JPS5860670A - 磁器組成物 - Google Patents
磁器組成物Info
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- JPS5860670A JPS5860670A JP56156685A JP15668581A JPS5860670A JP S5860670 A JPS5860670 A JP S5860670A JP 56156685 A JP56156685 A JP 56156685A JP 15668581 A JP15668581 A JP 15668581A JP S5860670 A JPS5860670 A JP S5860670A
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- JP
- Japan
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- composition
- capacitance
- resistance
- capacitor
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- Ceramic Capacitors (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁器組成物置に、 1flOO℃以下の低温で
焼結でt1#電率と比抵抗の積が高く、しかも機械的強
直の高い鱒電体磁器組成物に関するものである〇 従来、縛電体磁器組成物として チタン酸バリクム(B
aT’1Os)などを主成分とするa器組成物が広く実
用化されていることは周知のとおりである。
焼結でt1#電率と比抵抗の積が高く、しかも機械的強
直の高い鱒電体磁器組成物に関するものである〇 従来、縛電体磁器組成物として チタン酸バリクム(B
aT’1Os)などを主成分とするa器組成物が広く実
用化されていることは周知のとおりである。
しかしながら、BaT i Oa などを主成分とする
ものは焼結温度が通常1300〜1400℃の高温であ
る。
ものは焼結温度が通常1300〜1400℃の高温であ
る。
このため、これを積層形コンデンサに利用する場合には
、内部電極としてこの焼結源gK耐え得る材料、例えば
白金、パラジウム等の高価な貴金属を使用しなければな
らず、製造コストが高くつくという欠点がある。積層形
コンデンサを安く作るためKは、俵、ニッケル勢を主成
分とする安価な金属が内部電1iKIi用できるような
、で龜るだけ低温、4IK1000℃以下の低い温度で
焼結できるW1i器組成−が望まれている。
、内部電極としてこの焼結源gK耐え得る材料、例えば
白金、パラジウム等の高価な貴金属を使用しなければな
らず、製造コストが高くつくという欠点がある。積層形
コンデンサを安く作るためKは、俵、ニッケル勢を主成
分とする安価な金属が内部電1iKIi用できるような
、で龜るだけ低温、4IK1000℃以下の低い温度で
焼結できるW1i器組成−が望まれている。
ところで磁器組成物を用い、実用的な積層形コンデンサ
を作製するときKil器組成物の電気的特性として多く
の項目が評価さitなければならない。
を作製するときKil器組成物の電気的特性として多く
の項目が評価さitなければならない。
一般的に誘電1ihFiできるだけ大きく、誘電損失は
できるだけ小さく、比抵抗はできるだけ大きく、誘電率
の温度変化は小さいことなどが要求される。
できるだけ小さく、比抵抗はできるだけ大きく、誘電率
の温度変化は小さいことなどが要求される。
しかしながら、5I!際に積層形コンデンサを穏々0機
器に用いる場合においては誘電率でなく、まず容量、次
に容量の温度変化率、誘電損失などの値が必要とされる
。積層形コンデンサにおいて、答ill磁器組成物の特
電率に比例するが、しかし、その厚みに反比例し、電極
面積、積層数に比例するので、一定の容量を得るために
はaS組成物の特電率が大きいことは必ずしも絶対的&
