JPH04339205A - 接触プローブ - Google Patents

接触プローブ

Info

Publication number
JPH04339205A
JPH04339205A JP3028767A JP2876791A JPH04339205A JP H04339205 A JPH04339205 A JP H04339205A JP 3028767 A JP3028767 A JP 3028767A JP 2876791 A JP2876791 A JP 2876791A JP H04339205 A JPH04339205 A JP H04339205A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stylus
members
contact probe
support means
movable member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3028767A
Other languages
English (en)
Inventor
David R Mcmurtry
デイビッド ロバーツ マクマートリィ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renishaw PLC
Original Assignee
Renishaw PLC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=10671510&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH04339205(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Renishaw PLC filed Critical Renishaw PLC
Publication of JPH04339205A publication Critical patent/JPH04339205A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • G01B11/005Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
    • G01B11/007Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines feeler heads therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B5/012Contact-making feeler heads therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/004Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
    • G01B7/008Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B7/012Contact-making feeler heads therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、工作機械および座標測
定機のような位置決定装置に対する接触プローブに関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】このような機械は、2次元または3次元
に移動可能であり、かつ接触プローブあるいはその他の
工具を支持するスピンドル,クイルまたは腕を有する。 ものさしその他の測定装置によってプローブや工具の2
次元または3次元の位置を測定する。このような機械と
共に用いる接触プローブは、その本体から延在して加工
片の表面に接触する、振れたり偏向したりすることので
きるスタイラスを有する。
【0003】このような用途に用いる接触プローブとし
て、商業的に極めて成功したものは、たとえばマクマー
トリィ(McMurtry)氏の米国特許第4,153
,998号に示されている。プローブ本体中には、運動
学的支持装置(Kinematic  support
  arrangement)を設け、この装置に対し
てスタイラス保持部材をばねにより軸方向に付勢する。 それにより、運動学的支持装置はスタイラスを本体に対
する休止位置に支持する。この休止位置は空間的に著し
く反復して繰り返される。スタイラスが加工片の表面に
接触すると、プローブによりトリガ信号が発生する。こ
のトリガ信号は、移動可能なスピンドル,クイルまたは
腕の瞬時位置の読み取りを行うことをトリガするのに用
いられる。スタイラスの休止位置には反復性があるので
、スタイラスと加工片との間の接触点の空間での位置を
正確に測定することができる。スタイラスはばねの偏倚
力に対して振れることができるので、その損傷を防ぎ、
そして、ついで反復可能な休止位置に戻る。
【0004】米国特許第4,153,998号にはいく
つかの形態の運動学的支持装置が開示されている。ここ
に開示されているもののうちのひとつは、プローブの軸
のまわりに離隔して配置された3つの支持部位を有する
。各支持部位において、支持部材(たとえば円筒)がス
タイラス保持部材上に配置されており、この支持部材は
、互いに集中的にすぼまるコンバージェント表面(co
nvergent  surface)をもつ一対の支
持部材(たとえば一対のボール)と係合させられる。こ
のように3つの支持部材がコンバージェント表面の各対
にそれぞれ位置するように配置することによって、スタ
イラスが休止位置にあるときに、そのスタイラスに軸方
向および横方向の拘束を与え、それにより、極めて反覆
性のよい独特な運動学的休止位置を付与する。
【0005】米国特許第4,153,998号に記載さ
れている第2の代わりの配置では、スタイラス保持部材
またはハウジング部材のうちのひとつの上に3つの支持
部材を設け、それら支持部材を平坦な表面に対して軸方
向に支持して、軸方向の休止位置を付与するようにして
いる。かかる軸方向の拘束と組合せて、独特の運動学的
休止位置を与えるために、別個に横方向の拘束を与える
ための種々の形態も開示されている。横方向の拘束とし
て用いうる他の例は、横方向に延在し、その一端がスタ
イラス部材に接続され、他端がハウジングに接続された
平面状ばねである。その一例は、クーザック(Cusa
ck)氏の米国特許第4,451,987号に示されて
いる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このようなプローブは
、多大の成功を以て、広範囲にわたって用いられてきた
が、現在の産業界の測定に対する要求は一層厳しくなっ
てきており、この種のプローブにおいてこれまでは重要
性の低かったある問題点をも考慮する必要性が高まりつ
つある。
【0007】たとえば、3支持部位であるが故に、次の
ような問題点がある。プローブが加工片の表面に向けて
進むときに、スタイラスが加工片に接触する瞬時とその
結果としてスタイラスがトリガ信号を発生する瞬時との
間に、プローブは常に僅かな距離だけ進む。これは「プ
リ・トラベル」として知られている。加工片とのある所
定の方向での接触に対しては、プリ・トラベルは十分に
反復性があり、したがってその影響は較正により補償す
ることができる。しかし、3つの支持部位の性質上から
、接触方向が異なるときにはプリ・トラベルは著しく変
動し、軸と直交する平面(XY面として知られている)
におけるプローブの応答に対してはローブ(lobe)
のついた特性が得られるので、各方向に対して異なる較
正および補償値を与えることが必要になる。ローブ効果
は、特に、着座部材における電気的スイッチングにより
トリガ信号が発生する場合に運動学的着座部材が一緒に
なるように働く軸方向の力に比例する。
【0008】ローブ効果を減少させるためには、ばねの
力をなるべく小さくするのが望ましいことは明らかであ
る。しかし、ばねの力には実用上の下限がある。その理
由はプローブが移動するときに、プローブが加速され、
あるいは振動しても、運動学的支持部材が互いに着座状
態を保つことが要求されるからである。このようにしな
いで、その結果として着座状態から外れると、誤ったト
