JPS59100860A - 超音波探傷用探触子の保持機構 - Google Patents

超音波探傷用探触子の保持機構

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JPS59100860A
JPS59100860A JP57211672A JP21167282A JPS59100860A JP S59100860 A JPS59100860 A JP S59100860A JP 57211672 A JP57211672 A JP 57211672A JP 21167282 A JP21167282 A JP 21167282A JP S59100860 A JPS59100860 A JP S59100860A
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Mamoru Kanbe
神戸 護
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Fuji Electric Co Ltd
Fuji Electric Corporate Research and Development Ltd
Fuji Electric Manufacturing Co Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/24Probes

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、溶接部等の被検査物を超音波を用いて非破
壊的に探傷する自動超音波探傷装置の探触子保持機構に
関する。
この種の探傷では、一般に超音波を送信、受信する接触
子を平滑面は勿論、凹曲面や凸曲面、その他傾斜を有し
ている被検査物の表面にそって、定められた範囲の接触
ギャップを保って走査されることが要求される。ここで
接触ギャップとは、接触子の先端と被検査物表面との間
隔をいうものとする。
第1図、第2図は従来の探触子保持機構の一例を示した
ものである。
即ち、探触子1は円筒形のスリーブ2の内径側に固定保
持され、これらはリング3に軸受ピン4を介して首振り
可能な状態で支持されている。スリーブ2の下部には、
接触ガイド2aが同一円周上の3ないし4分割点に配置
されており、この接触ガイド2aの先端は探触子1の先
端よりある一定の寸法だけ突出している。
探触子1とスリーブ2を支持しているリング3は、支持
アーム5に軸受ビン6を介して首振り可能な状態で支持
されている。リング3と支持アーム5による首振り方向
は90’交叉しており、いわゆるジンバル機構を形成し
ている。
−支持アーム5は、保持機構支持部9のガイドバー7に
第1の弾性手段であるアーム固定スプリング8を介して
、上下に一定範囲移動可能な状態で取付けられている。
上記の探触子保持機構は固定ネジ10により探触子走査
装置の探触子駆動へラド11にとりつけられている。
このような構成において探傷走査は、探触子保持機構を
被検査物表面に圧着しなから探触子走査装置の探触子ヘ
ッド11を走査する。被検査物表面に圧着された探触子
保持機構の、各種曲率傾斜を有する被検査物表面への追
従は、ジンバル機構とアーム固定スプリング8の作用に
より、スリーブ2の下部(被検出物側)にとりつけられ
た3ないし4個の接触ガイド2aの全てが均等に被検査
物表面に接触することにより得られる。接触ガイド2a
の全てが被検査物表面に接触していれば、探触子1と接
触ガイド2aの先端の位置関係から探触子1は所定の範
囲の接かギャップを保持可能となる。
しかしながらこのような従来構成では、被検査物表面の
曲率や傾きが探触子走査の途中で遂時変化するような場
合は、第3図(a)、 (b)、 (C)薔こ示す通り
探触子接触ギャップjla、 又す、 、lcはその都
度変化し、ときには所定の接触ギャップ範囲をこえると
いう欠点がある。    ′ この欠点を改善する第1の方法としては、第1図に示す
探触子1の直径dをできるだけ小さくして接触ガイド2
aをとりさり、探触子1を被検査物表面に直接接触させ
る方法がある。しかしこの方法は、被検査物表面との接
触による探触子の損傷の危険があり、また被検査物表面
への追従も不安定となり、探触子保持機構を所定の姿勢
で保持することが困難な欠点がある。
第2の改善策は、第1図に示す接触ガイド2aの間隔W
を探触子1の直径dに出来るだけ近ずけることである。
しかしこの場合、比較的大きな直径dの探触子の場合は
支障ないが、小さな直径dの探触子の使用が要求される
場合は(被検査物表面の曲率が小さい場合や起伏の激し
い面では、その曲率に応じた小さな直径の探触子の使用
が必要となる)、接触ガイド2aの間隔Wが探触子保持
機構を被検査物表面に追従して安定保持するに必要な中
以下に狭める可能性があり、例えば探触子の走査中にお
いて、接触ガイド2aを支点として探触子保持機構全体
が回転したり傾倒する欠点がある。
このように従来の探触子保持機構は、被検査物の表面が
平滑であったり、探触子走査中宮に一定の曲率を有して
いる場合は特をこ支障はないが、被検査物表面の曲率が
探触子走査中時々刻々変化する場合は使用に不向きであ
るといえる。
この発明は上述の欠点を除去して被検査物表面の曲率が
探触子走査中変化する場合であっても、所定範囲の探触
子接触ギャップを保持することが出来る探触子保持機構
をうろことを目的としている。
この目的は本発明によれば、第1の弾性手段により被検
