の直線Bに示すようになる。
いま、可変抵抗の値Rにより発振周期を定めようとする
装置を作る場合、抵抗Rが零の位置を発振周期零とし、
抵抗RXのときの発振周期をTRXとし、その間を等間
隔目盛を打ち、目盛と発振周期とを対応させるようにす
ると、目盛が零に近い方では、実際の発振周期との誤差
が大きくなる。
このことを考えると、NAND回路及びインバータの出
力抵抗の和、すなわち(4)式におけるRoを小さくす
る必要がある。
そのためには、第1図におけるFET21〜24および
31132のオン抵抗を出来るだけ小さ《する必要があ
り、従ってFETのチャネル幅を大きくする必要がある
しかるに、NAND回路20におけるN形FET23,
24は直列に接続されているため、NAND回路20の
出力抵抗はFET23および24のそれぞれのオン抵抗
の和になり、インバータ30と同じ出力抵抗を得ようと
すると、FET23および24のチャンネル幅はそれぞ
れFET32の2倍以上を必要とし、面積にすると4倍
の大きさが必要となる。
従って、第1図の発振回路の容量素子41及び抵抗42
を外付としインバータ1 0 , 3 0 , NAN
D回路20及びダイオード43.44を集積回路に内蔵
した場合、外付抵抗42の抵抗値Rと発振周期との直線
性(リニアリテイ)をよくしようとすると、集積回路の
なかで大きく面積が必要となり、集積回路のチップ面積
を犬き<シ、従って、集積回路の価格を上昇させる要因
となるという欠点がある。
この発明はこのような点を鑑みてなされたもので、集積
回路に内蔵した場合、チップ面積を大きくすることな《
外付抵抗と発振周期との直線性(リニアリテイ)のよい
発振停止機能付発振回路を提供せんとするものである。
以下、第4図に示すこの発明の一実施例について説明す
る。
第4図において、11,21,2231 ,71はP形
MOSFET,1 2,23,24:32,72はN形
MOSFET,41は容量素子、42は抵抗、43,4
4,はダイオードである。
P形FET11とN形FET12とはインバータ10を
、P形FET31とN形FET32とはインバータ30
を、P形FET71とN形F E T 72とはインバ
ータ70を、P形FET2 1 ,22及びN形FET
23,24はNAND回路20を構成し、インバータ1
0は入力回路を、インバータ70は第1論理回路を、N
AND回路20及びインバータ30は第2論理回路をそ
れぞれ構成しているものである。
なお、インバータ10,30.70は単一人力反転回路
であり、NAND回路は複数入力反転回路である。
インバータ10の出力14,インバータ70の入力73
及びNAND回路20の一方の入力25は相互に接続さ
れており、NAND回路20の出力26はインバータ3
0の入力13とインバータ30の出力34との間には抵
抗42が接続されている。
従って、発振時、インバータ100入力13とインバー
タ70の出力74とに現われる電圧レベルの関係は同相
になっており、インバータ100入力13とインバータ
30の出力とに現われる電圧レベルの関係は逆相になっ
ているものである。
インバータ100入力13には(ト)電源(VDD)と
の間にダイオード43及び(ハ)電源( Vss )と
の間にはダイオード44が接続されている。
第5図はこの実施例の動作を説明するための各部波形図
である。
まず、最初にNAND回路20の一方の入力27がVD
Dレベルの場合を考えるとP形FET22はオフ状態、
N形FET24はオン状態となりNAND回路20は、
他方の入力25に対しインパータと同様の働きを行う。
いま、インバータ10の入力13がVSSレベルの場合
を考えると、P形FET11はオン状態で、N形FET
1 2はオフ状態になり、インバータ10の出力14
はVDDレベルとなる。
しかるに、インバータ700入力73はインバータ10
の出力14と接続されているので、P形FET71はオ
フ状態、N形FET72はオン状態となり、インバータ
70の出力74はVSSレペルになる。
一方、NAND回路20の一方の入力25はインバータ
10の出力14と接続されているので、P形FET21
はオフ状態、N形FET23はオン状態となり、またN
AND回路20の他方の入力27はVII)レベルの場
合を考えているので、P形FET22はオフ状態、N形
FET24はオン状態であるので、NAND回路20の
出力26はVSSレベルとなる。
従って、インバータ30の入力33はVSSレベルとな
り、P形FET31はオン状態、N形FET32はオフ
状態になり、出力34はVDDレベルになる。
しかるに、インバータ30の出力34とインバータ10
の入力13は抵抗42を通して接続されているので、容
量素子41は抵抗42を通して充電される。
インバータ100入力13の電圧をV13とし、v13
=0ボルトのとき、1=0とすると、V13の時間的な
変化は、第1図の発振回路と同様に(1)式で表わされ
、それを図示すると第5図のaの部分の如《になる。
V13が上昇していき、インバータ?0の遷移電圧VT
Rをこえたとき、出力14はVDDレベルからVssレ
ベルに反転する。
そのため、P形FET71はオン状態、N形FET72
はオフ状態になシインバータ10の出力74の電圧V7
