JPS5873336A - 曲率測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し、さらに詳しくは、人眼の角膜の曲率半径を測定する
オフサルモメータやコンタクトレンズの曲率半径を測宇
するラジアスメー□タに応用できる曲率測定装置に関す
る。

本明細書においては、本発明の原即及び実施例を主にオ
フサルモメータについて説明するが、本発明はこれＫｗ
Ｉ定されるものでなく、広く光反射性を有する曲面体の
曲面の曲率半径を測定する場合にも本発明は適用できる
ものである。

人眼角膜自体の屈折力は、眼全体の総屈折力の略ざ０　
％　、約４／３０の屈折力をもち、また乱視眼において
は約７．５％が角膜乱視すなわち角膜前面が球面でなく
トーリック面形状をしていることに起因している。また
、コンタクトレンズ処方に際しては、そのペースカーブ
は、コンタクトレンズを装用させる眼の角膜前面の曲率
半径をもとに処方する必要がある。これら観点から、角
膜前面の曲率半径を測定することは、重要な倉義がある
。

この要求から、人眼角膜前面の曲率半径を測定する装置
として、種々の形式のオフサルモメータが実用化されて
いる。いずれの型式のオフサルモメータも、被検角膜上
に１つ、もしくは複数のｆＪＦｌｌｊを投影し、その投
影像の大きさあるいはその反射像位置を、智察望遠鏡の
焦点面で智察し、投影像の大きさの肇化量あるいは視標
反射像の相対的位置ズレ量から、被検角膜の曲率半径及
び角膜乱視！ｌ１１を測定するものであった０ オフサルモメータにおいては、特に角膜がトーリック面
形状の乱親眼角膜の測定に際しては、その第１及び第コ
主径線の曲率半径及び主径線方向の軸角度の３つの被測
定量を測定することが必要であり、上述の従来のオフサ
ルモメータはこれら３つの測定値をもとめるのに３段階
の測定を必要としていた。しかしながら、人眼には生理
的な眼球振動がつねにともなっており、測定時間の長時
間化は眼球振動にともなう投影像の振動となり、それゆ
えに測定誤差や、測定中の頻繁なアライメント調整操作
を必要とするという大きな問題点があった。

この従来の装置の欠点を解決する装置として、例えば特
開昭３６一／ざｇ３７号公報、特開昭ＪＡー６４ノ３３
号公報、あるいは米国特許第ｑｉｓｑｇＡ７号明細書に
は、投影像の角膜からの反射像をｌ次元型あるいは二次
元型のポジションセンサで検出して、その検出位置から
被検眼角膜の曲率半径及び主径線軸角度を測定する装置
が図示されている。

しかしながら、これら装置も、従来の実用されているオ
フサルモメータと同様釦、投影視標の角膜からの反射書
を望遠鏡で結像する型式であり、測定精度を上げるには
望遠鏡の焦点距離を大きくせねばならず、いきおい装置
が大型化するという欠点があった。また結像型式である
ためその合焦機構を必要としていた。また、装置と被検
角膜とのアライメントもこの合焦望遠鏡を利用してアラ
イメントするためアライメントも不正確であり、かつ測
定時間の短縮化や完全は自動化にはつながらなかった。

非結像光学系を利用して，光学系の屈折特性、主に［！
！−レンズの球面屈折力や円柱屈折力及びその軸角度を
測定する装置が、米国特許第３ｇｇ０！：ｌｊｓ号明細
書に開示されている。この装置は、被検［Ｊレンズに平
行光束を照射し、被検レンズの屈折特性により偏向され
た光束を点間口を有するマスク手段で選択し、被検レン
ズの焦点距離より短かい距離に！ｌｉｉ″、ｔされた平
面型イメージディテクターやＴＶカメラの撮會面に投影
し、上紀点開口を通過した光線の骸ディテクター上への
投影点の位置から被検レンズの屈折特性をもとめる構成
であった。しかしながら、この米国特許明細書は、屈折
光学系における屈折特性測定を開示するのみであり、反
射光学系の曲面特性、特にその反射曲面の曲率半径の測
定岬については何ら開示も示唆もしていない。

そこで、本発明は上述した従来のオフサルモメータの欠
点を解決し、非結ｇＩＷｉ光学系を利用して自動測定が
可能な、オフサルそメータやラジアスメータ等に応用で
きる曲率測定装置を提供せんとするものである。

本発明のもう一つの目的は、非結像型光学系を使用する
ことにより、従来の装置に比較して小型で、かつ結倫望
遠鏡婢の検者が観察および操作する必要のある光学部材
を有しない、自動的に曲率半径を測定出来る曲率測定装
置を提−供することにある。

本発明の更にもう一つの目的は、従来の装置が規準によ
り行こなっていた被検曲面と装置光軸とのアライメント
のための情報を自動的に出力できる操作性がすぐれそし
て測定時間を短縮できる自動曲率測定装置を提供するこ
とにある。

すなわち、本発明によるならば、光軸に垂直な同一平面
内に予め定められた間隔をへたてて配置された少なくと
も３点の点光源と、この光軸上に配置されたピンホール
を通して該点光源を射出した照明光束の主光線をその光
軸と平行にして被検曲面に向ける結像レンズとを有する
照明光学系と、前記照明光学系の前記被検曲面からの反
射光を前記点光源と光学的に非共役な面内で検出する検
出手段と、この検出手段が検出した前記反射光の主光線
の到達位置情報から前Ｆ被検曲面の曲率半径を演算する
演算手段とから構成された曲率測定装置が提供される。

また、本発明によれば、同一平面内に予め定められた間
隔なへだてて配置された少なくとも３つの光検出器と、
光軸上に配！されたピンホールを逆して被検曲面からの
平行光束の主光線を該光検出器に入射させるレンズとを
有する検出光学系と、前記被検曲面に光を照射するため
に前記光検出器と光学的に非共役な一つの面内から発光
する多数の発光単位が同一面内に配置されてなる発光源
と、前Ｆ光検出器が検出したときの前記発光源の発光単
位の位電情報から前記被検曲面の曲率半径を演算する演
算手段とから構成された一一一曲率測定装置が提供され
る。

更に、本発明によるならば、光源と、この光源からの光
を平行光束とするコリメータ手段とを有する照明光学系
と、該照明光学系からの光束で被検曲面によって反射さ
れた光束を選択する少なくと、このマスク手段で選択さ
れた、前記反射光を検出する検出手段と、この検出手段
で検出した前配点パターンに対応した検出点情報から被
検曲面の曲率半径を演算する演算手段とを有し、前Ｐマ
スク手段と前ｒ検出手段のいずれもが前記光源と光学的
に互いに異なる非共役な面内に位置されている曲率・測
定装豐が提供される。