リガ信号が発生することになる。
【0009】このようなコンバージェント表面をもつプ
ローブには、ごく稀ではあるが、再着座時にヒステリシ
スの問題も生じる。これは、着座部材間の摩擦により生
じて、支持部位のうちのひとつにおいてひとつの着座部
材が対応する一対のコンバージェント表面に完全に着座
しなくなることがある。その結果として、この着座部材
の位置に垂直方向の誤差が生じ、それによって、スタイ
ラス部材が傾き、スタイラス先端(チップ)の休止位置
には、対応する横方向の誤差が生ずることになる。この
横方向の誤差の方向はスタイラスが再着座する方向に依
存している。横方向の誤差はスタイラスの長さに比例す
るレバー効果によって増倍され、支持部材がその一対の
コンバージェント表面に再着座する際の横方向の他の再
着座誤差のいずれよりも重大である。
【0010】上述した他の形態のプローブ、すなわち、
平坦な表面上に戴置された3つの支持部材を有して、個
別の横方向の拘束を与えるようにしたプローブもまたロ
ーブ効果としてヒステリシスの欠点を有している。スタ
イラス部材は加工片と接触するある任意の方向に対して
反復可能な休止位置に戻るが、XY平面における異なる
方向の接触によって休止位置が僅かずつ異なる傾向にあ
る。これは、支持部材と支持平坦表面とがXY方向にお
いて互いに滑動するときに支持部材と平坦な支持表面と
の間に生じる摩擦にも起因する。プローブが再着座する
と、XY面に作用する横方向の拘束の張力がある残留レ
ベルにまで減少して、支持部材の表面においてXY面に
おける残余の摩擦力に打勝つことができなくなるまで、
支持部材は平坦表面上をXY面内で滑動する。(たとえ
ば米国特許第4,763,421号のように)平坦な表
面上に4個以上の支持部材を配置して構成した軸方向の
拘束、あるいは(たとえば米国特許第4,477,97
6号のように)平坦な表面上に支持しまたは支持されて
いる連続した環状のリングより成る軸方向の拘束を有す
るプローブもまた知られている。このプローブではロー
ブの問題は減少させることはできるものの、ヒステリシ
スの問題は依然存在し、かつより深刻である。
【0011】そこで、本発明の目的は、上述した従来の
双方の形態のプローブの利点を取り込みながら、それら
の欠点を最小限に抑えるようにした接触プローブを提供
することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、位置決定装置のための接触プロー
ブであって、固定部材と、加工片に接触するスタイラス
を支持する第1可動部材と、相互に係合可能な少くとも
1対の第1部材と、第2支持手段とを有する第1支持手
段であって、前記第2支持手段は前記第1支持手段から
独立しており、相互に係合可能な少くとも1対の第2部
材を有し、前記第1および第2部材のすべてが係合して
前記第1可動部材を前記固定部材に対する休止位置に保
持するときに前記第1および第2支持手段が互いに共働
するようになした第1支持手段と、前記第1および第2
部材のすべてを偏倚させて係合させる第1および第2偏
倚手段であって、前記スタイラスが加工片に接触すると
きに、前記対の第1および第2部材の双方を、前記第1
および第2偏倚手段の作用に抗して、係合状態から外し
て、前記第1可動部材が前記休止位置から前記固定部材
に対して同じ方向に変位できるようにする第1および第
2偏倚手段とを具え、前記対の第1部材を前記対の第2
部材よりも小さい偏倚力で偏倚させて係合させ、それに
より前記第1可動部材の変位時に前記対の第1部材を前
記小さい偏倚力に抗して係合状態から外し、そして次に
前記対の第2部材を係合状態から外すようにしたことを
特徴とする。
【0013】また、前記第2部材は運動学的支持装置を
構成し、および前記第2支持手段は少くとも横方向の拘
束を付与することを特徴とする。
【0014】さらに、前記第1支持手段は、前記第1部
材が係合状態から外れるときに、当該第1部材が互いに
離隔する動きを制限する当接手段を含むことを特徴とす
る。
【0015】
【作用】本発明では、第1および第2の独立した支持手
段を有し、第1支持手段を第2支持手段よりも小さい力
で偏倚して、その摩擦をきわめて小さくするようにした
ので、スタイラスが振れるときのローブおよびヒステリ
シスの問題を解決して、プローブの精度を高めることが
できる。
【0016】
【実施例】以下に、図面を参照して本発明の実施例を詳
細に説明する。
【0017】まず最初に、図1および図2を参照するに
、図示のプローブはハウジング10を有し、その内部に
はスタイラスホルダ12を配置する。スタイラスホルダ
12はスタイラス14を支持する。このスタイラス14
はハウジング10内の開口16を通して突出する。スタ
イラス14は加工片に接触するチップ15を有し、その
ような接触によってスタイラス14を振れさせて変位さ
せる。
【0018】スタイラスホルダ12はカップの形状をな
し、付随するスカート18を有する。スカート18の環
状の底部エッジ22はハウジング10の平坦な内側表面
20上に戴置されている。エッジ22の表面と表面20
とは両者を一緒にしてラッピングしてすり合わせること
により製作し、以て両者が極めて平坦でかつ互いに合致
するようにする。これにより、スタイラスホルダ12が
精密に軸方向の休止位置において確実に支持されるよう
にする。スタイラスホルダ12は、ばね24によってこ
の軸方向の休止位置に偏倚される。このばね24は円錐
状部材26をスタイラスホルダ12のくぼみ28に押し
つける。スタイラスホルダ12は精密な軸方向の休止位
置に位置させられるのみならず、スタイラスホルダ12
およびそれに従うスタイラス14もまたきわめて精密な
軸方向の休止位置に位置させられる。このことは次のよ
うにして確実になされる。ダイヤフラム状の平面ばね3
0の中央部分において、スタイラス14がスタイラスホ
ルダ12から吊下げられている点で、このばね30をス
タイラスホルダ12に固着する。ばね30の外周部をリ
ング32に固着する。リング32からは3つの円筒34
をその半径方向に突出させ、そして、ハウジング10上
に固着されている各対のボール36により設けられたコ
ンバージェント表面に着座させる。それにより、リング
32は、米国特許第4,153,998号に記載されて
いるのと同様の形態で、軸方向および横方向の双方共に
、運動学的に規定された休止位置に位置する。リング3
2については、平面ばね30によりスタイラスホルダ1
2をきわめて上手に規定された横方向の休止位置を保持
する。しかし、平面ばね30は屈曲して垂直方向に運動
することがあり、スタイラスホルダ12をリング30に
対して傾けることがある。このような運動は、表面20
と22により形成される軸方向の休止位置によって拘束
されるのみである。
【0019】したがって、スタイラス14は、軸方向の
拘束と横方向の拘束との組合せにより精密に規定された
休止位置に保持される。ボール36と円筒34は軸方向
の拘束のみならず横方向の拘束も与えるが、平面ばね3
0には軸方向に柔軟性があるので、それによりスタイラ
スホルダ12が過度に拘束されることがないようにする
【0020】合せピン38をハウジング10に固着して
、スタイラスホルダ12の穴40を通して延在させる。 この穴40は十分な隙間をもち、プローブの通常の動作
を妨害しないようにする。この合せピン38を設けるの
は、交換可能なスタイラス14をスタイラスホルダ12
にねじ込む際にスタイラスホルダ12が回転しないよう
にするためである。合せピン38は、スタイラスが振れ
た後に円筒34がボール36の対に正しく再着座するの
を確実にするための案内の目安ともなる。
【0021】平面ばね30には予め応力を与えておき、
このばね30が無負荷状態のときに、ベルビル(Bel
leville)ウォッシャ、すなわち皿ウォッシャの
形態で上方に曲がるようにする。しかし、ばね24によ
り偏倚されている状態では、ばね30は、図1に示すよ
うな平坦で応力のかかった状態となっているものとする
。休止位置においてスタイラスホルダ12に作用する力
について考えてみると、ばね24により与えられる下向
きの力は、平面ばね30の上向きに曲がる力よりも僅か
ばかり大きいのみであり、かかる上向きに曲がる力と十
分に平衡している。その結果、ハウジング10の表面2
0とスカート18の表面22との間の圧力はきわめて小
さい。表面20とエッジ22の表面との間の摩擦はこの
