JPH0249731B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、曲面の曲率半径を測定する装置に関
し、さらに詳しくは、人眼の角膜の曲率半径を測
定するオフサルモメータやコンタクトレンズの曲
率半径を測定するラジアスメータに応用できる曲
率測定装置に関する。

本明細書においては、本発明の原理及び実施例
を主にオフサルモメータについて説明するが、本
発明はこれに限定されるものでなく、広く光反射
性を有する球面またはトーリツク曲面体の曲面の
主径線の曲率半径を測定する場合にも本発明は適
用できるものである。

人眼角膜自体の屈折力は、眼全体の総屈折力の
略80％、約45Dの屈折力をもち、また、乱視眼に
おいては約75％が角膜乱視すなわち角膜前面が球
面でなくトーリツク面形状をしていることに起因
している。また、コンタクトレンズ処方に際して
は、そのベースカーブは、コンタクトレンズを装
用させる眼の角膜前面の曲率半径をもとに処方す
る必要がある。これら観点から、角膜前面の曲率
半径を測定することは、重要な意義がある。この
要求から、人眼角膜前面の曲率半径を測定する装
置として、種々の形式のオフサルモメータが実用
化されている。いずれの型式のオフサルモメータ
も、被検角膜上に１つ、もしくは複数の視標を投
影し、その投影像の大きさあるいはその反射像位
置を、観察望遠鏡の焦点面で観察し、投影像の大
きさの変化量あるいは視標反射像の相対的位置ズ
レ量から、被検角膜の曲率半径及び角膜乱視軸を
測定するものであつた。

オフサルモメータにおいては、特に角膜がトー
リツク面形状の乱視眼角膜の測定に際しては、そ
の第１（強主径線）及び第２主径線（弱主径線）
の曲率半径及び少なくとも一方の主径線方向の角
度の３つの被測定量を測定することが必要であ
り、上述の従来のオフサルモメータはこれら３つ
の測定値をもとめるのに３段階の測定を必要とし
ていた。しかしながら、人眼には生理的な眼球振
動がつねにともなつており、測定時間の長時間化
は眼球振動にともなう投影像の振動となり、それ
ゆえに測定誤差や、測定中の頻繁なアライメント
調整操作を必要とするという大きな問題点があつ
た。

この従来の装置の欠点を解決する装置として、
例えば特開開昭56―18837号公報、特開昭56―
66235号公報、あるいは米国特許第4159867号明細
書には、投影像の角膜からの反射像を１次元型あ
るいは二次元型のポジシヨンセンサで検出し、そ
の検出位置から被検眼角膜の曲率半径及び主径線
軸角度を測定する装置が図示されている。

しかしながら、これら装置も、従来の実用され
ているオフサルモメータと同様に、投影視標の角
膜からの反射像を望遠鏡で結像する型式であり、
測定精度を上げるには望遠鏡の焦点距離を大きく
せねばならず、いきおい装置が大型化するという
欠点があつた。また結像型式であるためその合焦
機構を必要としていた。また、装置と被検角膜と
のアライメントもこの合焦望遠鏡を利用してアラ
イメントするためアライメントも不正確であり、
かつ測定時間の短縮化や完全な自動化にはつなが
らなかつた。

非結像光学系を利用して、光学系の屈折特性、
主に眼鏡レンズの球面屈折力や円柱屈折力及びそ
の軸角度を測定する装置が、米国特許第3880525
号明細書に開示されている。この装置は、被検眼
鏡レンズに平行光束を照射し、被検レンズの屈折
特性により偏向された光束を点開口を有するマス
ク手段で選択し、被検レンズの焦点距離より短か
い距離に配置された平面型イメージデイテクター
やTVカメラの撮像面に投影し、上記点開口を通
過した光線の該デイテクター上への投影点の位置
から被検レンズの屈折特性をもとめる構成であつ
た。しかしながら、この米国特許許明細書は、屈
折光学系における屈折特性測定を開示するのみで
あり、反射光学系の曲面特性、特にその反射曲面
の曲率半径の測定等については何ら開示も示唆も
していない。