更にまた、本発明によるならば、多数の発光単位が同一
面内に配置されてなる発光源と、該発光源からの光束を
選択する少なくとも３点の点パターンを有するマスク手
段と、このマスク手段により選択され被検曲面により反
射されて装置光軸と平行な光線を１光軸上に配置された
ピンホール手段に導びく集光手段と、このピンホール手
段を通過した光線を検知する検知手段と、この検知手段
が、前記光線を検知したときの前記発光源の発光位置か
ら被検曲面の曲率半径を演算する演算手段とから構成さ
れ、前記マスク手段と前記発光源のいずれもが前記ピン
ホールと光学的に非共役な互供される。

本発明においては、以上の構成上の特徴により従来の曲
率半径測定装ｆＫ比較して、装置が小型となり、また、
測定時間が短くかつ測定精度高く自動的に被検曲面の曲
率半径を測定できる。さらに、アライメント情報を自動
的に出力できるので、さらに測定精度が高くすることが
できる。

これらの本発明の長所は、特にオフサルモメータに本発
明を応用した場合、−球振動の影響を受けない測定精度
が高く、測定時間の短かい小型で構成の簡単な自動測定
が可能なオフサルモメータを提供することができる。

また、本発明をコンタクトレンズの裏面のペースカーブ
を測定するラジアスメータに応用すれば、ターゲット倫
をコンタクトレンズの裏面と、その曲率中心に一度合焦
し、そのときの対物レンズの移動量からペースカーブの
曲率中心を測定していた従来のラジアスメータに比較し
て、従来のラジアスメータがもっていたターグツト＊観
察及びそれによる測定用の顕微鏡光学系を一切必要とせ
ず、ゆ★に測定精度を直接左右する視度調節を一切必要
としないばかりか、演１１定時■の、４１−ソナルエラ
ーも発生しない、自動測定が出来る高精度ラジアスメー
タをＩｊｌｌ＝することができる。

明する。

笛１図は本発明の第１の測定原理を訝明するための斜祈
図であり、第２図は平面図である。

これらのｒｙｌＶＣおいて、装置光軸Ｏ４に原点を有す
るＸｏ　−Ｙｏ直交外標系を考える。このＸｏ　−Ｙ。

座標系を含む面Ｋ、その頂点を接するように角膜Ｃが配
！されているものとする。この角膜Ｃは、その光学中心
ＯＣをＸｏ　軸方向にＥＨ、Ｙｏ　　軸方向にＥｖ　ず
らし、そして、曲率半径ｒ、の第１主径線をＸｏ　　軸
に対して角度θだけ傾けて配置されているものとする。

また、その第コ主径線の曲率半径をγ２　とする。今、
とのＸｏ　−Ｙｏ座標面から装置光軸０１　　にそって
距離ｌ離れた位置に、その装置光軸０．上に原点０をも
つＸ−Ｙ直交座標系を惣定し、とのＸ−Ｙ座標面に検出
面Ｏを配置したとする。

今、この角膜Ｃに光軸Ｏ９から予め定られた間隔を隔て
て光軸０．と平行が３本の光線１１．１２．１　を押射
すると、これら光線は角膜Ｃにより反射され、その反射
光線１１′、１２′、＋３’ｋｔ検出面りに到遺する。

光線１１．１２．１３の×０−　Ｙｏ　　が積面に入射
する入射点をそれぞれυｏ（ｏＸｌ、ＯＹ、）、Ｖｏ（
ｏＸ２．０Ｙ２）、Ｗｏ　（ｏ　Ｘ　５．０Ｙ３）とし
、また反射光線１１’、’２’、１５′の検出面りへの
到達点のＸ−Ｙ座標上の位置をそれぞれＵ（×４、Ｙ、
）、ｖ（×２、Ｙ２）、Ｗ（×３、ｖ、）とし、これＩ
？Ａ点ニツいて以下の係数の式を定義する。

以上の定義のもとに角膜の曲率半径γは・・−・・・・
・・・・・・・・・・（２ｉ式の方程式であられされる
。ここにｌは角膜の頂点と検出面０との間の距離であり
、γは、角膜の曲率半径である。

こへで、上記係数のカッコ式を以下のもので定義する。

ここで、Ｐ％ｑはそれぞれ上記（１）式の＾、日。

＝０　・・・・・・・・・（３）式 として表わされる。ここで上記の二次方程式のコ根を とおく。

また、検出面Ｄ＝５第一図に示すように角層頂点から距
離ｌ′　の位置におかれた検出面Ｄ−への反射光線１．
′、＋２１．１３′の到達点Ｕ’（ｘ、’　、　ｖ、′
）、ｙ／　（Ｘ、、＃、Ｙ２′）、Ｗ′（×３′、Ｙ５
’　）　Ｋ　ツいて考えると、Ｘｏ　−Ｙｏ座標面への
光線１４．１２．１３　の入射点Ｕｏ（ｏＸｌ、０ＹＩ
）、ＶＯ（ＯＸ２、ｏＹ２）　、Ｗｏ（ｏＸ３、ｏ　Ｙ
　ｓ　）　　との間には、やはり上述の第（３）式と同
様Ｋが成立し、そのコ根 とが得らる。これら、（４）、（４）１式から角膜Ｃの
第１主径線の曲率半径γ、と第２主径線の曲率半径γ２
を久それぞれ としてもとめらｈる。また第１主杼線のＸｏ　　軸とな
る角θは と、してもとめられる。

また第一図に示すよ５に検出面りとＤ′　の間の距離△
が予め定められた一定値を取るならば、反射光線の反射
方向は検出面Ｄ（およびＤ′）の位置に無関係に一定で
あるから、検出面りにおける到達ｄ　ｕ　（ｘ、、Ｙ、
）から検出面Ｄ′　における到達点ｕ’（Ｘ＋’　、”
′）への変化量ΔＸはつねに一定である。このことから
、本測定原理に基づけば、装置の基準面Ｐと被検角膜Ｃ
との間の作動距離＃に測定結果は左右されない。換言す
るならば、従来のオフサルモメータのよ５に、測定に際
して予め定められた装置固有の作動距離の調整をすると
いう必要がなく、これは優れた長所と言える。

またアライメント調整は、入射ＡＵＯ％ＶＯ％ＷＯ１７
）ソｔｔぞれの座標（ｏ　Ｘ　１、ｏＹｌ）、（ｏＸ　
２、ｏ　Ｙ　２　）、（ｏ　Ｘ　ｓ、ｏ　Ｙ　３） が成立するように反射されると予め定めておけば、検出
面０への到達点Ｕ、Ｖ、Ｗのそれぞれの座標値（Ｘ、’
　、　Ｙ、）、（×２、Ｙ２）、（ｘ３、Ｙ、）から、
をもとめると、α、βはそれぞれ第７図において角膜Ｃ
の頂点（光軸Ｏｃ）がｘＯ軸方向にＥＨ，ＹＯ軸方向Ｅ
ｖ　ずれて配置されたことに起因するズレ量を表現して
いるととＫなシ、これよシ、α二β＝０となるように光
軸０□　をＸ方向、Ｙ方向に動かしてアライメント調整
すればよい。