圧力に比例するので、この摩擦もまたきわめて小さい。
【0022】スタイラス14がいかなる方向からでも加
工片に接触すると、このスタイラス14は振れて偏向す
る。たとえば、その接触が水平方向であるとすると、ス
タイラス14は表面20と22との間の接触点のまわり
に傾く。このとき、円筒34とボール36は互いに係合
したままであり、その傾きは平面ばね30が撓曲するこ
とで吸収されて調整される。スタイラス14の振れが続
いて、平面ばね30の予め与えておいた応力が軽減され
ると、少くともひとつの円筒34を関連するボール36
に着座している状態から外して持ち上げることにより、
それ以上のスタイラス14の振れも吸収されて調整され
る。
【0023】スタイラス14の初期の振れには表面20
上でスカート18を傾けることによってのみ順応してい
るのであって、運動学的に取付けられたリング32の運
動によっていないので、スタイラス14を振らせるのに
必要な力はすべての水平方向において同一である。その
理由は、スカート18が環状であるからである。その結
果、この初期の振れによってはローブは全く生じない。 表面20と22との間の接触力は小さいので、初期の振
れによって、スタイラス14と加工片との間の接触をき
わめて敏感に検知することができる。
【0024】スタイラス14にかかる振れの力がなくな
ると(すなわち、プローブが移動して、スタイラス14
が最早加工片に接触しなくなると)、スタイラスホルダ
12は、ばね24の作用によって、その軸方向および横
方向の休止位置に戻らされる。このような復帰動作にあ
たり、表面20とエッジ22の表面および円筒34とボ
ール36が互いにいくらかこすれ合うことがある。この
ようにこすれ合うことによるに摩擦は、ばねの力が摩擦
の力に完全に打ち勝ってスタイラスホルダ12を休止位
置に精密に戻すことができないときに、慣例のプローブ
にあってはヒステリシスの根源となっていた。本発明に
よるプローブでは、表面20とエッジ22の表面との間
にはきわめて僅かな圧力が加わるのみであり、つまり、
摩擦力はきわめて小さいので、このようなヒステリシス
は減少する。したがって、スカート18が横方向の休止
位置に向けて横方向に移動するのを阻止する摩擦力は殆
んどなく、そして、表面20とエッジ22の表面は平坦
であるので、スカート18が軸方向の休止位置に移動す
るのを阻止する抵抗もない。
【0025】再着座動作中、横方向の休止位置は、実際
上、円筒34とボール36および平面ばね30により確
実に確保されている。勿論、円筒34とボール36との
間の摩擦力がその効果を示すことも依然として可能では
ある。したがって、円筒34とボール36との間の摩擦
により1個または2個以上の円筒34が対応する対のボ
ール36の間の休止位置に完全に再着座するのが妨げら
れるおそれもある。しかし、その結果として生じる位置
決めの狂いは、あったとしても、大部分は水平方向では
なく垂直方向のものである。この狂いは平面ばね30の
曲げによって吸収されて調整される。したがって、この
位置決めの狂いはスタイラスホルダ12の軸方向の休止
位置を乱さない(その理由は、スタイラスホルダ12の
軸方向休止位置はスカート18がその軸方向休止位置に
戻るのに従うからである)。円筒34とボール36との
間のこのような位置決めの狂いは横方向の休止位置に対
してはごく僅かな影響しか及ぼさない。さらにまた、起
こりうるいかなる横方向の位置決めの狂いも、単に、ス
タイラス14の休止位置の横方向の平行移動を起こすの
みであって、従来技術の場合のようにスタイラス14を
傾けることはない。したがって、スタイラスチップ15
の位置決めの狂いの程度はリング32の横方向の位置決
めの狂いの大きさと同じであるにすぎない。これに対し
て、従来技術のプローブでは、スタイラス14の長さに
よってもたらされるこの効果によって、スタイラス14
が傾くときにはスタイラスチップ15の位置決めの狂い
が著しく増大されることになる。図8は、リング32の
横方向の位置決めの狂いをさらに減少させることのでき
る変形例を示す。ボール36の代わりに、各ローラ(円
筒)34を、V溝を形成している2つの円筒状ローラ3
6aの間に配置する。そのV溝の側面は、故意にきわめ
て急峻となして、縦方向における不整合が横方向の場合
よりも一層明白になるようにする。所望により、図1の
ボール36を慣例の場合よりも僅かばかりさらに離隔さ
せて配置することによっても、同様の効果を達成するこ
とができる。
【0026】図9は、図8に示した形態のさらに他の変
形例を示す。ここでは、対のボール36の代わりに2つ
の円筒106を有する。円筒106は、図9では、その
先端をこちら向きにして示されており、互いに平行であ
り、そして、プローブ14の軸に関して半径方向に配置
されている。円筒106間には、ハウジング10に形成
したくぼみ108を設ける。図1における円筒34の代
わりに、円錐部材110をリング32に下向きに取りつ
ける。運動学的休止位置では、この円錐部材110は、
図示するように、対の円筒106に対して押しつけられ
る。円錐部材110の頂部には円筒状の延長部112を
設ける。この延長部112は、休止位置においては、く
ぼみ108内に収容される。
【0027】円錐部材110の円錐角はきわめて急峻な
ものとする。その結果、リング32が休止位置に戻され
るときに、摩擦効果によって生じるいかなる位置決めの
狂いも、横方向ではなく、主に縦方向に生じる。すなわ
ち、円錐角の急峻度は、図8に示した円筒36aにより
形成された急峻なV溝と同様の機能を達成することなに
なる。リング32が持ち上げられ、そして、円錐部材1
10が係合状態から離れるときに、その延長部112は
円筒106間にとどまっている。したがって、この延長
部112は、円錐部材110が正確に戻って円筒106
と接触するのを確保するためのガイドとして作用し、合
せピン38が不要ともなる。
【0028】スタイラスチップ15が最初に加工片に接
触した瞬時は、種々の実行可能な方法で検出することが
できる。たとえば、スタイラスホルダ12に圧電検出器
や歪ゲージを取付けることによって最初の接触を(たと
えば、国際出願第WO86/03829に記載のように
して)検出することができる。あるいはまた、スタイラ
スチップ15と加工片との間の電気回路が両者の接触に
よって閉成されるように配置することによってその接触
を検出することもできる。しかし、図1に示したように
、本実施例における好適な方法では光電検出器を用いる
。発光ダイオード42より光ビームを発生させ、その光
ビームをスタイラスホルダ12の開口44を通過させる
。これにより光スポット48が、図3により明確に示さ
れているように並置された一対の光検出器46に入射す
る。光検出器46の出力を、差動入力端子を有する自動
零回路(auto  zero  circuit)5
0に供給する。この回路50の機能は、検出器46の出
力の長期間にわたるドリフトを追跡して、このような長
期ドリフトの如何にかかわらず、回路50の出力が一定
値(たとえば零)になるようにすることにある。しかし
、検出器46から受けた差動入力間に何らかのより急峻
な不整合があると、自動零回路50はそれに反応して、
その出力を増加させ、そして、その結果、トリガ回路5
2はトリガ信号を発生する。したがって、自動零回路5
0は、ある所定値を越える差動入力の変化の速度に応答
する。このような状態は、スタイラス14が加工片に接
触して振れはじめるときに、光スポット48が検出器4
6の一方または他方に向けて移動するときに生じる。か
かる自動零回路の詳細はヨーロッパ特許出願公開番号E
P0242747(対応日本出願の公開番号は特開昭6
3−24105号)に示されている。
【0029】図4は図1および図2に示したプローブの
変形例を示す。平面ばね30,リング32および円筒3
4はほぼ三角形状をなす平面ばね54で置き代えられて
いる。この三角形の各頂点部には、平面ばね54を切欠
いて放射状のスロット56を形成しておく。このスロッ
ト56により各頂点部にフォークを形成する。ハウジン
グ10に固着された3対のボール36の代わりに、3個
の単独ボール58を設け、各スロット56を各ボール5
8の上に配置する。この配置によって、図1と同様の精
密な横方向休止位置を構成するが、この実施例の配置は
より廉価に製造できる。
【0030】図1に示したスカート18はセラミック材
