JPH0429972B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0429972B2 JPH0429972B2 JP5472683A JP5472683A JPH0429972B2 JP H0429972 B2 JPH0429972 B2 JP H0429972B2 JP 5472683 A JP5472683 A JP 5472683A JP 5472683 A JP5472683 A JP 5472683A JP H0429972 B2 JPH0429972 B2 JP H0429972B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- discharge
- spark
- voltage
- time difference
- Prior art date
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- Expired
Links
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本発明は試料と火花放電電極との間で火花放電
を行い、試料を発光させて分光分析を行う発光分
光分析装置に関する。
を行い、試料を発光させて分光分析を行う発光分
光分析装置に関する。
ロ 従来技術
上述した発光分析装置において、昇圧トランス
の一次側のコンデンサの充電電荷を制御回路から
のゲートパルスによつて、昇圧トランスの一次側
を通して放電させることにより、同トランスの二
次側に高圧を発生させ、この二次側電圧が火花間
隙のブレークダウン電圧に達すると自然に火花放
電が起るようにした放電回路を用いたものがあ
る。この型の放電回路を用いた場合、火花間隙の
ブレークダウン電圧は、火花間隙の周囲の雰囲
気、間隙長の変化等によつて変動し安定性が欠け
ているため、発光エネルギーが変動し、定量分析
の誤差原因となる。しかし上述した型の放電回路
は簡易であることによつて採用されているもので
あり、火花放電を安定にするための方策を用いる
ことは簡易性を損うことになる。このため従来こ
の型の放電回路を用いた発光分析装置では火花放
電の不安定による誤差について格別な対策がなさ
れていなかつた。
の一次側のコンデンサの充電電荷を制御回路から
のゲートパルスによつて、昇圧トランスの一次側
を通して放電させることにより、同トランスの二
次側に高圧を発生させ、この二次側電圧が火花間
隙のブレークダウン電圧に達すると自然に火花放
電が起るようにした放電回路を用いたものがあ
る。この型の放電回路を用いた場合、火花間隙の
ブレークダウン電圧は、火花間隙の周囲の雰囲
気、間隙長の変化等によつて変動し安定性が欠け
ているため、発光エネルギーが変動し、定量分析
の誤差原因となる。しかし上述した型の放電回路
は簡易であることによつて採用されているもので
あり、火花放電を安定にするための方策を用いる
ことは簡易性を損うことになる。このため従来こ
の型の放電回路を用いた発光分析装置では火花放
電の不安定による誤差について格別な対策がなさ
れていなかつた。
ハ 目的
本発明は上述した放電回路を用いた発光分析装
置で、放電回路はそのまゝにしておき、火花間隙
のブレークダウン電圧を火花放電の度に検出し、
測光出力に補正を行うことによつて火花放電の不
安定性による誤差を除去しようとするものであ
る。
置で、放電回路はそのまゝにしておき、火花間隙
のブレークダウン電圧を火花放電の度に検出し、
測光出力に補正を行うことによつて火花放電の不
安定性による誤差を除去しようとするものであ
る。
ニ 構成
本発明は放電回路の一次側にゲートパルスが印
加されてから火花放電が開始されるまでの時間を
検出し、この時間の長短によつて測光値に補正を
施すものである。第１図は横軸にゲートパルス印
加からの時間Δtをとり、縦軸に火花間隙に印加
されている電圧をとつたグラフで、電圧は時間と
共に略直線的に上昇しやがて飽和傾向を示す。火
花間隙のブレークダウン電圧がViとするとΔtiの
時点で放電が開始され、電圧は急に降下する。ブ
レークダウン電圧がVi′に変化すると放電開始時
点もΔti′に変化する。従つてΔtを検出することに
よつてブレークダウン電圧を知ることができる。