光学系には一般に「光線逆進の原理」が適用で専る。そ
こで、上述した原理において、後述の本発明の第、２５
第３０濶定原理間の関係と同様の考え方により、光１ｓ
の進行方向を反対にして、検出面Ｏの位置に、多数の発
光素子を配列した面発光体を置いて、光ｌｌ１１．　　
ｌ、、　　Ｉ、　　の延長上に受光素子を配置し、この
受光素子が角膜からの反射光を検知したときの前記面発
光体の発光素子の発光位置情報から、同様に曲率測定が
できる。

ｊｌＥｊ図、第一図は本発明の第２の原理を説明する図
である。前述の第１の原理で説明したと同様の構成要素
には同一の符号を附して説明を省略する。

被検角膜Ｃの頂点から装置光軸ｏ０　　にそって前方に
距離ｔのところに原点０゜を光軸０□　にもつｘｏ−Ｙ
ｏ直交座標系を想定し、このＸ。−Ｙ０座像面に３つの
点開口冨（、（ｏＸ、　、　ｏＹｌ）　、　Ｊｏ（ｏＸ
、　、　ｏＹ、）。

１（ｏ（ＯＸ３．　ｏＹ３）を有する１スフＭが配置さ
れている。マスクＭから光軸０１　　にそって、距離ｄ
さらＫＭＫは検出面りが配置されている。この検出面Ｄ
Ｋ原点０を光軸Ｏ４と一致させたＸ−Ｙ直交座標系を想
宇する。今、被検角膜Ｃに光線１い１２．１３を含む光
軸Ｏ７に平行な平行光線束が照射されると、この平行光
線束は角膜Ｃで反射されマスクＭに向う。そして、光＠
Ｉ、、１２．１３　のそれぞれの反射光線１１′、１２
′、１３′が点開口１ｏ、Ｊｏ、に０　で選択通運され
、検出面０上の位ｆ＃　＋（ｘ、　、　Ｙ、）、ｊ（×
２、Ｙ２）、Ｋ（Ｘ５、Ｙ３）　ｋそねぞれ到達したと
すると、マスクＭの点開口ｌｏ。

Ｊｏ、に０と検出面りの到達Ａ１、ｊ、にの６点につい
て、上述の第１の原理で定義した第（１）式、第（１）
２式を同様に定義すると、 〔Ｃ，Ｄ〕（８）２＋（〔＾、Ｃ１）−（：Ｂ、　Ｃ）
　）（−！−）十〔＾、Ｂ〕＝０　・・・曲−（８）式 が成立する。この二次方程式の２根２１、ｚ２はそれぞ
れ、マスクＭから角ｇｃの第１主径線の焦点「γ１、第
２主径線の焦点ＦＴ２までの互着を示しているから、球
面反射光学系の焦点距離Ｉは、その曲率半径Ｒとの間に
ｆ＝Ｖコの定理があるので、この、ＺＳＺ、、ｚ２から
角ｇｃの第１および婢コ主径線の曲率半径γ７、Ｔ２は
、それぞれでもとめることができる。

ここで、距離ｌは、公知の作動距離検出手段でもとめた
定数としても、また、リレー光学系を使ってｌ＝ｏにな
るよ５にマスクＭを設定してもよいＯ Ｆｌ主径線ｒ、の軸角度θは、 として得られる。

またア゛チイメント調整に関しては、上述の第１の原理
と同様に考え、マスクＭの点開口１０％　Ｊｏ、に０　
が前記（７）式の条件を満たすように形成してやれば、
このときの検出面０上への反射光線蓼、′、（、Ｉ、＋
３′の到達点９、ｊ、にの各座標値から、前記第（８）
式によりズレ量α、β、を検出することができ、これよ
りα＝β＝０となるように調整すればよい。

第３図、第６図は本発明のＷ３のｉ埋を説明する図であ
る。このｔＫ３の原理は、上述の第コの原理に対して「
光線逆進の原理」を利用した測定原理である。すなわち
、上述の第２の原理の照射光線１５．１２．１３　　と
その反射光ｍ　ｌ、＃　％　　１２’　。

１３′を逆に考え、マスクＭの点開口を通過し、角膜Ｃ
で反射され、装置光軸０．と平行になる光線を射出した
発光光源位置から角膜の曲率半径を求める測定原理であ
る。以下説明にあたってはｔＪ、コの原理と同一の構成
要素に対しては同一の符号を附して説明を省略する。

装置光軸０．に原点０を一致させたＸ−Ｙ座標系が作る
面内に多数の発光単位点Ｓ、、Ｓ２、Ｓ３・・・・・−
・・、Ｓを稠密的に配列して成る面光源Ｓを配置する。

この面光源Ｓの角膜Ｃ＠に光軸０．　　Ｋそって距離ｄ
はなして点開口＋。（ｏｘ５、ｏＹｔ）、ＪＯ（ＯＸ２
、ＯＹ　２　）、Ｋｏ（ｏｘｓ、ＯＹ！ｌ）　　を有す
るマスクＭを配置する。面光源Ｓと反対側へマスクＭか
ら距離ｌはなして被検角膜Ｃが配量されている。今、面
光源Ｓの各発光単位Ｓｎ　　を順次発光走査すると、あ
る発光単位からの発光発散光束中のある光線はマスクＭ
の点開口１０、」へＫＯのいずれかを通過し、角膜Ｃを
照射し、角膜Ｃで反射される。これら角膜Ｃで反射され
た光線の内の、さらに少数のある光線は装置光軸０．と
平行な光線である。との平行光線は光軸０．に配置した
集光レンズしによってその焦ＡＦ　　に集光され、この
焦点ＦＬ　　にピンし ホールＰＨをおき、このピンホールの点開口を通運した
光線を検知器ＤＭ　で検知する。この検知器ＤＭ　が光
線を検知したときの、その光線を照射した発光単位点の
位置をもとめることにより、マスクＭの点開口との対応
関係から角膜の曲率半“径を測定することができる。

