JPH03115901A - 球面測定装置 - Google Patents

球面測定装置

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JPH03115901A
JPH03115901A JP25472189A JP25472189A JPH03115901A JP H03115901 A JPH03115901 A JP H03115901A JP 25472189 A JP25472189 A JP 25472189A JP 25472189 A JP25472189 A JP 25472189A JP H03115901 A JPH03115901 A JP H03115901A
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lens
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Toshihiro Isshiki
一色 敏浩
Yuichiro Takahashi
高橋 裕一郎
Kazuo Ushiyama
一雄 牛山
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、光学素子であるレンズ研削・加工において、
光学素子表面の曲率半径を測定するための球面測定装置
に関するものである。
[従来の技術] 光学素子であるレンズの研削・加工において、光学素子
表面の曲率半径を測定するための球面測定装置について
は、例えば、特開昭62−68264号公報に記載され
ている。
この球面測定装置では、測定器の軸に、測定補助具が組
み付けられ、前記測定補助具の先端には、直接レンズに
接する測定端子カバーが取付けられている。
そして、この技術では、測定カバーにニュートン原器を
載せ、そのときの測定器の値を読み、同様に、加工済み
レンズの値を読んで比較してレンズの曲率を求めるよう
になっている。
このような球面の測定は、レンズ産業において、工程管
理−E重要な検査項目となっており、加工うインにおい
て工程毎にその測定が行なわれている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、特開昭62−68264号公報に記載の
前記技術では、測定カバーのレンズへの押付は方および
押付は圧力を一定にするのが困難である。殊に、作業者
の手作業によってその測定を行なう場合、その傾向が顕
著である。その結果、測定カバーがレンズのエツジの一
部にしか当接されていない状態で測定がなされたり、ま
た、測定カバーのレンズへの押付は圧力が違う状態で測
定がなされたりして、測定誤差が大きくなってしまうと
いう問題があった。
加えて、測定カバーのレンズへの押付けが一定でない場
合、レンズに傷の発生も起こる。
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
、誤差なく測定できる球面測定装置を提供することを目
的とする。
[課題を解決するための手段] 請求項1記載の発明の球面測定装置は、位置決め部を有
するベース部材と、軸方向移動により前記位置決め部に
係合する位置決め位置と前記ベース部材に対しての傾動
を許容する位置決め解除位置とを取り得る測定fと、前
記測定子に一体に取り付けられた光学素子受け部材と、
111記光学素子受は部材を、前記測定子の位置決め方
向に(=1勢しかつ光学素子が前記光学素子受け部材に
押付けられたとき変形して前記測定子を位置決め解除位
置に移動させる弾性体とを備えてなるものである。
この発明の球面測定装置は、第1図(a)に示すように
、固定部材6により一体化された測定子2とレンズ受は
部材(光学素子)3とをベース部材lに弾性体5を介し
て支持させてなる。測定子2には嵌合部2Cが設けられ
ている。一方、ベース部材1には、測定子2の嵌合部2
Cと嵌合する嵌合穴1aが設けられている。なお、符号
2bは接触端子である。
また、請求項2記載の球面測定装置は、可撓性の弾性体
からなる位置決め部が付設されるベース部材と、傾動可
能に前記位置決め部によって軸支された測定子と、前記
測定子に一体に取り付けられかっベース部材と球面対偶
をなす光学素子受け部材とを備えてなるものである。
[作用コ 請求項1記載の発明の球面測定装置によれば、第1図(
b)に示すように、レンズ受は部材3とベース部材lの
間に介挿される弾性体5は、常時はレンズ受は部3を上
方に付勢し、測定子2の嵌合部2cとベース部材lの嵌
合穴1aを嵌合させ、測定子2を常に同一位置に位置決
めさせる。
また、ある一定した圧力で、被測定レンズ7がレンズ受
は部材3に圧接されると、第1図(b)に示すように、
弾性体5が縮み、ベース部材1と測定子2が自由に動く
ようになり、偏心、傾きを有する被測定レンズ7の表面
に倣い測定子2が傾動して安定位置まで移動し、被測定
