JP3328624B2 - 検眼装置 - Google Patents
検眼装置Info
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- JP3328624B2 JP3328624B2 JP2000011530A JP2000011530A JP3328624B2 JP 3328624 B2 JP3328624 B2 JP 3328624B2 JP 2000011530 A JP2000011530 A JP 2000011530A JP 2000011530 A JP2000011530 A JP 2000011530A JP 3328624 B2 JP3328624 B2 JP 3328624B2
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/103—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for determining refraction, e.g. refractometers, skiascopes
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Ophthalmology & Optometry (AREA)
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- Biomedical Technology (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、検眼装置、特にそ
の自動較正に関し、或いはまた対物レンズ付リフラクタ
の自動較正に関する。
の自動較正に関し、或いはまた対物レンズ付リフラクタ
の自動較正に関する。
【０００２】
【従来の技術】代表的な対物レンズ付リフラクタ（ない
しリフラクタ投射装置）は通常、赤外線バンド内にある
光源を有し、この光源は患者の眼底によって検出器へ反
射される光ビームを発生するようになっている。眼底の
片側から反対側まで像平面をインクリメント状にシフト
するのに、検眼装置の軸線に沿って移動できるレンズ系
が使用される。検出器によって生じた信号は次に評価さ
れ、合焦状態が最良となるレンズ系の位置を使用して、
眼内の球面屈折誤差量を決定する。シリンドリカル屈折
誤差の量および軸線を測定するのに、同じように装置の
軸線を中心とする回転運動も使用される。正確な結果を
得るうえで、各光学要素の位置および配向がクリティカ
ルであるので、これら検眼装置を較正することは極めて
困難であり、かつ時間がかかる。レトロ（再帰）反射光
路上に１つ以上の構成要素を有する対物レンズ付リフラ
クタでは、眼に至るまでの光路上で生じる誤差は、眼底
で反射される光が眼からの復路で構成要素を通過する際
に、同じ構成要素によって相殺される。精密な整合（ア
ライメント）を行った後でも構成要素およびそれらの整
合の一貫性のなさにより、製造装置は所定の誤差を有し
続ける。かかる誤差は、通常正しい値を出力するよう、
ソフトウェアおよび／またはハードウェアを使った補償
により工場で“除”かれている。
しリフラクタ投射装置）は通常、赤外線バンド内にある
光源を有し、この光源は患者の眼底によって検出器へ反
射される光ビームを発生するようになっている。眼底の
片側から反対側まで像平面をインクリメント状にシフト
するのに、検眼装置の軸線に沿って移動できるレンズ系
が使用される。検出器によって生じた信号は次に評価さ
れ、合焦状態が最良となるレンズ系の位置を使用して、
眼内の球面屈折誤差量を決定する。シリンドリカル屈折
誤差の量および軸線を測定するのに、同じように装置の
軸線を中心とする回転運動も使用される。正確な結果を
得るうえで、各光学要素の位置および配向がクリティカ
ルであるので、これら検眼装置を較正することは極めて
困難であり、かつ時間がかかる。レトロ（再帰）反射光
路上に１つ以上の構成要素を有する対物レンズ付リフラ
クタでは、眼に至るまでの光路上で生じる誤差は、眼底
で反射される光が眼からの復路で構成要素を通過する際
に、同じ構成要素によって相殺される。精密な整合（ア
ライメント）を行った後でも構成要素およびそれらの整
合の一貫性のなさにより、製造装置は所定の誤差を有し
続ける。かかる誤差は、通常正しい値を出力するよう、
