JPS625147A - 光学系の屈折力測定装置 - Google Patents

光学系の屈折力測定装置

Info

Publication number
JPS625147A
JPS625147A JP14510585A JP14510585A JPS625147A JP S625147 A JPS625147 A JP S625147A JP 14510585 A JP14510585 A JP 14510585A JP 14510585 A JP14510585 A JP 14510585A JP S625147 A JPS625147 A JP S625147A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
eye
optical system
phase difference
slit
refractive power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP14510585A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0578777B2 (ja
Inventor
Toru Iwane
透 岩根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nippon Kogaku KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Kogaku KK filed Critical Nippon Kogaku KK
Priority to JP14510585A priority Critical patent/JPS625147A/ja
Publication of JPS625147A publication Critical patent/JPS625147A/ja
Publication of JPH0578777B2 publication Critical patent/JPH0578777B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0242Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G01M11/0257Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested
    • G01M11/0264Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested by using targets or reference patterns

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は光学系の屈折力の測定装置に関し、他覚式眼屈
折力測定装置、自動レンズメータ等として利用できるも
のである。
一般に眼の屈折力測定においては、乱視主径線方向と、
その方向での屈折力とを測定することが必要である。こ
のような測定を横形法の原理に基づいて行なう装置は既
に公知である。横形法は、被検眼の瞳孔内にてスリット
状光束を動かす時、眼底からの反射光の動きを観察し、
光の動かなくなるいわゆる中和状態を現出せしめること
により、被検眼の屈折力を測定するものである。このよ
うな中和状態を現出せしめるために、被検眼の直前に種
々の屈折力を有するレンズを配置して所定位置から観察
し、中和状態をもたらすレンズにより屈折力を求める方
法と、観察距離を変えて観察し中和状態となる距離から
屈折力を求める方法とがある。横形法により眼屈折力を
光電的に測定するための装置としては、前者の方法によ
るものが米国特許3136839号明細書に、また後者
の方法によるものが特開昭49−65693号明細書に
それぞれ開示されている。これらの測定装置では被検眼
の乱視軸方向を検出するために装置全体が回転し、かつ
装置全体を主径線方向に正確に合致させるための精度よ
いサーボ機構が不可欠である。
このため装置が複雑かつ大型化するとともに迅速な測定
にも不利であった。
このような欠点を解決するために、眼底からの反射光の
動く速ざと方向とにより眼屈折力を知る方法が例えば特
開昭55−160538号公報として公知である。しか
しながら、このものは乱視の主径線方向を検出するため
に、光束を回転させる像回転プリズムが必要であるが、
このような像回転プリズムを誤差なく光軸を中心に回転
することは、製造、調整上かなり困難であり、又時間を
要することであった。
そこで、像回転プリズムを省略して製造、製作が容易で
かつ又測定精度を向上した装置が特開昭57−1657
35号公報に提案されている。しかしながら、その実施
例に示されている装置は、光軸が直交するように配置さ
れた一対の光源と、上記光源の何れか一方を択一的に点
