JPH0338800Y2

JPH0338800Y2 -

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Publication number: JPH0338800Y2
Application number: JP1982039814U
Authority: JP
Priority date: 1982-03-20
Filing date: 1982-03-20
Publication date: 1991-08-15
Also published as: JPS58142900U

Description

【考案の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本考案は、イメージインテンシフアイア（以下
I.I.という）の出力の一部を採光して自動的にＸ
線露出を制御するためのＸ線自動露出装置に関す
るものである。

第１図は、従来のＸ線自動露出制御装置の構成
を示した図である。図中、１はＸ線管、２は被検
体、３はＸ線フイルム、４はI.I.、５は光学系、
６はホトタイマ、７はテレビジヨンカメラ、８は
テレビビジヨンモニタ、９はＸ線撮影条件設定回
路、１０はＸ線高電圧発生装置であり、前記I.I.
４の出力の採光視野内に採光器を設けて採光し、
それらの積分値によりホトタイマ６を動作させ被
検体２に対応したＸ線照射時間を決定し、これに
より自動的にＸ線撮影条件設定回路９を介して、
Ｘ線高電圧発生装置１０のＸ線照射時間を制御し
てＸ線管１から照射されるＸ線照射量を最適なも
のにしている。

このような従来のＸ線自動露出装置では、I.I.
４のＸ線入射面に被検体２のわきから直接Ｘ線Ｙ
が入射する場合、I.I.４の２次螢光面（出力面）
は、第９図に示すＺ及びＷのように、直接Ｘ線の
入射した部分に相当する箇所だけではなく電子の
散乱及び光の散乱によつてその周囲の被検体の像
の部分に相当する箇所まで影響を受けて強く発光
する。いわゆるハレーシヨンを起してしまう。こ
のような場合は、I.I.４の２次螢光面光を計量し、
光量の積分が一定になるように制御するＸ線自動
露出装置では、直接Ｘ線部分を避けて採光して
も、ハレーシヨンのために見かけ上光量がかさ上
げされ、診断上Ｘ線の露出不足の写真を生じてい
た。この対策として従来は絞りを絞つたり、濃度
調整つまみを操作した写真濃度を上げているが、
十分な効果が得られず、また、その操作もわずら
わしいという欠点があつた。

本考案の目的は、前記欠点を除去し、直接Ｘ線
入射時においても自動的に適正な濃度の写真が得
られる機能を備えたＸ線自動露出装置を提供する
ことにある。

本考案の特徴は、I.I.の出力の採光視野内に設
けられた複数の採光器からなる採光部と、それぞ
れの採光器の出力がＸ線露出不足及びＸ線露出オ
ーバーであることを検出する検出手段と、該検出
手段により検出された結果に基づいてＸ線露出不
足及びＸ線露出オーバーの採光器の出力を除去す
る第１の除去手段と、前記I.I.の入力面側の被検
体の両わきに相当する位置に配置されたＸ線量検
出用センサと、該Ｘ線量検出用センサの出力とハ
レーシヨン検出基準値とをコンパレータにより比
較して、前記Ｘ線量検出用センサの出力が前記基
準値を越えた場合、ハレーシヨンを起していると
判断して前記Ｘ線量検出用センサに対応するあら
かじめ決められた採光器の出力を除去する第２の
除去手段と、前記第１及び第２の除去手段により
不適正露出の採光器の出力が除去された適正露出
の採光器の出力だけを取り出し、その平均値をと
り、それを採光部の出力としてＸ線露出条件を自
動的に制御する制御手段を具備したことにある。

以下、実施例とともに本考案を詳細に説明す
る。

なお、全図において、同一のものは同一記号を
付けてある。また、露光量またはＸ線露出量の不
足を「アンダー」過多を「オーバー」という。

第２図は、本考案に係るＸ線自動露出検出装置
（特願昭55−166290号参照）の構成を示す図であ
る。

図中、１１はI.I.４の出力光を採光するマルチ
採光器であり、複数のチヤンネル（採光合）１１
Ａ〜１Ｎで構成されている。１２はアナログスイ
ツチ群であり、複数のアナログスイツチ１２Ａ〜
１２Ｎで構成されている。１３は前記アナログス
イツチ群１２からの出力を加算するための加算回
路、１４は加算回路１３からの出力を前記チヤン
ネル数で割算して１チヤンネル当りの平均値を出
力するための割算回路、１５は出力端子であり、
第１図に示すＸ線撮影条件設定回路９に接続され
る。１６は採光視野、即ち、前記チヤンネル１１
Ａ〜１１Ｎのセレクト信号CSを入力する端子、
１７はラツチ信号Ｒを発生する回路、１８は前記
オーバー及びアンダーを検出するための検出基準
信号発生回路、１９は前記各チヤンネル１１Ａ〜
１１Ｎの出力がオーバーかアンダーかを検出する
オーバー・アンダー検出回路である。