4はVSSレベルからVDDレベルになり、その変化が
容量素子41を通して、インバータ10の入力13に伝
えられる。
ところがインバータ10の入力13の電圧V13はVD
Dレベル以上になろうとしてもダイオード43によって
VDDレベルにクランプされる。
一方、インバータ10の出力14がVDDレベルから、
Vssレベルに反転したためNAND回路20のP形F
ET21はオン状態、N形FET23はオフ状態となり
、出力26はVDDレベルとなる。
従って、インバータ30のP形FET31はオフ状態、
N形FET32はオン状態となり、出力34の電圧V3
4はVSSレベルとなる。
従って、容量素子41に貯えられている電荷は抵抗42
を通して放電され、インバータ10の入力13の電圧V
13は第5図のbの部分の如く下降する。
電圧V3の時間的変化を式で表わすと、第1図の゜発振
回路と同様Q)式で表わされる。
但し、V13””VDDのとき1=0とする。
V13がVIDから下降していき、インバータ10の遷
移電圧vTml下になれば、インバータ10の出力14
は再びVDDレベルになり、従って、インバータ70の
出力74はVDDレベルからVSSレベルに変化し、そ
の変化は容量素子41を通して、インバータ10の入力
13に伝えられる。
しかるに、入力13の電圧V13は、Vssレベル以下
になるとダイオード44によりクリツプされるので、v
ssとなる。
一方、NAND回路20の入力26の電圧V25はVS
SレペルからVDDレベルになるので、出力26UV1
)DレベルからVSSレベルになり、従って、インバー
タ30の出力34の電圧v34はVSSレベルからVD
Dレベルになり、容量素子41は抵抗42を通して再び
充電される。
以上説明してきたことがくりかえされて発振が持続する
のである。
この発振の周期Tは、第1図の発振回路と同様に(3)
式で与えられている。
ところで、容量素子41の充放電はインバータ70,容
量素子41,抵抗42及びインバータ30の径路で行な
われ、抵抗42の抵抗値Rに対しインバータ70及び3
0の出力抵抗が無視出来ない値となると、発振周期Tは
(4)式の如《になる。
但し、Roはインバータ70及び30の出力抵抗の和で
ある。
しかるに、このROを、第1図に示す従来の発振回路と
比べると、第1図に示す従来の発振回路ではNAND回
路20およびインバータ30の出力抵抗の和であり、第
4図に示すこの発明の実施例ではインバータ70および
30の出力抵抗の和となる。
ここで両発振回路のインバータ30を同一のものとする
と、両者の出力抵抗の和を同一にするためには、NAN
D回路20とインバータ70の出力抵抗を等し《しなけ
ればならない。
ところで第1図におげるNAND回路20ではN形FE
T23,24が直列に接続されているため第4図におけ
るインバータ70のN形FET72と同一のオン抵抗に
するためには、第1図のN形FET23,24のチャネ
ル幅を両方とも、第4図のN形FETの2倍にしなけれ
ばならない。
即ちN形FET部に限って言えば、同じ出力抵抗を得る
ためには、第4図に示すこの本発明の発振回路の充放電
に用いられるインバータ70は、第1図に示す従来の発
振回路のNAND回路20に比べて1/4の面積ですむ
ことになる。
ところで、第4図に示す本発明の実施例の発振回路のイ
ンバータ10及びNAND回路20は次段の回路の入力
即ちFET31及び32のゲートを駆動するだけである
から、大きなチャネル幅を必要とはせず、発振回路にお
けるこれらの占める面積の割合は小さい。
従って、発振器回路のうち充放電に使用するFETの占
める面積が小さ《てよいので第4図に示すこの発明によ
る実施例の発振器全体の面積は、第1図に示す従来のも
のと比べはるかに小さくなる。
次に、第4図の発振回路のNAND回路20の一方の入
力27がVSSレベルの場合を考えると、P形FET2
2がオン状態、N形FET24がオフ状態であるので、
他方の入力25の状態によらずNAND回路20の出力
26はVDDレベルとなる。
従って、インバータ30のP形FET31はオフ状態、
N形FET32はオン状態になり、インバータ30の出
力34はVSSレベルとなる。
インバータ30の出力34とインバータ10の入力13
とは抵抗素子42を通して接続されているので、容量4
1に蓄積されている電荷は放電され、従ってインバータ
10の入力13はVSSレベルとなる。
このとき、P形FET11はオン状態、N形FET1
2はオフ状態となり、インバータ10の出力14はVD
Dレベルとなる。
インバータ700入力73はインバータ10の出力14
と接続されているため、P形FET71はオフ状態、N
形FET72はオン状態となり、インバータ70の出力
74はVSSレベルとなる。
一方、NAND回路20の入力25はインバータ10の
出力14と接続されているため、P形FET21はオフ
状態、N形FET23はオン状態となるが、P形FET
22がオン状態、N形FET24がオフ状態であるため
出力26はVDDレベルのままである。
以上説明した様にNAND回路20の入力27をVSS
レベルにすると発振は停止する。
以上、第4図に示す実施例では2人力のNAND回路を