ソフトウェアおよび／またはハードウェアを使った補償
により工場で“除”かれている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】通常、対物レンズ付リ
フラクタは少なくとも１つのビームスプリッタと、共通
光路に合流したり、および／またはこれから分離される
いくつかの光路を有する。当業者であれば知っているよ
うに、ビームスプリッタは光の一部を透過し、このビー
ムスプリッタに入射した光の一部を反射するので、透過
光または反射光が失われる。本発明は、検眼装置の較正
を簡単に特に自動的に行うようにすることを課題とす
る。さらに、本発明は、装置の光源からの出射光を有効
に利用して検眼装置ないしリフラクタ投射装置の精密な
較正を行うことを課題とする。
フラクタは少なくとも１つのビームスプリッタと、共通
光路に合流したり、および／またはこれから分離される
いくつかの光路を有する。当業者であれば知っているよ
うに、ビームスプリッタは光の一部を透過し、このビー
ムスプリッタに入射した光の一部を反射するので、透過
光または反射光が失われる。本発明は、検眼装置の較正
を簡単に特に自動的に行うようにすることを課題とす
る。さらに、本発明は、装置の光源からの出射光を有効
に利用して検眼装置ないしリフラクタ投射装置の精密な
較正を行うことを課題とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の第１の視点によ
れば、眼を検査するための検眼装置は、照明光路と、前
記照明光路の開始点に設けられた点光源と、前記照明光
路に沿って離間して配された第１の複数の光学要素と、
前記照明光路の終了点に設けられたビームスプリッタ
と、前記ビームスプリッタで開始し、終了するレトロ反
射光路と、前記レトロ反射光路に位置する中間像平面
と、前記ビームスプリッタで開始する検出光路と、前記
検出光路に沿って離間して配された第２の複数の光学要
素と、前記検出光路の終了点に設けられ、前記光源の像
を示す信号を発生するための検出手段と、それぞれの光
路に沿って１つのユニットとしての前記点光源および前
記検出手段の位置を選択的に変えるための駆動手段と、
前記ビームスプリッタによって反射される前記点光源か
らの光を前記検出光路へ反射する表面と、前記像の焦点
が最良となる時の前記ユニットの位置を測定するための
手段とを備え、前記第１および第２の複数の光学系によ
って生じる誤差を較正するようになっていること、を特
徴とする。
れば、眼を検査するための検眼装置は、照明光路と、前
記照明光路の開始点に設けられた点光源と、前記照明光
路に沿って離間して配された第１の複数の光学要素と、
前記照明光路の終了点に設けられたビームスプリッタ
と、前記ビームスプリッタで開始し、終了するレトロ反
射光路と、前記レトロ反射光路に位置する中間像平面
と、前記ビームスプリッタで開始する検出光路と、前記
検出光路に沿って離間して配された第２の複数の光学要
素と、前記検出光路の終了点に設けられ、前記光源の像
を示す信号を発生するための検出手段と、それぞれの光
路に沿って１つのユニットとしての前記点光源および前
記検出手段の位置を選択的に変えるための駆動手段と、
前記ビームスプリッタによって反射される前記点光源か
らの光を前記検出光路へ反射する表面と、前記像の焦点
が最良となる時の前記ユニットの位置を測定するための
手段とを備え、前記第１および第２の複数の光学系によ
って生じる誤差を較正するようになっていること、を特
徴とする。
【０００５】本発明の第２の視点によれば、対物レンズ
付リフラクタが提供される。このリフラクタは、光源
と、照明光路に沿って設けられた光学的要素と、検出光
路に沿って設けられた検出器および光学的要素と、レト
ロ反射光路に沿って設けられた光学的要素とを有し、前
記照明光路、前記検出光路及び前記レトロ反射光路はビ
ームスプリッタで交差する対物レンズ付リフラクタであ
って、前記照明光路、前記検出光路及び前記レトロ反射
光路と交差する較正光路を備え、前記ビームスプリッタ
が通常は廃棄される光を前記較正光路に沿って分散表面
（散乱表面）に向けるように構成され、更に前記レトロ
反射光路または前記較正光路を交互にブロックするため
の光路選択手段を更に備え、もって前記リフラクタ内で
一般には廃棄される光を使って較正されること、を特徴
とする。