２０は全チヤンネル１１Ａ〜１１Ｎの出力が全
部オーバーであることを検出するための検出回
路、２１は全チヤンネル１１Ａ〜１１Ｎの出力が
全部アンダーであることを検出するための検出回
路、２２は全チヤンネル１１Ａ〜１１Ｎのうち一
部オーバーで残り全部がアンダーであることを検
出するための検出回路、２３はラツチ回路であ
り、ラツチ信号Ｒによりホールド状態にされ、ホ
ールド時は出力が変わらないものである。２４は
動作しているチヤンネルの総数を求めるための計
数回路、２５Ａ〜２５Ｃはアナログスイツチであ
り、ハイ（Ｈ）レベルのときオフ、ロー（Ｌ）レ
ベルのときオンする。２６は論理和（OR）回
路、２７はオーバー設定信号発生回路であり、例
えば、チヤンネル１１Ａの出力がオーバーである
レベルの信号を発生する。２８はアンダー設定信
号発生回路であり、例えば、チヤンネル１１Ａの
出力がアンダーであるレベルの信号を発生する。
２９はチヤンネル数を表わすときの「１」に相当
する信号を発生する「１」信号発生回路である。

第３図は、第２図のマルチ採光部１１の回路の
具体的な構成を示した図であり、１０１，１０２
……はフオトダイオード、１１１，１１２……は
フオトダイオードの出力電流を電圧に変換する回
路である。

第４図は、第２図のオーバー・アンダー検出回
路１９、全チヤンネルオーバー検出回路２０、全
チヤンネルアンダー検出回路２１及び一部オーバ
ー残り全部アンダー検出回路２２の具体的構成を
示した図である。図中、１９Ａはオーバー検出用
コンパレータであり、それぞれのコンパレータに
各チヤンネル１１Ａ〜１１ＮよりのＸ線露出に対
応した電気信号E_iとオーバー条件基準信号E₁が入
力され、E_i＞E₁のときハイ（Ｈ）レベルの信号を
出力するものである。１９Ｂはアンダー検出用コ
ンパレータであり、それぞれのコンパレータには
前記電気信号E_iとアンダー条件基準信号E₂が入力
され、E_i＜E₂のときハイ（Ｈ）レベルの信号を出
力するものである。１９C₁〜１９C_Nは各チヤン
ネルがオーバー又はアンダーであることを検出す
るための論理和（OR）回路、２０Ａ，２１Ａ，
２２Ａはそれぞれ採光視野セレクト用切換スイツ
チであり、１枚撮りのときは全チヤンネルをオン
し、２分割撮り、４分割撮りのときはI.I.４の出
力面の光のあたる部分のチヤンネルだけオンす
る。使用しないチヤンネルはハイ（Ｈ）レベルに
しておく、２０Ｂ，２１Ｂ，２２Ｂは一致回路、
３０，３１はインバータ、E₀₁は全チヤンネルオ
ーバー信号、E₀₂は一部オーバー残りアンダー信
号、E₀₃は全チヤンネルアンダー信号、E₀₄はアナ
ログスイツチ２５Ｃをオンさせるための信号であ
る。

第５図は、第２図のラツチ回路２３の具体的構
成を示した図である。図中、２３Ａはラツチ、２
３Ｂは採光視野セレクト用スイツチであり、ａ端
子側がセツト、ｂ端子側（ハイ（Ｈ）側）はリセ
ツトである。２３Ｃは全チヤンネルオンセツト用
スイツチで、Ｈ端子にはロー（Ｌ）レベルの電圧
が印加されており、Ｌ端子は通常のオーバー・ア
ンダー検出用端子である。そして、前記第４図の
論理和回路１９C₁〜１９C_Nの出力が接続されて
いる。