今、面光源Ｓの各発光単位Ｓｎ　　を順次発光走査して
おき、マｘりＭの点開口１０（ＯＸ、、ＯＹ、）、ＪＯ
（ＯＸ２．０Ｙ２）、にｏ（ｏＸ５．０Ｙ３）のそれぞ
れからノ射出光ｉ　１．．１２、Ｉ、　カ角ｗ！Ｌ（、
Ｃ−反射され、光軸０．ト平行な反射光［１，’、１２
′、１３′トナリ、集光レンズＬでその焦点ＦＬ　　に
集光され、検知器ＤＭ　で検知されたとすると、この検
知情報から、射出光線１５．１２．１３のそれぞれを含
む発散光束／／Ｉ、ｆｌｌ、ｆｌｈを発光したそれぞれ
の発光単位点５ｌ（Ｘ、Ｙ、）、５ｌ（Ｘ２　、　第２
）、５ｋ（Ｘ３、第３）の位置を知ることができる。こ
の発光単位点Ｓ１、Ｓｌ、ＳｋとマスクＭの点開口ＩＯ
，Ｊｏ、ＫＯから上記第コの原理と同様に第（８）〜第
（１１式が成立するのでこれら各式から被検角膜Ｃの曲
率半径γ４、第２　及び第１主径線の軸角度θをもとめ
ることかで鎗る。

アライメント調整は上記第１、第２の原理と同様の条件
のもとに発光単位点の座標値から前記第（８）式により
α、βを検出でき、α＝β二〇とするように調整すれば
よい０ 以上説明した本発明の原理に基づ〈実施例を以下説明す
る。

第７図は、上述の第１の原理を利用したオフサルモメー
タの光学配置図である。と・のオフサルモメータは、大
きく一つの部分、すなわち、照明光学系１と測定光学系
２からなり、両者の光軸０゜と０２　はハーフミラ−４
０を介して一部共通となっている。

開−光学系２には、点光源としての赤外発光ダイオード
が最低３つ、本実施例においてはｑつの発光ダイオード
３，４．５及び６を第８図に示すように、照明系光１１
＋０２　　に垂直な同一平面内に光軸０２　を中心に互
いに等しい間隔ηを隔てて、相対する２つの発光ダイオ
ード３と４及び５と６を結ぶ−の交点が光軸０２　　と
一致するように１置されている。ここで発光ダイオード
３．４．５及び６を赤外発光ダイオードとしたのは被検
角膜の曲率半径測定中に誉検者がまぶしくないようにす
るため、不可視光を使用したいためである。

また、より多数の点光源を使って各光源からの光を検出
してその検出結果を平均化して測定精度を上げたいので
あれば第９図に示すように、白色光源２０から光を赤外
光のみを通す赤外フィルタ２１及び拡散板２２に通した
のち、第１Ｏ図に示すように相直交するｘｏ軸上及びＹ
Ｏ軸上に検数の点開口２３　ａ　、　２３　ｂ　−２３
１，２３に１２３１−・・・・・２３ｔを有する開口板
２３にコンデンサーレンズ２４で平行照射し、この開口
板２３の点開口２３ａ、２３ｂ・・・・・・２３ｔをそ
れぞれ点光源として使用してもよい。

発光ダイオード３．４．５及び６からの光はピンホール
７を通って、結像レンズ８に向う。この結像レンズ８は
、発光ダイオード３〜６を被検角ｐｃの頂演＾Ｃに接し
、かつ光軸０．（及び０２）に垂直な接平面Ｐｃ　　に
結像するように作用する。結像レンズ８は、その前側焦
点をビンホーｆｉｖ７の位置に持っているので、発光ダ
イオード３〜６を射出した光束の主光線は照明光軸と平
行になって被検角膜ＣＫ照明される。

一方、測定光学系２には、被検角膜からの反射光を検出
する例えばＣＣＯからなる平面型ｆ！ジシャンセンサ９
が光軸０．に垂直な平面内に配置されている。この平面
型ポジションセンサ９は、リレーレンズ１０によって接
平面Ｐｃ　から距離ｌのに形成される光学的共役像であ
る第１仮想検出面ＤＫ形成される像と同一の儂を検出す
る。さらに、本実施例においては、前述の第１の原理で
述べた第コの仮想検出面Ｄ′　を得るために、ポジショ
ンセンサ９を光軸方向に動かしてもよいのであるが、よ
り好ましい態様として、平行平面ガラスからなる光路長
変換部材１１を測定光学系１内に挿紛可柿に配置してい
る。この光路長変換部材１１を光路内に挿入することに
より、ポジションセンサ９のリレーレンズ１０による光
学的共役像は接平面Ｐｃ　　から距離ｌ′　の位置に出
来、そこに第りの検出面Ｄ′　を作る。

次に、本実施例による被検角膜の曲率半径の測定方法を
説明する。まず、光路変換部材１１を光路外に退避させ
ておき、リレーレンズ９によりポジションセンサ９の共
役像がＤの位置にくるようにする。つぎに、発光ダイオ
ード３〜６を発光し、その射出光を被検角膜に照射する
。角膜Ｃからの反射光はポジションセンサ９に入射され
る。ここでポジションセンサ９の各受光素子を走査して
反射光の入射点を検出する。このときの検出点が、第１
／図に示すように、Ｕａ（ａＸ、、ａＹｌ）、ｖａ（ａ
Ｘ２、ａ　Ｙ　２　）、Ｗ８（ａ　Ｘ　５、ａＹ３）、
Ｑａ（ａＸ４、ａＹ４）であったとすると、Ｕａ　　点
とＷｅ点を結ぶ直線とＶａ点とＱａ　　点を結ぶ直線の
交点（至）が予め設計上定められていた原点０からずれ
ていれば被検角膜Ｃの頂点ＡＣと測定光学系の光軸０．
とのアライメントがずれていることを意味しているので
上述の（７）２式を使ってズレ量α、βを算出し、α＝
β＝０となるように装置を図示しない手段で左、右上下
に動かしアライメント調整をする。

なお、基準ｗ点０は予め設計上定めておくかわりに、例
えば第７３図に示すように、照明光軸０２に垂直な平面
内に反射面をもつぐラー１２を挿入し、とのξジー１２
により照明光軸０２　　に平行にすなわち発光ダイオー
ド３〜６からの照射光の照射光路と同一光路を逆進させ
ポジションセンサでその反射光を検出し、この検出点Ｕ
Ｏ（ＯＸｌ、ｏＹｌ）、Ｖｏ（ｏＸ２、ｏ　Ｙ　２　）
、Ｗｏ　（ｏ　Ｘ　５、ｏＹ３）、０ｏ（ｏＸ４、ｏ　
Ｙａ　）（第１Ｏ図参照）をもとに原点０を決定しても
よいＯ アライメント評整が完了したら、再度ポジションセンサ
を走□査し、第７ａ図に示すように、検出面Ｏでの検出
値Ｕ（×４、Ｙ、）、ｖ（×２、Ｙ２）、Ｗ（×５、Ｙ
３）、Ｑ（×４、Ｙ４）をもとめ、これをメモリーして
おく。

