JPS641920B2 - - Google Patents
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- JPS641920B2 JPS641920B2 JP16629080A JP16629080A JPS641920B2 JP S641920 B2 JPS641920 B2 JP S641920B2 JP 16629080 A JP16629080 A JP 16629080A JP 16629080 A JP16629080 A JP 16629080A JP S641920 B2 JPS641920 B2 JP S641920B2
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- JP
- Japan
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- output
- circuit
- ray
- exposure
- lighting section
- Prior art date
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はイメージインテンシフアイア（以下
「I.I.」という）の出力の一部を採光して自動的に
Ｘ線露出を制御するためのＸ線自動露出検出装置
の改良に関するものである。
「I.I.」という）の出力の一部を採光して自動的に
Ｘ線露出を制御するためのＸ線自動露出検出装置
の改良に関するものである。
第１図は、前記従来のＸ線自動露出制御装置の
構成を示した図である。図中、１はＸ線管、２は
被検体、３はＸ線フイルム、４はI.I、５は光学
系、６はホトタイマ、７はテレビカメラ、８はテ
レビモニタ、９はＸ線撮影条件設定回路、１０は
高電圧発生装置であり、前記I.I.４の出力の採光
視野内の複数個所に採光器（以下「チヤンネル」
という）を配置したマルチ採光部１１を設け、前
記各チヤンネルで採光し、それらの積分値により
ホトタイマ６を動作させ被検体２に対応したＸ線
照射時間を決定し、これにより自動的にＸ線撮影
条件設定回路９を介して、Ｘ線発生装置１０のＸ
線照射時間を制御してＸ線管１からのＸ線照射量
を最適なものにしている。
構成を示した図である。図中、１はＸ線管、２は
被検体、３はＸ線フイルム、４はI.I、５は光学
系、６はホトタイマ、７はテレビカメラ、８はテ
レビモニタ、９はＸ線撮影条件設定回路、１０は
高電圧発生装置であり、前記I.I.４の出力の採光
視野内の複数個所に採光器（以下「チヤンネル」
という）を配置したマルチ採光部１１を設け、前
記各チヤンネルで採光し、それらの積分値により
ホトタイマ６を動作させ被検体２に対応したＸ線
照射時間を決定し、これにより自動的にＸ線撮影
条件設定回路９を介して、Ｘ線発生装置１０のＸ
線照射時間を制御してＸ線管１からのＸ線照射量
を最適なものにしている。
このような従来のＸ線自動露出制御装置では、
前記各チヤンネルの採光の積分光量で制御してい
るため、その各チヤンネルのほとんどが、例え
ば、光量不足（以下「アンダー」という）、光量
超過（以下「オーバー」という）等の場合、即
ち、前者の場合はＸ線管１から発生するＸ線が強
くなり、照射野全体は露出オーバーとなる。ま
た、後者の場合はＸ線が弱くなり、露出不足とな
る欠点があつた。また、全チヤンネルがアンダー
条件となつたとき、例えば、胃に造影剤が充満し
た４分割撮影のような場合にはＸ線透視撮影条件
が自動制御の限界値まで上昇するため、Ｘ線フイ
ルムの露出のハレーシヨンを起したり、被検体２
に無意味なＸ線を曝射する等の欠点があつた。
前記各チヤンネルの採光の積分光量で制御してい
るため、その各チヤンネルのほとんどが、例え
ば、光量不足（以下「アンダー」という）、光量
超過（以下「オーバー」という）等の場合、即
ち、前者の場合はＸ線管１から発生するＸ線が強
くなり、照射野全体は露出オーバーとなる。ま