そこで、本発明は上述した従来のオフサルモメ
ータの欠点を解決し、非結像型光学系を利用して
自動測定が可能な、オフサルモメータやラジアス
メータ等に応用できる曲率測定装置を提供せんと
するものである。

本発明のもう一つの目的は、非結像型光学系を
使用することにより、従来の装置に比較して小型
で、かつ結像望遠鏡等の検者が観察および操作す
る必要のある光学部材を有しない、自動的に曲率
半径を測定出来る曲率測定装置を提供することに
ある。

本発明の更にもう一つの目的は、従来の装置が
視準により行つていた被検曲面と装置光軸とのア
ライメントのための情報を自動的に出力できる操
作性がすぐれそして測定時間を短縮できる自動曲
率測定装置を提供することにある。

すなわち、本発明によるならば、光軸に垂直な
同一平面内に予め定められた間隔をへだてて配置
された少なくとも３点の点光線と、この光軸上に
配置されたピンホールを通して該点光源を射出し
た照明光束をその主光線をその光軸と平行にして
被検曲面に向けて投影する投影レンズとを有する
照明光学系と；前記照明光学系の前記被検曲面か
らの反射光を前記点光源と光学的に非共役な第１
と第２の各々の面上で検出する検出手段とを有す
る検出光学系と；この検出手段が検出した前記反
射光の主光線の到達位置情報から前記被検曲面の
曲率半径を演算する演算手段とから構成された曲
率測定装置が提供される。

本発明においては、以上の構成上の特徴により
従来の曲率半径測定装置に比較して、装置が小型
となり、また、測定時間が短くかつ測定精度高く
自動的に被検曲面の曲率半径を測定できる。さら
に、アライメント情報を自動的に出力できるの
で、さらに測定精度が高くすることができる。

これらの本発明の長所は、特にオフサルモメー
タに本発明を応用した場合、眼球振動の影響を受
けず、測定精度が高く、測定時間の短かい小型で
構成の簡単な自動測定が可能なオフサルモメータ
を提供することができる。

また、本発明をコンタクトレンズの裏面のベー
スカーブを測定するラジアスメータに応用すれ
ば、ターゲツト像をコンタクトレンズの裏面と、
その曲率中心に２度合焦し、そのときの対物レン
ズの移動量からベースカーブの曲率中心を測定し
ていた従来のラジアスメータに比較して、従来の
ラジアスメータがもつていたターゲツト像観察及
びそれによる測定用の顕微鏡光学系を一切必要と
せず、ゆえに測定精度を直接左右する視度調節を
一切必要としないばかりか、測定時のパーソナル
エラーも発生せず、かつ自動測定が出来る高精度
ラジアスメータを提供することができる。

以下本発明の角膜の曲率半径を測定するオフサ
ルモメータに適用した測定原理及び実施例を図面
を参照して説明する。

第１図は本発明の測定原理を説明するための斜
視図であり、第２図は平面図である。

これらの図において、装置光軸O₁に原点を有
するX₀―Y₀直交座標系を考える。このX₀―Y₀座
標系を含む面に、その頂点を接するように角膜Ｃ
配置されているものとする。この角膜Ｃは、その
光学中心をO_CをX₀軸方向にE_H、Y₀軸方向にE_Vず
らし、そして、最小の曲率半径γ₁の第１主径線
（強主径線）をX₀軸に対して角度θだけ傾けて配
置されているものとする。また、その最大の曲率
半径を有する第２主径線（弱主径線）の曲率半径
をγ₂とする。なお第２主径線のX₀軸に対する角
度はθ＋90゜である。

今、このX₀―Y₀座標面から装置光軸O₁にそつ
て距離ｌ離れた位置に、その装置光軸O₁上に原
点ＯをもつＸ―Ｙ直交座標系を想定し、このＸ―
Ｙ座標面に検出面Ｄを配置したとする。