第２図に示す実施例の動作を説明する。

まず、第５図に示される採光視野セレクト用ス
イツチ２３Ｂを採光視野セレクト信号CSによつ
てａ端子側に接続しアナログスイツチ群１２のア
ナログスイツチ１２Ａ〜１２Ｎのうち採光視野に
対応したものだけをオンにしておく。例えば、１
枚撮りの場合は全チヤンネルに相当する採光視野
であるから前記アナログスイツチ１２Ａ〜１２Ｎ
の全部がオン状態にされる。次に、Ｘ線が被検体
２に照射されI.I.４の出力蛍光面の採光視野内に
設けられているマルチ採光部１１の各チヤンネル
１１Ａ〜１１ＮにＸ線透過像による可視像に対応
した光が入力され、各チヤンネル１１Ａ〜１１Ｎ
に入力された光量に対応した電気信号E_iが出力さ
れる。この各チヤンネル１１Ａ〜１１Ｎの各出力
電気信号E_iは、第２図又は第４図に示されるオー
バー・アンダー検出回路１９に入力され、各電気
信号がオーバーであるか、あるいはアンダーであ
るかを検出し、各電気信号E_iが全部オーバー、全
部アンダー及び一部オーバー残り全部アンダー以
外のときは、それぞれ各チヤンネル１１Ａ〜１１
Ｎに対応した論理和回路１９C₁〜１９C_Nの出力
がラツチ回路２３に入力される。例えば、チヤン
ネル１１Ａの論理和回路１９C₁の出力がハイ
（Ｈ）レベル（即ち、チヤンネル１１Ａの出力は
少なくともオーバー、アンダーの条件のいずれか
を含んでいることを示している）であれば、これ
がラツチ回路２３に入力されるので、ラツチ２３
Ａの出力はハイ（Ｈ）レベルでアナログスイツチ
１２Ａはオフ（OFF）状態になり、チヤンネル
１１Ａの出力はないので加算回路１３への入力は
ない。また、チヤンネル１１Ｂの論理和回路１９
C₂の出力がロー（Ｌ）レベルであれば、これが
ラツチ回路２３に入力されるので、ラツチ２３Ａ
の出力はロー（Ｌ）レベルとなりアナログスイツ
チ１２Ｂはオン（ON）状態によりチヤンネル１
１Ｂのアナログ出力がそのまま加算回路１３に入
力される。同様にして他のチヤンネルの出力も加
算回路１３に入力される。このようにして、加算
回路１３に入力された電気信号E_iは加算されて割
算回路１４に入力される。一方、前記ラツチ回路
２３の出力によつて、チヤンネル１１Ａ〜１１Ｎ
のうち動作状態にされた数を計数回路２４で計数
し、割算回路１４に入力する。割算回路１４では
前記出力電気信号E_iの加算値をこの動作チヤンネ
ル総数で割算して１チヤンネル当りの平均値を出
力する。この出力は出力端子１５を通して第１図
に示すＸ線撮影条件設定回路９に送られ、最適な
透視、撮影条件が設定される。

次に、前記オーバー・アンダー検出回路１９の
論理和回路１９C₁〜１９C_Nの出力が一部オーバ
ー残り全部アンダーの検出信号が出力されると、
一部オーバー残り全部アンダー検出回路２２の一
致回路２２Ｂから一部オーバー残り全部アンダー
の信号E₀₂が出力する。この出力信号E₀₂はラツチ
回路２３に入力され、第５図に示される全チヤン
ネル・オンセツト用スイツチ２３Ｃの全部がL′端
子からH′端子に切り換えられ、採光視野セレク
ト用スイツチ２３Ｂ、ラツチ２３Ａを介して、ア
ナログスイツチ１２Ａ〜１２Ｎの採光視野に対応
するすべてのアナログスイツチがオンされる。そ
して、前記加算、割算の動作と同様の動作が行わ
れる。

また、オーバー・アンダー検出回路１９のオー
バー検出用コンパレータ１９Ａのそれぞれの出力
が全部オーバーとなると、全チヤンネルオーバー
検出回路２０の一致回路２０Ｂから全チヤンネル
オーバー信号E₀₁が出力され、アナログスイツチ
２５Ａ及び論理和回路２６を介してアナログスイ
ツチ２５Ｃをそれぞれオンする。これにより、オ
ーバー設定信号発生回路２７及び「１」信号発生
回路２９から「１」の信号が計数回路２４及び加
算回路１３に入力され、加算回路１３から「１」
の信号が出力され、自動露出制御から外される。
このとき、全チヤンネルオーバーの出力は、前記
オーバー・アンダー検出回路１９の論理和回路１
９C₁〜１９C_Nを通つて、ラツチ回路２３に入力
され、すべてのアナログスイツチ１２Ａ〜１２Ｎ
をオフにする。また、オーバー・アンダー検出回
路１９のアンダー検出用コンパレータ１９Ｂのそ
れぞれの出力が全部アンダーとなると、全チヤン
ネルアンダー検出回路２１の一致回路２１Ｂから
全チヤンネルアンダー信号E₀₃が出力され、アナ
ログスイツチ２５Ｂ及び論理和回路２６を介して
アナログスイツチ２５Ｃをそれぞれオンする。こ
れにより、アンダー設定信号発生回路２８及び
「１」信号発生回路２９から「１」の信号が計数
回路２４及び加算回路１３に入力され、加算回路
１３から「１」の信号が出力され、自動露出制御
から外される。このときも前記全チヤンネルオー
バーのときと同様に全チヤンネルアンダーの出力
は、前記オーバー・アンダー検出回路１９の論理
和回路１９C₁〜１９C_Nを通してラツチ回路２３
に入力され、すべてのアナログスイツチ１２Ａ〜
１２Ｎをオフにする。