た、後者の場合はＸ線が弱くなり、露出不足とな
る欠点があつた。また、全チヤンネルがアンダー
条件となつたとき、例えば、胃に造影剤が充満し
た４分割撮影のような場合にはＸ線透視撮影条件
が自動制御の限界値まで上昇するため、Ｘ線フイ
ルムの露出のハレーシヨンを起したり、被検体２
に無意味なＸ線を曝射する等の欠点があつた。
本発明は前記欠点を除去するためになされたも
のであり、その特徴は、I.I.の出力の採光視野内
の複数の所定個所にチヤンネルを配置したマルチ
採光部１１を設けて、それぞれのチヤンネルの出
力のうちハレーシヨン条件や造影剤等によるアン
ダー条件のものは除去して、残りのものの１つの
チヤンネル当りの平均値でＸ線露出条件を自動的
に設定するようにしたことにある。なお、全チヤ
ンネルが除去条件（露出オーバーまたは露出不
足）のときは自動制御から外して適宜に条件を設
定するようにする。
のであり、その特徴は、I.I.の出力の採光視野内
の複数の所定個所にチヤンネルを配置したマルチ
採光部１１を設けて、それぞれのチヤンネルの出
力のうちハレーシヨン条件や造影剤等によるアン
ダー条件のものは除去して、残りのものの１つの
チヤンネル当りの平均値でＸ線露出条件を自動的
に設定するようにしたことにある。なお、全チヤ
ンネルが除去条件（露出オーバーまたは露出不
足）のときは自動制御から外して適宜に条件を設
定するようにする。
以下、実施例により本発明を詳細に説明する。
なお、全図において、同一のものは同一記号を
付してある。
付してある。
第２図は本発明の一実施例の構成を示したブロ
ツク図である。図中、１１はI.I.４の出力光を採
光するマルチ採光部であり、複数のチヤンネル１
１Ａ，１１Ｂ…で構成されている。１２はアナロ
グスイツチ群であり、複数のアナログスイツチ１
２Ａ，１２Ｂ…で構成されている。１３は前記ア
ナログスイツチ群１２からの出力を加算するため
の加算回路、１４は加算回路１３から出力を前記
チヤンネル数で割算して１チヤンネル当りの平均
値を出力するための割算回路、１５は出力端子で
あり、Ｘ線撮影条件設定回路９に接続される。１
６は採光視野、即ち、前記チヤンネル１１Ａ，１
１Ｂ…の選択用信号CSを入力する端子、１７は
ラツチ信号Ｒを発生する回路、１８は前記オーバ
ー及びアンダーを検出するための検出用基準信号
回路、１９は前記各チヤンネル１１Ａ，１１Ｂ…
の出力のオーバーかアンダーかを検出するオーバ
ー・アンダー検出回路である。２０は全チヤンネ
ル１１Ａ，１１Ｂ…の出力が全部オーバーである
ことを検出するための検出回路、２１は全チヤン
ネル１１Ａ，１１Ｂ…の出力が全部アンダーであ
ることを検出するための検出回路、２２は全チヤ
ンネル１１Ａ，１１Ｂ…のうち１部オーバーで残
り全部がアンダーであることを検出するための検
出回路、２３はラツチ回路であり、ラツチ信号Ｒ
によりホールド状態にされ、ホールド時は出力が
変わらないものである。２４は動作しているチヤ
ンネルの総数を求めるための計数回路、２５Ａ，
２５Ｂ…はアナログスイツチであり、ハイ（Ｈ）
レベルのときオフ、ロー（Ｌ）レベルのときオン
する。２６は論理和（OR）回路、２７はオーバ
ー設定信号発生回路であり、例えば、チヤンネル
１１Ａの出力がオーバーであるレベルの信号を発
生する。２８はアンダー設定信号発生回路であ
り、例えば、チヤンネル１１Ａの出力がアンダー
であるレベルの信号を発生する。２９はチヤンネ
ル数を表わすときの「１」に相当する信号を発生
する「１」信号発生回路である。
ツク図である。図中、１１はI.I.４の出力光を採
光するマルチ採光部であり、複数のチヤンネル１
１Ａ，１１Ｂ…で構成されている。１２はアナロ
グスイツチ群であり、複数のアナログスイツチ１
２Ａ，１２Ｂ…で構成されている。１３は前記ア
ナログスイツチ群１２からの出力を加算するため
の加算回路、１４は加算回路１３から出力を前記
チヤンネル数で割算して１チヤンネル当りの平均
値を出力するための割算回路、１５は出力端子で