さらに、この角膜Ｃに光軸O₁から予め定られ
た間隔を隔てて光軸O₁と平行な３本の光線I₁，
I₂，I₃を照射すると、これら光線は角膜Ｃにより
反射され、その反射光線I₁′，I₂′，I₃′は検出面Ｄ
に到達する。光線I₁，I₂，I₃のX₀―Y₀座標面に入
射する入射点をそれぞれU₀（ ₀X₁、 ₀Y₁）、V₀（
₀X₂、 ₀Y₂）、W₀（ ₀X₃、 ₀Y₃）と定め、また反
射光線I₁′，I₂′，I₃′の検出面Ｄへの到達点のＸ―
Ｙ座標上の検出位置がそれぞれＵ（X₁、Y₁）、Ｖ
（X₂、Y₂）、Ｗ（X₃、Y₃）として検出したとすれ
ば、これら６点について以下の係数の式を定義す
る。

A₁₂＝（ ₀X₁、X₁）−（ ₀X₂、X₂） A₁₃＝（ ₀X₁、X₁）−（ ₀X₃、X₃） B₁₂＝（ ₀Y₁、Y₁）−（ ₀Y₂、Y₂） B₁₃＝（ ₀Y₁、Y₁）−（ ₀Y₃、Y₃） C₁₂＝ ₀X₁− ₀X₂ C₁₃＝ ₀X₁− ₀X₃ D₁₂＝ ₀Y₁− ₀Y₂ D₁₃＝ ₀Y₁− ₀Y₃ ……(1)式 以上の定義をもとに角膜の曲率半径γは、 ４（C₁₃D₁₂−C₁₂D₁₃）（ｌ／γ）²−２（A₁₂D₁₃−B₁₃C_1
2−A₁₃D₁₂−B₁₂C₁₃）（ｌ／γ）＋（A₁₃B₁₂−A₁₂B₁₃）
＝０ ……(2)式 の二次方程式であらわされる。ここにｌは角膜の
頂点と検出面Ｄとの間の距離である。

こゝで、上記係数のカツコ式を以下のもので定
義する。

〔Ｐ、ｑ〕≡P₁₂q₁₃−q₁₂P₁₃ 〔Ｐ、ｑ〕＝−〔ｑ、Ｐ〕 ……（1′）式 ここで、Ｐ、ｑはそれぞれ上記(1)式のＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄのいずれかをとるものとする(2)式は ４〔Ｃ、Ｄ〕（ｌ／γ）²−２｛〔Ｂ、Ｃ〕−〔Ａ、Ｄ
〕｝（ｌ／γ）＋〔Ａ、Ｂ〕＝０……(3)式 として表わされる。ここで上記の二次方程式の２
根を λ₁ｌ／γ₁λ₂＝ｌ／γ₂ ……(4)式 とおく。

また、検出面Ｄを第２図に示すように角膜頂点
から距離l′の位置におかれた検出面D′への角膜Ｃ
からの反射光線I₁′，I₂′，I₃′の到達点U′（X₁′、
Y₁′）、V′（X₂′、Y₂′）、W′（X₃′、Y₃′）につい
て考
えると、これら検出到達点U′，V′，W′とX₀―Y₀
座標面への予め定められた光線I₁，I₂，I₃の入射
点U₀（ ₀X₁、 ₀Y₁）、V₀（ ₀X₂、 ₀Y₂）、 W₀（ ₀X₃、 ₀Y₃）との間には、やはり上記の
第(3)式と同様に ４〔C′、D′〕（l′／γ）²−２｛B′、C′〕−〔A′
、D′〕｝（l′／γ）＋〔A′、B′〕＝０……(3)′式 の二次方程式が成立し、その２根を λ₁′＝l′／γ′、λ₂′＝l′／γ₂ ……(4)′式 とおく。これら、２つの二次方程式(3)、(3)′の
各々の二根を示す(4)、(4)′から角膜Ｃの第１主径
線の曲率半径γ₁と第２主径線の曲率半径γ₂は、そ
れぞれ としてもとめられる。また第１主径線のX₀軸と
の成す角θは θ＝1/2tan^-1｛〔Ｂ、Ｄ〕−〔Ａ、Ｃ〕／〔Ａ、Ｄ〕
−〔Ｂ、Ｃ〕｝……(6)式 としてもとめられる。第２主径線のX₀軸と成す
角度はθ＋90゜である。