付リフラクタが提供される。このリフラクタは、光源
と、照明光路に沿って設けられた光学的要素と、検出光
路に沿って設けられた検出器および光学的要素と、レト
ロ反射光路に沿って設けられた光学的要素とを有し、前
記照明光路、前記検出光路及び前記レトロ反射光路はビ
ームスプリッタで交差する対物レンズ付リフラクタであ
って、前記照明光路、前記検出光路及び前記レトロ反射
光路と交差する較正光路を備え、前記ビームスプリッタ
が通常は廃棄される光を前記較正光路に沿って分散表面
（散乱表面）に向けるように構成され、更に前記レトロ
反射光路または前記較正光路を交互にブロックするため
の光路選択手段を更に備え、もって前記リフラクタ内で
一般には廃棄される光を使って較正されること、を特徴
とする。
【０００６】本発明の各視点のさらなる展開特徴は、夫
々従属請求項に記載されている。各従属請求項の記載事
項は、必要において、ここに引照をもって組込まれてい
るものとする。
々従属請求項に記載されている。各従属請求項の記載事
項は、必要において、ここに引照をもって組込まれてい
るものとする。
【０００７】
【発明の実施の形態】概説すると、測定装置をオンする
たびに、自動較正する対物レンズ付リフレクタは、ビー
ムスプリッタによりテスト光路に沿って透過された光を
ブロックする光路セレクタを有し、他方、ビームスプリ
ッタにより反射された、通常廃棄される光は、分散表面
（散乱表面）により検出器へと反射され、検出器が信号
を発生するように構成される。この信号は処理手段によ
って評価され、合焦状態が最良の時のキャリアの位置を
決定する。眼の通常の検査中、較正光路上の、通常廃棄
される光が分散表面（散乱表面）から反射されて検出器
に入射するのをブロックするように、光路セレクタは枢
動（旋回）されるようになっている。
たびに、自動較正する対物レンズ付リフレクタは、ビー
ムスプリッタによりテスト光路に沿って透過された光を
ブロックする光路セレクタを有し、他方、ビームスプリ
ッタにより反射された、通常廃棄される光は、分散表面
（散乱表面）により検出器へと反射され、検出器が信号
を発生するように構成される。この信号は処理手段によ
って評価され、合焦状態が最良の時のキャリアの位置を
決定する。眼の通常の検査中、較正光路上の、通常廃棄
される光が分散表面（散乱表面）から反射されて検出器
に入射するのをブロックするように、光路セレクタは枢
動（旋回）されるようになっている。
【０００８】本発明のさらなる実施の形態は、各従属請
求項に記載されている。
求項に記載されている。
【０００９】［実施例］以下、添付図面を参照した好ま
しい実施例の次の詳細な説明において、本発明の性質お
よび作動の態様についてより詳細に説明する。
しい実施例の次の詳細な説明において、本発明の性質お
よび作動の態様についてより詳細に説明する。
【００１０】図１を参照すると、照明光路１は光の点光
源となるダイオード２と、両凸正ダブレット４と、両凸
正シングレット５と、両凸正ダブレット６と、両凹負円
柱レンズ７と、両凸正円柱レンズ８（レンズ７と８のそ
れぞれの円柱軸線は平行である）と、視野絞り９と、ミ
ラー１０と、ビームスプリッタ１１とを順次有する。ビ
ームスプリッタ１１を５０％の光が通過し、この光は光
路セレクタ１３の吸光表面（吸収面）１２によって遮ら
れるが、ビームスプリッタ１１によって５０％の光が反
射され、分散表面（散乱表面）１４上に点光源の像が形
成される。分散表面（散乱表面）１４によって反射され
る光はビームスプリッタ１１によって分割され、ビーム
スプリッタ１１を通過する光の５０％は検出光路１５へ
進む。この検出光路１５は視野絞り１６と、両凸正円柱
レンズ１７と、両凹負円柱レンズ１８と、両凸正ダブレ
ット１９と、両凸正シングレット２０と、両凸正ダブレ
ット２１と、平凸リレーレンズ２２と、可視光フィルタ
２３と、面状（エリア）検出器２４とを順次有し、面状
検出器２４は分散表面（散乱表面）１４からの反射光を
代表する信号を発生する。
源となるダイオード２と、両凸正ダブレット４と、両凸
正シングレット５と、両凸正ダブレット６と、両凹負円
柱レンズ７と、両凸正円柱レンズ８（レンズ７と８のそ
れぞれの円柱軸線は平行である）と、視野絞り９と、ミ
ラー１０と、ビームスプリッタ１１とを順次有する。ビ
ームスプリッタ１１を５０％の光が通過し、この光は光