要因でない。さらに容量のam変化率(Ml電率の温度
変化率)は用途により種々許容された範囲があり、磁器
組成物の誘電率の温度変化率も積層形コンデンtを作製
するときの絶対的な要因でない〇一方、誘電損失は用途
により一定の値以下でなければならないという規定があ
り、室温で最大5D−以下である。さらに比抵抗に関し
ては、例えば、EIAJ 規格(日本電子機械工学会の
電子機器用積層磁器コンデンサ(チラノ形) RC−3
6988)K述べられているごとく、積層コンデンサの
絶縁抵抗として10000 MΩ以上または容量抵抗積
で、500 s F−MΩ以上 のいずれか小さい方以
上と規定されている。すなわち磁器組成物の誘電率と比
抵抗の積がある絶対値以上なければ、任意の容量、11
iK大きな容量のコンデンt1に夾用的期格に合せるこ
とができず、そO用途が非常に限定され、実用的な意味
がなくなる。この点を詳しく説明すると次O橡Klkる
。積層形コンデンサでは、n+1個の内郁電Ikt構成
して一般Kn個の同じ厚さの層からなる単一層コンデン
サが積層された構造になりている0こO場合、単一層当
りの容量をCo。
器に用いる場合においては誘電率でなく、まず容量、次
に容量の温度変化率、誘電損失などの値が必要とされる
。積層形コンデンサにおいて、答ill磁器組成物の特
電率に比例するが、しかし、その厚みに反比例し、電極
面積、積層数に比例するので、一定の容量を得るために
はaS組成物の特電率が大きいことは必ずしも絶対的&
要因でない。さらに容量のam変化率(Ml電率の温度
変化率)は用途により種々許容された範囲があり、磁器
組成物の誘電率の温度変化率も積層形コンデンtを作製
するときの絶対的な要因でない〇一方、誘電損失は用途
により一定の値以下でなければならないという規定があ
り、室温で最大5D−以下である。さらに比抵抗に関し
ては、例えば、EIAJ 規格(日本電子機械工学会の
電子機器用積層磁器コンデンサ(チラノ形) RC−3
6988)K述べられているごとく、積層コンデンサの
絶縁抵抗として10000 MΩ以上または容量抵抗積
で、500 s F−MΩ以上 のいずれか小さい方以
上と規定されている。すなわち磁器組成物の誘電率と比
抵抗の積がある絶対値以上なければ、任意の容量、11
iK大きな容量のコンデンt1に夾用的期格に合せるこ
とができず、そO用途が非常に限定され、実用的な意味
がなくなる。この点を詳しく説明すると次O橡Klkる
。積層形コンデンサでは、n+1個の内郁電Ikt構成
して一般Kn個の同じ厚さの層からなる単一層コンデン
サが積層された構造になりている0こO場合、単一層当
りの容量をCo。
絶縁抵抗t−Roとすれば、積層形コンデンサの容量C
はCo On倚になり、絶縁抵抗RはRoのliなる。
はCo On倚になり、絶縁抵抗RはRoのliなる。
ここでias組成物OII電率を一1真空の誘電率ka
o% 磁器組成物O比抵抗を!、単一層コンデンサの磁
器の厚さを65重なる電極面積を器とすれに、単一層コ
ンデンサのCoは(1ota/d )と表りROは<
:f d)/、となる。従ってn層からなる積層コンデ
ンサの容IL(C)と絶縁抵抗(R)の積CXRは((
、fd)/(ns) 〕X C(nooas)/d)
−go4となる。すなわちどのような軽量の積層コンデ
ンサもその軽量・抵抗積CXRFi、磁器組成物の1と
fの積にg6t−乗じた一定値(aOaj ) K規格
化さhる。容量・抵抗積cxhが500μF−MΩす表
わち500F・Ω以上ということは、go −8j35
5 X10−”F/mより、CXR−mOげ−8,85
sx 1O−14(Flon) x g x、f≧50
0F−Ωよって1f≧5.65 X 10 Ω・伽な
る要求があるO例えはa −10000ではf≧5.6
5 X 1011Ωa (y(、a −3000ではf
≧188×1012Ωe (yB 、 a −sooで
は!≧1.13X1013Ω・1が要求される。誘電率
に応じてこれらの値以上のjを持つ磁器組成物であれは