また第２図に示すように検出面Ｄ、D′の間の
距離Δが予め定められた一定値を取るならば、反
射光線の反射方向は検出面Ｄ（およびD′）の位置
に無関係に一定であるから、検出面Ｄにおける到
達点Ｕ（X₁、Y₁）から検出面D′における到達点Ｕ
（X₁′、Y₁′）への変化量ΔXはつねに一定である。
このことから、本測定原理に基づけば、装置の基
準面Ｐと被検角膜Ｃとの間の作動距離εに測定結
果は左右されない。換言するならば、従来のオフ
サルモメータのように、測定に際して予め定めら
れた装置固有の作動距離の調整をするという必要
がなく、これは優れた長所と言える。

また装置光軸O₁と被検角膜Ｃの光学中心O_Cと
のアライメント調整は以下のようになされる。入
射光線I₁，I₂，I₃がその各々の入射点U₀，V₀，
W₀のそれぞれの座標（ ₀X₁、 ₀Y₁）、（ ₀X₂、
₀Y₂）、（ ₀X₃、 ₀Y₃）について （ ₀X₃、 ₀Y₃）について₀ X₁＋ ₀X₂＋ ₀X₃＝０₀ Y₁＋ ₀Y₂＋ ₀Y₃＝０ ……(7)式 が成立するように角膜に入射されると予め定めて
おけば、これら入射光線の角膜Ｃからの反射光線
I₁′，I₂′，I₃′の検出面Ｄへの到達点Ｕ，Ｖ，Ｗの
それぞれの座標値（X₁、Y₁）、（X₂、Y₂）、（X₃、
Y₃）から をもとめる。これらα，βはそれぞれ第１図にお
いて角膜Ｃの頂点（光軸O_C）がX₀軸方向にE_H、
Y₀軸方向E_Vずれて配置されたことに起因するズ
レ量を表現しているため、これより、α＝β＝Ｏ
となるよう光軸O₁をＸ方向、Ｙ方向に動かして
アライメント調整すればよい。

以上説明した本発明の原理に基づく実施例を以
下説明する。

第１実施例 第３図は、上述の測定原理を利用したオフサル
モメータの光学配置図である。このオフサルモメ
ータは、大きく２つの部分、すなわち、照明光学
系１と測定光学系２からなり、両者の光軸O₁と
O₂はハーフミラー４０を介して一部共通となつ
ている。

照明光学系２には、第４図に示すように、点光
源としての赤外発光ダイオードが最低３つ、本実
施例においては４つ発光ダイオード３，４，５及
び６を、照明系光軸O₂に垂直な同一平面内に光
軸O₂を中心に互いに等しい間隔ηを隔てて、相
対する２つの発光ダイオード３と４及び５と６を
結ぶ線の交点が光軸O₂と一致するように配置さ
れている。ここで発光ダイオード３，４，５及び
６を赤外発光ダイオードとしたのは被検角膜の曲
率半径測定中に被検者がまずしくないようにする
ため、不可視光を使用したいためである。

また、より多数の点光源を使つて各光線からの
光を検出してその検出結果を平均化して測定精度
を上げたいのであれば、第５図に示すように、白
色光源２０から光を赤外光のみを通す赤外フイル
タ２１及び拡散板２２に通したのち、第６図に示
すように、相直交するX₀軸上及びY₀軸上に複数
の点開口２３ａ，２３ｂ……２３ｊ，２３ｋ，２
３ｌ……２３ｔを有する開口板２３にコンデンサ
―レンズ２４で照射し、この開口板２３の点開口
２３ａ，２３ｂ……２３ｔをそれぞれ点光源とし
て使用してもよい。

発光ダイオード３，４，５及び６からの光はピ
ンホール７を使つて、投影レンズ８に向う。この
投影レンズ８は、発光ダイオード３〜６を被検角
膜Ｃの頂点A_Cに接し、かつ光軸O₁（及びO₂）に垂
直な接平面P_Cに結像するように作用する。投影
レンズ８は、その前側焦点をピンホール７の位置
に持つているので、発光ダイオード３〜６を射出
した光束の主光線は照明光軸と平行になつて被検
角膜Ｃに投影される。