あり、Ｘ線撮影条件設定回路９に接続される。１
６は採光視野、即ち、前記チヤンネル１１Ａ，１
１Ｂ…の選択用信号CSを入力する端子、１７は
ラツチ信号Ｒを発生する回路、１８は前記オーバ
ー及びアンダーを検出するための検出用基準信号
回路、１９は前記各チヤンネル１１Ａ，１１Ｂ…
の出力のオーバーかアンダーかを検出するオーバ
ー・アンダー検出回路である。２０は全チヤンネ
ル１１Ａ，１１Ｂ…の出力が全部オーバーである
ことを検出するための検出回路、２１は全チヤン
ネル１１Ａ，１１Ｂ…の出力が全部アンダーであ
ることを検出するための検出回路、２２は全チヤ
ンネル１１Ａ，１１Ｂ…のうち１部オーバーで残
り全部がアンダーであることを検出するための検
出回路、２３はラツチ回路であり、ラツチ信号Ｒ
によりホールド状態にされ、ホールド時は出力が
変わらないものである。２４は動作しているチヤ
ンネルの総数を求めるための計数回路、２５Ａ，
２５Ｂ…はアナログスイツチであり、ハイ（Ｈ）
レベルのときオフ、ロー（Ｌ）レベルのときオン
する。２６は論理和（OR）回路、２７はオーバ
ー設定信号発生回路であり、例えば、チヤンネル
１１Ａの出力がオーバーであるレベルの信号を発
生する。２８はアンダー設定信号発生回路であ
り、例えば、チヤンネル１１Ａの出力がアンダー
であるレベルの信号を発生する。２９はチヤンネ
ル数を表わすときの「１」に相当する信号を発生
する「１」信号発生回路である。
第３図は、第２図のマルチ採光部１１の回路の
具体的構成を示した図であり、１０１，１０２…
はフオトダイオード、１１１，１１２…はフオト
ダイオードの出力電流を電圧に変換する回路であ
る。
具体的構成を示した図であり、１０１，１０２…
はフオトダイオード、１１１，１１２…はフオト
ダイオードの出力電流を電圧に変換する回路であ
る。
第４図は、第２図のオーバー・アンダー検出回
路１９、全チヤンネルオーバー検出回路２０、全
チヤンネルアンダー検出回路２１及び１部オーバ
ー残り全部アンダー検出回路２２の具体的構成を
示した図である。図中、１９Ａはオーバー検出用
コンパレータであり、それぞれのコンパレータに
は各チヤンネル１１Ａ，１１Ｂ…よりのＸ線露出
に対応した電気信号Eiとオーバー条件基準信号
E1が入力され、Ei＞E1のときハイ（Ｈ）レベル
の信号を出力するものである。１９Ｂアンダー検
出用コンパレータであり、それぞれのコンパレー
タには前記電気信号Eiとアンダー条件基準信号
E2が入力され、Ei＜E2のときハイ（Ｈ）レベル
の信号を出力するものである。１９C1，１９C2
…は各チヤンネルがオーバー又はアンダーである
ことを検出するための論理和（OR）回路、２０
Ａ，２１Ａ，２２Ａはそれぞれ採光視野セレクト
用切換スイツチであり、１枚撮りのときは全チヤ
ンネルをオンし、２分割撮り、４分割撮りのとき
はI.I.４の出力面の光のあたる部分のチヤンネル
だけオンする。使用しないチヤンネルはハイ
（Ｈ）レベルにしておく。２０Ｂ，２１Ｂ，２２
Ｂはそれぞれ一致回路、３０，３１はインバー
タ、E01は全チヤンネルオーバー信号、E02は１部
オーバー残りアンダー信号、E03は全チヤンネル
アンダー信号、E04はアナログスイツチ２５Ｃを
オンさせるための信号である。
路１９、全チヤンネルオーバー検出回路２０、全
チヤンネルアンダー検出回路２１及び１部オーバ
ー残り全部アンダー検出回路２２の具体的構成を
示した図である。図中、１９Ａはオーバー検出用
コンパレータであり、それぞれのコンパレータに
は各チヤンネル１１Ａ，１１Ｂ…よりのＸ線露出
に対応した電気信号Eiとオーバー条件基準信号
E1が入力され、Ei＞E1のときハイ（Ｈ）レベル
の信号を出力するものである。１９Ｂアンダー検
出用コンパレータであり、それぞれのコンパレー
タには前記電気信号Eiとアンダー条件基準信号
E2が入力され、Ei＜E2のときハイ（Ｈ）レベル
の信号を出力するものである。１９C1，１９C2