どのような大きな容量O積層コンデンサも軽量・抵抗積
は500μド・MΩを満足する。もしばか3000でf
が要求値より1桁低い1.88 X 10”Ω拳αとす
ればg□#J′−50μF−MΩで500μF−MΩは
満足せず、絶縁抵抗として10000 MΩすなわち、
1010Ω以上を満足するには容量Cとして0005μ
F 以下に@定されなければなら表い。それはこの積層
コンデンサの容量・抵抗積(CXR)は@に50sF−
MΩを示しているので、Rが10000 MΩのとき、
Cは0005#Fと表り、Cがこれより大きければRF
i1G000MΩより小さくなり、o、oosμFが規
格を満たす最鳥の容量となるためである。従って磁器組
成物σ)比抵抗が低いとその材料の実用性、%に積層形
コンデンサの特長である小型大容量の特長を生かすこと
はできないし、全く意味のないことKもなる。よって磁
器組成物の誘電率と比抵抗の積がある値以上を持つこと
が実用上極めて1賛なことである。
o% 磁器組成物O比抵抗を!、単一層コンデンサの磁
器の厚さを65重なる電極面積を器とすれに、単一層コ
ンデンサのCoは(1ota/d )と表りROは<
:f d)/、となる。従ってn層からなる積層コンデ
ンサの容IL(C)と絶縁抵抗(R)の積CXRは((
、fd)/(ns) 〕X C(nooas)/d)
−go4となる。すなわちどのような軽量の積層コンデ
ンサもその軽量・抵抗積CXRFi、磁器組成物の1と
fの積にg6t−乗じた一定値(aOaj ) K規格
化さhる。容量・抵抗積cxhが500μF−MΩす表
わち500F・Ω以上ということは、go −8j35
5 X10−”F/mより、CXR−mOげ−8,85
sx 1O−14(Flon) x g x、f≧50
0F−Ωよって1f≧5.65 X 10 Ω・伽な
る要求があるO例えはa −10000ではf≧5.6
5 X 1011Ωa (y(、a −3000ではf
≧188×1012Ωe (yB 、 a −sooで
は!≧1.13X1013Ω・1が要求される。誘電率
に応じてこれらの値以上のjを持つ磁器組成物であれは
どのような大きな容量O積層コンデンサも軽量・抵抗積
は500μド・MΩを満足する。もしばか3000でf
が要求値より1桁低い1.88 X 10”Ω拳αとす
ればg□#J′−50μF−MΩで500μF−MΩは
満足せず、絶縁抵抗として10000 MΩすなわち、
1010Ω以上を満足するには容量Cとして0005μ
F 以下に@定されなければなら表い。それはこの積層
コンデンサの容量・抵抗積(CXR)は@に50sF−
MΩを示しているので、Rが10000 MΩのとき、
Cは0005#Fと表り、Cがこれより大きければRF
i1G000MΩより小さくなり、o、oosμFが規
格を満たす最鳥の容量となるためである。従って磁器組
成物σ)比抵抗が低いとその材料の実用性、%に積層形
コンデンサの特長である小型大容量の特長を生かすこと
はできないし、全く意味のないことKもなる。よって磁
器組成物の誘電率と比抵抗の積がある値以上を持つこと
が実用上極めて1賛なことである。
また積層形チップコンデンサの場合にチップコンデンサ
を基板に実装したときの基板とチップコンデンサを構成
している磁器との熱膨張係数の違いKよりチップコンデ
ンサに機械的な歪みが加わり、クラックO発生や、ひど
い場合にはチップコンデンサが破損する場合が生じる。
を基板に実装したときの基板とチップコンデンサを構成
している磁器との熱膨張係数の違いKよりチップコンデ
ンサに機械的な歪みが加わり、クラックO発生や、ひど
い場合にはチップコンデンサが破損する場合が生じる。
またエポキシ系樹脂等を外装したディップコンデンサの
場合も外装輯脂の応力によってディップコンデンサにク
ラックが発生する場合がある。
場合も外装輯脂の応力によってディップコンデンサにク
ラックが発生する場合がある。
いずれの場合もコンデン?管形成している磁器の機械的
強度が低いはどクラックが生じやすく、また破損しやす