灯だせる駆動回路と、上記光源の各々の光軸上に配置さ
れた一対のレンズと、多数のスリットを備えて回転され
る回転円筒と、上記光源からの光を前記回転円筒のスリ
ットを通して受光し、上記光源からの光を重ねて射出す
るプリズムと、このプリズムからの射出光を被検光学系
に投影する投影光学系と、上記光源の何れが点灯してい
るかを判別する判別信号の出力装置と、被検光学系から
の光束を受光する2対の光電変換器と、上記判別信号と
各々の対を構成する光電変換器間の出力信号の位相差に
基づいて被検光学系の屈折力を測定する演算装置と、を
有している。そのために、特にプリズムが高価であると
いう欠点があった。そしてまた、回転円筒としてフィル
ム状のものを丸めて作れないこともないが、強度を重視
して円筒部材の削り出しによって作る場合には装置価格
の上昇になる。
(発明の目的) 本発明は、像回転プリズムを省略して製造、製作が容易
でかつ又測定精度を向上した低価格の測定装置を得るこ
とを目的とする。
(発明の概要) 本発明は、2つの既知の方向からスリット状の照明光束
にて被検光学系を択一走査しうる如く構成した投影装置
と、前記照明光束の走査方向の判別信号を出力する出力
装置と、前記光学系からの光束を受光する2対の光電変
換器と、各々の対を構成する前記光電変換器間の出力信
号の位相差を求める位相差測定回路と、前記出力装置と
前記位相差測定回路とに接続され、前記判別信号と前記
位相差とから前記光学系の屈折力を得る演算回路と、を
有する屈折力測定装置において、前記投影装置を、光源
と、該光源と前記被検光学系との間に配設され、前記被
検光学系を第1の方向へ走査する第1のスリット及び第
2の方向へ走査する第2のスリットを面分割して形成し
たチョッパ円板と、によって構成したことを特徴とする
(実施例) 以下、図面に示した実施例に基づいて本発明を説明する
第1図は本発明の一実施例の光学系の構成図、第2図は
第1図のA−A’矢視図、第3図は第1図の絞り平面図
、第4図は第1図のB−B’矢視図である。
光源1は固視標2を照明し、固視標2からの光束は反射
鏡3により反射され、コリメータレンズ4によりほぼ平
行光束となる。この光束は第1光路分割器5で反射され
て後、第2光路分割器6を透過して被検眼7に達し、被
検眼7は固視標2を固視する。ここで、固視標2は駆動
装置335によって光軸方向に移動可能である。後述の
如く駆動装置335は被検眼7が無調節の状態で固視で
きる位置に固視標2を移動しうる如く演算回路331の
出力により制御され、いわゆる自動雲霧装置を構成して
いる。以上、光源1.固視標2゜反射!R3,コリメー
タレンズ4.第1光路分割器5によって固視標光学系8
を形成する。
投影装置は、光源9.第ルンズ10.半径方向へ3重構
造に異なったパターンを形成ぎれたチョッパ円板11.
チョッパ円板11を回転するモータ12.チョッパ円板
11に対して第ルンズ10とは反対側に配設ぎれると共
に、光源9を被検眼7の角膜表面と共役になす第2レン
ズ13゜チ町ツバ円板11の外側部と中間部のパターン
を読み取るフォトインタラプタ装置14を有する。
なお、被検眼7が正視眼であれば、第2レンズ13によ
ってチョッパ円板11は被検眼7の眼底にほぼ共役であ
る。
チョッパ円板11は、第1図のA−A’矢視図である第
2図に示したように、牛径方向に3重構造をなしており
、外側部には円周方向に第1領域と第2領域とを分離す
るためのマークが形成されている。すなわち、半周は遮
光部(第1領域)20にて形成され、残りの半周は透光
部(第2領域)21にて形成されている。中間部22に
は円周方向へ等角度間隔で遮光部と透光部が蒸着等にて
形で示される関数曲線で規定されるチョッパ用スリット
が蒸着等によって形成されており、また第2に 領域においてr=ae  (θ+Hr)で示される関数
曲線で規定されるチョッパ用スリットが蒸着等によって
形成されている。そして、この内側部23が第ルンズ1
0と第2レンズ13の光路中に挿入される。このチョッ
パ用スリットについて詳述すれば以下の如くである。
チョッパ円板11の法線のうち、基準方向(例えば紙面
内の方向p)となす角度が一45度(ニ)の法!Iノを
考えたとき、チョッパのためのスリットを決定する関数
曲線が上記法11Jと交差Tる角度をψとTると、各関
数曲線は、半円をn等分するとして r = a  etao((90−ψ)・(θ十にπ)
ト穐 2・・・であり、alは内周部の内径に相当する。
ここで、角度ψを45度及び135度と丁れば、r=a
e<θ+にπ) 1  1     n     ・・・・・・・・・式
(1)%式%) 。     ・・・・・・・・・式(2)となる。そし
て、式(1)を第1領域、式(2)を第2領域各々のス
リットを形成するために用いる。すなわち、各領域の明
と暗の境界を上記式(1)1式(2)で規定して、蒸着
等により透明ガラス板上にスリットを形成し、上記法!