含む、即ち発振停止機能を行う入力が1つの発振回路の
説明をしたが、発振停止の機能をもつ入力が2つ以上必
要な場合、即ち3人力以上の入力をもつNAND回路を
使用しなければならない場合に、従来の方式では充放電
用の外付抵抗と発振周期の直線性を良くするためにはN
AND回路に用いているFETのチャネル幅を、2NA
ND回路の場合よりもさらに大きくしなければならず、
発振回路全体のパターン面積が2NAND回路の場合よ
りもさらに大きくなる。
この発明を用いると、NAND回路に用いているFET
のチャネル幅を太き《する必要はなく、充放電に寄与し
ているインバータを用いているFETのチャネル幅だけ
を太き《するだけであるので、発振停止入力が多くなっ
ても発振回路全体のパターン面積はさほど太き《ならな
い。
即ち、この発明は発振停止入力が多《なればなるほどそ
の効果は太き《なる。
なお、上記実施例ではインバータおよひ’NAND回路
を相補性( complementary ) MO
S回路で構成したが、P形もしくはN形のいずれかめM
OSのみで構成してもよ<、NAND回路の代りにNO
R回路を用いてもよい。
以上詳述したように、この発明は絶縁ゲート電界トラン
ジスタで構成された反転論理回路を含む入力回路と、出
力段に絶縁ゲート電界効果トランジスタで構成された単
一人力反転論理回路を含み、入力回路の出力端に入力端
が接続され、発振時、出力端に入力回路の入力端に現わ
れる電圧レベルと同相の電圧レベルが現われる第1論理
回路と、出力段に絶縁ゲート電界効果トランジスタで構
成された単一人力反転回路を含むとともに、出力段より
前段に絶縁ゲート電界効果トランジスタで構成された複
数入力反転回路を含み、入力回路の出力1人力端が接続
され、発振時、出力端に入力回路の入力端に現われる電
圧レベルと逆相の電圧レベルが現われる第2論理回路と
、入力回路の入力端と第1論理回路の出力端との間に接
続された容量素子と、入力回路の入力端と第2論理回路
の出力端との間に接続された抵抗とを備えた発振回路と
したので、容量素子及び抵抗の一端はそれぞれ単一人力
反転回路に接続されるため、絶縁電界効果トランジスタ
のパターン面積を増大させることなく、上記抵抗の値と
発振周期との直線性を保持することができるという効果
を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の発振回路を示す回路図、第2図はこの従
来回路の動作を説明するための各部波形図、第3図は外
付抵抗の抵抗値と発振周期との関係を示す特性図、第4
図はこの発明の一実施例を示す回路図、第5図はこの実
施例の動作を説明するための各部波形図である。 図において、10は入力回路を構成する反転論理回路、
70は第1論理回路を構成する単一人力反転論理回路、
20は第2論理回路を構成する複数入力反転論理回路、
30は第2論理回路を構成する単一人力反転論理回路、
13,14は入力回路の入力端及び出力端、25,34
は第2論理回路の入力端及び出力端である。 なお、図中同一符号は同一もしくは相当部分を示す。 58 59一 60

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 絶縁ゲート電界効果トランジスタで構成された反転
    論理回路を含む入力回路と、出力段に絶縁ゲート電界効
    果トランジスタで構成された単一人力反転論理回路を含
    み、上記入力回路の出力端に入力端が接続され、発振時
    、出力端に上記入力回路の入力端が現われる電圧レベル
    と同相の電圧レベルが現われる第1論理回路と、出力段
    に絶縁ゲート電界効果トランジスタで構成された単一人
    力反転回路を含むとともに出力段より前段に絶縁ゲート
    電界効果トランジスタで構成された複数入力反転回路を
    含み、上記入力回路の出力端に入力端が接続され、発振
    時、出力端に上記入力回路の入力端に現われる電圧レベ
    ルと逆相の電圧レベルが現われる第2論理回路と、上記
    入力回路の入力端と上記第1論理回路の出力端との間に
    接続された容量素子と、上記入力回路の入力端と上記第
    2論理回路の出力端との間に接続された抵抗とを備えた
    発振回路。 2 複数入力反転回路の第2論理回路における縦続接続
    に用いない入力の供給信号によって発振または停止する
    ようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の発振回路。
JP52086868A 1977-07-19 1977-07-19 発振回路 Expired JPS5910613B2 (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4912752A (ja) * 1972-01-05 1974-02-04

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS4912752A (ja) * 1972-01-05 1974-02-04

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