いため、信麺性が低くなる。したがってa器の機械的強
度をできるたけ増大させることは実用上きわめて重lI
表ことである。
強度が低いはどクラックが生じやすく、また破損しやす
いため、信麺性が低くなる。したがってa器の機械的強
度をできるたけ増大させることは実用上きわめて重lI
表ことである。
ところ’T Pb (Mg)f W’A ) 03−p
b’t”ton系磁器組成物については既にエヌ、エヌ
、クフィニク、エイアイ、アグロノ7スカヤ(フイラス
トベルドゴテラ Vol 2 、 No170〜72
ページ1月1960年)[N;N、KrainIk a
nd A、I+Agranovskaya (Fizl
k。
b’t”ton系磁器組成物については既にエヌ、エヌ
、クフィニク、エイアイ、アグロノ7スカヤ(フイラス
トベルドゴテラ Vol 2 、 No170〜72
ページ1月1960年)[N;N、KrainIk a
nd A、I+Agranovskaya (Fizl
k。
Tverdogo Te1s、 Vo、2. No、1
. pp70〜72. January1960 ))
より提案があったが、誘電率と七〇@度変化についての
記載のみであった。
. pp70〜72. January1960 ))
より提案があったが、誘電率と七〇@度変化についての
記載のみであった。
また( 5rxPbl−xTlol )a (PbMg
as Wo、s On )b〔ただしx −0〜0.1
0. a k’10.35〜0.5. b #i0.5
−0.65であり、セしてa+b−1) はモノリシ
ックコンデンサおよびその製造方法として特開昭52〜
21662号K11i示され、また誘電体粉末組成物と
して41111152−21699号に!l!l示さね
ている。しかしここでは誘電率(2000〜5soo
)と誘電損失(20S〜4,4鋒)に関するデータの記
載しかない。
as Wo、s On )b〔ただしx −0〜0.1
0. a k’10.35〜0.5. b #i0.5
−0.65であり、セしてa+b−1) はモノリシ
ックコンデンサおよびその製造方法として特開昭52〜
21662号K11i示され、また誘電体粉末組成物と
して41111152−21699号に!l!l示さね
ている。しかしここでは誘電率(2000〜5soo
)と誘電損失(20S〜4,4鋒)に関するデータの記
載しかない。
またPb(Mg3(W3A) 03 PbTiOx系
を含む三成分系についてFi特1!1855−1110
11 においてPb(Mg14W%)αi −PbT
i Ox −Pb (Mg3(Nb K ) O、系が
開示され、%[1@55−117809においてPb(
MgKW5A)Os−PbTlOコーPb(絢%Tag
)へ系が開示されている。
を含む三成分系についてFi特1!1855−1110
11 においてPb(Mg14W%)αi −PbT
i Ox −Pb (Mg3(Nb K ) O、系が
開示され、%[1@55−117809においてPb(
MgKW5A)Os−PbTlOコーPb(絢%Tag
)へ系が開示されている。
これらにおいても誘電率や誘電損失、および誘電率0*
を特性についてのみ記載されている。
を特性についてのみ記載されている。
以上いずれも比抵抗や機械的強度に関する開示は全くさ
れておらずその実用性については明ら〃・でなかつた・ さらに本発明者遁は既に910〜950℃の温度で焼結
でき、pb(Mg崩に)01と、PbTi0i 2成分
系からなり、これを(Pb(Mg%WH)Os )x[
:PbTi0+ 〕1−xと表わしたと@ K xが0
Ji(x≦1.00の範囲にあるaS組成物を提案して
いる0この磁器組成物は誘電率と比抵抗の積が高い値を
持ち、誘電損失の小さい優れた電気的特性管有している
◇しかしながら、この組成物は、機械的強度が低いため
、その用途は自ら狭い範囲に限定せ惑るを得なかりたO
本発明の目的は機械的強度の入電いしかも容量抵抗積の
高い実用性に優れた磁器組成物1i供することKある。
れておらずその実用性については明ら〃・でなかつた・ さらに本発明者遁は既に910〜950℃の温度で焼結