料から作ることができ、表面20を形成するハウジング
10におけるセラミック環に対して押しつけるようにす
ることができる。セラミック材料は互いにこすり合わせ
てラップ仕上げ(なじみラッピング)することができる
ので、きわめて平坦な、したがって精密な着座部材を構
成するのに好適である。
【0031】あるいはまた、表面20とエッジ22の表
面をラップ仕上げする代わりに、図10に示すように、
スカート18の下側表面に3個のボール114を設けて
もよい。これら3個のボール114はプローブの軸のま
わりに等間隔で配置され、表面20に対して押しつけら
れる。米国特許第4,153,998号に述べられてい
るように、3個のボール114を板の上に配置した構成
により、ラップ仕上げする必要なしに、きわめて精密な
軸方向の休止位置を与えることができる。しかし、この
場合は3点支持であるので、このような構成はある程度
のローブを受けやすい。この場合のローブは図1の構成
の場合よりも悪いにも拘らず、スカート18と表面20
との間の摩擦力がきわめて小さいので、本例の構成は従
来例よりもよい。ローブの程度がこの摩擦力に比例する
のは勿論であり、スタイラス14を振れさせるためには
この摩擦力に打勝つことが必要である。
【0032】3個のボール114を有する構成を用いる
と、これらボール114と表面20との間で電気的スイ
ッチングを行うことによってスタイラスの振れを検出す
ることが可能になる。このことは米国特許第4,153
,998号により詳しく述べられている。そのような場
合に、スカート18上のボール114は、従来技術にお
いて必要である大きさよりもはるかに小さくすることが
できる。従来技術の構成では、負荷(ローディング)を
与える能力を与えるためには、ボールの半径をかなり大
きくすることが必要である。しかし、図10のプローブ
では、スカート18と表面20との間の負荷はきわめて
小さいので、小さいボール114を用いることができる
。これにより、従来技術における大きい半径のボールの
場合と同様のヘルツ歪(Hertzian  stre
ssing)がボール114と表面20との間に生じる
ので、スカート18と表面20との間の負荷を小さく保
ってローブを最小限にしつつ、かかる接触の電気的特性
が悪影響を確実に受けないようにすることができる。
【0033】スタイラスホルダ12およびスタイラス1
4の各重さを適切に定めて、スタイラスとスタイラスホ
ルダの組合せについての重心CGが、休止位置を規定す
る軸方向および横方向の拘束とほぼ同一の水平面内に位
置するようにするのが望ましい。このことは、スカート
18を表面20上の所定の位置に保つように軸方向負荷
を比較的低くするのにも拘らず、プローブが移動する際
に振動や慣性の効果に起因してスタイラス14が偶発的
に振れる危険がほとんどないようにするのに役立つ。
【0034】図10の構成に代わる他の例としては、ス
カート18の下側表面にボールのリングを配設して、表
面20に対して押しつけるようにしてもよい。このよう
なボールのリングは、環状の板にあけた穴の各々にボー
ルの各々を挿着し、そしてこれらボールを適所に細管グ
ルーで接着して製造する。環状板を表面20に締着し、
グルーを付けたときにボールを表面20に接触させる。 これにより、すべてのボールが表面20と接触するよう
にして軸方向の休止位置が正確に定められるようにして
ほぼローブのでない性能を与えるようにする。
【0035】図5および図6は本発明プローブの第2実
施例を示す。ハウジング60内にスタイラスホルダ62
を設け、このスタイラスホルダ62から、第1実施例と
同様に、スタイラス14を吊り下げる。スタイラスホル
ダ62は中間ケージ64内に設けられ、図1の円筒34
とボール36にほぼ類似して配置された円筒66と対の
ボール68とによる運動学的配置によりそのケージ64
内に配置される。円筒66とボール68はケージ64内
のばね70によって互いに係合するように偏倚されてい
る。
【0036】ケージ64はそれに吊下げて取付けられた
環状スカート72を有する。このスカート72は、図1
においてスカート18がハウジング10の表面20と係
合しているのと同様に、ハウジング60の表面74と係
合する。図1の場合と同様に、スカート72および表面
74をセラミックとし、互いにこすり合わせてラップ仕
上げしてケージ64に対する良好な軸方向休止位置を与
えるようにして製造する。ケージ64をばね76によっ
てこの休止位置に偏倚させる。ばね76によるケージ6
4に及ぼされる力は比較的小さく、かつばね70による
スタイラスホルダ62に及ぼされる力よりもはるかに小
さいので、スカート72と表面74との間の軸方向の負
荷はきわめて小さい。これにより、スカート72と表面
74との間の摩擦はきわめて小さく、このことは、図1
のプローブと同様に良好なローブおよびヒステリシス特
性を与える。
【0037】ケージ64は平面ばね配置によって横方向
に休止位置に位置する。図5からわかるように、この平
面ばね配置はケージ64とハウジング60との間に直接
接続されており、そして、図1とは異なり、スタイラス
ホルダ62には直接に固着されていない。平面ばね配置
の一例では、3つの細長い平面ばね78を、図6により
明らかに示されるように、プローブの軸のまわりに三角
形配置にまとめられた形態で配設する。各ばね78の一
端をケージ64に固着し、同他端をハウジング60に固
着する。これらばね78には予め応力を与えてはおらず
、無負荷状態では平坦であり、したがって、スカート7
2と表面74との間に負荷を与えるのには寄与しない。
【0038】したがって、スタイラスホルダ62は円筒
66とボール68により完全に運動学的形態でケージ6
4内に支持され、そして、ばね70によってこの支持装
置に押しつけられる。ケージ64内部のこれら部材のす
べては、ハウジング60に対してそのまま一体的に動く
閉じた系を構成している。ケージ64は、スカート72
と表面74とにより与えられる良好な軸方向の拘束、お
よび平面ばね78により与えられる良好な横方向の拘束
を有する。
【0039】作動にあたって、スタイラス14が加工片
と接触して振れると、まず、スカート72とケージ64
とが表面74から持上げられ、すなわち、一体となって
表面74から傾く。スタイラスホルダ62は、3つの永
久磁石80(図5にはそのうちの1個のみが示されてい
る)によってケージ64内で持上げられるのが阻止され
る。これら永久磁石80は、円筒66のボール68との
係合状態を保つ。このようにケージ64が持上げられ、
すなわち傾くのに対して、スカート72と表面74との
間に低い負荷を与えるばね76の小さな力が抗するのみ
であるから、プローブの最初の運動は、図1のプローブ
の場合と同様の理由から、ローブのでない特性を有する
。更にまた、同じ理由から、スタイラス14が最終的に
その休止位置に戻るとき、その休止位置にはヒステリシ
スはほとんどまたはまったくない。
【0040】しかし、スタイラス14が振れるときにケ
ージ64が上述したように一体となって持上げられたり
、または傾けられるのは、スタイラス14の振れの量が
きわめて小さなときにのみ成り立つ。スカート72の上
側エッジとハウジング60内壁に沿って延在する肩部8
4との間にきわめて小さいクリアランス、すなわち隙間
82(たとえば10ミクロン)がある。スタイラス14
が十分に振れてこの隙間82がなくなった後に、スタイ
ラス14がさらに振れると、1個または2個以上の円筒
66は、ばね70および磁石80の作用に抗して、各対
応のボール68から外れる。
【0041】図5および図6の実施例では、スカート7
2と表面74との間のラップ仕上げによる環状の接触領
域は、もし必要ならば、板に係合した3個のボールある
いは板に係合したボールによるリングと置き代えること
ができる。これは、図10に示した図1の変形例につい
て上述したところと同様である。
【0042】図7はさらに他の実施例を示す。ハウジン
グ88内にケージ86を設ける。ケージ86は、図1に
おける円筒34とボール36と同様に、ボール90およ
びローラ92の上に運動学的に配置される。ばね94に
よりケージ86をこれら円筒92およびボール90上の
運動学的に規定された休止位置に偏倚させる。
【0043】ケージ86の内部には、スタイラスホルダ
96を設け、そのスタイラスホルダ96から上述したよ
うにスタイラス14を吊下げる。スタイラスホルダ96