出物側に圧する状態で探触子駆動部に取り付けられた支
持アームに、探触子を内包するスリーブをジンバル機構
を介して接続してなるものにおいて、前記スリーブを、
被検出物と探触子とのギャップを生せしめる第1の接触
ガイドを先端に有し、前記第1の弾性手段より弱い第2
の弾性手段により探触子を被検出物側に圧する状態で保
持する内側スリーブと、探触子の姿勢を保つ第2の接触
ガイドを先端に有し、前記第1の弾性手段より弱く第2
の弾性手段より強い第3の弾性手段により内側スリーブ
を被検出物側に圧する状態で保持する外側スリーブとか
ら構成するこさにより達成される。
以下にこの発明の実施例を図面に基づいて説明する。第
4図は本発明の探触子保持機構を側面からみた断面図、
第5図は平面図、第6図(a)、 (b)。
(C)は、探触子保持機構が各種曲率の被検査物表面に
接触した時の探触子先端近傍の部分拡大図である。
探触子1は、円筒形の内側スリーブ12の内径側に第2
の弾性手段である探触子固定スプリング13を介して探
触子固定ネジ14で固定保持されている。探触子1は、
探触子1の外径の段付部が内側スリーブ12の内径に設
けられた段付部にひっかかることにより、下部側(被検
査物側)へ抜は落ちないようになっている。また図面に
は示されていないが、探触子1には凸状の突起、内側ス
リーブ12には凹状の溝がそれぞれ軸方向に設けられて
おり、この両者が互いに遊嵌するような状態で探触子1
が内側スリーブ12に挿入されることにより、探触子1
の内側スリーブ12内での回転を防止し第1の規制手段
を構成している。但し、上下方向には探触子固定スプリ
ング13の圧縮分だけ、下部側(被検査物側)から探触
子1に力が作用した場合に限り可動可能である。ここで
探触子1の直径dは、被検査物表面の曲率に応じて選定
することが必要である。これは探触子の接触ギャップを
所定の範囲に保持するには、探触子の先端を出来るだけ
被検査物表面に近ずけることが必要条件となるためであ
る。即ち、被検査物の表面の曲率が小さければ小さい程
、小さな直径の探触子を選定使用することが必要となる
内側スリーブ12の下部(被検査物側)には、第1の接
触ガイドである内側スリーブ接触ガイド12aが探触子
1をとりまくようにして配置されており、探傷走査中に
あっては、常に被検査物表面に接触する。この内側スリ
ーブ接触ガイド12aの先端は探触子1の先端よりある
一定の寸法だけ突出している。この突出する寸法は、被
検査物表面の曲率により異なる。即ち、凹曲面では小さ
く(時には零かむしろ探触子1側が突出する事が必要に
なることもある)、凸曲面では大きくする必要がある。
この寸法の調節は、この実施例においては、内側スリー
ブ1加の内側スリーブ12へのねじ込み量を加減して高
さを変化させることにより可能となる。探傷走査中にお
いて被検査物の表面の曲率が時々刻々変化する場合にあ
っては、もつとも小さな凸曲率の寸法に合わせて上記の
寸法を調節する。なお、内側スリーブ接触ガイド12a
の取付位置は、できる限り探触子1の外径に接近する位
置とする。これは探触子の先端を、極力被検査物の表面
に接近させるためである。
内側スリーブ12の外径側には、第3の弾性手段である
内側スリーブスプリング15を介して外側スリーブ16
がとりつけられており、内側スリーブ12は内側スリー
ブスプリング15の圧縮可動分だけ外側スリーブ16の
中で上下方向に可動しうる構造となっている。ここで内
側スリーブスプリング15は、バネが探触子固定スプリ
ング13のバネ力より強いものを選定し使用する。外側
スリーブ16と内側スリーブ12はシリンダとピストン
の関連をもって動作しうる。この場合、内側スリーブ1
2の外径側の上部、下部はフランヂ状の凸部を形成して
おり、この間に、外側スリーブ16の上部のカギ形部を
嵌めこむ構造となっているので、内側スリーブ12は外
側スリーブ16より抜は落ちることはない。
外側スリーブ16にはストッパ16bが取付けられてお
り、当該ストッパ16bは内側スリーブ12の上部のフ
ランジ外周部に加工されたギヤ12bに噛合う構造とな
っている。即ち、ストッパ16bとギヤ12bは第2の
規制手段を構成しており、この両者が噛み合った状態で
は探触子1を内包する内側スリーブ12は自由に回転出
来ない構造となっh゛ ている。従って、探傷中にあける超音波の伝播の方向を
常に一定方向に維持することが可能である。
一方この両者の噛合いは、上下方向には容易にスライド
可能な構造となっているので、内側スリーブ12の上下
動には何ら制約を与えることはない。
外側スリーブ16の下部(被検査物側)には、第2の接
触ガイドである外側スリーブ接触ガイド16aが内側ス
リーブ12をとりまくように3ないし4個配置されてお
り、探傷走査中にあっては、常にこれら複数の外側スリ
ーブ接触ガイド16aが被検査物表面に接触する。従っ
て、被検査物表面には、内側スリーブ接触ガイド12a
と外側スリーブ接触ガイド16aが同時に直接接触する
ことになる。
外側スリーブ16は探触子1と内側スリーブ2を内包し
、前述した従来の探触子保持機構と同構造のリング3.
軸受ピン4.支持アーム5及び軸受ピン6からなるジン
バル機構により支持されている。支持アーム5は第1の
弾性手段であるアーム固定スプリング8.ガイドバー7
及び保持機構支持部9を介して探触子走査装置の探触子
駆動ヘッド11に固定ネジ10でとりつけられている。
アーム固定スプリング8は、バネ力が内側スリーブスプ
リング15より強いものを使用する。
探傷走査は、探触子保持機構を被検査物表面に圧着しな