でき、pb(Mg崩に)01と、PbTi0i 2成分
系からなり、これを(Pb(Mg%WH)Os )x[
:PbTi0+ 〕1−xと表わしたと@ K xが0
Ji(x≦1.00の範囲にあるaS組成物を提案して
いる0この磁器組成物は誘電率と比抵抗の積が高い値を
持ち、誘電損失の小さい優れた電気的特性管有している
◇しかしながら、この組成物は、機械的強度が低いため
、その用途は自ら狭い範囲に限定せ惑るを得なかりたO
本発明の目的は機械的強度の入電いしかも容量抵抗積の
高い実用性に優れた磁器組成物1i供することKある。
すなわち本発’J1tfPb(Mn%Nb麹)03 r
P b (M g KW% ) OsおよびPbTi
Osを含む組成物を(Pb(Mn3ANbAi)Oa
)X[pb(Mg%W3() 03 ) y(PbTi
Os ) zと表わしたとき(ただLX+Y+Z−t、
oo)この3成分組成図においてx
Y zo、08 0.9
2 00.005 0.995
00.005 0.4975 0.49750
.0 B 0.46 0.460.10
0,54 0.360.12 0
.614 0.2640.12 0.79
2 0.088の各点を結ぶ線上、およびこの範
囲内にあることを41徴とするものである0本発明の磁
器組成物は積層形コンデンサに利用する場合、鍋、ニッ
ケル等を主成分とする安価な内部電極が使用可能な、9
00℃〜1000℃の温度で焼結でき容量、抵抗積がs
OOμF−MΩ以上で しかも誘電損失が小さく・機械
的強度が高く、また誘電率も前記の範囲内で300〜6
00011度の値を持つ優れた材料である。
P b (M g KW% ) OsおよびPbTi
Osを含む組成物を(Pb(Mn3ANbAi)Oa
)X[pb(Mg%W3() 03 ) y(PbTi
Os ) zと表わしたとき(ただLX+Y+Z−t、
oo)この3成分組成図においてx
Y zo、08 0.9
2 00.005 0.995
00.005 0.4975 0.49750
.0 B 0.46 0.460.10
0,54 0.360.12 0
.614 0.2640.12 0.79
2 0.088の各点を結ぶ線上、およびこの範
囲内にあることを41徴とするものである0本発明の磁
器組成物は積層形コンデンサに利用する場合、鍋、ニッ
ケル等を主成分とする安価な内部電極が使用可能な、9
00℃〜1000℃の温度で焼結でき容量、抵抗積がs
OOμF−MΩ以上で しかも誘電損失が小さく・機械
的強度が高く、また誘電率も前記の範囲内で300〜6
00011度の値を持つ優れた材料である。
次に本発lPlを実施例によって詳細に説明する。
実施例
出発原料として純t 99.9−以上の酸化鉛(Pb6
1)。
1)。
酸化マグネシウム(MgO)、 戻酸マンガン(Mn
COx )酸化ニオブ(Nb20. ) 、酸化タング
ステンCWO5”)および酸化チタン(TiOz)を使
用し、所定の配合比に秤量した。次にボールミル中で湿
式混合した(& 750℃〜800℃で予焼した。その
後、ボールミルで粉砕し、日別、乾燥後、有機バインダ
ーを入れ整粒後プレスし、直径16箇、厚さ約2mの円
板t″4枚と直径1s■・厚さ約10簡の円柱を作製し
た。次に空気中において900 ℃〜1ooo℃で 1
時間焼結した。焼結した円板の上下面K 600 ℃で
銀電極を焼付け、デジタルLCRメーターで周波数、I
KHz、電圧I V r、m、s、 で容量と誘電損
失(tan/)を測定し、誘電率を算出した0次Kit
J8縁抵抗計でSOVの電圧を1分間印加して絶縁抵抗
を測定した。4個の試料の平均値をとり、そのgkを各
配分比の代表値とした。
COx )酸化ニオブ(Nb20. ) 、酸化タング
ステンCWO5”)および酸化チタン(TiOz)を使
用し、所定の配合比に秤量した。次にボールミル中で湿
式混合した(& 750℃〜800℃で予焼した。その
後、ボールミルで粉砕し、日別、乾燥後、有機バインダ
ーを入れ整粒後プレスし、直径16箇、厚さ約2mの円