一方、測定光学系２には、被検角膜からの反射
光を検出する例えばCCDからなる平面型ポジシ
ヨンセンサ９が光軸O₁に垂直な平面内に配置さ
れている。この平面型ポジシヨンセンサ９は、リ
レーレンズ１０によつて接平面P_Cから距離ｌの
に形成される光学的共役像である第１仮想検出面
Ｄに形成される像と同一の像を検出する。

さらに、本実施例においては、前述の原理で述
べた第２の仮想検出面D′を得るために、ポジシ
ヨンセンサ９を光軸方向に動かしてもよいのであ
るが、より好ましい態様とし、平行平面ガラスか
らなる光路長変換部材１１を測定光学系１内に挿
脱可能に配置している。この光路長変換部材１１
を光路内に挿入することにより、ポジシヨンセン
サ９のリレーレンズ１０による光学的共役像は接
平面P_Cから距離l′の位置に出来、そこに第２の仮
想検出面D′を作る。

次に、本実施例による被検角膜の曲率半径の測
定方法を説明する。まず、光路変換部材１１を光
路外に退避させておき、リレーレンズ９によりポ
ジシヨンセンサ９の共役像が第１仮想検出面Ｄの
位置にくるようにする。つぎに、発光ダイオード
３〜６を発光し、その射出光を被検角膜に照射す
る。角膜Ｃからの反射光はリレーレンズ１０を介
してポジシヨンセンサ９に入射される。ここでポ
ジシヨンセンサ９の各受光素子を走査して反射光
の到達点を検出する。このときの到達点が、第７
図に示すように、U_a（_aX₁、_aY₁）、 V_a（_aX₂、_aY₂）、W_a（_aX₃、_aY₃）、 O_a（_aX₄、_aY₄）であつたとすると、U_a点とW_a点
を結ぶ直線とV_a点とＯ点を結ぶ直線の交点O_nが
予め設計上定められていた原点Ｏ（発光ダイオー
ド３〜６を結ぶ線の交点すなわち照明光軸O₂と
一致し、これは測定光軸O₁とも一致する）から
ずれていれば被検角膜Ｃの頂点A_Cと測定光学系
の光軸O₁とのアライメントがずれていることを
意味しているので上述の(7)′式を使つてズレ量α，
βを算出し、α＝β＝Ｏとなるように装置を図示
しない手段で左右、上下に動かしアライメント調
整する。

なお、基準原点Ｏは発光ダイオード３〜６の配
置位置関係やポジシヨンセンサ９と測定光軸O₁
との配置位置関係として予め設計上定めておくか
わりに、例えば第９図に示すように、照明光軸
O₂に垂直な平面内に反射面をもつミラー１２を
挿入し、このミラー１２により発光ダイオード３
〜６からの照射光を反射させ、照明光軸O₂に平
行に照射光路と同一光路を逆進させ、ポジシヨン
センサ９でその反射光を検出し、この検出点U₀
（ ₀X₁、 ₀Y₁）、V₀（ ₀X₂、 ₀Y₂）、 W₀（ ₀X₃、 ₀Y₃）、Q₀（ ₀X₄、 ₀Y₄）（第７図参
照）をもとに原点Ｏを決定してもよい。この方式
によれば発光ダイオードやポジシヨンセンサの組
立時の位置出し調整がラフにできる利点をもつ。

アライメント調整が完了したら、再度ポジシヨ
ンセンサを走査し、第８図に示すように、第１仮
想検出面Ｄでの反射光線の到達点座標値 Ｕ（X₁、Y₁）、Ｖ（X₂、Y₂）、Ｗ（X₃、Y₃）、Ｏ
（X₄、Y₄）をもとめ、これをメモリーしておく。

次に、光路変換部材１１を測定光学系内に挿入
し、第２仮想検出面D′での角膜Ｃからの反射光
線のポジシヨンセンサ９への到達点の検出をおこ
ない、その到達点座標値U′（X₁′、Y₁′）、V′（X₂′
、
Y₂′）、W′（X₃′、Y₃′）、O′（X₄′、Y₄′）をもと
め
る。この２回の効出による到達点Ｕ，Ｖ，Ｗ，
Ｑ，及びU′，V′，W′，Q′の８点の情報から上述
の第(1)〜第(6)式をつかつて被検角膜の曲率半径
γ₁，γ₂及び第１主径線の角度θを算出する。な
お、第２主径線の角度はθ＋90゜として算出でき
ることは言うまでもない。