次に、光路変換部材１１を測定光学系内に挿入し、検出
面りでの検出をおこない、その検出値υ＃　（Ｘ、＄、
Ｙ、′）、ｙＦ（×２／、Ｙ２′）、ｗｔ　（Ｘ３１　
、Ｙ、／　）、０（ｘ４′、Ｙ４ｔ　）　　をもとめる
。このコ回の検出による検出点り、■、Ｗ、Ｑ、及びＵ
′、ｖ′、ｗ′、Ｑ′　のｇ演の情報から上述の＃（１
）〜第（６）式をつかって被検角膜の曲率半径ｒ１、ｒ
２及び主径線の軸角度０を算出する。

第１ｑ図は以上の検出及び演算処理をするための検出駆
動及び演算処理回路を示すブロック図である。

マイクロプロセッサ１００のクロックツ量ルス発振器１
０１からのクロックパルス２０１の制御のもとに走査駆
動回路１０２は、平面型ポジションセンサ９を走査する
。ポジションセンサ９の各受光単位素子からの出力信号
２０２は、入力変換器１０３で予め宇めた分解能、例え
ばｇビット（／／Ｐ）ｌ、）の分解能でデジタル信号に
変換されたのち、マイクロプロセッサ１００に入力され
る。マイクロプロセッサ１００は、その入力信号から検
出点Ｕｓ、　Ｖａ、　Ｗｅ、　Ｑａの座標値を算出し、
予め定められた原点０゜と比較し、（７）′弐によりα
、βを計算する。この値をもとにインターフェース回路
１０５を介してＣＲＴディスプレイ１０６上にアライメ
ントズレ量を図形表示し、測定者にズレ方向及びその量
を知らせる。または算出されたａ及びβ値から装置本体
を公知の電気機械駆動系１０７で左右上下に駆動し、自
動的にアライメント調整してもよい。

アライメント調整完了後、ポジションセンサ９の走査出
力２０２はＡ／ｂ変換器１０３、マイクロプロセッサ１
００を介して、ランダム−アクセスメモＩＪ　（ＲＡ　
Ｍ　）等で構成されるメモリ回路１０４のポジションセ
ンサの各受光素子に対応したメモリ番地に順次記憶され
る。次に、ｉイクロプロセッサ１００の制御のもとに、
光路変換部材駆動回路１０８を駆動して光路変換部材１
１を測定光路内に挿入し、検出面り一　での検出をポジ
ションセンサ９を再度走査し、その検出値と、前述のメ
モＩＪ　００路１０４に格納されていた検出面りでの検
出値とをもとにマイクロプロセッサ１００内の演震回路
１０９で演算し、その演春結果をインターフェース回路
１０５を介してＣＲＴディスプレイ１０６上に被検角膜
の曲事半径γい　γ２及び軸角度０として表示する。ま
た必要に応じプリンタ回路１１０で打出してもよい。こ
れら一連の検出演算処理はプログラムメモリ１１１に予
め入れられている処理プログラムによって実行される。

以上の第１実施例において、ポジションセンサ９として
平面型のポジションセンサを利用したが、そのかわりに
第１り図に示すように、直線状のポジションセンサ３２
をマイクロプロセッサ１ｏ。

ｋより制御される制御回路！１２に接続されたパルスモ
ーク１１３により回転して角膜ｃからの反射光の到達点
を検出してもよい。

以上述べた第１の原理に基づくオ７サルモメータを、前
述した「光線逆進の原理」を適して、発光体と受光体と
の関係を逆転させても、同様に曲率を測定できる。即ち
、平面ｍ−ジションセンサ９の位置に１多数の発光素子
即ち発光単位を配列した平面型発光素子アレイを置き、
そして、発光ダイオード３．４．５．６の位置に受光素
子を配置する。そしＲ，は、平面瑠発光素子アレイの発
光単位を順次発光させて、その光を受光素子のいずれか
が受けたとき、その光を発した発光単位の座標位置とそ
の光を受けた受光素子の位置とを記憶すること以外、上
述した実施例と同じである。

また、発光体と受光体との関係を逆転させれば、上述し
た実施例と同様な変更もまた同様にすることができる。

すなわち、同一平面内に予め定められた間隔をへだてて
配置された少なくとも３つの光検出器と、光軸上に配置
されたピンホールを通して被検曲面からの平行光束の主
光線を光検出器に入射させるレンズとを有する検出光°
学系と、被検曲面に光を照射するために光検出器と光学
的に非共役な二つの面内から発光する多数の発光単位が
同一面内に配置されてなる発光源と、光検出器が検出し
たときの発光源の発光単位の位置情報から被検曲面の曲
率半径を演算する演算手段とから構成されるオ７サルモ
メータにおいて、光検出器は受光素子でもよいし、また
受光素子への光を透過する点間口でもよい、そして、こ
のオ７サルモメータは、更に、発光源を前記非共役面に
位置づけるリレー光学手段を有してもよく、マた、被検
曲面と発光源の間に光路長変換部材を配してもよい・更
に１被検曲面と発光源の間に光軸と垂直な反射面をもつ
反射部材゛を挿入可能に配してもよく、そして、発光源
の発する照明光束は赤外光であることが好ましい、また
、リレー光学手段の光軸と検出光学系の光軸とを第７図
の如く少くとも一部共通にできる。そして、発光源は多
数の発光素子を平面状に配置した平面型発光素子アレイ
でも、また、多数の発光素子が直線状に配列されて非共
役面内で回転するりエア発光素子アレイでもよい。

第７５図は、前述の本発明の第一の測定原理にもとず〈
実施例をオ７サルモメータに応用した例を示す光学配置
図である・なか、前述の第１実施例と同一もしくは均等
な構成要素には同一の符号を附して説明は省略する。

照明光学系１においては、光源２Ｇからの光束は、フィ
ルタ２１及び拡散板２２を通り、コンデンサレンズ２４
によシビンホール７を通過し、ピンホール７の位置に焦
点をもつコリメータレンズ３０により平行光束となって
、被検角膜ＣＫ照明される。