板t″4枚と直径1s■・厚さ約10簡の円柱を作製し
た。次に空気中において900 ℃〜1ooo℃で 1
時間焼結した。焼結した円板の上下面K 600 ℃で
銀電極を焼付け、デジタルLCRメーターで周波数、I
KHz、電圧I V r、m、s、 で容量と誘電損
失(tan/)を測定し、誘電率を算出した0次Kit
J8縁抵抗計でSOVの電圧を1分間印加して絶縁抵抗
を測定した。4個の試料の平均値をとり、そのgkを各
配分比の代表値とした。
また機械的強度な抗折強度で好個するため円柱試料から
′厚さ05■、幅2mm、長さ約131の矩形板を切り
出した◇支点間の距離を9 wm Kとり、3点Pml 法で破壊荷重Pm[Kg〕を測定し、τ−2Wtl−し
+#/cII〕なる式により抗折側[r(1#/m)を
求めた。ただしlFi支点間距離、tFi試料の厚み
、w#i試料の巾である。値Fi試料10点の平均値よ
り求めた。
′厚さ05■、幅2mm、長さ約131の矩形板を切り
出した◇支点間の距離を9 wm Kとり、3点Pml 法で破壊荷重Pm[Kg〕を測定し、τ−2Wtl−し
+#/cII〕なる式により抗折側[r(1#/m)を
求めた。ただしlFi支点間距離、tFi試料の厚み
、w#i試料の巾である。値Fi試料10点の平均値よ
り求めた。
試作した磁器組成物の成分配合比を表に示す。また磁器
組成物配合比と容量・抵抗積、誘電損失、抗折強度との
関係を第1図から第3図に示す。
組成物配合比と容量・抵抗積、誘電損失、抗折強度との
関係を第1図から第3図に示す。
系組成物、あるいはPb(MgjAWイ)03に対して
Pb(Jn%NbN)O,會固溶させると、誘電損失は
Pb(MnにN bH) OJが3〜4モル−付近で極
小になり、その後増加する。また容量抵抗積はPb(M
uにNbX)oが1〜2モル−付近で極大になり、その
螢減少し、抵折強度FiPb(Mn%NbPS)Oa1
固溶せせると急激に増加し1モルチ付近で1200〜1
4001w/jの値Elkす、その後1000〜110
1+v/dのほぼ一定した値になる。
Pb(Jn%NbN)O,會固溶させると、誘電損失は
Pb(MnにN bH) OJが3〜4モル−付近で極
小になり、その後増加する。また容量抵抗積はPb(M
uにNbX)oが1〜2モル−付近で極大になり、その
螢減少し、抵折強度FiPb(Mn%NbPS)Oa1
固溶せせると急激に増加し1モルチ付近で1200〜1
4001w/jの値Elkす、その後1000〜110
1+v/dのほぼ一定した値になる。
庄)*印管付した番号の配合比は本発明の請求範囲に當
壕れない。
壕れない。
j[科配合比においてに(MllCOB )、に(Nl
+20s) tそれぞれ1モルと仮定した。
+20s) tそれぞれ1モルと仮定した。
また第38!2f、第1.2図と比べるとPbT孟03
のモル比が増加すると、誘電損失が大きくなり、容量抵
抗値社減少してゆくことが判かる〇 ここで本発明の組成物は(: Pb(Mn%NbX)O
s〕x ”(Pb(Mg%W%)03:IY ・(Pb
TiOi)zと表わしたときに、この3成分組成物にお
いてx1マ、2がそれぞれ X Y zo
、0 g 0.92 00.005
0.995 0 0.005 0.4975 0.49750.0
g 0.46 0.460.10
0.54 0.360.12 0.616
0.2640.12 0.792 0.
0118の各点を結ぶ線上並びにこの範囲内に限定され
る。
のモル比が増加すると、誘電損失が大きくなり、容量抵
抗値社減少してゆくことが判かる〇 ここで本発明の組成物は(: Pb(Mn%NbX)O
s〕x ”(Pb(Mg%W%)03:IY ・(Pb
TiOi)zと表わしたときに、この3成分組成物にお
いてx1マ、2がそれぞれ X Y zo
、0 g 0.92 00.005
0.995 0 0.005 0.4975 0.49750.0
g 0.46 0.460.10
0.54 0.360.12 0.616
0.2640.12 0.792 0.