加されてから火花放電が開始されるまでの時間を
検出し、この時間の長短によつて測光値に補正を
施すものである。第１図は横軸にゲートパルス印
加からの時間Δtをとり、縦軸に火花間隙に印加
されている電圧をとつたグラフで、電圧は時間と
共に略直線的に上昇しやがて飽和傾向を示す。火
花間隙のブレークダウン電圧がViとするとΔtiの
時点で放電が開始され、電圧は急に降下する。ブ
レークダウン電圧がVi′に変化すると放電開始時
点もΔti′に変化する。従つてΔtを検出することに
よつてブレークダウン電圧を知ることができる。
ホ 実施例
第２図は本発明の一実施例を示す。Ｔは昇圧ト
ランスで鎖線で囲んだ部分は放電回路の一次側回
路であり、直流定電圧発生回路DCの出力でコン
デンサC′を充電し、制御回路Ｋからのゲートパル
スでコンデンサC′の充電電荷をトランスＴの一次
側に放電する。トランスＴの二次側に発生した誘
導電圧によつてコンデンサＣが充電され、この充
電電圧が第１図のような時間関係で上昇して行
く。CGとAGは直列接続された火花間隙で、CG
は制御間隙、AGが主火花間隙である。コンデン
サＣの充電電圧はCGとAGとに夫々火花間隙に
応じた割合で分割印加されており、CG間が或る
一定電圧に達するとCG間に火花放電が起るよう
にCGの間隙が設定してある。ブレークダウン電
圧と云つているのはこのCG間のブレークダウン
電圧を指しており、第１図に示すものはこのCG
間の電圧である。CG間に火発放電が起るとコン
デンサＣの充電電圧は全部がAG間に作用し、
AG間に火発放電が起る。そこで制御間隙CG間
の火花放電の発生を光検出器Ｄで検出し、Ｄの出
力を光検出回路１で増幅波形整形してパルス信号
として時間差検出回路２に送る。時間差検出回路
２には制御回路Ｋからゲートパルスが送らて来て
おり、両者間の時間差を検出する。この時間差検
出回路２は制御回路Ｋからのゲートパルスの立上
りでカウントを開始し、光検出回路１からのパル
スでカウントを停止するカウンタでクロツクパル
スを計数する方式であるが、CR時定数回路を用
いたアナログ方式で時間差を電圧に変換するもの
であつてもよい。３は補正演算を行うデータ処理
回路で、分光光度計の測光回路４から送られて来
る測光出力に対し、上記時間差検出回路２から送
られて来た時間差のデータを用いて補正演算を行
う。
ランスで鎖線で囲んだ部分は放電回路の一次側回
路であり、直流定電圧発生回路DCの出力でコン
デンサC′を充電し、制御回路Ｋからのゲートパル
スでコンデンサC′の充電電荷をトランスＴの一次
側に放電する。トランスＴの二次側に発生した誘
導電圧によつてコンデンサＣが充電され、この充
電電圧が第１図のような時間関係で上昇して行
く。CGとAGは直列接続された火花間隙で、CG
は制御間隙、AGが主火花間隙である。コンデン
サＣの充電電圧はCGとAGとに夫々火花間隙に
応じた割合で分割印加されており、CG間が或る
一定電圧に達するとCG間に火花放電が起るよう
にCGの間隙が設定してある。ブレークダウン電
圧と云つているのはこのCG間のブレークダウン
電圧を指しており、第１図に示すものはこのCG
間の電圧である。CG間に火発放電が起るとコン
デンサＣの充電電圧は全部がAG間に作用し、
AG間に火発放電が起る。そこで制御間隙CG間
の火花放電の発生を光検出器Ｄで検出し、Ｄの出
力を光検出回路１で増幅波形整形してパルス信号
として時間差検出回路２に送る。時間差検出回路
２には制御回路Ｋからゲートパルスが送らて来て
おり、両者間の時間差を検出する。この時間差検
出回路２は制御回路Ｋからのゲートパルスの立上
りでカウントを開始し、光検出回路１からのパル
スでカウントを停止するカウンタでクロツクパル
スを計数する方式であるが、CR時定数回路を用
いたアナログ方式で時間差を電圧に変換するもの
であつてもよい。３は補正演算を行うデータ処理
回路で、分光光度計の測光回路４から送られて来
る測光出力に対し、上記時間差検出回路２から送
られて来た時間差のデータを用いて補正演算を行
う。
上述した補正動作は各火花放電毎に行われ、一
試料の一回の分析値は数百回の火花放電による測
光値を積算して得られるものであるが、補正演算
は次のように行われる。第１図を参照してブレー
クダウン電圧Viは時間の関数で Vi＝ｆ（Δt） 実際上ｆの形は直線とみて充分である。測定用の