第１０図は以上の検出及び演算処理をするため
の検出駆動及び演算処理回路を示すブロツク図で
ある。

マイクロプロセツサ１００のクロツクパルス発
振器１０１からのクロツクパルス２０１の制御の
もとに走査駆動回路１０２は、平面型ポジシヨン
センサ９を走査する。アライメント調整前の第１
仮想検出面Ｄへの角膜反射光線の到達点U_a，V_a，
W_a，Q_aはポジシヨンセンサ９の各受光単位素子
からの出力信号２０１として、Ａ／Ｄ変換器１０
３で予め定めた分解能、例えば８ビツト（1/256）
の分解能でデジタル信号に変換されたのち、マイ
クロプロセツサ１００に入力される。マイクロプ
ロセツサ１００は、その入力信号から到達点U_a，
V_a，W_a，Q_aの座標値を算出し（第７図参照）、
予め定められた原点Ｏと比較し、(7)′式によりα，
βを計算する。この値をもとにインターフエース
回路１０５を介してCRTデイスプレイ１０６上
にアライメントズレ量α，βを図形表示し、測定
者にズレ方向及びその量を知らせる。または算出
されたα及びβ値から装置本体を公知の電気機械
駆動系１０７で左右上下に駆動し、自動的にアラ
イメント調整してもよい。

アライメント調整完了後、ポジシヨンセンサ９
への角膜Ｃからの反射光線の到達点Ｕ，Ｖ，Ｗ，
Ｑ（第８図参照）の座標情報はポジシヨンセンサ
９の走査出力２０２として、Ａ／Ｄ変換器１０
３、マイクロプロセツサ１００を介して、ランダ
ム―アクセスメモリ（RAM）等で構成されるメ
モリ回路１０４のポジシヨンセンサ９の各受光素
子に対応したメモリ番地に順次記憶される。次
に、マイクロプロセツサ１００の制御のもとに、
光路変換部材駆動回路１０８を駆動して光路変換
部材１１を測定光路内に挿入し、第２仮想検出面
D′への角膜反射光線の到達点U′，V′，W′，Q′の
検出をポジシヨンセンサ９を再度走査することに
より実行し、その到達点座標値と、前述のメモリ
回路１０４に格納されていた第１仮想検出面Ｄで
の到達点Ｕ，Ｖ，Ｗ，Ｑの座標値に基づいて上記
第(1)〜(6)式に従つてマイクロプロセツサ１００内
の演算回路１０９で演算し、その演算結果をイン
ターフエース回路１０５を介してCRTデイスプ
レイ１０６上に被検角膜の曲率半径γ₁，γ₂及び主
径線角度θとして表示する。また必要に応じてプ
リンタ回路１１０で打出してもよい。これら一連
の検出演算処理はプログラムメモリ１１１に予め
入れられている処理プログラムによつて実行され
る。

以上の実施例において、ポジシヨンセンサ９と
して平面型のポジシヨンセンサを利用したが、そ
のかわりに第１１図に示すように、直線状のポジ
シヨンセンサ３２をマイクロプロセツサ１００に
より制御される制御回路１１２に接続されたパル
スモータ１１３により回転して角膜Ｃからの反射
光の到達点を検出してもよい。

第２実施例 第１２図は、本発明の上記測定原理をコンタク
トレンズのベースカーブを測定するラジアスメー
タに応用した実施例である。照明光学系と測定光
学系及び演算処理は前述の第１実施例と同様であ
るので同一の符号を附して説明は省略する。

コンタクトレンズCLはそのベースカーブの曲
率半径を測定する時は、コンタクトレンズの凸面
を下にして、コンタクトレンズ保持手段３００の
円管状突出部３０１に保持される。

