JPS5875800A - X線自動露出装置 - Google Patents

X線自動露出装置

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JPS5875800A
JPS5875800A JP17407081A JP17407081A JPS5875800A JP S5875800 A JPS5875800 A JP S5875800A JP 17407081 A JP17407081 A JP 17407081A JP 17407081 A JP17407081 A JP 17407081A JP S5875800 A JPS5875800 A JP S5875800A
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Mitsuru Ikeda
満 池田
Shigemitsu Izumi
泉 重光
Makoto Konno
誠 金野
Yoichi Takenaka
陽一 竹中
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
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Hitachi Medical Corp
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling
    • H05G1/38Exposure time
    • H05G1/42Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
    • H05G1/44Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly

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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、イメージインテンシファイア(以下1’−1
,1,Jという)の出力の一部を採光して自動的にX線
露出を制御するためのX線自動露出装置の改良に関する
ものである。
第1図は、前記従来のX線自動露出制御装置の構成を示
した図である。図中、1はX線管、2は被検体、6はX
線フィルム、4は1.1..5は光学系、6はホトタイ
マ、7はテレビカメラ、8はテレビモニタ、9はX線撮
影条件設定回路、10はX線高電圧発生装置であり、前
記1.1.4の出力の採光視野内に採光器を設けて採光
し、それらの積分値によりホトタイマ6を動作させ被検
体2に対応したX線照射時間を決定し、これにより自動
的にX線撮影条件設定回路9を介して、X線発生装置1
0′のX線照射時間を制御してX線管1からのX線照射
量を最適なものにしている。
このような従来のX線自動露出制御装置では、採光器の
採光視野全体からの積分光量で制御しているだめ、その
採光視野の一部が、例えば、光量不足、光量過多等の場
合、即ち、前者の場合はX線管1から発生するX線が強
くなり、興射野全体は露出過多となる。また、後者の場
合はX線が弱くなり、露出不足となる欠点があった。
本発明は、前記欠点を除去するだめになされたものであ
り、イメージインテンシファイアの出力の採光視野内に
複数の採光器(以下チャンネルという)からなる採光部
を設けて、それぞれのチャン・ネルの出力がXm露出不
足及びX線露出過多であることを検出する手段と、該手
段の出力により前記X線露出不足及びX線露出過多の条
件のチャンネルの出力を除去する手段を備えたX線自動
露出装置であって、X線露出不足検出基準値を全チャン
ネルの出力平均値から設定する手段と、X線露出過多検
出基準値を、透視管電圧が中間管電圧以上になると透視
管電圧で設定し、中間管電圧以下になると全チャンネル
の出力平均値で設定する手段を具備したことにある。
以下、実施例によシ本発明の詳細な説明する。
なお、全図において、同一のものは同一記号を付しであ
る。また、以下露光量または露出量の不15.′1 足を「アンダー」、過多を「オーバー」という。
第2図は、本発明のX線自動露出装置の基本的な部分の
一実施例の構成を示したプロ、り図である。図中、11
は1.T、4の出力光を採光するマルチ採光部であり、
複数のチャンネル11A〜11Nで構成されている。1
2はアナログスイッチ群であり、複数のアナログスイッ
チ12A〜12Nで構成されている。13は前記アナロ
グスイ。
チ群12からの出力を加算するための加算回路、14は
加算回路13から出力を前記チャンネル数で割算して1
チャンネル当りの平均値を出力するだめの割算回路、1
5は出力端子であり、第1図に示すX線撮影条件設定回
路9に接続される。16は採光視野、即ち、前記チャン
ネル11A〜11Nのセレクト信号O8を入力する端子
、17はう、チ信号Rを発生する回路、18は前記オー
ツ(−及びアンダiを検出するだめの検出基準信号発生
回路、19は前記各チャンネル11A〜11Nの出力の
オーバーかアンダーかを検出するオーツ(−・アンダー
検出回路である。20は全チャンネ、1 ル11A〜11Nの出力が全部オーツ(−であることを
検出するだめの検出回路、21は全チャンネル11A〜
11Nの出力が全部アンダーであることを検出するだめ
の検出回路、22は全チャンネル11A〜11Nのうち
1部オーバーで残り全部がアンダーであることを検出す
るための検出回路、23はラッチ回路であり、ラッチ信
号Rによりホールド状態にされ、ホールド時は出力が変
わらないものである。24は動作しているチャンネルの
総数を求めるための計数回路、25A〜250はアナロ
グスイッチであり、ハイ (H)レベルのとき゛オフ、
ロー(L)レベルのときオンする。26は論理和(OR
)回路、27はオーバー設定信号発生回路であり、例え
ば、チャンネル11Aの出力がオーバーであるレベルの
信号を発生する。28はアンダー設定信号発生回路であ
り、例えば、チャンネル11Aの出力がアンダーである
レベルの信号を発生する。29はチャンネル数を表わす
ときの「1」に相当する信号を発生するrlJ信号発生
回路である。
第3図は、第2図のマルチ採光部11の回路の具体的構
成を示しだ図であり、101,10.2・・はフォトダ
イオード、111,112. はフォトダイオードの出
力電流を電圧に変換する回路である。
第4図は、第2図のオーバー・アンダー検出回路19.
