JPS5858446A - 発光分光分折装置 - Google Patents

発光分光分折装置

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JPS5858446A
JPS5858446A JP15661181A JP15661181A JPS5858446A JP S5858446 A JPS5858446 A JP S5858446A JP 15661181 A JP15661181 A JP 15661181A JP 15661181 A JP15661181 A JP 15661181A JP S5858446 A JPS5858446 A JP S5858446A
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JP
Japan
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discharge
current
peak
circuit
output
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JP15661181A
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English (en)
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JPS642215B2 (ja
Inventor
Isao Fukui
福井　勲
Naoki Imamura
直樹 今村
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Publication date
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Publication of JPS5858446A publication Critical patent/JPS5858446A/ja
Publication of JPS642215B2 publication Critical patent/JPS642215B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
    • G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はスパーク放電を光源とする発光分光分析装置に
関する。
従来の発光外販分析装置は試料を励起発光させる電源と
分光測光を行う測光部とは動作上分離されていて、光源
の放電強度の変動に対して直接補正を行うような機能を
持っていない。
本発明は分析精度の向上を計る目的で、光源の放電の強
度（放電の電気量或は電流ピーク値等）を検出し、測光
出力を一定放電強度に対する測光値に補正するようにし
た発光分光分析装置を提供するものである。以下実施例
によって本発明を説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す。ｌは公知の発光用電
源回路で、直流によってコンデンサを充電し、発光用放
電ギャップ３にトリガパルスを印加してコンデンサの充
電電荷を放電させるものである。２は放電ギャップ３に
直列に接続された電流検出器で放電ギャップ３において
行われるスパーク放電の電流を測定する。４は電流検出
器２によって測定された電流のピークをホールドするホ
ールド回路である。或は４は２によって検出された電流
を積分して積分値としてホールドする積分回路でもよい
。このホールド回路或は積分回路は一回の発光用放電毎
に次の放電が行われる前にクリヤされる。５は分光器、
６は分光器５により形成されるスペクトル面に沿い検出
しようとする元素の輝線位置に配置された複数の光検出
器である。
光検出器６の出力は一放電毎に得られてパルス状を呈す
るが、７は積分回路で光検出器６の一パルス分の出力を
積分し積分値をホールドする。８はアナログマルチプレ
クサで中央制御装置１０によって制御され、一つの発光
放電と次の発光放電との間において、ホールド（或は積
分）回路４及び積分回路７の出力をＡ−Ｄ変換器９に取
込ませる。
中央制御装置１０は上述したＡ−Ｄ変換器９によって得
られる各元素毎の測光出力のディジタルデータと放電電
流のディジタルデータとによって補正演算を行う。補正
演算は補正前の測光出力を工１（積分回路）の出力）と
し、補正後の測光値を工とし、発光用放電における放電
電気量をＱ、放電電流を１とすると、 で与えられる。ｔは一回の放電時間である。
上の補正演算が一放電毎に繰返され、補正された測光値
が加算回路１１において一定放電回数分だけ加算積分さ
れる。従来は上述補正演算なしに測光値を一定放電回数
分だけ積分していた。上述した所によって一定回数積分
された測光値によって中央制御装置は各元素の含有チの
算出を行って表示装置１２により表示する。表示型式は
タイプ印字或はＣＲＴによる表示等任意である。
放電電流を直接検出する代りに放電電圧を検出してもよ
い。第２図はそのような実施例の要部を示し、鎖線で囲
んだ所が第１図の発光用電源回路の要部（トリガ回路を
省いて示した）で、コンデンサＣに放電エネルギーが充
電蓄積される。このコンデンサＣの両端電圧を電圧検出
器２°で測定し、第１図のピークホールド回路４に入力
させる。この場合、中央制御装置１０で行われる補正演
算は次のよう々形になる。補正された測光値下は補正前
の測光出力を工１、ホールド回路４の出力である電圧ピ
ークをＶｐとすると エーエ’／ｆ（Ｖｐ） であり、一般にｆ（Ｖｐ）＝Ｖｐ２である。
第３図においてａは光源の放電電流の波形、ｂは上記放
電電流の積分値′、Ｃは積分回路７の出力（各輝線スペ
クトルの強度の積分値）、ｄは上記Ｃのデータをｂのデ
ータで割算した前記（１）式の補正演算による補正され
た各輝線強度の積分値を示し、放電強度が毎回変化して
いても、補正された測光値は一定化していることが示さ
れている。
本発明発光分光分析装置は上述したような構成で、放電
毎に放電の強さによって検出しようとする元素のスペク
トル強度値を補正することによって分析精度の向上が得
られると共に、発光用電源のスタビライザが不要と々る
と云った副効果も得られる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は本発
明の他の実施例の要部を示す回路図、第３図は本発明の
詳細な説明するグラフである。 １・・・発光用電源回路、２・・・電流検出器、３・・
・光源用放電ギャップ、４・・・ピーク或は積分値ホー
ルド回路、５・・・分光器、６・・・光検出器、７・・
・積分回路、８・・・アナログマルチプレクサ、９・・
・Ａ−Ｄ変換器、１０・・・中央制御装置、１１・・・
加算回路、１２・・・表示装置。 代理人　弁理士　　縣　　　浩　　介

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光源の一放電毎の放電電流のピーク或は積分値を検出す
    る手段を備え、−放電毎の測光出力に上記−放電毎の放
    電電圧或は放電電流のピーク又は積分値によって補正演
    算を施すようにした発光分光分析装置。
JP15661181A 1981-09-30 1981-09-30 発光分光分折装置 Granted JPS5858446A (ja)

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JP15661181A JPS5858446A (ja) 1981-09-30 1981-09-30 発光分光分折装置

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JP15661181A JPS5858446A (ja) 1981-09-30 1981-09-30 発光分光分折装置

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JPS5858446A true JPS5858446A (ja) 1983-04-07
JPS642215B2 JPS642215B2 (ja) 1989-01-17

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ID=15631514

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011203101A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Shimadzu Corp 発光分光分析装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5056994A (ja) * 1973-09-14 1975-05-19
JPS5168886A (ja) * 1974-12-12 1976-06-14 Nippon Steel Corp Hatsukobunkobunsekiho
JPS5221390A (en) * 1975-08-06 1977-02-17 Agronomique Inst Nat Rech Enzymatic reacting method utilizing microorganzsm
JPS5519885U (ja) * 1978-07-26 1980-02-07

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JPS642215B2 (ja) 1989-01-17

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