JPS5897714A - 基準電圧発生回路 - Google Patents

基準電圧発生回路

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Publication number
JPS5897714A
JPS5897714A JP19825981A JP19825981A JPS5897714A JP S5897714 A JPS5897714 A JP S5897714A JP 19825981 A JP19825981 A JP 19825981A JP 19825981 A JP19825981 A JP 19825981A JP S5897714 A JPS5897714 A JP S5897714A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diodes
reference voltage
resistance
series
diode
Prior art date
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Pending
Application number
JP19825981A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Takeda
竹田 浩二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP19825981A priority Critical patent/JPS5897714A/ja
Publication of JPS5897714A publication Critical patent/JPS5897714A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/30Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は基準電圧発生回路に関するものである。
従来、この種の回路として第1図に示すものがあった。
同図において、(1)は電源端子、(2)は定電流回路
、(3)は出力端子、(4)はダイオード、(5)はツ
ェナーダイオード、(6)は接地である。
上記構成において、電源端子(1)に電源電圧VCCが
印加されると、定電流回路(2)を通じてダイオード(
4)およびツェナーダイオード(5)に一定電流が供給
され、ダイオード(4)の順方向電圧Vyとツェナーダ
イオード(5)の逆方向電圧Vzの和、つまりVy −
1−’Tlzの電圧が基準電圧の出力端子(3)に生起
する。ダイオード(4)の順方向電圧Vνは−1,8〜
−2mV/”O程度の、またツェナーダイオード(5)
の逆方向電圧V’zは+amV/”c程度の温度依存特
性を4つので、Vν+Vzの電圧の温度依存特性は−2
mV/”C+3 mV/”O=+ tmV/’c程度の
値に安定化を図ることができ、一般に基準電圧の発生の
用に広く使用されている。
しかしながら、上記構成の晟準電圧発生回路は温度係数
が+xmV/”c程度で、それ以下の値を求めることは
困難であり、また基準電圧発生のためには、上記電圧値
Vν+vz以上の比較的大きい電圧を印加しなければな
らないという欠点があった。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
め罠なされたもので、ダイオードの順方向電圧の温度係
数とコレクタ・ベース短絡形のトランジスタの順方向電
圧の温度係数との差を利用することにより、温度係数の
低い高信頼性の基準電圧発生回路を提供することを目的
としている。
以下この発明の一実施例を図面にしたがって説明する。
第2図はこの発明に係る基準電圧発生回路の一例を示す
もので、第1図と同一部所には同一符号を付して説明を
省略する。
同図において、(4) 、 (7) 、 (8)は互に
直列接続された複数個、たとえば3個のダイオードで、
これらダイオード(4) 、 (7) 、 (8)で第
1の直列体を構成している。(9)、α値はそれぞれコ
レクタとベースが短絡されたNPN )ランジスタ、・
(6)はトランジスタa昧のエミッタに接続された抵抗
体であり、これらトランジスタ(9)、α0および抵抗
体(ロ)からなる第2の直列体は上記第1の直列体に並
列に接続されている。
上記MPM )ランジスタ(9)、α値をダイオード(
4) 、 (7)(8)の接続数よりも少なくしである
のは、両者の順方向電圧の差を有効に取り出すためであ
り、その数の差は少なくとも1個あればよい、出力端子
(3)ハ上記)ランジスタ(イ)のエミッタに接続され
ている。
上記構成において電源端子(1)に電源電圧VCCが印
加されると、定電流回路(2)を通じてダイオード(4
) 、 (7) 、 (8)と、NPN )ランジスタ
(9) 、 Q*および抵抗体側からなる第2の直列体
に電流が供給され上記トランジスタα値のエミッタと抵
抗体(ロ)との間から基準電圧がとり出される。
ここで、ダイオード(4) 、 (7) 、 (8)の
順方向電圧の温度係数はP、N接合に流れる電流、すな
わち、アノード電流゛工^(=カソード電流)で決定さ
れ、コレクタ・ベース短絡形のトランジスタ(9) 、
 HC)場合はベース電流よりの値で決り、電流値が大
きい程、温度係数は小さい値を示す。したがって、ダイ
オード(4) 、 (7) 、 (8)を電流増幅率h
yx == 1のトランジスタのように考えると、この
ダイオード(4)・(7)・(8)ではベース電流ツア
ノード電流=コレクタ電流となるOK対し、上記NPN
 ) ?ンジスタ(幻、α値による各ダイオードの場合
、ベース電流をアノード電流の2〜3桁低い値に容易に
設定できることになる。すなわち、ダイオード(4) 
、 (7)・(8)の小さい温度係数とNPN )ラン
ジスタ(9) 、 (11)によるダイオードの大きい
温度係数の差の利用により温度特性の喪い基準電圧を発
生させることができる。
第2図のもOKおける1つの実測例として、ダイオード
(4) 、 (7) 、 (8)の各温度係数をそれぞ
れml”−1,8mv /”C1NPN ) ? ンジ
スp(9)l)o各温度係数をそれぞれmt= −2,
5mV / ”Cとすると、出力端子(3)での温度係
数mは m = 3m5−2m5= 3 X (−1−8mV/
’C)−2X (−Z 5mV”0)=−5,41nV
/”C+51117/”C=−α4mV/’0 となり、非常に温度変化の少ない基準電圧が得られるこ
とがわかる。tた、上記構成においては、順方向のダイ
オード特性を利用しているのでノイズ特性も従来のツェ
ナーダイオードのように逆方向特性を利用したものに比
し曳好になるうえ、低い電圧で動作させることができる
利点もある。
なお、上記ダイオードやトランジスタの直列接続の数を
増やすことにより、温度係数をさらに良゛くすることも
可能である。また、上記実施例では、NPN ) 2ン
ジスタを用いたものを例に説明したものであ′るが、P
IP )ランジスタを用いても良い。
以上のように、この発明性コレクタとベースを短絡した
トランジスタとダイオードとの組み合せにより、温度依
存性の小さい基準電圧発生回路を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の基準電圧発生回路を示す電気回路図、第
2図はこの発明に係る基準電圧発生回路の一例を示す電
気回路図である。 (1)・・・電源端子、(2)・・・定電流回路、(3
)・・・出力端子、(4) 、 (7) 、 (8)・
・・ダイオード、(9) 、 @・・・コレクタ・ペー
ス短絡形トランジスタ、(ロ)・・・抵抗体。 なお、図中同一符号は同一もしくは和尚部分を示す。 代理人 葛野信−(外1名) 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. α)、電源端子と、互に直列接続された複数のダイオー
    ドで構成されて、上記電源端子に定電流回路を介して接
    続された第1の直列体と、上記ダイスタならびに抵抗体
    で構成されて、上記第1の直列体に並列接続された第2
    の直列体と、上記第1の直列体の順方向電圧と第2の直
    列体の順方向電圧との差の電圧を取り出す出方端子とを
    具備した基準電圧発生回路。
JP19825981A 1981-12-04 1981-12-04 基準電圧発生回路 Pending JPS5897714A (ja)

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JP19825981A JPS5897714A (ja) 1981-12-04 1981-12-04 基準電圧発生回路

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JP19825981A JPS5897714A (ja) 1981-12-04 1981-12-04 基準電圧発生回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5897714A true JPS5897714A (ja) 1983-06-10

Family

ID=16388148

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JP19825981A Pending JPS5897714A (ja) 1981-12-04 1981-12-04 基準電圧発生回路

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JP (1) JPS5897714A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5150188A (en) * 1989-11-30 1992-09-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Reference voltage generating circuit device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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