…は各チヤンネルがオーバー又はアンダーである
ことを検出するための論理和（OR）回路、２０
Ａ，２１Ａ，２２Ａはそれぞれ採光視野セレクト
用切換スイツチであり、１枚撮りのときは全チヤ
ンネルをオンし、２分割撮り、４分割撮りのとき
はI.I.４の出力面の光のあたる部分のチヤンネル
だけオンする。使用しないチヤンネルはハイ
（Ｈ）レベルにしておく。２０Ｂ，２１Ｂ，２２
Ｂはそれぞれ一致回路、３０，３１はインバー
タ、E01は全チヤンネルオーバー信号、E02は１部
オーバー残りアンダー信号、E03は全チヤンネル
アンダー信号、E04はアナログスイツチ２５Ｃを
オンさせるための信号である。
第５図は、第２図のラツチ回路２３の具体的構
成を示した図である。図中、２３Ａはラツチ、２
３Ｂは採光視野セレクト用スイツチであり、ａ端
子側がセツト、ｂ端子側（ハイ（Ｈ）側）はリセ
ツトである。２３Ｃは全チヤンネルオンセツト用
スイツチで、Ｈ端子にはロー（Ｌ）レベルの電圧
が印加されており、Ｌ端子は通常のオーバー・ア
ンダー検出用端子である。そして、前記第４図の
論理和回路１９C1，１９C2…の出力が接続され
ている。
成を示した図である。図中、２３Ａはラツチ、２
３Ｂは採光視野セレクト用スイツチであり、ａ端
子側がセツト、ｂ端子側（ハイ（Ｈ）側）はリセ
ツトである。２３Ｃは全チヤンネルオンセツト用
スイツチで、Ｈ端子にはロー（Ｌ）レベルの電圧
が印加されており、Ｌ端子は通常のオーバー・ア
ンダー検出用端子である。そして、前記第４図の
論理和回路１９C1，１９C2…の出力が接続され
ている。
次に、本実施例の動作を説明する。
まず、第５図に示される採光視野セレクト用ス
イツチ２３Ｂを採光視野セレクト信号SCによつ
てａ端子側に接続しアナログスイツチ群１２のア
ナログスイツチ１２Ａ，１２Ｂ…のうち採光視野
に対応したものだけをオンにしておく。例えば、
１枚撮りの場合は全チヤンネルに相当する採光視
野であるから前記アナログスイツチ１２Ａ，１２
Ｂ…の全部がオン状態にされる。次にＸ線が被検
体２に照射され、I.I.４の出力螢光面の採光視野
内に設けられているマルチ採光部１１の各チヤン
ネル１１Ａ，１１Ｂ…にＸ線透過像による可視像
に対応した光が入力され、各チヤンネル１１Ａ，
１１Ｂ…に入力された光量に対応した電気信号Ei
が出力される。この各チヤンネル１１Ａ，１１Ｂ
…の各出力電気信号Eiは第４図に示されるオーバ
ー・アンダー検出回路１９に入力され、各電気信
号がオーバーであるか、あるいはアンダーである
かを検出し、各電気信号が全部オーバー、全部ア
ンダー及び一部オーバー残り全部アンダー以外の
ときは、それぞれ各チヤンネル１１Ａ，１１Ｂ…
に対応した論理和１９C1，１９C2…の出力がラ
ツチ回路２３に入力される。例えば、チヤンネル
１１Ａの論理和回路１９C1の出力がハイ（Ｈ）
レベル（即ち、チヤンネル１１Ａの出力は少なく
ともオーバー、アンダーの条件のいずれかを含ん
でいることを示している。）であれば、これがラ
ツチ回路２３に入力されるので、ラツチ２３Ａの
出力はハイ（Ｈ）レベルでアナログスイツチ１２
Ａはオフ（OFF）状態になり、チヤンネル１１
Ａの出力はないので加算回路１３への入力はな
い。また、チヤンネル１１Ｂの論理和回路１９
C2の出力がロー（Ｌ）レベルであれば、これが
ラツチ回路２３に入力されるので、ラツチ２３Ａ
の出力はロー（Ｌ）レベルとなりアナログスイツ
チ１２Ｂはオン（ON）状態によりチヤンネル１
１Ｂのアナログ出力がそのまま加算回路１３に入
力される。同様にして他のチヤンネルの出力も加
算回路１３に入力される。このようにして、加算
回路１３に入力された電気信号Eiは加算されて割
算回路１４に入力される。一方、前記ラツチ回路
２３の出力によつて動作状態にされた各チヤンネ
ル１１Ａ，１１Ｂ…の総チヤンネル数を計数回路
２４で計算し、割算回路１４に入力する。割算回
路１４では前記出力電気信号Eiの加算値をこの動
作チヤンネル総数で割算して１チヤンネル当りの