は、ばね98により、ケージ86をその休止位置に偏倚
させる力よりも小さい力で、ケージ86内の休止位置に
偏倚させられる。ケージ86内のスタイラスホルダ96
の休止位置はダイアフラム状の平面ばね100によって
横方向に規定される。。この平面ばね100は、図1に
おける平面ばね30と同様に、スタイラスホルダ96の
中央の領域に接続される。しかし、平面ばね100には
あらかじめ応力は加えられておらず、図7に示すように
平坦なときには無負荷状態にある。スタイラスホルダ9
6の休止位置は、スタイラスホルダ96およびケージ8
6の平坦な表面によって位置102において軸方向に定
められる。これら表面は互いにこすり合わされてラップ
仕上げされて、上例と同じように、良好な軸方向の位置
決めがなされる。これを容易に行うために、前述したよ
うに、各部分をセラミック材料とすることができる。
【0044】作動にあたっては、スタイラス14が加工
片と接触して振れたときに、ケージ86は最初はボール
90および円筒92により定められた運動学的休止位置
に静止したままとどまっている。最初の振れは、ケージ
86内でスタイラスホルダ96がばね98の作用に抗し
て動くことによりはじまる。このような運動は平面ばね
100が曲がることにより許容される。表面102にお
けるスタイラスホルダ96とケージ86との間の軸方向
の負荷は、前述したように、弱いばね98のために、き
わめて軽い。その結果、スタイラス14の振れにはロー
ブが生じることがなく、ヒステリシスもほとんどない。 その理由は前述したところと同様である。
【0045】スタイラスホルダ96がケージ86の肩部
104と係合するまでには、ケージ86間でのスタイラ
スホルダ96は、比較的小さな量だけ動くことのみが許
容される。図5における肩84と同じように、かかる係
合が生じるまでにわずかな隙間しかない。スタイラス1
4がさらに振れると、その振れは、ケージ86がばね9
4の作用に抗して、運動学的着座部材90,92から外
れて、一体に動くことによって吸収される。
【0046】上述した図5および図6の変形例と同様に
して、図7におけるラップ仕上げされた平坦な表面10
2を板上に戴置された3個のボールまたは板上に戴置さ
れたボールの環で置換することもできる。
【0047】図4〜図10の実施例のいずれも、図1の
実施例について上述したように、スタイラスチップと加
工片との間の接触の瞬時を検出するための何らかの配置
を有するようにできる。
【0048】本発明によれば、上述した実施例のすべて
において、平面ばね30,78または100を大きい距
離にわたって曲げなくてもよいということがひとつの特
徴となっている。図5〜図7のプローブの場合、肩部8
4または104と係合する前の小さな隙間によって平面
ばねがさらに曲がるのが阻止されるからである。いずれ
の場合においても、スタイラス14がさらに過度に動く
ことは、平面ばねがさらに曲がることなく、円筒66,
92とボール68,90とがはずれることによって処理
される。図1のプローブの場合、平面ばね30が曲がる
のを阻止する肩部はないが、スタイラス14が過度に動
くことは円筒34とボール36とが外れることによって
処理される。これに対比して、従来技術のプローブでは
、横方向の拘束は平面ばねで与えられるが、(上述した
米国特許第4,451,987号のように)、この平面
ばねはスタイラスが過度に動くのも許容しなくてはなら
ない。このような従来技術のプローブでは、スタイラス
がこのように過度に動くことを許容するために比較的可
撓性に富むフロッピーな平面ばねを必要とする。これに
対して、本発明によるプローブでは、このような必要は
なく、したがって、いずれの場合にも、平面ばねを実質
上よりも剛固なものとすることができる。これにより、
図1のスカート18、図5のスカート72または図7の
スタイラスホルダ96に残っている何らかの横方向変位
に対して平面ばねが抵抗する力を著しく改善する。 横方向の抵抗がより強くなれば、表面20と22の間(
図1)、スカート72と表面74との間(図5)、およ
び表面102の間(図7)の摩擦接触のヒステリシスを
一層減少させることになる。
【0049】本発明によれば、上述した実施例のプロー
ブのすべてがもつ他の特徴は、スタイラスの最初の振れ
に必要とされる力を故意にきわめて小さくなしてローブ
およびヒステリシスの問題を減少させ、あるいは除去さ
せるが、それにも拘らず、円筒34,66,92をボー
ル36,68,90の対に着座させる力がきわめて大き
くなり、それにより着座が良好になることを確保できる
ことにある。実際、円筒が各ボールと係合させられるの
に必要な力は、このような運動学的着座構成を有する従
来技術のプローブの場合に通常必要とされる力よりも大
きくすることができる。その理由は、本発明によれば、
この力を増加させても、プローブのローブおよびヒステ
リシスの性能を減じることにはならないからである。
【0050】
【発明の効果】本発明では、固定部材と、加工片に接触
するスタイラスを支持する第1可動部材と、相互に係合
可能な少くとも1対の第1部材と、第2支持手段とを有
する第1支持手段であって、前記第2支持手段は前記第
1支持手段から独立しており、相互に係合可能な少くと
も1対の第2部材を有し、前記第1および第2部材のす
べてが係合して前記第1可動部材を前記固定部材に対す
る休止位置に保持するときに前記第1および第2支持手
段が互いに共働するようになした第1支持手段と、前記
第1および第2部材のすべてを偏倚させて係合させる第
1および第2偏倚手段であって、前記スタイラスが加工
片に接触するときに、前記対の第1および第2部材の双
方を、前記第1および第2偏倚手段の作用に抗して、係
合状態から外して、前記第1可動部材が前記休止位置か
ら前記固定部材に対して同じ方向に変位できるようにす
る第1および第2偏倚手段とを具え、前記対の第1部材
を前記対の第2部材よりも小さい偏倚力で偏倚させて係
合させ、それにより前記第1可動部材の変位時に前記対
の第1部材を前記小さい偏倚力に抗して係合状態から外
し、そして次に前記対の第2部材を係合状態から外すよ
うにしたので、第1支持手段を第2支持手段よりも小さ
い力で偏倚して、その摩擦をきわめて小さくすることが
でき、その結果スタイラスが振れるときのローブおよび
ヒステリシスの問題を解決して、プローブの精度を高め
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明接触プローブの第1実施例を示す
縦断面図である。
【図2】図2は図1の線II−IIにおける横断面図で
ある。
【図3】図3は図1のプローブに対する検出器の構成を
示すブロック図である。
【図4】図4は第1実施例の変形例を図2に対応して示
す横断面図である。
【図5】図5は本発明接触プローブの第2実施例を示す
縦断面図である。
【図6】図6は図5の線VI−VIにおける横断面図で
ある。
【図7】図7は本発明接触プローブの第3実施例を示す
縦断面図である。
【図8】図8は第1実施例1の他の変形例を図1の線V
IIIにおいて示す図である。
【図9】図9はさらに他の変形例を図8に対応して示す
図である。
【図10】図10は図1のプローブの他の変形例を示す
縦断面図である。
【符号の説明】
10  ハウジング 12  スタイラスホルダ 14  スタイラス 15  スタイラスチップ 16  開口 18  スカート 20  表面 22  エッジ 24  ばね 26  円錐状部材 28  くぼみ 30  平面ばね 32  リング 34  円筒 36  ボール 36a  円筒状ローラ 38  合せピン 40  穴 42  発光ダイオード 44  開口 46  光検出器 48  光スポット 50  自動零回路 52  トリガ回路 54  平面ばね 56  スロット 58  ボール 60  ハウジング 62  スタイラスホルダ 64  ケージ 66  円筒 68  ボール 70  ばね 72  スカート 74  表面 76  ばね 78  平面ばね 80  永久磁石 82  隙間 84  肩部 86  ケージ 88  ハウジング 90  ボール 92  ローラ 94  ばね 96  スタイラスホルダ 98  ばね 100  平面ばね 102  位置 104  肩部 106  円筒 108  くぼみ 110  円錐部材 112  円筒状延長部 114  ボール