一方、測定光学系２の４ジシ買ン竜ンナ９とリレーレン
ズ１０の間には少なくとも３つの点間口が形成されたマ
スク３１が配置されている。そして、リレーレンズ１０
によシ形成されるそれらの光学的共役像は、被検角膜Ｃ
から距離口、ポジションセンサ９の光学的共役像である
仮想検出面りから距１ｉｊｌｄの位置に作られる。この
マスク３１０Ａ１口としては笛１０図に示し九開口板２
３と同じように多数の点間口を交差すゐ直線状に配列す
ると、測定精度の向上につながりより好ましいが、本実
施例では、説明を簡単にするために第７６図に示すよう
１ｃＸｏ　軸上に点１１０Ｊｏ、Ｎｏヲ、ＹＯ軸に点間
口１ｏ　、ＫＯをその原点００　を中心に対称に配した
マスクを例に説明する。角ｆａＣに照明された平行光束
は、角膜で反射されマスク３１の点間口　１ｏ、　Ｊｏ
、にｏ、　Ｎｏ　で選択透過され、ポジションセンサ９
に反射する。このポジションセンサ９の走査による検出
点を第１Ａ図に示すように１（Ｘｌ、Ｙｌ）、　Ｊ（Ｘ
２．　Ｙ２）、　Ｋ（ＸＳ、　Ｙ３）、　Ｎ（Ｘ４．　
Ｙ４）とすれば、マスクの点間口の座標Ｉｏ（ｏＸｌ、
　ｏＹｌ）＋Ｊｏ（ｏＸ２．０Ｙ２）、にｏ（ｏＸ３．
　ｏｎ）ｅ　Ｎｏ（ＯＸ４ｅ　ｏＹ４）とから、上述の
第（８）〜０Ｇ式によシ被検角膜Ｃの曲率半径１１Ｊ２
及び軸角度θが演算でもとめられる。な訃、検出演算回
路は第１１図に示した第７実施例の回路とほぼ同様であ
るので説明を省略する。ただマスクＭＯ点開口の座標上
の位置情報が予じめメモリ回路１０４の対応するメモリ
番地に記憶させておく点が異なる。

以上の第一の実施例において、第１実施例と同様に、ポ
ジションセンサ９として平面型のポジションセンサを利
用したが、このかわｐに第７７図に示すように、直線状
のＩジャロン４ンサ３２をマイクロプロセッサ１００に
よシ制御される制御回路１１２に接続されたパルスモー
タ１１３によ多回転して角膜Ｃからの反射光の到達点を
検出してもよい。

第１ｆＦＸＩは、本発明の第３の測定原理をオ７サルモ
メータに応用した実施例を示す光学配置図である。

なお、前述の第２の実施例と同様の構成要素には同一の
符号を附して説明は省略する。

照明光学系２には、多数の微少な赤外発光ダイオードを
稠密的に配列してなる。平面型発光素子アレイ５０があ
シ、この発光素子アレイ５０の前Ｅ１ｍ１ｍスフが配置
されている。これら発光素子アレイ５０とマ累り３１は
リレーレンズＩＯＫより、それぞれの光学的共役像Ｍ、
Ｓが角＠Ｃの前方に作られる。一方、測定光学系２は、
リレーレンズ１０がその後方焦点をピンホール７の位置
にもつ集光レンズとして作用し、このリレーレンズによ
り角膜Ｃからの反射光のうち測定光軸０１と平行な光線
のみがピンホー〃７を通過し、リレーレンズ５１によシ
受光素子５２に反射される。この受光素子５２としては
高感度のアノ千ランシェフオドダイオードを使用し、さ
らに感度を上げるには電子冷却手段をほどこしてもよい
、あるいは公知の光電子倍増管を利用してもよい、なお
、本実施例では照明光学系のリレーレンズ１０が測定光
学系の集光レンズを兼ねる構成としているが、これは装
置の構成を簡単にするためであシ、それぞれリレーレン
ズと集光レンズを別々にもうけてもよいことは言うまで
もない。

平面型発光素子アレイを構成する発光ダイオード素子（
以下発光単位という）を順次発光走査すると、各発光単
位からの発散光束のうちあるものはマスク３１の点間口
１ｏ、　Ｊｏ、にｏ、　Ｎｏ　のいずれかを通過し、被
検角膜Ｃに入射される。そして、角膜Ｃに上って反射さ
れた照明光のうちある一部のものは、光軸０１　　に平
行な光線となシ、この平行光線はリレーレンズ１０．八
−７ミラー４０を介してピンホール７を通シ受光素子５
２で検出さ５ｌ（ｘ２．ｙ２）、　５ｋ（Ｘ５ｓＹｓ）
−５ｎ（Ｘ４ｅＹ４）が第１９図に示す位置にあったと
すると、マスク３１０点間口の座標１ｏ（ｏＸｌ、ｏＹ
ｌ　）、Ｊｏ（ｏＸｚ、ｏＹ２）、Ｋｏ（ｏＸｓ、ｏＹ
ｓ）。

Ｎｏ（ｏＸ４　、ｏＹ４　）とから前述の第（８）〜ａ
υ式を適用して被検角膜の曲率半径７１１７２及び軸角
度０が算出できる。

なお、この場合の検出演算回路も第１１図と同様に構成
できる。その例を第一０図に示す、しかし、第１ダ図の
回路と量分の部分については、同一の参層番号を付して
説明を省略し、異なる部分のみ説明する。

マイクロプロセッサ１００のり四ツクパルス発振器１０
１からのクロックパルス２０１（ｉり制御のもとに走査
駆動回路１０２は、発光素子アレイ５０を走査する。一
方、受光素子５２からの出力信号２０２は、＾／口変換
器１０３でデジタル信号に変換されたのち、マイクロプ
ロセッサ１００に入力される。そして、マイクロプロセ
ッサ１００は、その人力信号が所定レベル以上にあると
きその光゛を出した発光単位の位置座標Ｓｌ、　Ｓｊ、
　Ｓｋ、Ｓｎ。

を算出する。また、第７５図の実施例の場合と同様に、
マスク３１０点間口の座標上の位置情報は、予じめメモ
リ回路１０４の対応するメモリ番地に記憶させておく。

なお、第７ｇ図の平面型発光素子アレイ５０のかわりに
、第２１図に示すように赤外光を射出する例えばＧ５Ａ
ｓ　　半導体レーデ６０からのレーザ光を、公知の回転
多面鏡若しくはガル／童ノメータ反射鏡又は音響光学素
子からなるビーム走査光学系６１を駆動して、光学素子
アレイ６２に反射して、平面型の発光源として使っても
よい、ここで光学素子アレイ６２はコリメータレンズ６
３と多数のファイバーレッド６４ｍを平面状に配列した
ファイバーロッドアレイ６４から構成されている。各フ
ァイバーロッド６４１は開口板が大きいので入射された
レーデ光６５は発散光束６５Ｉ、となって射出する。ま
え、この光学素子アレイを直線状アレイとして構成し、
第７７図と同様Ｋ　１４ルスモータ１１３で回転しても
よい。

第２コ図は、本発明の第７の原理をコンタクトレンズの
ベースカーブを測定するラジアスメータに応用した実施
例である。照明光学系と測定光学系及び演算処理系は前
述の第７実施例と同様であるので同一の符号を附して説
明は省略する。

コンタクトレンズＣＬはそのベースカーブの曲率半径を
測定するときはコンタクトレンズの凸面を下にして、コ
ンタクトレンズ保持手段３０００円管状突出部３０１に
保持ｔａる。