平均値を出力する。この出力はＸ線照射条件設定
回路９に送られ、最適な透視、撮影条件が設定さ
れる。
イツチ２３Ｂを採光視野セレクト信号SCによつ
てａ端子側に接続しアナログスイツチ群１２のア
ナログスイツチ１２Ａ，１２Ｂ…のうち採光視野
に対応したものだけをオンにしておく。例えば、
１枚撮りの場合は全チヤンネルに相当する採光視
野であるから前記アナログスイツチ１２Ａ，１２
Ｂ…の全部がオン状態にされる。次にＸ線が被検
体２に照射され、I.I.４の出力螢光面の採光視野
内に設けられているマルチ採光部１１の各チヤン
ネル１１Ａ，１１Ｂ…にＸ線透過像による可視像
に対応した光が入力され、各チヤンネル１１Ａ，
１１Ｂ…に入力された光量に対応した電気信号Ei
が出力される。この各チヤンネル１１Ａ，１１Ｂ
…の各出力電気信号Eiは第４図に示されるオーバ
ー・アンダー検出回路１９に入力され、各電気信
号がオーバーであるか、あるいはアンダーである
かを検出し、各電気信号が全部オーバー、全部ア
ンダー及び一部オーバー残り全部アンダー以外の
ときは、それぞれ各チヤンネル１１Ａ，１１Ｂ…
に対応した論理和１９C1，１９C2…の出力がラ
ツチ回路２３に入力される。例えば、チヤンネル
１１Ａの論理和回路１９C1の出力がハイ（Ｈ）
レベル（即ち、チヤンネル１１Ａの出力は少なく
ともオーバー、アンダーの条件のいずれかを含ん
でいることを示している。）であれば、これがラ
ツチ回路２３に入力されるので、ラツチ２３Ａの
出力はハイ（Ｈ）レベルでアナログスイツチ１２
Ａはオフ（OFF）状態になり、チヤンネル１１
Ａの出力はないので加算回路１３への入力はな
い。また、チヤンネル１１Ｂの論理和回路１９
C2の出力がロー（Ｌ）レベルであれば、これが
ラツチ回路２３に入力されるので、ラツチ２３Ａ
の出力はロー（Ｌ）レベルとなりアナログスイツ
チ１２Ｂはオン（ON）状態によりチヤンネル１
１Ｂのアナログ出力がそのまま加算回路１３に入
力される。同様にして他のチヤンネルの出力も加
算回路１３に入力される。このようにして、加算
回路１３に入力された電気信号Eiは加算されて割
算回路１４に入力される。一方、前記ラツチ回路
２３の出力によつて動作状態にされた各チヤンネ
ル１１Ａ，１１Ｂ…の総チヤンネル数を計数回路
２４で計算し、割算回路１４に入力する。割算回
路１４では前記出力電気信号Eiの加算値をこの動
作チヤンネル総数で割算して１チヤンネル当りの
平均値を出力する。この出力はＸ線照射条件設定
回路９に送られ、最適な透視、撮影条件が設定さ
れる。
次に、前記オーバー・アンダー検出回路１９の
論理和回路１９C1，１９C2…の出力が１部オー
バー残り全部アンダーの検出信号が出力される
と、１部オーバー残り全部アンダー検出回路２２
の一致回路２２Ｂから１部オーバー残り全部アン
ダーの信号E02が出力する。この出力信号E02はラ
ツチ回路２３に入力され、第５図に示される全チ
ヤンネル・オンセツト用スイツチ２３Ｃの全部が
Ｌ端子からＨ端子に切り換えられ、採光視野セレ
クト用スイツチ２３Ｂ、ラツチ２３Ａを介して、
アナログスイツチ１２Ａ，１２Ｂ…の採光視野に
対応するすべてのアナログスイツチがオンされ
る。そして、前記加算、割算の動作と同様の動作
が行われる。
論理和回路１９C1，１９C2…の出力が１部オー
バー残り全部アンダーの検出信号が出力される
と、１部オーバー残り全部アンダー検出回路２２
の一致回路２２Ｂから１部オーバー残り全部アン
ダーの信号E02が出力する。この出力信号E02はラ
ツチ回路２３に入力され、第５図に示される全チ
ヤンネル・オンセツト用スイツチ２３Ｃの全部が
Ｌ端子からＨ端子に切り換えられ、採光視野セレ
クト用スイツチ２３Ｂ、ラツチ２３Ａを介して、
アナログスイツチ１２Ａ，１２Ｂ…の採光視野に
対応するすべてのアナログスイツチがオンされ
る。そして、前記加算、割算の動作と同様の動作
が行われる。
また、オーバー・アンダー検出回路１９のオー
バー検出用コンパレータ１９Ａのそれぞれの出力