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  位置決定装置のための接触プローブで
    あって、固定部材と、加工片に接触するスタイラスを支
    持する第1可動部材と、相互に係合可能な少くとも1対
    の第1部材と、第2支持手段とを有する第1支持手段で
    あって、前記第2支持手段は前記第1支持手段から独立
    しており、相互に係合可能な少くとも1対の第2部材を
    有し、前記第1および第2部材のすべてが係合して前記
    第1可動部材を前記固定部材に対する休止位置に保持す
    るときに前記第1および第2支持手段が互いに共働する
    ようになした第1支持手段と、前記第1および第2部材
    のすべてを偏倚させて係合させる第1および第2偏倚手
    段であって、前記スタイラスが加工片に接触するときに
    、前記対の第1および第2部材の双方を、前記第1およ
    び第2偏倚手段の作用に抗して、係合状態から外して、
    前記第1可動部材が前記休止位置から前記固定部材に対
    して同じ方向に変位できるようにする第1および第2偏
    倚手段とを具え、前記対の第1部材を前記対の第2部材
    よりも小さい偏倚力で偏倚させて係合させ、それにより
    前記第1可動部材の変位時に前記対の第1部材を前記小
    さい偏倚力に抗して係合状態から外し、そして次に前記
    対の第2部材を係合状態から外すようにしたことを特徴
    とする接触プローブ。
  2. 【請求項2】  前記第2部材は運動学的支持装置を構
    成し、および前記第2支持手段は少くとも横方向の拘束
    を付与することを特徴とする請求項1記載の接触プロー
    ブ。
  3. 【請求項3】  前記第2支持手段は前記第1可動部材
    に軸方向の変位を許容すると共に前記横方向の拘束を付
    与する手段をさらに具えたことを特徴とする請求項2記
    載の接触プローブ。
  4. 【請求項4】  前記軸方向の変位を許容する手段は平
    面ばねを有することを特徴とする請求項3記載の接触プ
    ローブ。
  5. 【請求項5】  前記第1支持手段は前記第1可動部材
    に対して軸方向の拘束を付与し、前記第1部材を前記第
    1可動部材および前記固定部材の上にそれぞれ配置した
    ことを特徴とする請求項1〜4項のいずれかの項に記載
    の接触プローブ。
  6. 【請求項6】  前記対の第1部材は、前記第1可動部
    材および前記固定部材の一方の上に環を有し、および前
    記第1可動部材および前記固定部材の他方の上に平坦な
    表面を有することを特徴とする請求項1〜5項のいずれ
    かの項に記載の接触プローブ。
  7. 【請求項7】  前記第1支持手段は、前記第1可動部
    材および前記固定部材の一方の上に3個の前記第1部材
    を有し、該3個の第1部材は前記第1可動部材および前
    記固定部材の他方の上の3位置と係合可能であることを
    特徴とする請求項1〜5項のいずれかの項に記載の接触
    プローブ。
  8. 【請求項8】  第2可動部材を有し、前記第1および
    第2支持手段の一方を前記第1および第2可動部材の間
    に設け、および前記第1および第2支持手段の他方を前
    記第2可動部材と前記固定部材との間に設けたことを特
    徴とする請求項1または2記載の接触プローブ。
  9. 【請求項9】  前記第1支持手段を前記第2可動部材
    と前記固定部材との間に設け、および前記第2支持手段
    を前記第1および第2可動部材の間に設けたことを特徴
    とする請求項8記載の接触プローブ。
  10. 【請求項10】  前記第1支持手段を前記第1および
    第2可動部材の間に設け、および前記第2支持手段を前
    記第2可動部材と前記固定部材との間に設けたことを特
    徴とする請求項8記載の接触プローブ。
  11. 【請求項11】  前記第1部材は軸方向の拘束を付与
    し、および前記第1支持手段は、前記第1部材が係合状
    態から外れるときに、横方向の拘束を付与すると共に前
    記第1可動部材に軸方向の変位を許容する手段をさらに
    具えたことを特徴とする請求項8〜10のいずれかの項
    に記載の接触プローブ。
  12. 【請求項12】  前記横方向の拘束を付与する手段は
    平面ばねを有することを特徴とする請求項11記載の接
    触プローブ。
  13. 【請求項13】  前記第1支持手段は、前記第1部材
    が係合状態から外れるときに、当該第1部材が互いに離
    隔する動きを制限する当接手段を含むことを特徴とする
    請求項8〜12項のいずれかの項に記載の接触プローブ
JP3028767A 1990-02-23 1991-02-22 接触プローブ Pending JPH04339205A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9004117.9 1990-02-23
GB909004117A GB9004117D0 (en) 1990-02-23 1990-02-23 Touch probe