J上に投影光軸を配設する。
但し、a□〈γ、(a、、a□<r*<as  <ax
は内周部の外径に相当する)であり、また、第1領域と
第2領域の境界を極座標における角度位置の基準にして
スリットの各曲線が規定される。
そうすると、第2図において、チョッパF%、11の左
回転によって、第1領域が光路を横切るときはスリット
は下から上へ、すなわちY方向へ走査され、第2領域が
光路を横切るときはスリットは左から右へ、すなわち上
記Y方向に直交するX方向へ走査されることになる。
チョッパ円板11の外側部は光源と光電変換素子とによ
って挟持されて領域識別装置を構成し、従って光電変換
素子の光電変換信号から第1領域と第2領域の識別が行
なわれ、また中間s22は別の専用光揮と専用光電変換
素子とによって挾持され、いわゆるロータリーエンコー
ダを形成し、この専用光電変換素子の光電変換信号が、
らチョ。
パ円板11の周波数情報を得ている。これらの光源と光
電変換素子とは第1図ではまとめて光軸と同一法線!上
に7オトインタラプタ装置14として示しである。従っ
て、チョッパ円板11が回転すると、光源9.第ルンズ
10.チ、ツバ円板11、第2レンズ13によって被検
眼7は直交Tる径線方向にスリット状光束にて択一走査
されることになる。
被検眼7の瞳孔内に投射された走査光束のうち、眼底で
反射された光束は、第2光路分割器6.第1光路分割器
5を透過後、集光レンズ3oにより集光される。集光レ
ンズ3oの後方には光軸を中心とした円形の開口を有す
る絞り31(光軸方向から見た形状を第3図に示す)が
、さらに後方には光電変換器32がそれぞれ固設されて
いる。絞り31は被検眼7の眼底にほぼ共役になる如く
、また光電変換器32の受光面は被検眼7の角膜にほぼ
共役になる如く、光軸上の位置が決定される。
光電変換器32の受光面上には第4図の如き光軸外の4
つの光電変換素子320,321,322及び323と
光軸を分割の中心とするアライメント用の4分割光電変
換素子324とが設けられている。
一対の光電変換素子320,322は、一つの測定径線
の方向、すなわち、スリット状光束が被検眼を走査する
方向の一方(Y方向)と光軸とを含む面が各々の中心を
通りかつ各々が光軸に対称に配置され、他の一対の光電
変換素子321゜323は、上記測定径線の方向に直交
する測定径線の方向、すなわち、スリット状光束が被検
眼を走査する方向の他方(X方向)と光軸とを含む面が
各々の中心を通りかつ各々が光軸に直交する線上におい
て光軸と対称に配tgれている。4分割光電変換素子3
24は被検眼7の角膜からの反射光をアライメントのた
めに受光する。被検眼7と実施例の測定装置とのアライ
メントが完了している時には、4分割光電変換素子32
4の各素子には反射像が均等に入射するため各素子の出
力は等しくなるが、アライメントが不十分な時には各素
子の出力が等しくならず、その大小によりズレの方向を
知ることが可能である。
第5図に示した如く光電変換素子320,321゜32
2及び323は夫々波形整形回路325゜326.32
7及び328に接続されている。一対の光電変換素子3
20,322の出力信号を波形整形する一対の波形整形
回路325,327は夫々第1位相差回路329に接続
され、一対の光電変換素子321,323の出力信号を
波形整形する一対の波形整形回路326,328は夫々
第2位相差回路330に接続されている。第1位相差回
路329.第2位相差回路330は演算回路331に接
続されている。演算回路331にはざらに領域識別装置
50から第1領域が光路中にあるか第2領域が光路中に
あるのかの判別信号が入力される。演算回路331は、
第1領域が選択されている時の第1位相差回路329.