が全部オーバーとなると、全チヤンネルオーバー
検出回路２０の一致回路２０Ｂから全チヤンネル
オーバー信号E01が出力され、アナログスイツチ
２５Ａ及び論理和回路２６を介してアナログスイ
ツチ２５Ｃをそれぞれオンする。これにより、オ
ーバー設定信号発生回路２７及び「１」信号発生
回路２９から「１」の信号が計数回路２４及び加
算回路１３に入力され、加算回路１３から「１」
の信号が出力され、自動露出制御から外される。
このとき、全チヤンネルオーバーの出力は、前記
オーバー・アンダー検出回路１９の論理和回路１
９C1，１９C2…を通つて、ラツチ回路２３に入
力され、すべてのアナログスイツチ１２Ａ，１２
Ｂ…をオフにする。また、オーバー・アンダー検
出回路１９のアンダー検出用コンパレータ１９Ｂ
のそれぞれの出力が全部アンダーとなると、全チ
ヤンネルアンダー検出回路２１の一致回路２１Ｂ
から全チヤンネルアンダー信号E03が出力され、
アナログスイツチ２５Ｂ及び論理和回路２６を介
してアナログスイツチ２５Ｃをそれぞれオンす
る。これにより、アンダー設定信号発生回路２８
及び「１」信号発生回路２９から「１」の信号が
計数回路２４及び加算回路１３に入力され、加算
回路１３から「１」の信号が出力され、自動露出
制御から外される。このときも前記全チヤンネル
オーバーのときと同様に全チヤンネルアンダーの
出力は、前記オーバー・アンダー検出回路１９の
論理和回路１９C1，１９C2…を通してラツチ回
路２３に入力され、すべてのアナログスイツチ１
２Ａ，１２Ｂ…をオフにする。
バー検出用コンパレータ１９Ａのそれぞれの出力
が全部オーバーとなると、全チヤンネルオーバー
検出回路２０の一致回路２０Ｂから全チヤンネル
オーバー信号E01が出力され、アナログスイツチ
２５Ａ及び論理和回路２６を介してアナログスイ
ツチ２５Ｃをそれぞれオンする。これにより、オ
ーバー設定信号発生回路２７及び「１」信号発生
回路２９から「１」の信号が計数回路２４及び加
算回路１３に入力され、加算回路１３から「１」
の信号が出力され、自動露出制御から外される。
このとき、全チヤンネルオーバーの出力は、前記
オーバー・アンダー検出回路１９の論理和回路１
９C1，１９C2…を通つて、ラツチ回路２３に入
力され、すべてのアナログスイツチ１２Ａ，１２
Ｂ…をオフにする。また、オーバー・アンダー検
出回路１９のアンダー検出用コンパレータ１９Ｂ
のそれぞれの出力が全部アンダーとなると、全チ
ヤンネルアンダー検出回路２１の一致回路２１Ｂ
から全チヤンネルアンダー信号E03が出力され、
アナログスイツチ２５Ｂ及び論理和回路２６を介
してアナログスイツチ２５Ｃをそれぞれオンす
る。これにより、アンダー設定信号発生回路２８
及び「１」信号発生回路２９から「１」の信号が
計数回路２４及び加算回路１３に入力され、加算
回路１３から「１」の信号が出力され、自動露出
制御から外される。このときも前記全チヤンネル
オーバーのときと同様に全チヤンネルアンダーの
出力は、前記オーバー・アンダー検出回路１９の
論理和回路１９C1，１９C2…を通してラツチ回
路２３に入力され、すべてのアナログスイツチ１
２Ａ，１２Ｂ…をオフにする。
以上説明したように、本発明によれば、Ｘ線露
出不足及びＸ線露出オーバーのチヤンネル（採光
部）の出力を除去し、残りの適当なチヤンネルの
出力を加算し、その値を採用チヤンネル数で割算
して１チヤンネル当りの平均値でＸ線露出の条件
を設定し、前記各チヤンネルの出力が全部露出不
足、全部露出オーバー又は一部露出不足、残りが
露出オーバーとなつて適正露出のチヤンネルの出
力がなくなつたときは、自動露出制御をやめ、所
定のＸ線露出条件設定手段で行うようにしたの
で、最適のＸ線露出の条件に対応したＸ線透視、
撮影の条件を設定することができる。
出不足及びＸ線露出オーバーのチヤンネル（採光
部）の出力を除去し、残りの適当なチヤンネルの
出力を加算し、その値を採用チヤンネル数で割算