レンズ7を安定して保持できることとなる。
請求項2記載の発明の球面測定装置によれば、測定子の
傾動が、半球状案内面」二での光学素子受け部材の滑動
によって案内される。その際、測定子はその軸方向へ移
動しないので、測定の高さ位置もほとんど変わらない、
騙試−傾きを有する光学素子の表面に倣い測定子が傾動
して安定位置まで移動し、光学素子を安定して保持でき
る点は、請求項1記載の発明の球面測定装置と同様であ
る。
[実施例] 以下、本発明に係る球面測定装置の実施例を図面に基づ
いて説明する。
第2図乃至第4図には第1の実施例の球面測定装置が示
されている。
ベース部材1には位置決め部であるテーバ状の嵌合穴1
aが設けられている。また、測定子2とリング状のレン
ズ受は部材(光学素子受け部材)3とは固定ビス6によ
り一体に取り付けられている。測定子2においては、支
持軸本体2aに対して接触端子2bが一部出没可能に取
り付けられている。接触端子2bは図示しない付勢手段
によって上方へ付勢されている。この測定子2は、ベー
ス部材lに対して傾動可能となるようにベース部材lに
遊嵌されている。また、測定子2には、前記嵌合穴1a
に嵌合する嵌合部2Cが設けられ、ている。
また、レンズ受は部材3はベース部材l(こ)\ネ(弾
性体)5を介して支持されている。このノ\ネ5は、常
に、レンズ受は部材3を上方に付勢し、測定子2の嵌合
部2Cとベース部材1の嵌合穴1aを嵌合させ、測定子
2を常に同一位置に位置決めさせる。
なお、第2図〜第4図において、符号12はレンズホル
ダを、符号8は測定器を示している。
上記状態において、被測定レンズ7をレンズ受は部材3
に押し付けることにより、第3図に示すように、バネ5
が縮み、これによってレンズ受は部材3と一体化された
測定子2が押し下げられ、測定子2の嵌合部2Cとベー
ス部材lの嵌合穴laとの嵌合が外れ、第4図に示すよ
うに、測定子2が傾動可能になる。その際、被測定レン
ズ7に対してレンズ受は部材3の偏心および傾きがあっ
ても被測定レンズ7の表面に倣って、レンズ受は部材3
が傾き、被測定レンズ7のエツジ全周に亘ってレンズ受
は部材3の上端が接し、均一な圧力でもって安定して被
測定レンズ7を受けることができる。また、測定後、レ
ンズ受は部材3を外すとバネ5の作用によってレンズ受
は部材3と一体化された測定子2も−に昇する。その結
果、測定子2の嵌合部2Cとベース部材lの嵌合部1a
とが嵌合し、測定子2が元の位置に位置決めされる。
このように、本実施例によれば、被測定レンズ7に対し
てレンズ受は部材3の偏心および傾きがあっても被測定
レンズ7の表面に倣ってレンズ受は部材3が傾き、被測
定レンズ7を均一な圧力でもって安定して受けることが
できるので、測定誤差なく、しかも、被測定レンズ7に
傷をつけることなく、レンズの曲率半径を求めることが
できる。
また、このように自動的にレンズ受は部材3の位置ずれ
(上下、水平方向のズレ)、傾きを補正することができ
るので、自動測定も可能となる。
なお、作業者による測定においても、押付は方、押付は
力の個人差があっても、それを自動的に補正できるとい
う利点がある。
なお、この第1の実施例の球面測定装置において、ベー
ス部材lにロータリーアクチュエーターを組付けて、ニ
ュートン原器と加工済みレンズとの間を旋回させ、それ
ぞれを測定し比較するようにすることもできる。また、
本実施例では、弾性体にバネを使用したが、ゴム・スポ
ンジ等でも同様の効果を得ることができる。
第5図には第2の実施例の球面測定装置が示されている
この第2の実施例の球面測定装置が第1の実施例のそれ
と異なる点は、第5図に示すように、ベース部材1の側
壁に設けられたガイド9と、測定子2における前記ガイ
ド9に対応した箇所に植設したビンIOとによって位置
決めを行なうようにされている点である。第6図(a)
には無負荷時におけるガイド9とビン10の状態が、第
6図(b)にはレンズ押付は時におけるガイド9とビン
10の状態が示されている。
つまり、ベース部材lの隣あう側壁の2面には、V型の
案内面9aとV型の基部にストレート溝9bとを有する
ガイド9が設けられている。また、ガイド9の下側のベ
ース部材lには、ガイド9のストレート溝9bより幅広
の長溝11が設けられている。一方、測定子2には、前
記ガイド9に対応した箇所に2本のビン10が植設され
ている。
この第2の実施例の球面測定装置にあっても、第1の実
施例の球面測定装置と同様な効果が得られる。
また、第7図(a)、(b)には第3の実施例の球面測
定装置が示されている。
この実施例においても、測定子2とリング状のレンズ受
は部材(光学素子受は部材)3とは固定ビス等により一
体に取り付けられている。
ベース部材lには、その上面(レンズ受は部材3の受は
面)に半球状案内凹面1dが形成されている。一方、レ
ンズ受は部材3は、半球状案内四面1dに嵌合するよう
にその下面が半球状案内凹面1dと相補的形状を呈して