第2位相差回路330の出力と、第2領域が選択されて
いる時の第1位相差回路329.第2位相差回路330
の出力とを各々記憶回路336,337に記憶せしめ、
その後記憶値の間で演算を行ない、乱視主径線の方向(
のと、球面屈折力(S)と、円柱面屈折力(C)とを演
算し、その結果を表示装置332に表示せしめる。
一方、4分割光電変換素子324の各素子はA−Dコン
バータ333にてデジタル信号に変換された後、演算回
路331に入力される。演算回路331は各素子からの
信号の大小と最大値とを比較し、表示装置332にアラ
イメントのための光軸に直交する方向及び光軸方向の移
動量を表示する信号を入力する。演算回路331はざら
に固視標2の光軸上での位置を検出する位置検出装置3
34の出力を入力し、演算した球面屈折力(S)と、円
柱面屈折力(C)とが減少する方向へ固視標2を順次一
定のステップにて移動せしめる如く固視標2の駆動装置
335へ信号を送る。すなわち、固視標21位置検出装
置334.演算装置331.駆動装置335によって米
国特許第4190332号に開示ある如き自動雲霧装置
を構成している。
以下、構成を上述した屈折力測定装置の動作を説明する
初めに検者は、表示装置332の表示を見ながら被検眼
7と屈折力測定装置とのアライメントを演算回路331
は第6図のフローチャートに示したように、まずロータ
リーエンコーダ51からのチョッパ円板11の回転周波
数に応じた信号を入力しくステップ61)、基準の周波
数に対する大小によって補正値を求め、位相差測定回路
329゜330に入力する(ステップ62)。時間差測
定回路329,330が例えばパルス間隔をクロックパ
ルスの数によって計数するように構成されていれば、上
記補正値は周波数可変のクロックパルス発生器(時間差
測定回路329,330が内蔵している)に入力され、
回転周波数変化による位相ずれを補正し、被検眼7の屈
折力に1対1に対応した数のパルスが計数されるように
、クロックパルスの周波数を変化させる。
ついで、演算回路331は領域識別波[50からの信号
によって第2領域が光路中にあることを判別し、(ステ
ップ63)、位相差測定回路329゜330から得られ
る位相差(多数回測定した平均値を使うのが一般的)を
記憶回路336に記憶せしめる(ステップ64)。記憶
が完了すると演算回路331は領域識別装置50からの
信号によって第1領域が光路中にあることを判別しくス
テップ65)、位相差測定回路329,330から得ら
れる位相差を記憶回路337に記憶せしめる(ステップ
66ン。演算回路331は記憶が完了すると記憶回路3
36,337の記憶値を読み出し、被検眼7の屈折力を
演算する。この屈折力に基づいて自動雲霧装置が作動し
、各ステップ毎に上述の動作を繰り返し、屈折力がそれ
以上変化しなくなった時にその時の屈折力(S、C2θ
)を表示袋M332に表示せしめる(ステップ67)。
以下より具体的に述べる。
被検眼7に乱視が無いとすれば、スリット状光束は被検
眼7によって回転を受けることはない。
そして眼底で反射したスリ、ト状光束は、被検眼7の屈
折力に応じた速ざで光電変換器32上を走ることになる
。同一領域内ではスリット状光束の走査方向は変化しな
いから例えば第2領域では光電変換素子320,322
からは第7図(a)、 (C)に示す如く全く同じ信号
が得られ、光電変換素子321.323からは第7図(
b)(d)に示す如くスリット状光束の光電変換器22
上での速ざに応じた位相ずれの信号が得られる。従って
光電変換素子321.323から得られる信号の位相差
をψ□とすれば、第1位相M@路329の出力はψ3゜
=0を示し、第2位相差回路330の出力はψ3.。=
91を示す。演算回路331はψ、。=ψ、を記憶回路
336に記憶せしめる。
上述の仮定の如く被検眼7に乱視がなければ、被検眼7
は全径線にて等しい球面屈折力(S)を有するから、当
然のことながら第1領域においても、第1位相差回路3
29の出力はψ、2.=ψ□を示し、第2位相差回路3
30の出力はψ8.。=0を示し、従って、演算回路3
31は、記憶回路337にψ1.=ψ□、ψ33゜=O
を記憶せしめる。演算回路331は記憶回路336,3
37に記憶されている第1.第2径線方向での測定値を
読み出し、屈折力(球面屈折力S1円柱面屈折力0.乱
視軸O)を演算する。この場合、第1位相差測定回路3
29と第2位相差回路330各々の出力ψ□は各々被検
眼7の球面屈折力Sに対応している。演算回路331は
、球面屈折力の正負によって被検眼7が近視眼か遠視眼
かを判別し、視標板2を被検眼7の弛緩する方向へ移動
せしめる如く視標板2の移動回路335へ信号を入力す
る。演算回路331はこのようにして視標板2をそれ以
上変化ぎせても屈折力(この場合は球面屈折力S)が変
化しなくなった時の屈折力を表示装置332に表示せし
める。
被検眼7に乱視があるとすると、周知の如くスリット状
光束は被検眼7によって走査方向と乱視主径線の方向に
対応した角度(のだけねじれてしまう。その結果、充電
変換器32の受光面上では第8図に示す如< (a)、
 (b)、 (C)の順で斜めに傾いたスリット状光束
が走ることになる。勿論、これは一般的な場合であって
、特殊な場合、すなわち乱視主径線の方向がθ=0.9
0.(すなわち紙面内と紙面に垂直な方向)の時は、ス