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04339205A true JPH04339205A (ja) 1992-11-26

Family

ID=10671510

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3028767A Pending JPH04339205A (ja) 1990-02-23 1991-02-22 接触プローブ
JP3504979A Expired - Fee Related JP3004050B2 (ja) 1990-02-23 1991-02-25 接触式プローブ

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3504979A Expired - Fee Related JP3004050B2 (ja) 1990-02-23 1991-02-25 接触式プローブ

Country Status (6)

Country Link
US (2) US5146691A (ja)
EP (6) EP0470234B1 (ja)
JP (2) JPH04339205A (ja)
DE (8) DE551164T1 (ja)
GB (1) GB9004117D0 (ja)
WO (1) WO1991013316A1 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002541444A (ja) * 1999-04-06 2002-12-03 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー ダイアフラムおよびモジュールを備えた測定プローブ
JP2005522655A (ja) * 2002-04-05 2005-07-28 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー ダンパーを備えるキネマティックカップリング
JP2006509193A (ja) * 2002-12-05 2006-03-16 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 高速走査用プローブ
JP2008541081A (ja) * 2005-05-10 2008-11-20 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 寸法測定用プローブ
JP2009536325A (ja) * 2006-05-10 2009-10-08 カール ツァイス インドゥストリーレ メステクニーク ゲーエムベーハー 加工品の表面点に接触するための方法および装置
US10514257B2 (en) 2016-09-20 2019-12-24 DMG MORI Company Limited Detecting device
JP2020030210A (ja) * 2018-08-22 2020-02-27 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung タッチプローブシステム

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5491904A (en) * 1990-02-23 1996-02-20 Mcmurtry; David R. Touch probe
GB9004117D0 (en) * 1990-02-23 1990-04-18 Renishaw Plc Touch probe
GB9106731D0 (en) * 1991-03-28 1991-05-15 Renishaw Metrology Ltd Touch probe
GB9111382D0 (en) * 1991-05-25 1991-07-17 Renishaw Metrology Ltd Improvements in measuring probes
US5327657A (en) * 1991-07-11 1994-07-12 Renishaw Metrology Ltd. Touch probe
JP3279317B2 (ja) * 1991-11-09 2002-04-30 レニショウ メタロジィ リミテッド 接触プローブ
DE4325743C1 (de) * 1993-07-31 1994-09-08 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Mehrkoordinaten-Tastkopf
EP0695412A1 (en) * 1994-02-18 1996-02-07 Renishaw plc Measuring probe
DE59509004D1 (de) * 1995-03-10 2001-03-08 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Mehrkoordinaten-Tastkopf mit gleichen Auslenkungen
DE19535251A1 (de) * 1995-09-22 1997-03-27 Philips Patentverwaltung Meßvorrichtung mit mechanischer Berührungserkennung
IT1299954B1 (it) * 1998-04-06 2000-04-04 Marposs Spa Sonda a rilevamento di contatto.
FI110210B (fi) 1998-12-31 2002-12-13 Kibron Inc Oy Mittauslaite pienten voimien ja siirtymien mittaamiseksi
US6553682B1 (en) * 1999-03-15 2003-04-29 Paradyne Touch probe
GB9907644D0 (en) * 1999-04-06 1999-05-26 Renishaw Plc Surface sensing device with optical sensor
JP3352055B2 (ja) 1999-06-16 2002-12-03 株式会社ミツトヨ タッチ信号プローブの着座機構
US6343564B1 (en) 1999-07-26 2002-02-05 Alliant Techsystems Inc. Ammunition detector
GB0102324D0 (en) * 2001-01-30 2001-03-14 Renishaw Plc Capacitance type displacement responsive device and a suspension system for a displacement responsive device
US6925722B2 (en) * 2002-02-14 2005-08-09 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with improved surface features
US6973734B2 (en) * 2002-02-14 2005-12-13 Faro Technologies, Inc. Method for providing sensory feedback to the operator of a portable measurement machine
US6957496B2 (en) * 2002-02-14 2005-10-25 Faro Technologies, Inc. Method for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine
US7881896B2 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US7073271B2 (en) * 2002-02-14 2006-07-11 Faro Technologies Inc. Portable coordinate measurement machine
US7519493B2 (en) * 2002-02-14 2009-04-14 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
USRE42082E1 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine
US7246030B2 (en) * 2002-02-14 2007-07-17 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US6952882B2 (en) * 2002-02-14 2005-10-11 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine
GB0221255D0 (en) * 2002-09-13 2004-02-25 Renishaw Plc Touch Probe
DE102004002853A1 (de) * 2004-01-19 2005-08-11 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Montageeinrichtung für Koordinatenmessgerät
GB0512138D0 (en) * 2005-06-15 2005-07-20 Renishaw Plc Method of determining measurement probe orientation
GB2449041B (en) * 2006-03-03 2011-01-19 Flowserve Man Co Load measurement method and device
JP5321532B2 (ja) * 2010-04-28 2013-10-23 株式会社安川電機 ロボットキャリブレーション装置及びキャリブレーション方法
ES2476016T3 (es) * 2011-09-30 2014-07-11 Siemens Vai Metals Technologies Gmbh Palpador de medición, sistema de medición, procedimiento para establecer mediante óptica láser la posición en altura de un rodillo de guiado de barras, y utilización del sistema de medición
CN102735149B (zh) * 2012-02-01 2014-12-31 昆山华恒焊接股份有限公司 探测装置及设置有该探测装置的机器人系统
EP2998696B1 (en) 2014-09-18 2021-01-06 Hexagon Technology Center GmbH Method for compensating lobing behaviour of a CMM touch probe
US9528824B2 (en) * 2015-03-31 2016-12-27 Mitutoyo Corporation Tactile probing system
US10632624B2 (en) 2016-07-26 2020-04-28 Illinois Tool Works Inc. Tool holders for robotic systems having collision detection
US9835433B1 (en) * 2017-05-09 2017-12-05 Tesa Sa Touch trigger probe
CN113945138A (zh) * 2021-11-01 2022-01-18 安徽省广德中鼎汽车工具有限公司 一种车轮维修用外部表面弧度检测装置及其使用方法
EP4257920A1 (en) * 2022-04-05 2023-10-11 Renishaw PLC Ultrasound inspection probe and corresponding inspection method
WO2023152474A1 (en) * 2022-02-09 2023-08-17 Renishaw Plc Ultrasound inspection probe and corresponding inspection method