主火花間隙AG間の発光強度ＩはコンデンサＣの
容量をＣとしてコンデンサＣの充電エネルギーに
比例するから Ｉ∝１／２CVi2 従つて発強度Ｉを規準のブレークダウン電圧時の
発光強度に換算するにはＩ／Vi2を求めればよ
い。そこでｎ回の放電による補正された測光値Ｙ
は Ｙ＝Ａo 〓i=1 Ii／Vi2 として得られる。
試料の一回の分析値は数百回の火花放電による測
光値を積算して得られるものであるが、補正演算
は次のように行われる。第１図を参照してブレー
クダウン電圧Viは時間の関数で Vi＝ｆ（Δt） 実際上ｆの形は直線とみて充分である。測定用の
主火花間隙AG間の発光強度ＩはコンデンサＣの
容量をＣとしてコンデンサＣの充電エネルギーに
比例するから Ｉ∝１／２CVi2 従つて発強度Ｉを規準のブレークダウン電圧時の
発光強度に換算するにはＩ／Vi2を求めればよ
い。そこでｎ回の放電による補正された測光値Ｙ
は Ｙ＝Ａo 〓i=1 Ii／Vi2 として得られる。
ヘ 効果
本発明によれば、火花間隙のブレークダウン電
圧のばらつきの影響がデータ処理の上で補正され
るので、放電回路において、火花開始電圧を一定
化すると云うような回路構成上の困難なしに簡易
な放電回路の簡易性を活かして、しかも精度の良
い発光分光分析が可能となる。
圧のばらつきの影響がデータ処理の上で補正され
るので、放電回路において、火花開始電圧を一定
化すると云うような回路構成上の困難なしに簡易
な放電回路の簡易性を活かして、しかも精度の良
い発光分光分析が可能となる。
第１図はゲートパルスと放電開始との時間差と
火花間隙のブレークダウン電圧との関係を示すグ
ラフ、第２図は本発明の一実施例の構成を示すブ
ロツク図である。 Ｔ……昇圧トランス、Ｋ……制御回路、CG…
…制御火花間隙、AG……主火花間隙、Ｄ……光
検出器、１……光検出回路、２……時間差検出回
路、３……データ処理回路、４……測光回路。
火花間隙のブレークダウン電圧との関係を示すグ
ラフ、第２図は本発明の一実施例の構成を示すブ
ロツク図である。 Ｔ……昇圧トランス、Ｋ……制御回路、CG…
…制御火花間隙、AG……主火花間隙、Ｄ……光
検出器、１……光検出回路、２……時間差検出回
路、３……データ処理回路、４……測光回路。
Claims (1)
- １ 火花間隙の発光の立上りを検出する手段と、
放電回路の一次側に印加されるゲートパルスと上
記立上りとの時間差を検出する手段と、この時間
差により測光出力に補正を行うデータ処理手段と
を備えた発光分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5472683A JPS59178342A (ja) | 1983-03-29 | 1983-03-29 | 発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5472683A JPS59178342A (ja) | 1983-03-29 | 1983-03-29 | 発光分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59178342A JPS59178342A (ja) | 1984-10-09 |
| JPH0429972B2 true JPH0429972B2 (ja) | 1992-05-20 |
Family
ID=12978802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5472683A Granted JPS59178342A (ja) | 1983-03-29 | 1983-03-29 | 発光分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59178342A (ja) |
-
1983
- 1983-03-29 JP JP5472683A patent/JPS59178342A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59178342A (ja) | 1984-10-09 |
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