して１チヤンネル当りの平均値でＸ線露出の条件
を設定し、前記各チヤンネルの出力が全部露出不
足、全部露出オーバー又は一部露出不足、残りが
露出オーバーとなつて適正露出のチヤンネルの出
力がなくなつたときは、自動露出制御をやめ、所
定のＸ線露出条件設定手段で行うようにしたの
で、最適のＸ線露出の条件に対応したＸ線透視、
撮影の条件を設定することができる。
第１図は従来のＸ線自動露出制御装置の構成を
示した図、第２図は本発明の一実施例の構成を示
したブロツク図、第３図は第２図のマルチ採光部
の回路の具体的構成を示した図、第４図は第２図
のオーバー・アンダー検出回路、全チヤンネルオ
ーバー検出回路、全チヤンネルアンダー検出回路
及び１部オーバー残り全部アンダー検出回路の具
体的構成を示した図、第５図は第２図のラツチ回
路の具体的構成を示した図である。 １……Ｘ線管、２……被検体、３……Ｘ線フイ
ルム、４……I.I.、５……光学系、６……ホトタ
イマ、７……テレビカメラ、８……テレビモニ
タ、９……Ｘ線撮影条件設定回路、１０……高電
圧発生装置、１１……マルチ採光部、１２……ア
ナログスイツチ群、１３……加算回路、１４……
割算回路、１５……出力端子、１６……採光視野
選択用信号入力端子、１７……ラツチ信号発生回
路、１８……オーバー・アンダー検出用基準信号
発生回路、１９……オーバー・アンダー検出回
路、２０……全チヤンネルオーバー検出回路、２
１……全チヤンネルアンダー検出回路、２２……
１部オーバー残り全部アンダー検出回路、２３…
…ラツチ回路、２４……計数回路、２５Ａ，２５
Ｂ，２５Ｃ……アナログスイツチ、２６……論理
和回路、２７……オーバー設定信号発生回路、２
８……アンダー設定信号発生回路、２９……
「１」信号発生回路。
示した図、第２図は本発明の一実施例の構成を示
したブロツク図、第３図は第２図のマルチ採光部
の回路の具体的構成を示した図、第４図は第２図
のオーバー・アンダー検出回路、全チヤンネルオ
ーバー検出回路、全チヤンネルアンダー検出回路
及び１部オーバー残り全部アンダー検出回路の具
体的構成を示した図、第５図は第２図のラツチ回
路の具体的構成を示した図である。 １……Ｘ線管、２……被検体、３……Ｘ線フイ
ルム、４……I.I.、５……光学系、６……ホトタ
イマ、７……テレビカメラ、８……テレビモニ
タ、９……Ｘ線撮影条件設定回路、１０……高電
圧発生装置、１１……マルチ採光部、１２……ア
ナログスイツチ群、１３……加算回路、１４……
割算回路、１５……出力端子、１６……採光視野
選択用信号入力端子、１７……ラツチ信号発生回
路、１８……オーバー・アンダー検出用基準信号
発生回路、１９……オーバー・アンダー検出回
路、２０……全チヤンネルオーバー検出回路、２
１……全チヤンネルアンダー検出回路、２２……
１部オーバー残り全部アンダー検出回路、２３…
…ラツチ回路、２４……計数回路、２５Ａ，２５
Ｂ，２５Ｃ……アナログスイツチ、２６……論理
和回路、２７……オーバー設定信号発生回路、２
８……アンダー設定信号発生回路、２９……
「１」信号発生回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ イメージインテンシフアイアの出力の一部を
採光して自動的にＸ線露出を制御するためのＸ線
自動露出検出装置において、前記イメージインテ
ンシフアイアの出力の採光視野内の複数の所定個
所に設けられた採光部と、それぞれの採光部の出
力がＸ線露出不足及びＸ線露出オーバーであるこ
とを検出する手段と、該検出手段で検出された結
果に基づいてＸ線露出不足及びＸ線露出オーバー
の採光部の出力を除去する手段と、該除去手段に
より不適正露出の採光部が除去された適正露出の
採光部の出力だけを取り出し、その平均値でＸ線
露出条件を設定する制御手段を具備したことを特
徴とするＸ線自動露出検出装置。 ２ イメージインテンシフアイアの出力の一部を
採光して自動的にＸ線露出を制御するためのＸ線
自動露出検出装置において、前記イメージインテ