全チャンネルオーバー検出回路20.全チャンネルアン
ダー検出回路21及び1部オー・(−残り全部アンダー
検出回路22の具体的構成を示した図である。図中、1
9Aはオーバー検出用コンパレータであり、それぞれの
コンパレータにハ各チャンネル11A〜11NよりのX
線露出に対応した電気信号E1とオーバー条件基準信号
E1が入力され、gi>E、のとき)・イ (H)レベ
ルの信号を出力するものである。19Bはアンダー検出
用コンパレータであり、それぞれのコンパレータには前
記電気信号E1 とアンダー条件基準信号E、が入力さ
れ、El〈E!のときノ・イ(H)レベルの信号を出力
するものである。19C3〜19ON は各チャンネル
がオーバー又はアンダーであることを検出するための論
理和(OR)回路、2DA、21A、22Aはそれぞれ
採光視野セレクト用切換スイッチであり、1枚操りのと
きは全チヤンネルをオンし、2分割撮り、4分割撮りの
ときは1.1.4の出力面の光のあたる部分のチャンネ
ルだけオンする。使用しないチャンネルはハイ()l)
レベルにしておく。20B、21B、22Bは一致回路
、30.31はインバータ、Ee+は全チャンネルオー
バー信号、Eo、は1部オーバー残り全部アンダー信号
、Eosは全チャンネルアンダー信号、Eo4はアナロ
グスイッチ25(3をオンさせるための信号である。
第5図は、第2図のう、子回路23の具体的構成を示し
た図である。図中、25Aはう、チ、23Bは採光視野
セレクト用スイ、チであり、a端子側がセット、b端子
側(ハイ (H)側)はリセットである。250は全チ
ャンネルオンセ、ト用スイ、チで、H端子にはロー(L
)レベルの電圧が印加されており、L端子は通常のオー
バー・アンダー検出用端子である。そして、前記第4図
の論理和回路190+〜19ONの出力が接続されてい
る。
次に、第2図に示す実施例の動作を説明する。
まず、第5図に示される採光視野セレクト用スイッチ2
3Bを採光視野セレクト信号C8によってa端子側に接
続しアナログスイッチ群12のアナログスイッチ12A
〜12Nのうち採光視野に対応したものだけをオンにし
ておく。例えば、1枚操りの場合は全チャンネルに相当
する採光視野であるから前記アナログスイッチ12A〜
12Nの全部がオン状態にされる。次にX線が被検体2
に照射され1.1.4の出力螢光面の採光視野内に設け
られているマルチ採光部11の各チャンネル11A〜1
1NにX線透過像による可視像に対応した光が入力され
、各チャンネル11A〜11Nに入力された光量に対応
した電気信号Eiが出力される。この各チャンネル11
A〜11Nの各出力電気信号EIは、第2図又は第4図
に示されるオーバー・アンダー検出回路19に入力され
、各電気信号がオーバーであるか、あるいはアンダーで
あるかを検出し、各電気信号が全部オーバー。
全部アンダー及び一部オーバー残り全部アンダー以外の
ときは、それぞれ各チャンネル11A〜11Nに対応し
た論理和回路1908〜19ONの出力がう、子回路2
6に入力される。例えば、チャンネル11Aの論理和回
路19C1の出力がハイ(H)レベル(即ち、チャンネ
ル11Aの出力は少なくともオーバー、アンダーの条件
のいずれかを含んでいることを示している)であれば、
これがう、子回路26に入力されるので、う、チ23A
の出力はハイ (H’)レベルでアナログスイッチ12
Aはオフ(OFF )状態になり、チャンネル11Aの
出力はないので加算回路13への入力はない。また、チ
ャンネル11Bの論理和回路19C1の出力がロー(L
)レベルであれば、これがう、子回路26に入力される
ので、う、チ23Aの出力はロー(L)レベルとなりア
ナログ出力。
チ12Bはオン(ON)状態によりチャンネル11Bの
アナログ出力がそのまま加算回路13に入力される。同
様にして他のチャンネルの出力も加算回路13に入力さ
れる。このよ、うにして、加算回路13に入力された電
気信号引は加算さ゛れて割算回路14に入力される。一
方、前記う、子回路23の出力によって、動作状態にさ
れた各チャンネル11A〜11Nの総チャンネル数を計