路セレクタ１３の吸光表面（吸収面）１２によって遮ら
れるが、ビームスプリッタ１１によって５０％の光が反
射され、分散表面（散乱表面）１４上に点光源の像が形
成される。分散表面（散乱表面）１４によって反射され
る光はビームスプリッタ１１によって分割され、ビーム
スプリッタ１１を通過する光の５０％は検出光路１５へ
進む。この検出光路１５は視野絞り１６と、両凸正円柱
レンズ１７と、両凹負円柱レンズ１８と、両凸正ダブレ
ット１９と、両凸正シングレット２０と、両凸正ダブレ
ット２１と、平凸リレーレンズ２２と、可視光フィルタ
２３と、面状（エリア）検出器２４とを順次有し、面状
検出器２４は分散表面（散乱表面）１４からの反射光を
代表する信号を発生する。
【００１１】図２を参照すると、ここには光路セレクタ
１３が示されているが、この光路セレクタ１３はレトロ
（再帰）反射テスト光路３０をオフとするように、この
表面１２をスウィングし、ビームスプリッタ１１によっ
て反射された光を吸光表面２５によって遮るように枢動
された状態で示されている。吸光表面１２と吸光表面２
５の双方は吸光されない光（残光）を光学的平面からそ
らすよう、それぞれの光路に対して斜めに配されている
ことが好ましい。これに関し、吸光表面１２と２５とは
例えば誘電反射からの光のような反射光を光学系から外
に向けるように、極めて高いパーセントの光を吸収する
ようになっている黒色ミラーでもよい。再び図１を参照
すると、レトロ反射テスト光路３０は、中間像平面３１
と、ミラー３２と、凸凹負レンズ３３と、両凸正レンズ
３４とを順次有し、眼３６の眼底３５に点光源像を形成
するようになっている。患者を補助するために、ダイオ
ード４０がビームスプリッタ４５で照明光路１と交差
（結合入射・分離）する光路４４に沿って、ターゲット
４１と、絞り４２と、両凸非球面フォギングレンズ４３
を通過するように可視光を投射する。
１３が示されているが、この光路セレクタ１３はレトロ
（再帰）反射テスト光路３０をオフとするように、この
表面１２をスウィングし、ビームスプリッタ１１によっ
て反射された光を吸光表面２５によって遮るように枢動
された状態で示されている。吸光表面１２と吸光表面２
５の双方は吸光されない光（残光）を光学的平面からそ
らすよう、それぞれの光路に対して斜めに配されている
ことが好ましい。これに関し、吸光表面１２と２５とは
例えば誘電反射からの光のような反射光を光学系から外
に向けるように、極めて高いパーセントの光を吸収する
ようになっている黒色ミラーでもよい。再び図１を参照
すると、レトロ反射テスト光路３０は、中間像平面３１
と、ミラー３２と、凸凹負レンズ３３と、両凸正レンズ
３４とを順次有し、眼３６の眼底３５に点光源像を形成
するようになっている。患者を補助するために、ダイオ
ード４０がビームスプリッタ４５で照明光路１と交差
（結合入射・分離）する光路４４に沿って、ターゲット
４１と、絞り４２と、両凸非球面フォギングレンズ４３
を通過するように可視光を投射する。
【００１２】点光源２および検出器２４（及びその他の
要素）を支持する、点線５０で示されたキャリアは、軸
線１と１５の平行部分に沿って選択的に移動され、レン
ズ４と、５と、６とを通過する光の輻輳ないし収束性
（ｖｅｒｇｅｎｃｅ）を変え、中間像平面３１の位置を
同じように軸線３０に沿って移動させる。レンズ３３と
３４の焦点は中間像平面３１にあり、正常視眼が眼底３
５に点光源２の像を形成する際には、眼に平行光線を向
ける望遠鏡として働くが、一方、球面誤差を有する眼は
光軸３０に沿った中間像平面３１の或る他の位置におい
て、眼底３５に点光源２の像を形成する。眼底３５から
レトロ反射された光像は検出器２４へ導かれる前にレン
ズ１９と、２０と、２１により、同じように処理され
る。「広いレンジの焦点位置に亘るデータを用いた自動
オプトメータ評価方法」（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｏｐｔ
ｏｍｅｔｅｒ Ｅｖａｌｕａｔｉｏｎ Ｍｅｔｈｏｄ
Ｕｓｉｎｇ Ｄａｔａ Ｏｖｅｒ Ａ Ｗｉｄｅ Ｒａ
ｎｇｅ Ｏｆ Ｆｏｃｕｓｓｉｎｇ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ
ｓ）を発明の名称とする本願と同日提出の出願、特願２
０００−１１１８７号（米国特許出願０９／２３４，７