この円管状突出部の底面には、第９図で説明し
た原点決定用の反射鏡１２が取付けられており、
コンタクトレンズを保持手段３００にセツトする
前に、この反射鏡を使つて原点設定できるように
なついる。なお、本実施例においては、ポジシヨ
ンセンサ９の第１及び第２仮想検出面Ｄ，D′は
それぞれ測定しようとするコンタクトレンズの後
面の焦点距離より内側に位置するようにリレーレ
ンズ１０の屈折力を設計するとよい。

なお、上述の全ての原理及び実施例の説明にお
いて開口板２３、マスク３１を光を透過する点開
口の例で説明したが、本発明はこれに限定される
ものでなく、開口板やマスクは光を反射する点状
反射面を有するものでもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は本発明の測定原理を説明す
るための図、第３図は本発明の第１の実施例を示
す光学配置図、第４図は第１実施例の発光ダイオ
ードの配置関係を示す平面図、第５図は第１実施
例における点光源の別の実施例を示す図、第６図
は第５図における開口板の平面図、第７図はアラ
イメント調整時の照射点と到達点の関係を示す
図、第８図は第１実施例の到達点の関係を示す
図、第９図は基準原点を決定するための一部省略
した光学配置図、第１０図は第１の実施例の検
出、演算処理回路のブロツク図、第１１図は第１
実施例における検出手段の別の実施例を示す図、
そして第１２図は本発明の第２の実施例を示す光
学配置図である。 １……照明光源、２……測定光学系、３，４，
５，６……発光ダイオード、７……ピンホール、
８……結像レンズ、９，３２……ポジシヨンセン
サ、１０……リレーレンズ、１１……光路長変換
部材、１２……反射ミラー、２３……開口板。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 同一平面内に予め定められた間隔をへだてて
   配置された少なくとも３つの点光源と、光軸上に
   配置されたピンホールを通して該点光源を射出し
   た照明光束をその主光線を該光軸と平行にして被
   検曲面に向けて投影する投影レンズとを有する照
   明光学系と； 前記照明光の前記被検曲面からの反射光を前記
   光源と光学的に非共役な第１と第２の各々の面上
   で検出する検出手段とを有する検出光学系； 該検出手段を検出した前記反射光の主光線の到
   達位置情報から前記被検曲面の曲率半径を演算す
   る演算手段と から構成されたことを特徴とする曲率測定装置。 ２ 前記点光源は、発光ダイオードであることを
   特徴とする特許請求の範囲第１項記載の曲率測定
   装置。 ３ 前記点光源は発光光源からの光を透過する点
   開口であることを特徴とする特許請求の範囲第１
   項記載の曲率測定装置。 ４ 前記検出光学系は前記検出手段を前記非共役
   面に結像させるリレー光学手段を有してなること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第３項
   のいずれかに記載の曲率測定装置。 ５ 前記検出光学系は前記被検曲面と前記検出手
   段の間に光路長変換手段を有していることを特徴
   とする特許請求の範囲第１項ないし第４項のいず
   れかに記載の曲率測定装置。 ６ 前記検出光学系は前記被検曲面と前記検出手
   段の間に前記光軸と垂直な反射面をもつ反射部材
   を挿入可能に配して成ることを特徴とする特許請
   求の範囲第１項ないし第５項のいずれかに記載の
   曲率測定装置。 ７ 前記照明光束は赤外光であることを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項ないし第６項のいずれか
   に記載の曲率測定装置。 ８ 前記リレー光学手段の光軸と、前記照明光学
   系の光軸とを少なくとも一部共通にしたことを特
   徴とする特許請求の範囲第４項ないし第７項のい
   ずれかに記載の曲率測定装置。 ９ 前記検出手段は多数の受光素子を平面状に配
   置した平面型ポジシヨンセンサであることを特徴
   とする特許請求の範囲第１項ないし第８項のいず
   れかに記載の曲率測定装置。 １０ 前記検出手段は多数の受光素子を直線状に
   配列して成り、かつ前記非共役面上で回転するリ
   ニアポジシヨンセンサであることを特徴とする特
   許請求の範囲第１項ないし第８項のいずれかに記
   載の曲率測定装置。