数回路24で計数し、割算回路14に入力する。割算回
路14では前記出力電気信号EIの加算値をこの動作チ
ャンネル総数で割算して1チャンネル当りの平均値を出
力する。この出力は出力端子15を通して第1図に示す
X線撮影条件設定回路9に送られ、最適な透視、撮影条
件が設定される。
次に、前記オーバー・アンダー検出回路19の論理和回
路1901〜19ONの出力が1部オーバー残り全部ア
ンダーの検出信号が出方されると、1部オーバー残シ全
部アンダー検出回路22の一致回路22Bから1部オー
バー残り全部アンダーの信号E。tが出力する。この出
力信号Eotはう。
子回路23に入力され、第5図に示される全チャンネル
・オンセット用スイ、チ250の全部がL端子からH端
子に切シ換えられ、採光視野セレクト用スイ、チ23B
、う、チ23Aを介して、アナログスイッチ12A〜1
2Nの採光視野に対応するすべてのアナログスイッチが
オンされる。そして、前記加算1割算の動作と同様の動
作が行われる。
マタ、オーバー・アンダー検出回路19のオーバー検出
用コンパレータ19Aのそれぞれの出方が全部オーバー
となると、全チャンネルオーバー検出回路20の一致回
路20Bから全チャンネルオーバー信号BOIが出力さ
れ、アナログスイッチ25A及び論理和回路26を介し
てアナログスイッチ250をそれぞれオンする。これに
より、オーバー設定信号発生回路27及び「1」信号発
生回路29から「1」の信号が計数回路24及び加算回
路13に入力され、加算回路13がら「1」の信号が出
力され、自動露出制御から外される。
このとき、全チャンネルオーバーの出力は、前記オーバ
ー・アンダー検出回路19の論理和回路190、〜19
ONを通って、う、子回路23に入力され、すべてのア
ナログスイッチ12A〜12Nをオフにする。また、オ
ーバー・アンダー検出回路19のアンダー検出用コンパ
レータ19Bのそれぞれの出力が全部アンダーとなると
、全チャンネルアンダー検出回路21の一致回路21B
から全チャンネルアンダー信号E。、が出力され、アナ
ログスイッチ25B及び論理和回路26を介してアナロ
グスイッチ25Cをそれぞれオンする。これにより、ア
ンダー設定信号発生回路28及び「1」信号発生回路2
9から「】」の信号が計数回路24及び加算回路13に
入力され、加算回路16から「1」の信号が出力され、
自動露出制御から外される。このときも前記全チャンネ
ルオーバーのときと同様に全チャンネルアンダーの出力
は、前記オーバー・アンダー検出回路19の論理和回路
19C3〜19CNを通してラッチ回路23に入力され
、すべてのアナログスイッチ12A〜12Nをオフにす
る。
また、第2図に示す本発明のX線自動露出装置の基本的
な部分の実施装置では、消化器撮影におけるバリウム像
、ガス像、ハレーション像等の影響を除くために、各チ
ャンネルの信号毎にオーバーレベル、アンダーレベルを
判断している。例えば、バリウム像は、アンダーレベル
で、ガス像・ハレーション像等はオーバーレベルで判断
シてこれらに相当するチャンネルの信号は切離して残り
のチャンネルの信号を1チャンネル当りの平均値信号と
して、透視及び撮影の自動露出を決めている。これは、
例えば、第6図に示すように、胃透視像を3個のチャン
ネル■、■、■のマルチ採光視野で受光した場合、各チ
ャンネルの出力信号E1は第7図のようになる。第7図
は、最適条件における各チャンネルの出力信号E■のレ
ベルを示す図であり、LOはオーバーレベル、LUはア
ンダーレベルである。前記これらの出力信号EIから、
例えばガス像の部位のチャンネル■で露出を決めると、
全体が薄くなりすぎ、バリウム像の部位のチャンネル■
で決めると、全体が濃くなりすぎる。
このため軟部組織像の部位のチャンネル■で受光すれば
、丁度よい濃度となるが、このチャンネル■だけをセレ
クトするには、第7図に示すアンダーレベルLUとオー
バーレベルLOを設定すればよいことになる。
前記第2図に示す実施装置の方式では、この点を特に言
及せず、固定したレベルで各チャンネルoオーバー及び
アンダーを判断している。この方式では、露出が安定し