２３、１９９９年１月２１日に基づく優先権主張）（整
理番号Ｐ６７１９ＡＭ）に記載されている評価システム
は、点光源２の最良の像が検出器２４へ与えられる際の
キャリア５０の精密な位置を測定するようになってい
る。（必要に応じて上記出願の開示事項は参照され、ま
た本願の開示にも繰み込むことができるものとする。）
当業者であれば、キャリア５０の位置と眼３６内の球面
誤差との間が線形関係にある系（バダール Ｂａｄａｌ
系）を提供するのに、レンズ４と、５と、６とを選択す
ることが理解できよう。レンズ１９と、２０と、２１と
は、製造によって可能な範囲でレンズ４と、５と、６と
同じものである。較正中、キャリア５０は移動され、分
散表面１４から検出器２４へ点光源２の最良の焦点像が
与えられる時の精密な位置を測定する。この位置は後に
行われるテストのための基準位置として使用できる。そ
の理由は、レトロ反射によって自動補正される誤差を生
じさせる光学要素を除けば、この基準位置を決定する際
に、テスト結果に影響を与えるすべての光学要素が含ま
れるからである。同じように分散表面（散乱表面）１４
から検出器２４に点光源２の最良の焦点像が与えられる
際に、等しく、かつ反対の度を有する円柱レンズ７およ
び８だけでなく、同じ大きさでかつ逆の度を有する円柱
レンズ１７および１８に対して、回転基準位置が測定
（決定）される。レンズ７と１８とはモータ５２により
同時に回転されるように接続されており、同様にレンズ
８と１７もモータ５４により同時に回転されるように接
続されている。レンズ７および８だけでなく、レンズ１
７および１８も同じ大きさで、かつ逆の度を有するの
で、これらの円柱（シリンダ）軸線が一致している際
に、これらレンズは装置にシリンダ誤差を生じさせるこ
とはない。工場において、線形（スフェリカル）および
回転（シリンドリカル）基準位置は、テスト眼（ＩＳ
Ｏ）と比較され、基準位置における球面および／または
シリンダ（誤差）の値を測定する。これら値は処理手段
に記憶され、１つの眼に対して行われる、テスト中に得
られる値から推定される。
要素）を支持する、点線５０で示されたキャリアは、軸
線１と１５の平行部分に沿って選択的に移動され、レン
ズ４と、５と、６とを通過する光の輻輳ないし収束性
（ｖｅｒｇｅｎｃｅ）を変え、中間像平面３１の位置を
同じように軸線３０に沿って移動させる。レンズ３３と
３４の焦点は中間像平面３１にあり、正常視眼が眼底３
５に点光源２の像を形成する際には、眼に平行光線を向
ける望遠鏡として働くが、一方、球面誤差を有する眼は
光軸３０に沿った中間像平面３１の或る他の位置におい
て、眼底３５に点光源２の像を形成する。眼底３５から
レトロ反射された光像は検出器２４へ導かれる前にレン
ズ１９と、２０と、２１により、同じように処理され
る。「広いレンジの焦点位置に亘るデータを用いた自動
オプトメータ評価方法」（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｏｐｔ
ｏｍｅｔｅｒ Ｅｖａｌｕａｔｉｏｎ Ｍｅｔｈｏｄ
Ｕｓｉｎｇ Ｄａｔａ Ｏｖｅｒ Ａ Ｗｉｄｅ Ｒａ
ｎｇｅ Ｏｆ Ｆｏｃｕｓｓｉｎｇ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ
ｓ）を発明の名称とする本願と同日提出の出願、特願２
０００−１１１８７号（米国特許出願０９／２３４，７
２３、１９９９年１月２１日に基づく優先権主張）（整
理番号Ｐ６７１９ＡＭ）に記載されている評価システム
は、点光源２の最良の像が検出器２４へ与えられる際の
キャリア５０の精密な位置を測定するようになってい
る。（必要に応じて上記出願の開示事項は参照され、ま
た本願の開示にも繰み込むことができるものとする。）
当業者であれば、キャリア５０の位置と眼３６内の球面
誤差との間が線形関係にある系（バダール Ｂａｄａｌ
系）を提供するのに、レンズ４と、５と、６とを選択す
ることが理解できよう。レンズ１９と、２０と、２１と
は、製造によって可能な範囲でレンズ４と、５と、６と
同じものである。較正中、キャリア５０は移動され、分
散表面１４から検出器２４へ点光源２の最良の焦点像が
与えられる時の精密な位置を測定する。この位置は後に
行われるテストのための基準位置として使用できる。そ
の理由は、レトロ反射によって自動補正される誤差を生