Family Cites Families (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2470244A (en) * 1946-09-07 1949-05-17 Submarine Signal Co Electrical reproducing stylus
FR1543450A (fr) * 1967-09-14 1968-10-25 Gambin S A Dispositif palpeur pour machine-outil à copier
US3571934A (en) * 1968-06-24 1971-03-23 Lockheed Aircraft Corp Three-axis inspection probe
US4153998A (en) 1972-09-21 1979-05-15 Rolls-Royce (1971) Limited Probes
SU460426A1 (ru) 1973-04-20 1975-02-15 Предприятие П/Я Г-4086 Измерительна модульна головка
DE2509899C2 (de) * 1975-03-07 1981-10-15 C. Stiefelmayer Kg, 7300 Esslingen Tastkopf
US4136458A (en) * 1976-10-01 1979-01-30 The Bendix Corporation Bi-axial probe
IT1088539B (it) * 1976-12-24 1985-06-10 Rolls Royce Sonda per l'uso in apparecchi di misura
GB1593682A (en) * 1977-01-20 1981-07-22 Rolls Royce Probe for use in mearusing apparatus
DE2712181C3 (de) * 1977-03-19 1981-01-22 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Tastsystem
GB1599758A (en) * 1978-02-10 1981-10-07 Lk Tool Co Ltd Measuring machine
US4187614A (en) * 1978-08-04 1980-02-12 Mitsubishi Jukogyo Kabushiki Kaisha Tracer head
GB2047133B (en) * 1979-03-30 1982-12-15 Renishaw Electrical Ltd Tool connecting mechanism for machine tools
US4443946A (en) * 1980-07-01 1984-04-24 Renishaw Electrical Limited Probe for measuring workpieces
DE3279249D1 (en) * 1981-06-30 1989-01-05 Renishaw Plc Probe for measuring workpieces
JPS5866801A (ja) * 1981-10-16 1983-04-21 Futaba Corp 接触式センサ
DE3382579T2 (de) * 1982-03-05 1993-01-21 Sony Magnescale Inc Vorrichtung zum bestimmen der lage der oberflaechen eines festen objektes.
DE3215878A1 (de) * 1982-04-29 1983-11-03 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Tastkopf fuer koordinatenmessgeraete
FR2527765A1 (fr) * 1982-05-27 1983-12-02 Villejuif Etudes Indles Sonde pour appareil de mesure
US4451987A (en) 1982-06-14 1984-06-05 The Valeron Corporation Touch probe
JPS5914491A (ja) * 1982-07-12 1984-01-25 株式会社山武 ロボツトハンド
DE3231159C2 (de) * 1982-08-21 1985-04-18 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Mehrkoordinaten-Tastkopf
DE3231160C2 (de) * 1982-08-21 1985-11-07 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Mehrkoordinaten-Tastkopf
DE3246252A1 (de) 1982-11-05 1984-06-28 Traub Gmbh, 7313 Reichenbach Messtaster
EP0110192B1 (de) * 1982-11-05 1988-01-27 TRAUB Aktiengesellschaft Messtaster
JPS59104003U (ja) 1982-12-29 1984-07-13 黒田精工株式会社 タツチセンサ
GB8431746D0 (en) 1984-12-17 1985-01-30 Renishaw Plc Contact-sensing probe
DE3508396C1 (de) 1985-03-08 1985-09-12 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Mehrkoordinaten-Tastkopf
GB8610088D0 (en) 1986-04-24 1986-05-29 Renishaw Plc Probe
GB8610087D0 (en) * 1986-04-24 1986-05-29 Renishaw Plc Probe
DE3640160A1 (de) * 1986-11-25 1988-06-01 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Mehrkoordinaten-tastkopf
DE3715698A1 (de) * 1987-05-12 1988-12-01 Stiefelmayer Kg C Tastkopf
JPS6435202A (en) * 1987-07-30 1989-02-06 Tokyo Seimitsu Co Ltd Touch probe
DE3728578A1 (de) * 1987-08-27 1989-03-09 Zeiss Carl Fa Tastsystem fuer koordinatenmessgeraete
CH674485A5 (ja) * 1988-03-11 1990-06-15 Saphirwerk Ind Prod
GB8815984D0 (en) * 1988-07-05 1988-08-10 Univ Brunel Probes
DE3831974A1 (de) * 1988-09-21 1990-03-29 Wegu Messtechnik Tastkopf
GB9000894D0 (en) 1990-01-16 1990-03-14 Nat Res Dev Probes
US5253428A (en) * 1990-02-23 1993-10-19 Renishaw Plc Touch probe
GB9004117D0 (en) * 1990-02-23 1990-04-18 Renishaw Plc Touch probe

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002541444A (ja) * 1999-04-06 2002-12-03 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー ダイアフラムおよびモジュールを備えた測定プローブ
JP4726303B2 (ja) * 1999-04-06 2011-07-20 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー ダイアフラムおよびモジュールを備えた測定プローブ
JP2005522655A (ja) * 2002-04-05 2005-07-28 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー ダンパーを備えるキネマティックカップリング
JP2006509193A (ja) * 2002-12-05 2006-03-16 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 高速走査用プローブ
JP2008541081A (ja) * 2005-05-10 2008-11-20 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 寸法測定用プローブ
JP2009536325A (ja) * 2006-05-10 2009-10-08 カール ツァイス インドゥストリーレ メステクニーク ゲーエムベーハー 加工品の表面点に接触するための方法および装置
US10514257B2 (en) 2016-09-20 2019-12-24 DMG MORI Company Limited Detecting device
JP2020030210A (ja) * 2018-08-22 2020-02-27 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングDr. Johannes Heidenhain Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung タッチプローブシステム

Also Published As

Publication number Publication date
DE69103930D1 (de) 1994-10-20
EP0598709A1 (en) 1994-05-25
US5353514A (en) 1994-10-11
DE69105862T2 (de) 1995-04-27
EP0470234A1 (en) 1992-02-12
DE69103930T2 (de) 1995-02-02
EP0470234B1 (en) 1994-12-14
GB9004117D0 (en) 1990-04-18
JPH04506706A (ja) 1992-11-19
EP0598709B1 (en) 1995-08-02
DE69102283D1 (de) 1994-07-07
EP0654651A1 (en) 1995-05-24
EP0445945B1 (en) 1994-09-14
DE69104215D1 (de) 1994-10-27
DE598709T1 (de) 1994-11-17
WO1991013316A1 (en) 1991-09-05
US5146691A (en) 1992-09-15
DE69111830T2 (de) 1995-12-14
EP0551165A1 (en) 1993-07-14
DE69111830D1 (de) 1995-09-07
EP0551165B1 (en) 1994-06-01
EP0551164B1 (en) 1994-09-21
EP0445945A1 (en) 1991-09-11
EP0551164A1 (en) 1993-07-14
DE69104215T2 (de) 1995-01-19
DE551165T1 (de) 1993-11-25
DE551164T1 (de) 1993-11-25
JP3004050B2 (ja) 2000-01-31
DE69105862D1 (de) 1995-01-26
DE69102283T2 (de) 1994-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04339205A (ja) 接触プローブ
US5669152A (en) Touch probe
US5339535A (en) Touch probe
JP3101322B2 (ja) 測定プローブ
US6633051B1 (en) Surface sensing device with optical sensor
US4702013A (en) Probe for sensing contact via acceleration
US4523382A (en) Work-contact probe head for coordinate-measuring instruments
JP2510804B2 (ja) 接触プロ―ブおよびスタイラスモジュ―ル
JP5066589B2 (ja) 三次元形状測定装置用プローブ及び三次元形状測定装置
JPH03223609A (ja) タッチプローブ
EP0548328B1 (en) Touch probe
JPH0460527B2 (ja)
US5253428A (en) Touch probe
JPH0575337B2 (ja)
JP6730894B2 (ja) 検出装置
KR100344221B1 (ko) 웨이퍼 클램프 텐션 측정 장치
US20090104848A1 (en) Calibration tool and a grinder machine including such a tool