た状態では問題ないが、例えば、露出条件アンダーの場
合、第8図に示すような状態が生じ、そのまま安定して
しまって最適条件まで引込めないことが起る。第8図は
、露出条件アンダーの場合の各チャンネルの信号のレベ
ルヲ示す図であり、LOはオーバーレベル、LUはアン
ダーレベルである。
このような状態では、露出条件がオーバーの時にも生じ
、バリウムの所に露出条件が合うように上昇することが
ある。
この状態は、オーバーレベルLoとアンダーレベルL 
Uの間隔を近ずければ近ずける程起こりゃすくなる。こ
のため実用的には、オーバーレベルLOを高くして、こ
の状態が起りにくいようにしである。
この結果、バリウム像の影響はよく除けるが、ガス像や
、ハレーション像の影響は除けないで像が薄くなる傾向
があった。
そこで、本発明は、前記基本的な部分の実施装置の問題
点を解決するために、アンダーレベルを全チャンネルの
出力平均値から設定する手段と、オーバーレベルを透視
管電圧が中間管電圧以上になると透視管電圧で設定し、
中間管電圧以下になると全チャンネルの出力平均値から
設定する手段を具備し、どのようなX線条件、体位でも
常にガス像、バリウム像等を確実に判断して除くことに
より常に最適の露出が得られるようにしたものである。
第9図は、その一実施例の構成を示す図であり、第2図
のオーバー・アンダー検出基準信号発生回路18から発
生されるオーバー・アンダー条件基準信号El、E、が
固定レベルであるのを、全チャンネルの出力信号の平均
値と透視の管電圧に対応する信号から、オーバーレベル
LOとアンダーレベルLUを設定するようにし・・丸も
のである。
第9図において、30は全チャンネル11A〜11Nの
出力信号E1の平均値回路であり、各チャンネル11A
〜11Nの出力信号E■がそれぞする第1オペアンプ5
0Aで構成されている。61は全チャンネル平均値によ
るオーバーレベル設定回路であり、第1ポテンシヨンメ
ータ31A。
第1可変抵抗31B、第2オペアンプ310で構成され
、第1ポテンシヨンメータ51Aと第1可変抵抗51B
は、第2オペアンプ310の帰還回路として接続されて
いる。第1ポテンシヨンメータ31Aは、オーバーレベ
ル曲線の平行移動量を設定するものであり、第1可変抵
抗31Bは、オーバーレベル曲線の傾斜量を設定するも
のである。
32は全チャンネルの平均値によるアンダーレベル設定
回路であり、第2ポテンションメータ32A、第2可変
抵抗32B、第3オペアンプ32Cで構成され、第2ポ
テンシヨンメータ32Aと第2可変抵抗32Bは、第3
オペアンプ320の帰還回路として接続されている。第
2ポテンシヨンメータ32Aは、アンダーレベル曲線の
平行移動量を設定するものであり、第2可変抵抗52B
は、アンダーレベル曲線の傾斜量を設定するものである
。36は透視の管電圧に比例したFKV信号入力端子、
34は透視の管電圧に対応したPK■信号によるオーバ
ーレベル設定回路であシ、第3ポテンションメータ34
A、第3可変抵抗34B、 第4オペアンプ34Cで構
成され、第3ポテンシヨンメータ34Aと第3可変抵抗
34Bは、第4オペアンプ340の帰還回路として接続
されている。第3ポテンションメータ3−4Aは、オー
バーレベル曲線の平行移動量を設定するものであり、第
3可変抵抗54Bは、オーバーレベル曲線の傾斜量を設
定するものである。35は負荷抵抗rに第1ダイオード
35Aと第2ダイオード65Bが並列に接続されたオー
バーレベルセレクト回路であり、第1ダイオード35A
の入力は、全チャンネルの平均値によるオーバーレベル
設定回路61の出力信号である。第2ダイオード35B
の入力は透視の管電圧によるオーバーレベル設定回路6
4の出力信号であシ、この第2ダイオード35Bの出力
と前記第1ダイオード55Aの出力のうち大きい方の出
力がオーバー条件基準信号E。
として出力される。66はオーツ(−条件基準信号出力
端子、37はアンダー条件基準信号出力端子である。
次に、本実施例の動作を説明する。
第9図において、全チャンネル11A〜11Nの出力信
号の平均値回路60により平均化する。