じさせる光学要素を除けば、この基準位置を決定する際
に、テスト結果に影響を与えるすべての光学要素が含ま
れるからである。同じように分散表面（散乱表面）１４
から検出器２４に点光源２の最良の焦点像が与えられる
際に、等しく、かつ反対の度を有する円柱レンズ７およ
び８だけでなく、同じ大きさでかつ逆の度を有する円柱
レンズ１７および１８に対して、回転基準位置が測定
（決定）される。レンズ７と１８とはモータ５２により
同時に回転されるように接続されており、同様にレンズ
８と１７もモータ５４により同時に回転されるように接
続されている。レンズ７および８だけでなく、レンズ１
７および１８も同じ大きさで、かつ逆の度を有するの
で、これらの円柱（シリンダ）軸線が一致している際
に、これらレンズは装置にシリンダ誤差を生じさせるこ
とはない。工場において、線形（スフェリカル）および
回転（シリンドリカル）基準位置は、テスト眼（ＩＳ
Ｏ）と比較され、基準位置における球面および／または
シリンダ（誤差）の値を測定する。これら値は処理手段
に記憶され、１つの眼に対して行われる、テスト中に得
られる値から推定される。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、比較的簡単な構成によ
り高精度の較正を達成できる。また、本発明によれば、
通常ビームスプリッタで廃棄されている光を有効に利用
して検眼装置ないしリフラクタ投射装置の正確な較正が
でき、しかも自動較正の基礎を与える。
り高精度の較正を達成できる。また、本発明によれば、
通常ビームスプリッタで廃棄されている光を有効に利用
して検眼装置ないしリフラクタ投射装置の正確な較正が
でき、しかも自動較正の基礎を与える。
【図１】自動較正中の、本発明に係わる光学装置の平面
図である。
図である。
【図２】眼のテスト中の光路セレクタの別の位置の部分
平面図である。
平面図である。
１ 照明路 ２ ダイオード ４ 両凸正ダブレット ５ 両凸正シングレット ６ 両凸正ダブレット ７ 両凹負円柱レンズ ８ 両凸正円柱レンズ ９ 視野絞り １０ ミラー １１ ビームスプリッタ １２ 吸光表面 １３ 光路セレクタ １４ 分散表面 １５ 検出光路 １６ 視野絞り １７ 両凸正円柱レンズ １８ 両凹負円柱レンズ １９ 両凸正ダブレット ２０ 両凸正シングレット ２１ 両凸正ダブレット ２２ 平凸リレーレンズ ２３ 可視光フィルタ ２４ 面状検出器 ３０ テスト光路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平７−280703（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−255674（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−245909（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−121773（ＪＰ，Ａ) 米国特許5080477（ＵＳ，Ａ) 欧州特許出願公開663179（ＥＰ，Ａ １) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) A61B 3/10 - 3/125
Claims (20)
- 【請求項１】照明光路と、 前記照明光路の開始点に設けられた点光源と、 前記照明光路に沿って離間して配された第１の複数の光
学要素と、 前記照明光路の終了点に設けられたビームスプリッタ
と、 前記ビームスプリッタで開始し、終了するレトロ反射光
路と、 前記レトロ反射光路に位置する中間像平面と、 前記ビームスプリッタで開始する検出光路と、 前記検出光路に沿って離間して配された第２の複数の光
学要素と、 前記検出光路の終了点に設けられ、前記光源の像を示す
信号を発生するための検出手段と、 それぞれの光路に沿って１つのユニットとしての前記点
光源および前記検出手段の位置を選択的に変えるための
駆動手段と、 前記ビームスプリッタによって反射される前記点光源か
らの光を前記検出光路へ反射する表面と、 前記像の焦点が最良となる時の前記ユニットの位置を測
定するための手段とを備え、 前記第１および第２の複数の光学系によって生じる誤差
を較正するようになっている、 眼を検査するための検眼装置。 - 【請求項２】前記検出手段が面状（エリア）検出器であ