0118の各点を結ぶ線上並びにこの範囲内に限定され
る。
その理由Fix>o、osで、しかも本発明の請求範囲
に含まれない範囲、及び! ) 0.46で、しかも本
発明の請求範囲に含まれない範囲では容量抵抗積が50
0μF−MΩより 小さくなり、実用上の規格値より劣
る。
に含まれない範囲、及び! ) 0.46で、しかも本
発明の請求範囲に含まれない範囲では容量抵抗積が50
0μF−MΩより 小さくなり、実用上の規格値より劣
る。
またz < o、oosの範囲では抵折強度が低くなっ
てしまう。
てしまう。
以上、本発明の磁器組成物は1000℃ 以下の低温で
焼成でき銀やニッケル等を主成分とする低価格金属を内
部電極として使用できると共に、省エネルギーや炉材の
節約という経済的な面で極めて有用な材料である0さら
に411性面においては容量抵抗積は十分に実用上の規
格値より大きく、ま九機械的強度が高いため高信麺性が
得られ、さらに誘電損失が/」・さく、非常に優れた材
料である。
焼成でき銀やニッケル等を主成分とする低価格金属を内
部電極として使用できると共に、省エネルギーや炉材の
節約という経済的な面で極めて有用な材料である0さら
に411性面においては容量抵抗積は十分に実用上の規
格値より大きく、ま九機械的強度が高いため高信麺性が
得られ、さらに誘電損失が/」・さく、非常に優れた材
料である。
菖1図から$13@lは磁器組成物の配合比と緒特性と
の関係を示した図である。第1図は表の随l〜13、第
2図ti表の朧14〜27、第3図は表の階28〜40
のそれぞれの特性値である。各図中の曲ml (a)は
抗折強直、伽)は容量抵抗値、(e)は誘電損失の特性
をそれぞれ示している〇 また図中の番号は表の各組成配合比の番号に対応してい
る。 第4図は本発明の請求の範囲と表に示した各配合比の組
成点を示した図である。 代叩人方9U :l内厚 晋 発 1 図 rb (Mn!y、 Nbl ) 03 ty+ 1ル
%発Z図 Fb (Mn肴Nb+)θ5.(7+ (lLy %卒
3図
の関係を示した図である。第1図は表の随l〜13、第
2図ti表の朧14〜27、第3図は表の階28〜40
のそれぞれの特性値である。各図中の曲ml (a)は
抗折強直、伽)は容量抵抗値、(e)は誘電損失の特性
をそれぞれ示している〇 また図中の番号は表の各組成配合比の番号に対応してい
る。 第4図は本発明の請求の範囲と表に示した各配合比の組
成点を示した図である。 代叩人方9U :l内厚 晋 発 1 図 rb (Mn!y、 Nbl ) 03 ty+ 1ル
%発Z図 Fb (Mn肴Nb+)θ5.(7+ (lLy %卒
3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 マンボン・ニオブ酸鉛(Pb(MnHNb% )0.
) 、 マグネシウム・タングステン酸鉛(Pb(M
gHW3()03)。 およびチタン酸鉛(pbTiox)からなる組成吻管(
Pb(Mn3(NbV3) O,〕、” (Pb(Mg
満) 03〕、 ’(PbTjOa〕zと表わしたと1
!(ただLX+Y+Z−100)、この3成分組成図に
おいてX 7 Z 0.08 0.92 0 0.005 0.995 0 8.005 0.4975 0.49750.0g
0.46 0.460.10 0,5
4 0.360.12 0.616 0.
2640.12 0.792 0.088の各
点を結ぶ線上およびこの範H内にあることを特徴とする
磁器組成物O
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56156685A JPS5860670A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56156685A JPS5860670A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 磁器組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5860670A true JPS5860670A (ja) | 1983-04-11 |
JPS6234708B2 JPS6234708B2 (ja) | 1987-07-28 |
Family
ID=15633082
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56156685A Granted JPS5860670A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 磁器組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5860670A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6033256A (ja) * | 1983-07-28 | 1985-02-20 | 日本電気株式会社 | 磁器組成物 |
EP0788123A2 (en) | 1996-01-26 | 1997-08-06 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition |
-
1981
- 1981-10-01 JP JP56156685A patent/JPS5860670A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6033256A (ja) * | 1983-07-28 | 1985-02-20 | 日本電気株式会社 | 磁器組成物 |
EP0788123A2 (en) | 1996-01-26 | 1997-08-06 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6234708B2 (ja) | 1987-07-28 |
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