JPS587320Y2 - 差圧応動装置 - Google Patents

差圧応動装置

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JPS587320Y2
JPS587320Y2 JP8570676U JP8570676U JPS587320Y2 JP S587320 Y2 JPS587320 Y2 JP S587320Y2 JP 8570676 U JP8570676 U JP 8570676U JP 8570676 U JP8570676 U JP 8570676U JP S587320 Y2 JPS587320 Y2 JP S587320Y2
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JP
Japan
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diaphragm
housing
cylindrical body
side housing
coefficient
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JP8570676U
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English (en)
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JPS534974U (ja
Inventor
西原正
Original Assignee
横河電機株式会社
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、測定ダイアフラムとして平板を用いた3要素
式差圧応動装置に関するものである。
一般に平板測定ダイアフラムを用いる差圧応動装置にお
いては、カバーを固定するボルト、ナツトの締付力でカ
バーやその内側のハウジング、ボディ等の構造物が固定
されている。
したがって、締付力が変化すると、ボディの受ける力が
変化しボディ内部の測定ダイアフラムの張力が変わる。
このため、単位圧力に対する測定ダイアフラムの変位(
以下スパンと記す)が締付力の大きさに応じて変化する
また、ハウジングの受ける力も変化しこのハウジングに
固着されたシールダイアプラムの張力が変わる。
このため、測定ダイアフラムの場合はどの大きさではな
いが、測定ダイアフラムの張力変化の場合と同様にスパ
ンが変化する。
特にシールダイアフラムの剛性が測定ダイヤフラムの剛
性にくらべて実用上無視できない場合はその影響が大き
い。
上記の締付力変化の他に、温度が変化すると、カバー
ハウジング、ボディ等の熱膨張係数の相違から、ボディ
およびハウジングの受ける力が変わり、測定ダイアフラ
ムやシールダイアフラムの張力が変化する。
この場合も同様にスパンが変化する。
これらのスパン変化(以下スパンシフトと記す)は、ド
リフトや温度誤差等として示されるもので、工業計器に
とって致命的な欠点となる。
本考案の目的は、このような従来装置の欠点を除去した
3要素式差圧応動装置を簡単な構成で実現することにあ
る。
以下図面によって本考案を詳細に説明する。
図は本考案装置の一実施例の構成を示す断面図である。
図において、1は平板でなる測定ダイアフラム、2は円
柱状ボディである。
円柱状ボディ2は、測定ダイアフラム1に関して左右2
つのブロック2A、2Bに分けられる。
ブロック2A、2B内側の座ぐり穴にはガラスのような
剛性のある絶縁物2L22が充填され、この絶縁物21
.22の表面は測定ダイアフラム1の変化曲面とほぼ等
しい球状凹面になっている。
この凹面には薄い金属皮膜23.24が施されている。
ボディ2の組立は、測定ダイアフラム1に一定の張力を
かけて張り、この測定ダイアフラム1の両側を2つのブ
ロック2A、2Bで押さえ、図の25部分を全周にわた
って溶接することによって行なわれる。
したがって、ボディ2内には、測定ダイアフラム1によ
って、2つの内部室26゜27が形成される。
また、ブロック2A、2Bの外側の突出部28.29に
はねじが形成されている。
金属皮膜23.24は変位検出のための一方のコンデン
サ板を、測定ダイアフラム1は他方のコンデンサ板を成
し、金属皮膜23.24にはリード線20が接続されて
いる。
なお、測定ダイアフラム1とボディ2は、熱膨張係数が
ほぼ等しい(同一を含む)材料で構成されている。
3は中央ハウジングで、この中央ハウジング3はブロッ
ク3A、3Bおよび3Cに分けられる。