リット状光束の被検眼7によるねじれは生じない。この
特殊な場合には、第2領域において、第1位相差測定回
路329は位相差ψg、、=Qを出力し、第2位相差測
定回路330は位相差ψ3.。=98を出力する。
また第1領域において、第1位相差測定回路329は位
相差ψ、2.=ψ、を出力し、第2位相差測定回路33
0は位相差ψ3.。==0を出力する。ここにおいてψ
、=ψ、である。 。
このような場合は、上述の如き一般化した例においてね
じれ角θ=Oと考えればよい。第8図(a)。
(b)、(C)の如く受光面が走査されると、一対の光
電変換素子320,322の出力及び他の一対の光電変
換素子321,323の出力共に位相差を生ずる。この
時の位相差ψ4.ψ、かどのような情報を有しているか
を第9図を用いて説明する。第9図においてX、Yは測
定径線の方向であり、換言TればXは前述の如く、第2
領域での被検眼7上でのスリット状光束の移動方向、Y
は前述の如く、第1領域での被検眼7上でのスリット状
光束゛の移動方向でもある。いま被検眼7の主径線の方
向がスリット状光束の走査方向Yを基準にしてθだけ傾
いているとすれば、光電変換器32の受光面上でのスリ
ット光束の走査方向はY方向に対しθ傾くことになる。
従って、このθだけ傾いた方向に光電変換素子320’
、322’を第9図の如く配置すれば、Y方向での楕円
屈折力CCO5θに球面屈折力Sを加味した値が光電変
換素子320 ’。
322′の位相差として得られるが、第1図の屈折力測
定装置ではY方向に光電変換素子320゜322が配置
されているから、光電変換素子320゜322の位相差
として得られる値は上記楕円屈折力(’cosθのY方
向への投影値、すなわちCcO5θ・cosθに球面屈
折力Sを加味した値である。従って、従来の如く光電変
換素子320,322の出力信号の位相差ψ4から得ら
れた値り、は である。
一方、スリット光束の走査方向がY方向よりθだけねじ
れることによりX方向の成分も生じてくる。但し、ねじ
れの成分は円柱面にのみ依存するものであって球面屈折
力にはねじれの成分に寄与する成分を有しないから、光
電変換素子321゜323の位相差ψ、は前述の(ニー
cosθのX方向成分、すなわちCcosθ・sinθ
のみに対応する。従って、従来の如く光電変換素子32
1,323の出力信号の位相差から得られた値り、は、 である。
次に、スリット状光束が被検眼7をX方向に走査子れば
、光電変換素子321,323の位相差から得られた値
D3は、 DB =S+Ccos” (θ+90)となる。
同様に、光電変換素子320,322の位相差から得ら
れた値D4は、 である。
上述の実施例では未知数がC,S、θであり、路331
にて処理Tることにより球面屈折力S。
円柱面屈折力C1乱視主径線の方向θを求めることがで
きるわけである。なお、θ=0のときは、乱視主径線の
方向がX方向、Y方向に一致し、当然のこととしてD1
=S+C,D、=Sとなる。
ただし、上述の如き演算を演算回路331に行なわせる
如く成子と、演算に時間が、かがるとか、光学系の配置
により位相差測定回路329.330の出力と値り、 
、 D、 、 D、 、 D、との間の定数が変化した
りする。そのため、実際の装置では装置を作った後、あ
らかじめ屈折力のわかっている模擬眼を用いて測定を行
ない、その時の位相差測定回路329.330の出力(
各走査方向で2つずつ計4種類)を上述の既知の屈折力
と対応せしめて演算回路331に記憶せしめておくよう
に成すことにより、上述の不都合を解消しうる。未知数
はC9S、θの3つで測定データは3つ(実際は4つで
あるがそのうちの2つは乱視軸が互いに直交するという
条件から符号が、異なるだけであるから実質3つ)であ
るから屈折力(C,S、θにて定まる)は一義的に定ま
る。
何ら複雑な手間を付加することなく光学系の配置を比較
的自由にできる。例えば、第1図において、スリット状
開口gl 3Aは被検眼7の眼底に共役でなくとも良く
、投影装置として単にスリット状の光束にて被検眼全周
期的に走査しうれば良い。
ざらに、絞り31は測定光軸上任意の位置に移動しうる
ざらに投影装置による走査方向と2対の光電変換素子の
方向も一致させる必要はなく、既知でありざえすれば自
由な方向に定めることができる。
ざらに投影装置による走査方向は既知でありざえすれば
互いに直交せしめる必要もなく、また2対の光電変換素
子各々の対の方向も既知でありざえすれば互いに直交せ
しめる必要もない。それは、あくまでも未知数は2つの
乱視主径線の方向とその方向での屈折力の合計4つ(こ
れから球面屈折力S1円柱面屈折力C1乱視主径線の方
向θが求まる)で、測定値も4つであるから、ある測定
値(4種類の位相差)は屈折力と一対一の対応関係とな
墨から、上述の如き模擬銀を用いて対応表を求め、これ
を演算回路331に入れておくことにより複雑な計算を
することなく、きわめて簡単な演算になる。
以上の説明では眼屈折力測定装置について述べたが、上
述の装置はレンズメータとしても原理的には何ら変更を
加えることなく用いることができる。眼屈折力の測定の
場合には、眼底での反射光束を測定するために、照明光
束が被検光学系(被検眼7の水晶体)を2回透過すると
いうことと、投影光路と測定光路とが一部共用される点
に構成上の特徴があるが、通常レンズメータの場合には
被検レンズを1回透過で測定でき、被検レンズを挾んで