即ち、平均値回路30の入力信号を■、〜V7Lとする
と、入力抵抗R1−FLnと第1オペアンプ30Aの帰
還抵抗−により(次の式(1)で)平均値VAがル 得られる。
v、 x−/ R,+ L×−/R−−+Vル×−/R
二VA7L            7L      
          n・ (1) 次に、オーバーレベル設定回路61の第1ボテンシ、ン
メータ31Aでオーバーレベル曲線の平行移動量を設定
し、第1可変抵抗31Bでオーツ(−レベル曲線の傾斜
量を設定する。また、透視の管電圧に対応したPKV信
号によるオーバーレベル設定回路64の第3ポテンシヨ
ンメータ34Aでオーバーレベル曲線の平行移動量を設
定し、第3可変抵抗34Bでオーバーレベル曲線の傾斜
量を設定する。そして、前記全チャンネル11A〜11
Nの出力信号E1の平均値VAの信号とFK■信号のい
ずれか大きい方がオーバーレベルセレクト回路35から
前記設定された平行移動量及び傾斜量に基づいたオーバ
ー条件基準信号E、として出力され、オーバー条件基準
信号出力端子66から出力される。
一方、アンダーレベル設定回路62の第2ポテンシヨン
メータ32Aでアンダーレベル曲線の平行移動量を設定
し、第2可変抵抗32Bでアンダーレベル曲線の傾斜量
を設定する。そして、前記全チャンネル11A〜11N
の出力信号の平均値VAの信号は、前記決定された平行
移動量及び傾斜量に基づいたアンダー条件基準信号E、
として出力され、アンダー条件基準信号出力端子37か
ら出力される。
例えば、第6図に示す、ような冑透視像の場合における
各部位の出力は、この実施例によると第1θ図に示すよ
うなガス像レベル■、軟部組織像レヘル■、バリウム像
レベル■となる。そして、全チャンネル11A〜11N
の出力信号EIの平均値VAの信号はこの各部位の出力
と相似するので、オーバーレベルLOとアンダーレベル
L U fd 第10図のように設定することが可能と
なる。
一方、バリウムの被覆が非常に多い場合、例えば、4分
割圧迫撮影を行う場合は、全体の平均値信号VAとして
は下がってしまうので、オーバーレベルLO及びアンダ
ーレベルLUも下がってしまい、バリウム像の所だけ採
光するという状態も生じる。このため、アンダーレベル
LUは平均値VAの信号が下がっても、あまり下がらな
いよう傾斜を変更する程度で対応が可能であるが、オー
バー、vベルLOは、軟部m織1でオーバーレベルLO
と判断してしまうことになるので、このバリウム被覆の
多い圧迫撮影等は透裸管電圧が被写体厚に関係なく高く
なることを利用する。即ち、圧迫等により透視、、管電
圧が高くなると、透視管電圧により設定したオーバーレ
ベルLOは、全チャンネル11A〜11Nの出力信号E
−の平均値VAの信号から設定したオーバーレベルLO
より高くなることを利用して圧迫等によるオーバーレベ
ルLOの低下を防ぐことが可能となる。この結果、2重
造影等は、全チャンネル11A〜11Nの出力信号Ei
の平均値VAの信号により設定したオーバーレベルLO
とアンダーレベルLUで設定スることにより、種々の体
位や体厚に対応して確実にバリウム像やガス像を認識し
、確実に判断してこれらの影響を除くことが可能となり
、最適の透視及び撮影の自動露出が可能となる。この被
写体厚に対スるオーバーレベルとアンダーレベルの関係
を第11図に示す。
以上説明した如く、本発明によれば、マルチ採光視野型
X線自動露出装置において、X線露出アンダー及びX線
露出オーバーのチャンネルの出力を除去するために、X
線露出アンダー検出基準値は、全チャンネルの出力平均
値から設定し、Xll1!露出オーバー検出基準値は、
透視管電圧が中間管電圧以上になると透視管電圧で設定
し、中間管電圧以下になると全チャンネルの出力平均値
で設定するようにしたので、バリウム像、ガス像、ノN
レーション像等を確実に検出でき、これらの影響を除去
して最適のX線露出を与えることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のX線自動露出制御装置の構成を示す図