また、第２図に示す本考案に係るＸ線自動露出
検出装置では、消化器撮影におけるバリウム像、
ガス像、ハレーシヨン像等の影響を除くために、
各チヤンネルの信号毎にオーバーレベル、アンダ
ーレベルを判断している。例えば、バリウム像
は、アンダーレベルで、ガス像、ハレーシヨン像
等はオーバーレベルで判断してこれらに相当する
チヤンネルの信号は切離して残りのチヤンネルの
信号を１チヤンネル当りの平均値信号として、透
視及び影響の自動露出を決めている。

第６図は、本考案の一実施例の構成を示す図で
あり、第２図に示すＸ線自動露出装置の採光部１
１の各チヤンネル１１Ａ〜１１Ｎの他に、ハレー
シヨンの程度（値）を検出するためのＸ線量検出
用センサ２０１，２０２をハレーシヨンを起し易
い位置、例えば、第７図に示すように、I.I.４の
入力面の両サイドに配置し、例えば、第１０図に
示すようなＸ線Ｙを直接検出するダイオード２２
２（例えば、Geタイプが一般的に使われている）
と、オペアンプ２２０と抵抗２２１で構成したプ
リアンプで検出するＸ線検出器タイプ、あるいは
第１１図に示すような、増感紙２３３でＸ線Ｙを
光に変換し、この光ｙをフオトダイオード又はフ
オトマルチプライア等の光検出器２３２で受光
し、オペアンプ２３０と抵抗２３１で構成するプ
リアンプで検出するタイプ等からなるＸ線量検出
用センサ２０１，２０２の出力をコンパレータ２
０３，２０４でハレーシヨンを起していることを
検出し、ハレーシヨンの影響を強く受けたチヤン
ネルの（あらかじめ決められている）の出力信号
は除去して残りのチヤンネルの出力信号だけでＸ
線露出制御を行うようにしたものである。

第６図において、２０５，２６はコンパレータ
２０３，２０４でハレーシヨンを検出するための
ハレーシヨン検出基準値設定器、２０７〜２１０
はハレーシヨンセンサ２０１，２０２及び第２図
に示すラツチ２３からの出力を入力とするORゲ
ート回路である。

次に、本考案の動作を説明する。

いま、被検体２のわきから直接Ｘ線ＹがI.I.４
の入力面に入射すると、この直接Ｘ線Ｙが入射し
た部分に対応する２次螢光面の部分、例えば、第
８図の斜線BRで示すような位置が強くひかる。
この光量をＸ線量検出用センサ２０１で測定し、
この測定量ｌをコンパレータ２０３に入力する。
このコンパレータ２０３の一方の入力端子にはハ
レーシヨン検出基準値設定器２０５によつてあら
かじめ決められているハレーシヨン検出基準値
（被検体２を透過する量より10〜100倍多い量とな
るような値）が入力されているため、このハレー
シヨン検出基準値と前記Ｘ線量検出用センサ２０
１の出力信号とが比較され、Ｘ線量検出用センサ
２０１の出力信号の方がハレーシヨン検出基準値
より大きいときには、コンパレータ２０３はハレ
ーシヨン影響信号を出力する。この出力信号は、
ORゲート回路２０７，２０８を通してスイツチ
１２Ａ，１２Ｂに入力され、スイツチ１２Ａ，１
２Ｂをオフにする。これによりハレーシヨンの影
響を受けているチヤンネル１１Ａ，１１Ｂの出力
信号をＸ線露出制御から除去する。すなわち、左
側にハレーシヨンが生じた場合には、第８図に示
す左側のＬの位置にＸ線量検出用センサ２０１が
置かれているので、このＸ線量検出用センサ２０
１の出力値ｌとハレーシヨン検出基準値設定器２
０５で設定されたハレーシヨン検出基準値とをコ
ンパレータ２０３が比較し、前記出力値ｌがハレ
ーシヨンレベルになると、第９図（ＺはI.I.４の
出力画像）に示すＷ（I.I.４の出力光量の分布図）
のように左側の半分程度がハレーシヨンによるカ
ブリを生じているので、左半分のチヤンネル１１
Ａ及び１１Ｂの信号を除くようにすればよい。