投影光路と測定光路とが形成される。勿論、被検レンズ
の透過光束を厘射鏡にて再び被検レンズに入射させる如
く成せば、上述の眼屈折力測定装置と同様の構成と成す
こともできる。
なお、以上の実施例で用いたチョッパ円板11は、法線
l上であればどの点においてもスリットが法線と一定の
角度ψで交差するように式(1)2式(2)によってス
リットを規定したが、第1O図に゛示法線!上でかつ一
定の半径成上において、スリットが光路をX方向、Y方
向へ択一走査する。この場合も特に、演算によるのでは
なく、上述の対応表を用いる構成によれば、何ら問題な
く球面屈折力S9円柱面屈折力C1乱視主径線の方向θ
を求めることができる。
そしてざらに、以上の説明では、法線の方向を基準方向
となす角度が一45度(τ)のものを考えたが、±13
5度、45度であっても同様に、ψ=45度、135度
を選択することで、等ピッチのスリットによって第1領
域、第2領域で行なわれる走査速度が一定になるという
効果を得られる。また、光軸を通すために選択する法線
の方向はこの方向に限られず(その場合の走査速度の変
化は第1領域と第2領域とでスリ、トのピッチを異なら
せる等によって補正できる。)ざらに、走査の方向は補
正演算を行なうことによって、直交する方向に限定する
必要はなくなる。
(発明の効果) 以上述べた如く本発明によれば、被検光学系を異なった
2つの方向から択一走査するために、被検光学系を第1
の方向へ走査する第1のスリット及び第2の方向へ走査
する第2のスリットを面分割して形成したチョッパ円板
を用いているので、製造、製作が容易でかつ又測定精度
を向上した低価格の光学系の屈折力の測定装置を得るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す光学系の構成図、第2
Tfi!Jは第1図におけるA−A’矢視図、第3図は
第1図における絞りの平面図、第4図は第1図における
B−B’矢視断面図、第5図は上記実施例における回路
図、第6図は第5図の演算回路の動作を説明するフロー
チャート、第7図は光電変換素子から得られる信号を示
すグラフ、第8図(a)、(b)及び(C)はスリット
状光束の走査を示す説明図、第9図は被検眼と光電変換
素子との関連を示す説明図、第10図はスリット円板の
他の実施例を示す第2図に対応する図、である。 (主要部分の符号の説明) 9・・・光i、10・・・第ルンズ、11・・・チョッ
パ円板、12・・・モータ、13・・・第2レンズ、1
4・・・フォトインタラプタ装置、50・・・領域識別
装置第3図    第4図 第5図 第6図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 2つの既知の方向からスリット状の照明光束にて被検光
    学系を択一走査しうる如く構成した投影装置と、前記照
    明光束の走査方向の判別信号を出力する出力装置と、前
    記光学系からの光束を受光する2対の光電変換器と、各
    々の対を構成する前記光電変換器間の出力信号の位相差
    を求める位相差測定回路と、前記出力装置と前記位相差
    測定回路とに接続され、前記判別信号と前記位相差とか
    ら前記光学系の屈折力を得る演算回路と、を有する屈折
    力測定装置において、 前記投影装置を、光源と、該光源と前記被検光学系との
    間に配設され、前記被検光学系を第1の方向へ走査する
    第1のスリット及び第2の方向へ走査する第2のスリッ
    トを面分割して形成したチョッパ円板と、によって構成
    したことを特徴とする光学系の屈折力測定装置。
JP14510585A 1985-07-02 1985-07-02 光学系の屈折力測定装置 Granted JPS625147A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14510585A JPS625147A (ja) 1985-07-02 1985-07-02 光学系の屈折力測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14510585A JPS625147A (ja) 1985-07-02 1985-07-02 光学系の屈折力測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS625147A true JPS625147A (ja) 1987-01-12
JPH0578777B2 JPH0578777B2 (ja) 1993-10-29

Family

ID=15377490

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14510585A Granted JPS625147A (ja) 1985-07-02 1985-07-02 光学系の屈折力測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS625147A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6346130A (ja) * 1986-08-13 1988-02-27 株式会社トーメー 他覚式眼屈折力測定装置