、第2図は、本発明の基本的な部分の一実施例の構成を
示すブロック図、第3図は、第2図のマルチ採光部の回
路の具体的な構成を示す図、第4図は、第2図のオーバ
ー・アンダー検出回路。 全チャンネルオーバー回路、全チャンネルアンダー検出
回路及び1部オーバー残り全部アンダー検出回路の具体
的な構成を示す図、第5図は、第2図のう、チ回路の具
体的な構成を示す図、第6図〜第8図は、本発明の詳細
な説明するだめの図、第9図は、本発明のオーバー・ア
ンダー検出基準信号発生回路の一実施例の構成を示す図
、第10図は、第9図の実施例による胃透視像の場合の
各部位の出力′とオーバーレベル、アンダーレベルを示
す図、第11図は、被写体厚対オーバー・アンダーレベ
ルの特性を示す図である 6・・ホトタイマ 12 アナログスイッチ群 16 加算回路    14 割算回路19 オーバー
・アンダー検出回路 23・・う、子回路   24−・計数回路60・・全
チャンネルの出力信号の平均値回路61 全チャンネル
平均値によるオーバーレベル設定回路 62 全チャンネル平均値によるアンダーレベル設定回
路 33 透視の管電圧に対応したFKV信号入力端子 34  FKV信号によるオーバーレベル設定回路65
 オーバーレベルセレクト回路 36 オーバー条件基準信号出力端子 37・アンダー条件基準信号出力端子 代理人  弁理士 秋 1)収 喜 (n      ’+   の   ■″f13図 唱 第5図 1       19し 6      3  苫    舌

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. イメージインテンシファイアの出力の採光視野内に複数
    の採光器からなる採光部を設けて、それぞれの採光器の
    出力がX線露出不足及びX線露出過多であることを検出
    する手段と、該手段の出力により前記X線露出不足及び
    X線露出過多の条件の採光器の出力を除去する手段を備
    えたX線自動露出装置であって、X線露出不足検出基準
    値を全採光器の出力平均値から設定する手段と、X線露
    出過多検出基準値を、透視管電圧が中間管電圧以上にな
    ると透視管電圧で設定し、中間管電圧以下になると全採
    光器の出力平均値で設定する手段を具備したことを特徴
    とするX線自動露出装置。
JP17407081A 1981-10-30 1981-10-30 X線自動露出装置 Granted JPS5875800A (ja)

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JP17407081A JPS5875800A (ja) 1981-10-30 1981-10-30 X線自動露出装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58217926A (ja) * 1982-06-14 1983-12-19 Hitachi Medical Corp X線自動露出装置
JPS6237898A (ja) * 1985-08-12 1987-02-18 Hitachi Medical Corp X線自動露出制御装置
US4982418A (en) * 1988-10-05 1991-01-01 Siemens Aktiengesellschaft X-ray diagnostics installation having a mean image brightness detector

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US4982418A (en) * 1988-10-05 1991-01-01 Siemens Aktiengesellschaft X-ray diagnostics installation having a mean image brightness detector

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