ブロック3Aは、外側円筒部3Aaとこの外側円筒部3
Aaの内側にリング部3Abを介して配置された円筒状
支持部3Acとから構成されている。
このブロック3Aは、円筒状材料の各端面にリング状溝
3L32を形成し、内周面にリンク状溝33を形成する
ことによって容易に得られる。
円筒状支持部3 A cの先端部分は、ボディ2の周縁
部に溶接される。
34,35はその溶接部分を示すものである。
また、ブロック3B、3Cはブロック3Aの両側に配置
され36.37部分で溶接される。
41.42は側面ハウジングで、その凹部43゜44に
形成されたねじでもって、ボディ2に結合されている。
ボディ2端面と側面ハウジング41゜42端面とはテフ
ロンシート等の低摩擦係数の膜45.46を介して接触
している。
51.52はガスケットで、ボディ2と側面ハウジング
41゜42の間にそれぞれ配置されている。
61.62は、それぞれ側面ハウジング41゜42にシ
ーム溶接等の手段で取り付けられたシールダイアフラム
である。
この実施例ではシールダイアフラム61,62として平
板を用いるため、シールダイアフラム61,62と側面
ハウジング41.42とは、はぼ熱膨張係数の等しい材
料で構成されている。
これらの材料としてはステンレス鋼が適している。
シールダイアフラム61゜62と側面ハウジング41.
42が形成する隔室63.64は、それぞれボディ2の
内部室26゜27に連通しており、これらの空間にはシ
リコンオイル等の液体が封入されている。
このシールダイアフラム61,62は、過差圧時におい
て、側面ハウジング41.42のバックアツプ面に密着
する。
これによって、過差圧時の測定ダイアフラム1の過度の
変形を防いでいる。
したがって、シールダイアフラム61,62とハウジン
グ41゜42のバックアツプ面の間隔は重要である。
この実施例では、ピン47,48の押し込み量でもって
隔室63.64内の封入液体の量を調節し最適な間隔を
得ている。
71.72は、中央ハウジング3と側面ハウジング41
.42との隙間を封じる封止ダイアフラムである。
封止ダイアフラム71はリング73゜74を用いて中央
ハウジング3、側面ハウジング41に溶接され、封止ダ
イアフラム72はリング75.76を用いて中央ハウジ
ング3、側面ハウジング42に溶接される。
81.82はカバー 91はナツト、82はボルトであ
る。
ナツト91とボルト92の締付力によって、カバー81
.82は、リング73 、75の端面に押圧される。
このようにして形成された密封室83.84のそれぞれ
に被測定圧力が導かれる。
このような装置の動作を次に述べる。
室83゜84に導かれた被測定圧力はそれぞれシールダ
イアフラム61.62および封入液体を介して内部室2
6.27に伝えられる。
このため、測定ダイアフラム1が被測定圧力の差に応じ
た変位を生じる。
したがって、この変位から差圧を求めることができる。
この実施例では、上記変位を容量変化として検出してい
る。
過差圧時においては、シールダイアフラム61,62が
ハウジング41゜42に密着するということは前述の通
りである。
このような構成の本考案装置においては、ナツト91と
ボルト92による締付力変動や温度変化があっても、ス
パンシフトが生じない。
以下この理由について説明する。
ブロック3B、3Cは、側面ハウジング41.42と剛
的につながっていなくて、可撓性を有する封止ダイアフ
ラム71゜72を介して側面ハウジング41.42とつ
ながっている。
また、外側円筒部3Aaは、リング部3Abと円筒状支
持部3Acを介してボディ2A。
2Bとつながっている。
円筒状支持部3Acは軸方向に延びた腕を有していて、
この腕がたわむことによって円筒状支持部3 A cは
半径方向に変形可能である。
締付力変動や温度変化によって、中央ハウジング3にお
けるブロック図3Aの外側円筒部3Aaおよびブロック
3B、3Cは軸方向に変形するが、このような変形は、
封止ダイアフラム71.72の軸方向への変形によって
吸収される。
これによって、側面ハウジング41.42やボディ2A
、2Bには変形が伝わらない。
さらに、締付力変動や温度変化によって、中央ハウジン
グ3におけるブロック3Aの外側円筒部3 A aおよ
びブロック3B、3Cは半径方向にも変形するが、この
ような変形は、封止ダイアフラム71.72と円筒状支
持部3Acの半径方向への変形によって吸収される。
これによって、側面ハウジング41.42やボディ2A
、2Bには変形が伝わらない。
したがって、ボディ2や側面ハウジング41.42はそ
れらの外部から力を受けることがない。