り、前記中間像平面および前記表面の双方に関し、前記
光源に対して共焦位置にある、請求項１記載の検眼装
置。 - 【請求項３】前記光源および検出器の位置を前記駆動手
段によって変える際に、光の輻輳ないし収束性を変える
ための要素を、前記第１および第２の複数の光学的要素
の各々が含む、請求項２記載の検眼装置。 - 【請求項４】前記第１および第２の複数の光学的要素の
各々が、同じ大きさで逆の度を有する一対の円柱レンズ
と、各対のうちの一方の円柱レンズを回転するための第
１モータと、各対のうちの他方の円柱レンズを回転する
ための第２モータとを含む、請求項３記載の検眼装置。 - 【請求項５】前記光源が赤外光を放出する、請求項４記
載の検眼装置。 - 【請求項６】前記照明光路に沿って可視光を投射するた
めのターゲット投射手段と、前記検出器への可視光の到
達をブロックするためのフィルタ手段とを更に含む、請
求項５記載の検眼装置。 - 【請求項７】光路セレクタと、前記セレクタに結合され
た一対の吸光表面とを更に備え、前記対の表面の一方が
前記ビームスプリッタを通過する前記光源からの光を選
択的に遮り、前記対の表面のうちの他方が前記ビームス
プリッタから反射された前記光源からの光を選択的に遮
り、かくて、これらの双方の光の一方を交互に選択的に
遮るようになっている、請求項１記載の検眼装置。 - 【請求項８】前記吸光表面の対の各々が黒色ミラーであ
る、請求項７記載の検眼装置。 - 【請求項９】前記吸光表面の対の各々が前記ビームスプ
リッタからの吸収されない光を交互にそらすように傾斜
している、請求項８記載の検眼装置。 - 【請求項１０】前記光路セレクタが枢動自在である、請
求項９記載の検眼装置。 - 【請求項１１】前記検出手段が面状検出器であり、前記
中間像平面および前記表面の双方に関し、前記光源に対
して共焦点位置にある、請求項１０記載の検眼装置。 - 【請求項１２】前記光源および検出器の位置を前記駆動
手段によって変える際に、光の輻輳ないし収束性を変え
るための要素を、前記複数の第１および第２光学的要素
の各々が含む、請求項１１記載の検眼装置。 - 【請求項１３】前記第１および第２の複数の光学的要素
の各々が、同じ大きさで逆の度を有する一対の円柱レン
ズと、各対のうちの一方の円柱レンズを回転するための
第１モータと、各対のうちの他方の円柱レンズを回転す
るための第２モータとを含む、請求項１２記載の検眼装
置。 - 【請求項１４】前記光源が赤外光を放出する、請求項１
３記載の検眼装置。 - 【請求項１５】前記照明光路に沿って可視光を投射する
ためのターゲット投射手段と、前記検出器への可視光の
到達をブロックするためのフィルタ手段とを更に含む、
請求項１４記載の検眼装置。 - 【請求項１６】光源と、照明光路に沿って設けられた光
学的要素と、検出光路に沿って設けられた検出器および
光学的要素と、レトロ反射光路に沿って設けられた光学
的要素とを有し、前記照明光路、前記検出光路及び前記
レトロ反射光路はビームスプリッタで交差する対物レン
ズ付リフラクタであって、 前記照明光路、前記検出光路及び前記レトロ反射光路と
前記ビームスプリッタで交差する較正光路を備え、 前記ビームスプリッタが通常は廃棄される光を前記較正
光路に沿って分散表面（散乱表面）に向けるように構成
され、 更に前記レトロ反射光路または前記較正光路を交互にブ
ロックするための光路選択手段を更に備え、 もって前記リフラクタ内で一般には廃棄される光を使っ
て較正されること、 を特徴とする対物レンズ付リフラクタ。 - 【請求項１７】前記光路選択手段が２つの吸光表面を有
する、請求項１６記載の対物レンズ付リフラクタ。 - 【請求項１８】前記照明光路に沿って設けられた光学的
要素が、前記レトロ反射光路に照明光源の中間像を発生
する、請求項１６記載の対物レンズ付リフラクタ。 - 【請求項１９】前記照明光路に沿って設けられた複数の
光学的要素が、前記レトロ反射光路に照明光源の中間像
を発生する、請求項１７記載の対物レンズ付リフラク
タ。 - 【請求項２０】前記２つの吸光表面の各々が、吸収され
ない光をそれぞれのブロックされた光路から外れるよう
に向けるよう、前記選択手段に配設された黒色ミラーで
ある、請求項１９記載の対物レンズ付リフラクタ。
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