から探触子走査装置の探触子駆動ヘッド11を走査する
。被検査物表面に圧着された探触子保持機構の各種曲率
、傾斜を有する被検査物表面への追従は、シンバル機構
とアーム固定スプリング8の作用により、外側スリーブ
16の下部にとりつけられた3ないし4個の外側スリー
ブ接触ガイド16aの全てが均等に被検査物表面に接触
することにより得られる。接触ガイド16aの取付幅(
第4図のWに相当する)は接触子1の直径dに関係なく
、傾倒しないだけの十分な値に選定することが肝要であ
り、これにより常に安定した追従走査が可能である。
即ち、外側スリーブ接触ガイド16aは、探触子保持体
機構全体の姿勢を整える役目をはたす。
このような構造において、内側スリーブ12は内側スリ
ーブ接触ガイド12aの被検査物表面への追従に従い軸
方向に移動し、内包している探触子1の先端を常に被検
査物表面に近ずけるように動作する。内側スリーブ接触
ガイド16aと探触子1の先端の位置関係から探触子1
は以上の一連の動作を通じて、被検査物表面に対し被検
査物表面の曲率が探触子保持機構の走査中に時々刻々変
化する場合であっても、所定の範囲の接触ギャップを維
持して接触することが可能となる。
上記のように構成された2重追従機構を有する探触子保
持機構を使用することにより、第6図(a)。
(b)、 (C)に示すように探傷走査中に被検査物表
面の曲率が変化する場合にあっても、常に安定した姿勢
で且つ所定の範囲の接触ギャップを保って探触子を走査
することが可能であり、被検査物の表面曲率に影響をう
けない安定した超音波探傷(超音波の送信、受信)をお
こなうことができる。
また前述したように、探触子そのものを探触子保持機構
の支接部のスプリング及び内側スリーブスプリングより
バネ力が弱いスプリングで保持し単独で上下動する構造
をとっているので、第6図(d)に示すように接触ガイ
ドでは追従しえないような極部的な被検査物表面の凸起
部等については、探触子がこれらの上にのり上げ逃げる
ように動作するので、探触子の損傷を防止出来る効果を
有している。更に前記実施例では、外側スリーブ16に
設けたストッパ16bを内側スリーブ12の上部先端に
設けられたギヤ12bよりはずすことにより内側スIJ
−ブ12を容易に回転させることが出来るので、超音波
の伝播方向を自由に選択出来る利点を有している。これ
は、溶接線に対して多方向からの探傷、例えば縦方形、
横方形走査及び斜平行走査等が要求される場合に特に効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図はそれぞれ従来の探触子保持機構の側面
図および正面図、第3図は従来の探触子保持機構による
被検査物表面への探触子の接触状態を示す部分拡大図、
第4図、第5図はそれぞれ本発明の実施例に係る探触子
保持機構を示す側面断面図、および平面図、第6図は本
発明の実施例の探触子保持機構による被検査物表面への
探触子接触状態を示す部分拡大図である。 1・・・探触子、5・・・支持アーム、8・・・アーム
固定スプリング、11・・・探触子駆動ヘッド、12・
・・内側スリーブ、12a・・・内側スリーブ接触ガイ
ド、13探触子固定スプ、リング、15・・・内側スリ
ーブスプリング、16・・・外側スプリング、16a・
・・外側スリーブ接触ガイド。 ヤ3 閃 ((A) オ鶴閃 (1 272 オb辺 (J)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)第1の弾性手段により被検出物側に圧する状態で探
    触子駆動部に取り付けられた支持アームに、探触子を内
    包するスリーブをジンバル機構を、介して接続してなる
    ものにおいて、前記スリーブを、被検出物と探触子との
    ギャップを生せしめる第1の接触ガイドを先端に有し、
    前記第1の弾性手段より弱い第2の弾性手段により探触
    子を被検出物側に圧する状態で保持する内側スリーブと
    、探触子の姿勢を保つ第2の接触ガイドを先端に有し、
    前記第1の弾性手段より弱く第2の弾性手段より強い第
    3の弾性手段により内側スリーブを被検出物側に圧する
    状態で保持する外側スリーブとから構成することを特徴
    とする超音波探傷用探触子の保持機構。 2、特許請求の範囲第1項記載の保持機構において、第
    1の接触ガイドはできるだけ探触子よりにあることを特
    徴とする超音波探傷用探触子の保持機構。 3)特許請求の範囲第1項記載の保持機構において、第
    2の接触ガイドは少なくとも探触子の姿勢を保つに足る
    取付幅を有することを特徴とする超音波探傷用探触子の
    保持機構。 4)特許請求の範囲第2項または第3項記載の保持機構
    において、接触ガイドは複数の突出部からなることを特
    徴とする超音波探傷用探触子の保持機構。 5)特許請求の範囲第1項記載の保持機構において、内
    側スリーブと探触子は探触子の回動を阻止する第1の規
    制手段を有することを特徴とする超音波探傷用探触子の
    保持機構。 6)特許請求の範囲第1項記載の保持機構において、外
    側スリーブと内側スリーブは内側スリーブの回動角を任
    意に設定する第2の規制手段を有することを特徴とする
    超音波探傷用探触子の保持機構。
JP57211672A 1982-12-02 1982-12-02 超音波探傷用探触子の保持機構 Granted JPS59100860A (ja)