また、測定ダイアフラム1とボディ2とがほぼ等しい熱
膨張係数の材料で構成され、シールダイアフラム61.
62と側面ハウジング41゜42とがほぼ等しい熱膨張
係数の材料で構成されているから、これらの間に、測定
ダイアフラム1やシールダイアフラム61,62に張力
変化を与える要素はない。
また、ボディ2と側面ハウジング41.42は溶接等で
結合されておらず、膜45.46を介して自由に滑れる
結合である。
このため、ボディ2と側面ハウジング41.42を構成
する材料の熱膨張係数が異なっていても、温度変化によ
ってボディ2の側面ハウジング41゜42に発生するひ
ずみ量の相異は膜45,46のすべりによって吸収され
る。
これによって、ボディ2と側面ハウジング41.42は
相互に力を及ぼし合うこともない。
結局、ボディ2および側面ハウジング41.42は外部
から力の変動を受けず、自らも発生しないので、測定ダ
イアフラム1やシールダイアフラム61,62の張力変
化は生ぜず、スパンシフトはない。
以上説明したように、本考案によれば、締付力変動や温
度変化があってもスパンシフトが生じない差圧変動装置
を簡単な構成で実現できる。
【図面の簡単な説明】
図は本考案装置の一実施例の構成を示す断面図である。 1・・・・・・測定ダイアフラム、2・・・・−Fl柱
状ボディ、26.27・・・・・・内部室、3・・・・
・・中央ハウジング、3 A c・・・・・・円筒状支
持部、41,42・−・・・・側面ハウジング、61.
62・・・・・・シールダイアフラム71.72・・・
・・・封止ダイアフラム。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 平板でなる測定ダイアフラムと、この測定ダイアフラム
    によって形成された2つの内部室を有し前記測定ダイア
    フラムとほぼ等しい熱膨張係数の材料でなる円柱状ボデ
    ィと、この円柱状ボディの周縁部に溶接されていて半径
    方向に変形可能な円筒状支持部を有する中央ハウジング
    と、前記円柱状ボディの両側に低摩擦係数の膜を介して
    自由に滑れるように結合された側面ハウジングと、この
    側面ハウジングと前記中央ハウジングの周縁部に溶接さ
    れていて側面ハウジングと中央ハウジングの隙間を封じ
    る封止ダイアフラムと、前記側面ハウジングに取り付け
    られ前記側面ハウジングとほぼ等しい熱膨張係数の材料
    でなるシールダイアフラムとを具備し、前記シールダイ
    アフラムが受ける圧力を封入液体を介して前記ボディの
    内部室に与えるように構成した差圧応動装島
JP8570676U 1976-06-29 1976-06-29 差圧応動装置 Expired JPS587320Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8570676U JPS587320Y2 (ja) 1976-06-29 1976-06-29 差圧応動装置

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JP8570676U JPS587320Y2 (ja) 1976-06-29 1976-06-29 差圧応動装置

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Publication Number Publication Date
JPS534974U JPS534974U (ja) 1978-01-17
JPS587320Y2 true JPS587320Y2 (ja) 1983-02-08

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ID=28696624

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JP8570676U Expired JPS587320Y2 (ja) 1976-06-29 1976-06-29 差圧応動装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60163222U (ja) * 1984-04-07 1985-10-30 田中 泰 物品陳列用箱体

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JPS534974U (ja) 1978-01-17

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