いる。また、ベース部材1には、リング状のゴム(位置
決め部)+3が付設されている。そして、このゴム13
によって傾動可能に測定子2は軸支され、通常は、測定
子1は同一位置に位置決めされる。
そして、この実施例にあっては、第7図(b)に示すよ
うに、被測定レンズ7をレンズ受は部材3に押し当てた
場合、半球状案内凹面1dに沿って測定子2が被測定レ
ンズ7に倣い傾く。被測定レンズ7が外されるとゴム1
3の復元力により。
測定子2は元の位置に戻され位置決めされる。
本実施例では、半球状案内凹面1dに倣い測定子2が傾
くので、より安定して被測定レンズ7を押し当てること
ができ、また、測定の高さ位置もほとんど変わらず、一
定な位置で測定できる利点がある。
なお、本実施例において、半球状の面の滑りを良くする
ため、ベース部材およびレンズ受は部材の材質は摩擦係
数の小さいものを使用することが好ましい。
以上、本発明者によってなされた発明を実施例に基づき
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
[発明の効果] 請求項1記載の発明の球面測定装置は、位置決め部を有
するベース部材と、軸方向移動により前記位置決め部に
係合する位置決め位置と前記ベース部材に対しての傾動
を許容する位置決め解除位置とを取り得る測定子と、前
記測定子に一体に取り付けられた光学素子受け部材と、
前記光学素子受け部材を、前記測定子の位置決め方向に
付勢しかつ光学素子が前記光学素子受け部材に押付けら
れたとき変形して前記測定子を位置決め解除位置に移動
させる弾性体とを備えてなるので、作業者の光学素子の
押付は方、押付は圧力の違いによる測定誤差および自動
計測を行なう場合の被測定物の傾き、偏心による測定誤
差がなくなり、測定の信頼性が向上する。これにより、
同一品質の製品が加工できるようになる。
また、請求項2記載の球面測定装置は、可撓性の弾性体
からなる位置決め部が付設されるベース部材と、傾動可
能に前記位置決め部によって軸支された測定子と、前記
測定子に一体に取り付けられかつベース部材と球面対偶
をなす光学素子受け部材とを備えてなるので、請求項2
記載の球面測定装置の効果に加えて、より安定して光学
素子を押し当てることができ、また、測定の高さ位置も
ほとんど変わらず、一定な位置で測定できるという効果
を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、(b)は請求項1記載の発明の概念図、 第2図〜第4図は第1の実施例の断面図、第5図は第2
の実施例の断面図、 第6図(a)、(b)は第2の実施例の部分拡1・・・
・ベース部材、2・・・・測定子、3・・・・レンズ受
は部材(光学素子受け部材)、4・・・・バネ(弾性体
)。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)位置決め部を有するベース部材と、軸方向移動に
    より前記位置決め部に係合する位置決め位置と前記ベー
    ス部材に対しての傾動を許容する位置決め解除位置とを
    取り得る測定子と、前記測定子に一体に取り付けられた
    光学素子受け部材と、前記光学素子受け部材を、前記測
    定子の位置決め方向に付勢しかつ光学素子が前記光学素
    子受け部材に押付けられたとき変形して前記測定子を位
    置決め解除位置に移動させる弾性体とを備えたことを特
    徴とする球面測定装置。
  2. (2)可撓性の弾性体からなる位置決め部が付設される
    ベース部材と、傾動可能に前記位置決め部によって軸支
    された測定子と、前記測定子に一体に取り付けられかつ
    ベース部材と球面対偶をなす光学素子受け部材とを備え
    ていることを特徴とする球面測定装置。
JP1254721A 1989-09-29 1989-09-29 球面測定装置 Expired - Fee Related JPH0752081B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6523273B1 (en) * 1999-06-18 2003-02-25 Mitutoyo Corporation Reseat system for touch probe in coordinates measuring machine

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6523273B1 (en) * 1999-06-18 2003-02-25 Mitutoyo Corporation Reseat system for touch probe in coordinates measuring machine

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