この円管状突出部の底面には、第１３図で説明し來原点
決定用の反射鏡１２が取付けられておじ、コンタクトレ
ンズを保持手段３００にセットする前に、この反射鏡を
使って原点設定ができるようになっている。なお、本実
施においては、Ｉジションセンサ９の第１及び第ａ仮想
検出面り、０／はそれぞれ測定しようとするコンタクト
レンズの後面の焦点距離よシ内偏に位置するようにリレ
ーレンズ１０の屈折力を設計するとよい。

なお、上述の全ての原理及び実施例の説明において開口
板２３、マスク３１を光を透過する点間口の側で説明し
たが、本発明はこれに限定されるものでなく、開口板や
マスクは光を反射する点状反射面を有するものでもよい
。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第４図は本発明の第１の測定原理を説明する
ための図、第３図及び第１Ｉ図は本発明の第一の測定原
理を説明するための図、第５図及び第６図は本発明の第
３の測定原理を説明するための図、第７図は本発明の第
１の実施例を示す光学配置図、第３図は第１実施例の発
光ダイオードの配置関係を示す平面図、第９図は第１実
施例における点光源の別の実施例を示す図、第１ＯＦＩ
Ａは第９図における開口板の平面図、第１１図はアライ
メント調整時の照射点と検出点の関係を示す図、第１コ
図は第１実施例の検出点の関係を示す図、第７３図は基
準原点を決定するだめの一部省略した光学配置図、第１
４を図は第１の実施例の、検出、演算処理回路のｆ０ツ
ク図、第７５図は本発明の第一の実施例を示す光学配置
図、第７６図は第一実施例の検出点の関係を示す図、第
１７ｍは第１及び第一実施例における検出手段の別の実
施例を示す図、第１ｇ図は本発明、の第３の実施例を示
す光学配置図、第１９図は第３実施例の発光単位点の関
係を示す図、第２０図は第３実施例の検出演算処理回路
のノロツク図、第一／ｌｉ！Ｉｆは、第３実施例の発光
素子アレイの別の実施例を示す図、そして、第２２図は
本発明の第ダの実施例を示す光源配置図である。 １　、、、、、照明光源、２００．・測定光学系、３．
４．５．６　＠　６　＠　ｍ　６発光ダイオード、Ｌ＊
＊ｅａピンホール、８　、、、、、結像レンズ、９．３
２ｍｍ＠＠＠−ジシロンセンサ、ｉ　ｏ　、、、、、リ
レーレンズ、１　ｉ　＠＊＠＠＠光路長変換部材、１２
０．・００反射ミラー、２３５ｅｅｓ開目板、３０　、
、、、集光レンズ、３１１１１＋６＠マスク、５２　、
、、。 受光素子、６０．、・、レーデ、６１・０１．走査光学
系、６２　、、、、光学素子アレイ− １９１ 第８図 −１９４−’ 第１８図 を 処２０図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）　　同一平面内に予め定められた間隔をへたてて
   配置され九少なくとも３つの点光源と、光軸上に配置さ
   れたピンホールを通して該点光源を射出した照明光束の
   主光線な該光軸と平行にして被検曲面に向ける結像レン
   ズとを有する照明光学系と、 前記照明光の前記被検曲面からの反射光を前記光源と光
   学的に非共役な一つの面内で検出する検出手段と、 該検出手段が検出した前記反射光の主光線の到達位置情
   報から前記被検曲面の曲率半径を演算する演算手段と　
   　− から構成されたことを特徴とする曲率測定装置。 （２）　　前記点光源は、発光〆イオードであることを
   特徴とする特許請求の範囲第１項記載Ｏ曲率測定装置。 （３）　　前記点光源は発光光源からの光を透過する点
   開口であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
   の曲、率測定装置。 （４）　　前記検出手段を前記非共役面に結像させるリ
   レー光学手段を有してなることを特徴とする特許請求の
   範囲第１ＩＪないし第３項のいずれかに記載の曲率測定
   装置。 （５）　　前記被検曲面と前記検出手段の間に光路長変
   換手段を配したことを特徴とする特許請求の範囲第１項
   ないし第１項のいずれかに記載の曲率測定装置。 （６）前記被検曲面と前記検出手段の間に前記光軸と垂
   直な反射面をもつ反射部材を挿入可能に配して成ること
   をＩｊＩ！ＩＷｋとする特許請求の範囲第１項ないし第
   ５項のいずれかに記載の曲率測定装置− （７）　前記照明光束は赤外光であることを特徴とする
   特許請求の範１［Ｉ／項ないし第６項のいずれかに記載
   の曲率測定装置。 （８ン　　前記リレー光学手段の光軸と、前記照明光学
   系の光軸とを小さくとも一部共通にしたことを特徴とす
   る特許請求の範囲第ダ項ないし第７項のいずれかに記載
   の曲率測定装置。 （９）前記検出手段は多数の受光素子を平面状に配置し
   た平面型ポジションセンサであることを特徴とする特許
   請求の範囲第１項ないし第を項のいずれかに記載の曲率
   測定装置。 ＯＩ　　前記検出手段は多数の受光素子を直線状に配列
   して成）、かつ前記非共役面内で回転するりテアポジシ
   ョンセンサであることを特徴とする特許請求の範囲第１
   項ないし第を項のいずれかに記載の曲率測定装置。 αυ　同一平面内に予め定められた間隔をへだてて配置
   され九少なくとも３つの光検出器と、光軸上に！ＩＩ！
   置されたピンホールを通して被検曲面からの平行光束の
   主光線を該光検出器に入射させるレンズとを有する検出
   光学系と、 前記被検曲面に光を照射するために前記光検出器と光学
   的に非共役なａつの面内から発光する多数の発光単位が
   同一面内に配置されてなる発光源と、 前記光検出器が検出したときの前記発光源の発光単位の
   位置情報から前記被検曲面の曲率半径を演算する演算手
   段とから＃４成されたことを特徴とする曲率測定装置。 αり　前記光検出器は受光素子であることを特徴とする
   特許請求の範囲第１／項記載の曲率測定装置峙　前記光
   検出器は受光素子へ光を透過する点開口であることを特
   徴とする特許請求の範囲第１／項記載の曲率測定装置。 Ｉ　前記発光源を前記非共役面に位置づけるリレー光学
   手段を有してなることを特徴とする特許請求の範囲第１
   ／項ないし第１３項のいずれかに記載の曲率測定装置。 ａＳ　ｔｍ記被検曲面と前記発光源の間に光路長変換手
   段を配したことを特徴とする特許請求の範囲第１／項な
   いし第１ダ項のいずれかに記載の曲率測定装置。 αｅ　前記被検曲面と前記発光源の間に前記光軸と垂直