逆に、右側にハレーシヨンが生じた場合は、第
８図に示す右側のＲの位置にＸ線量検出用センサ
２０２が置かれているので、このＸ線量検出用セ
ンサ２０２の出力値ｒとハレーシヨン検出基準値
設定器２０６が設定されたハレーシヨン検出基準
値とをコンパレータ２０４で比較し、前記出力値
ｒがハレーシヨンレベルになると、第９図に示す
W′のように右側の半分程度がハレーシヨンによ
るカブリを生じているので、右半分のチヤンネル
１１Ｍ及び１１Ｎの信号を除くようにすればよ
い。

なお、本考案は、前記実施例に限定されること
なく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変
更し得ることは勿論である。

以上説明したように、本考案によれば、Ｘ線露
出不足及びＸ線露出オーバーのチヤンネルの出力
及びI.I.に直接Ｘ線が入射した時におけるハレー
シヨンの影響を強く受けるチヤンネルの出力を除
去して適正露出のチヤンネルの出力だけを取り出
し、その平均値をとり、それを採光部の出力とし
てＸ線露出条件を自動的に設定して、Ｘ線露出制
御を行うので、I.I.に直接Ｘ線が入射した時でも
安定した適正な露出を自動的に行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は、従来のＸ線自動露出装置の構成を示
す図、第２図は、本考案に係るＸ線自動露出検出
装置の構成を示す図、第３図は、第２図のマルチ
採光部の回路の具体的な構成を示す図、第４図
は、第２図のオーバー・アンダー検出回路、全チ
ヤンネルオーバー検出回路、全チヤンネルアンダ
ー検出回路及び一部オーバー残り全部アンダー検
出回路の具体的な構成を示す図、第５図は、第２
図のラツチ回路の具体的構成を示す図、第６図
は、本考案の一実施例の構成を示す図、第７図
は、Ｘ線量検出用センサの配置位置を示す図、第
８図は、本実施例の動作を説明するための図、第
９図は、直接Ｘ線が入射した場合のI.I.の出力面
の像とその光量分布の関係を説明するための図、
第１０図及び第１１図は、Ｘ線量検出用センサの
具体的構成を示す図である。図中、１１……マルチ採光部、１２……アナロ
グスイツチ群、１３……加算回路、１４……割算
回路、１９……オーバー・アンダー検出回路、２
０１，２０２……Ｘ線量検出用センサ、２０３，
２０４……コンパレータ、２０５，２０６……ハ
レーシヨン検出基準値設定器、２０７〜２１０…
…ORゲート回路、Ａ，Ｂ，Ｍ，Ｎ……採光部チ
ヤンネルの採光位置、Ｌ，Ｒ……Ｘ線量検出用セ
ンサの採光位置。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

イメージインテンシフアイアの出力の採光視野
内に設けられた複数の採光器からなる採光部と、
それぞれの採光器の出力がＸ線露出不足及びＸ線
露出オーバーであることを検出する検出手段と、
該検出手段により検出された結果に基づいてＸ線
露出不足及びＸ線露出オーバーの採光器の出力を
除去する第１の除去手段と、前記イメージインテ
ンシフアイヤの入力面側の被検体の両わきに相当
する位置に配置されたＸ線量検出用センサと、該
Ｘ線量検出用センサの出力とハレーシヨン検出基
準値とをコンパレータにより比較して、前記Ｘ線
量検出用センサの出力が前記基準値を越えた場
合、ハレーシヨンを起していると判断して前記Ｘ
線量検出用センサに対応するあらかじめ決められ
た採光器の出力を除去する第２の除去手段と、前
記第１及び第２の除去手段により不適正露出の採
光器の出力が除去された適正露出の採光器の出力
だけを取り出し、その平均値をとり、それを採光
部の出力としてＸ線露出条件を自動的に制御する
制御手段を具備したことを特徴とするＸ線自動露
出装置。