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JPH0161178B2 JPH0161178B2 (ja) 1989-12-27

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62170563U (ja) * 1986-04-18 1987-10-29
JPS63261152A (ja) * 1987-04-17 1988-10-27 Nippon Kensa Kogyo Kk ボンベ探傷システムの探触子支持装置
JP2008122406A (ja) * 2003-10-06 2008-05-29 Qi:Kk 管又は管内面のライニング層の厚さ測定装置
JP2018136159A (ja) * 2017-02-21 2018-08-30 トヨタ自動車株式会社 溶接部検査装置
JP2019531477A (ja) * 2016-09-15 2019-10-31 サウジ アラビアン オイル カンパニー 一体式超音波試験及び陰極防食測定プローブ

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55154458A (en) * 1979-05-21 1980-12-02 Toshiba Corp Nondestructive inspecting probe drive unit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55154458A (en) * 1979-05-21 1980-12-02 Toshiba Corp Nondestructive inspecting probe drive unit

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62170563U (ja) * 1986-04-18 1987-10-29
JPS63261152A (ja) * 1987-04-17 1988-10-27 Nippon Kensa Kogyo Kk ボンベ探傷システムの探触子支持装置
JP2008122406A (ja) * 2003-10-06 2008-05-29 Qi:Kk 管又は管内面のライニング層の厚さ測定装置
JP2019531477A (ja) * 2016-09-15 2019-10-31 サウジ アラビアン オイル カンパニー 一体式超音波試験及び陰極防食測定プローブ
JP2018136159A (ja) * 2017-02-21 2018-08-30 トヨタ自動車株式会社 溶接部検査装置

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