   な反射面をもつ反射部材を挿入可能に配して成ることを
   特徴とする特１ｆｆ−請求の範囲第１／項ないし第１Ｓ
   項のいずれかに記載の曲率測定装置。 （１？）　　前記照明光束は赤外光であることを特徴と
   する特許請求の範囲第１／項ないし第１６項のいずれか
   に記載の曲率測定装置。 α均　前記リレー光学手段の光軸と、前記検出光学系の
   光軸とを小さくとも一部共通圧したことを特徴とする特
   許請求の範囲第１ダ項ないし第１７項のいずれかに記載
   の曲率測定装置。 （１１前記発光源は多数の発光素子を平面状に配置した
   平面型発光素子アレイであることをＩｔ！Ｉ微とする特
   許請求の範囲第１１項ないし第１１項のいずれかに記載
   の曲率測定装置。 （４）前記発光源は多数の発光素子を直線状に配列して
   成シ、かつ前記非共役面内で回転するリニア発光素子ア
   レイであることを特徴とする特許請求の範囲第１１項な
   いし第１を項のいずれかに記載の曲率測定装置。 Ｃυ　光源と、該光源からの光を平行光束とするコリメ
   ータ手段とを有する。照明光学系と、該照明光学系から
   の光束で被検曲面によって反射された光束を選択する少
   なくとも３つの点パターンを有するマスク手段ト、 該マスク手段で選択された該反射光を検出する検出手段
   と、 該検出手段で検出した前記点パターンに対応した検出点
   情報から前記被検曲面の曲率半径を演算する演算手段と
   を有し、 前記マスク手段と前記検出手段のいずれもが前記光源と
   光学的に互いに異なる非共役な面内にそれぞれ配置され
   ている ことを特徴とする曲率測定装置、。 （２）　前記コリメータ手段の前側焦点位置には、前記
   光源からの光束を通すピンホールが配置されていること
   を特徴とする特許請求の範囲第２７項記載の曲率測定装
   置。 （ハ）　前記照明光束は赤外光であることを特徴とする
   特許請求の範囲第２１項または第一一項記載の曲率測定
   装置。 （至）　前記点パターンＦｉ開口から成ることを％微と
   する特許請求の範囲第１１項ないし第２３項のいずれか
   に記載の曲率ｍ電装置。 （ハ）前記マスタ手段と、前記検出手段の両方をそれぞ
   れの前記非共役面に結像するリレー光学手段を有してな
   ることを特徴とする特許請求の範囲第一７項ないし第ａ
   ダ項のいずれかに記載の曲率ｍ定装置。 ａＩ＃記被検曲面と前記マスク手段との間に＠記Ｍ明光
   学系の光軸と垂直な反射面を有する反射部材を挿入可能
   に有してなることを特徴とする特許請求の範囲第１１項
   ないし第２５項のいずれかに記載０曲率測定装置。 （２）　前記リレー光学手段の光軸と前記照明光学系Ｑ
   光軸とを少なくとも一部共通に有したことを特徴とする
   特許請求の範囲第２５項ま九は第一６項記載の曲率測定
   装置。 （至）前記検出手段は多数の受光素子を平面状に配置し
   九平面１ｍ−ジシ璽ン七ンサであることを特徴とする特
   許請求ｏ’ａｒｓｗｔ−／項ないし第２７項のもずれ、
   かに記載の曲率測定装置。 （２９）前記検出手段は多数の受光素子を直線状に配列
   してなシかつ前記非共役面内で回転するリニアポジショ
   ンセンサであることを特徴とする特許請求の範囲第一７
   項ないし第２７項のいずれかに記載の曲率測定装置。 （３Ｑｌ多敵の発光単位が同一面内に配置されてなる発
   光源と、 該発光源からの光束を選択する少なくとも３つの点パタ
   ーンを有するマスク手段ト、該マスク手段により選択さ
   れ被検曲面により反射されて、装置光軸と平行な光線を
   該光軸上に配置されたピンホール手段に専び〈集光手段
   と− 該ピンホール手段を通過した光線を検知する検知手段と
   、 該検知手段が該光線を検知したときの前記発光源の発光
   位置から前記被検曲面の曲率半径を演算する演算手段と
   から構成され、 前記マスク手段と前記発光源のいずれもが前記ピンホー
   ル手段と光学的に非共役な互いに異なる面内に位置して
   いる ことを＊＊とする曲率測定装置。 （３１）前記発光源は多数の発光素子を平面状に配列し
   て成る平面型発光素子アレイであることを特徴とする特
   許請求の範囲第３０項記載の曲率測定装置。 （３２）前記発光源は多数の発光素子を直線状に配列し
   て成シ、かつ前記非共役面内を回転する９コア発光素子
   アレイであることを特徴とする特許請求の範囲第３θ項
   記載の曲率測定装置。 （３３）前記発光素子は発光ダイオードであることを特
   徴とする特許請求の範囲第３１項または！Ｉ３２項記載
   の曲率測定装置。 （−前記発光素子はレーデ光を拡散する拡散光学部材か
   ら構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第３
   ７項または第３コ項記載の曲率測定装置。 （３５）前記発光素子は赤外光を発光することを特徴と
   する特許請求の範囲第一〇ＪＪｊないし第２３項のいず
   れかに記載の曲率測定装置。 （旙前記レーデは赤外光を発光することを特徴とする特
   許請求の範囲第３ｑ項記載の曲率測定装置・ （３Ｔ）前記点・ぐターンは開口であることを特徴とす
   る特許請求の範囲第３０項ないし第３６項のいずれかに
   記載の曲率測定装置。 （３Ｂ前記発光源と前記マスク手段の両方をそれぞれの
   前記非共役面に結像するリレー光学手段を有して成るこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第３０項ないし第３７項
   のいずれかに記載の曲率測定装置。 （３９）前鷺集光手段と前記被検曲面との間に該第・光
   手段の光軸と垂直な反射面を有する反射部材を挿入可能
   に配してなることを特徴とする特許請求の範囲第３６項
   ないし第３ｇ項のいずれかに記載の曲率測定装置。 （４０）　＃記すレー光学手段の光軸と前記集光手段の
   光軸とを少なくも一部共通にして成ることを特徴とする
   特許請求０範囲第３ｇ項または第３９項記載の曲率測定
   装置。 （４１）前記検知手段はフォトマルチシライヤー受光管
   であることを特徴とする特許請求の範ｇ＃Ｉ３θ項ない
   し第ｔＩＯ項のいずれかに記載の曲率測定装置。 （４２）前記検知手段はアバランシェ７オＦダイオード
   であることを特徴とする特許請求の範匠第３０項ないし
   第１１Ｏ項のいずれかに記載の曲率測定装置。