EP0469287A2 (en) * 1990-06-26 1992-02-05 Tomey Corporation An apparatus for measuring a refracting power of an optical system
EP0600455A1 (en) * 1992-11-30 1994-06-08 Nikon Corporation Apparatus for measuring the refractive power of an optical system
US5561482A (en) * 1994-02-04 1996-10-01 Nikon Corporation Eye refractive power measuring apparatus with orientation dependent discrimination between right and left eyes
US6553459B1 (en) 1999-05-25 2003-04-22 Silverbrook Research Pty Ltd Memory module for compact printer system

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6346130A (ja) * 1986-08-13 1988-02-27 株式会社トーメー 他覚式眼屈折力測定装置
JPH0556734B2 (ja) * 1986-08-13 1993-08-20 Tomey Corp
EP0469287A2 (en) * 1990-06-26 1992-02-05 Tomey Corporation An apparatus for measuring a refracting power of an optical system
EP0600455A1 (en) * 1992-11-30 1994-06-08 Nikon Corporation Apparatus for measuring the refractive power of an optical system
US5428414A (en) * 1992-11-30 1995-06-27 Nikon Corporation Apparatus for measuring the refractive power of an optical system
US5561482A (en) * 1994-02-04 1996-10-01 Nikon Corporation Eye refractive power measuring apparatus with orientation dependent discrimination between right and left eyes
US6553459B1 (en) 1999-05-25 2003-04-22 Silverbrook Research Pty Ltd Memory module for compact printer system

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0578777B2 (ja) 1993-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5907388A (en) Ophthalmic measurement apparatus having plural pairs of photoreceiving elements
US4173398A (en) Optical system for objective eye-examination
JPS624967B2 (ja)
US4952049A (en) Apparatus for measuring the refraction of eye
JP3270751B2 (ja) 屈折光学系の屈折特性測定システム及び装置
JPH0253738B2 (ja)
JPH0352572B2 (ja)
US4407572A (en) Keratometer
US4453808A (en) Apparatus for detecting the position of a patient's eye in ophthalmologic instruments
JPS625147A (ja) 光学系の屈折力測定装置
US5428414A (en) Apparatus for measuring the refractive power of an optical system
JPH0556134B2 (ja)
JPH0355125B2 (ja)
JP2851927B2 (ja) 光学系の屈折力測定装置
JPH07255674A (ja) 被測定眼寸法測定装置
JPS6214291B2 (ja)
JPS6151890B2 (ja)
JP3476219B2 (ja) 眼屈折力測定装置
JPS6111090B2 (ja)
JPH0249732B2 (ja)
JPS6346130A (ja) 他覚式眼屈折力測定装置
JPS6343091B2 (ja)
JPH0373128A (ja) 眼屈折計
JPH0314444B2 (ja)
JPH0554325B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term