ンシフアイアの出力の採光視野内の複数の所定個
所に設けられた採光部と、それぞれの採光部の出
力がＸ線露出不足及びＸ線露出オーバーであるこ
とを検出する手段と、該検出手段で検出された結
果に基づいてＸ線露出不足及びＸ線露出オーバー
の採光部の出力を除去する手段と、該除去手段に
より不適正露出の採光部が除去された適正露出の
採光部の出力だけを取り出し、その平均値でＸ線
露出条件を設定し、前記採光部の出力が全部露出
不足、全部露出オーバー又は一部露出不足、残り
が露出オーバーとなつて適正露出の採光部の出力
がなくなつたときは、自動露出制御をやめ、所定
のＸ線露出条件設定手段で行う制御手段を具備し
たことを特徴とするＸ線自動露出検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16629080A JPS5788698A (en) | 1980-11-25 | 1980-11-25 | Detector for automatic x-ray exposure |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16629080A JPS5788698A (en) | 1980-11-25 | 1980-11-25 | Detector for automatic x-ray exposure |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5788698A JPS5788698A (en) | 1982-06-02 |
| JPS641920B2 true JPS641920B2 (ja) | 1989-01-13 |
Family
ID=15828603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16629080A Granted JPS5788698A (en) | 1980-11-25 | 1980-11-25 | Detector for automatic x-ray exposure |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5788698A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58160946A (ja) * | 1982-03-19 | 1983-09-24 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線自動露出装置 |
| JPS58217926A (ja) * | 1982-06-14 | 1983-12-19 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線自動露出装置 |
| JPS6059700A (ja) * | 1983-09-12 | 1985-04-06 | Morita Mfg Co Ltd | パノラマｘ線撮影装置における自動露出回路 |
| US5949811A (en) * | 1996-10-08 | 1999-09-07 | Hitachi Medical Corporation | X-ray apparatus |
| JP3670439B2 (ja) | 1997-05-09 | 2005-07-13 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線装置 |
-
1980
- 1980-11-25 JP JP16629080A patent/JPS5788698A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5788698A (en) | 1982-06-02 |
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