JPS5857911U - 赤外線膜厚計 - Google Patents
赤外線膜厚計Info
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- JPS5857911U JPS5857911U JP1981153463U JP15346381U JPS5857911U JP S5857911 U JPS5857911 U JP S5857911U JP 1981153463 U JP1981153463 U JP 1981153463U JP 15346381 U JP15346381 U JP 15346381U JP S5857911 U JPS5857911 U JP S5857911U
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0691—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
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-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3563—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図はインフレーション法によりチューブ状フィルム
の成形工程を示す原理説明図、第2図は従来の赤外線膜
厚計の構成配置図、第3図は第2図に示す受光器の測定
対称物に対する構成配置図、第4図は本考案に使用する
赤外光源の一実施例を示す斜視図、第5図は第4図に示
す赤外光源を使用した赤外線膜厚計の構成配置図、第6
図は本考案に使用する赤外光源の別の実施例を示す斜視
図、第7図は第6図に示す赤外光源を使用した赤外線膜
厚計の構成配置図、第8図a ”’−cは本考案に使用
する赤外光源と従来の赤外光源との放射強度の方向分布
特性をそれぞれ示す曲線図、第9図は第4図に示す赤外
光源の変形例を示す一部断面図、第10図は第6図に示
す赤外光源の変形例を示す一部断面図、第11図は本考
案に使用する赤外光源と従来の赤外光源とのスキャニン
グ時の0点ずれを比較して示した測定曲線図、第12図
乃至第14図は本考案に使用する赤外光源と比較jる赤
外光源のそれぞれ斜視図、第15図a−dは本考案に使
用する赤外光源と第12図乃至第14図に示す赤外光源
とのスキャニング時の0点ずれをそれぞれ示した測定曲
線図である。 14・・・リンフタイス、16・・・インフレーション
フィルム、32・・・受光器′、34・・・赤外透過窓
、36・・・レンズ、38・・・赤外検出器、40・・
・回転円板、42・・・同期モータ、44・・・透孔、
46・・・バンドパスフィルタ、48・・・バンドパス
フィルタ、50・・・演算部、52・・・表示部、54
・・・レール、65・・・セラミックパイプ、62・・
・シート状ヒータ、64・・・リード線、66・・・赤
外光源、68・・・螺旋状5iC170・・・円錐形集
光ガイド、72・・・石英管、74・・・固定具。
の成形工程を示す原理説明図、第2図は従来の赤外線膜
厚計の構成配置図、第3図は第2図に示す受光器の測定
対称物に対する構成配置図、第4図は本考案に使用する
赤外光源の一実施例を示す斜視図、第5図は第4図に示
す赤外光源を使用した赤外線膜厚計の構成配置図、第6
図は本考案に使用する赤外光源の別の実施例を示す斜視
図、第7図は第6図に示す赤外光源を使用した赤外線膜
厚計の構成配置図、第8図a ”’−cは本考案に使用
する赤外光源と従来の赤外光源との放射強度の方向分布
特性をそれぞれ示す曲線図、第9図は第4図に示す赤外
光源の変形例を示す一部断面図、第10図は第6図に示
す赤外光源の変形例を示す一部断面図、第11図は本考
案に使用する赤外光源と従来の赤外光源とのスキャニン
グ時の0点ずれを比較して示した測定曲線図、第12図
乃至第14図は本考案に使用する赤外光源と比較jる赤
外光源のそれぞれ斜視図、第15図a−dは本考案に使
用する赤外光源と第12図乃至第14図に示す赤外光源
とのスキャニング時の0点ずれをそれぞれ示した測定曲
線図である。 14・・・リンフタイス、16・・・インフレーション
フィルム、32・・・受光器′、34・・・赤外透過窓
、36・・・レンズ、38・・・赤外検出器、40・・
・回転円板、42・・・同期モータ、44・・・透孔、
46・・・バンドパスフィルタ、48・・・バンドパス
フィルタ、50・・・演算部、52・・・表示部、54
・・・レール、65・・・セラミックパイプ、62・・
・シート状ヒータ、64・・・リード線、66・・・赤
外光源、68・・・螺旋状5iC170・・・円錐形集
光ガイド、72・・・石英管、74・・・固定具。
Claims (3)
- (1)被測定フィルムに赤外光を投射する赤外光源と、
前記フィルムを透過した赤外光の参照波長と測定波長と
を交互に検出部で受けてその光強度を電気信号に変換す
る受光器とを備えた赤外線膜厚計において、前記赤外光
源として、放射強度の方向分布特性が一様な赤外光源を
フィルムチューブ内に同心的に配置し、この赤外光源と
対向してフィルムチューブの外側に受光器を配置してな
る赤外線膜厚計。 - (2)実用新案登録請求の範囲第1項記載の赤外線膜厚
計において、赤外光源はセラミックパイプの外周にシー
ト状ヒータを巻着した棒状ヒータからなる赤外線膜厚計
。 - (3)実用新案登録請求の範囲第1項記載の赤外線膜厚
計において、赤外光源は螺旋状SiCヒータからなる赤
外線膜厚計。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981153463U JPS5857911U (ja) | 1981-10-17 | 1981-10-17 | 赤外線膜厚計 |
DE19823233507 DE3233507A1 (de) | 1981-10-17 | 1982-09-09 | Infrarot-filmdickenmessanordnung |
KR2019820007186U KR860001691Y1 (ko) | 1981-10-17 | 1982-09-11 | 적외선 막두께 측정기 |
US06/421,323 US4510389A (en) | 1981-10-17 | 1982-09-22 | Infrared film thickness gage |
GB8227108A GB2111672B (en) | 1981-10-17 | 1982-09-23 | Infrared film thickness gauge |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981153463U JPS5857911U (ja) | 1981-10-17 | 1981-10-17 | 赤外線膜厚計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5857911U true JPS5857911U (ja) | 1983-04-19 |
Family
ID=15563107
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1981153463U Pending JPS5857911U (ja) | 1981-10-17 | 1981-10-17 | 赤外線膜厚計 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
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JP (1) | JPS5857911U (ja) |
KR (1) | KR860001691Y1 (ja) |
DE (1) | DE3233507A1 (ja) |
GB (1) | GB2111672B (ja) |
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GB8506149D0 (en) * | 1985-03-09 | 1985-04-11 | Haigh Chadwick Ltd | Textile structure measurement |
EP0348524B1 (en) * | 1987-12-16 | 1995-06-21 | Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha | Device for inspecting thickness of synthetic resin container and inspection system therefor |
US5259716A (en) * | 1987-12-16 | 1993-11-09 | Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha | Container conveyor for conveying a container to an inspecting station |
US5139406A (en) * | 1987-12-16 | 1992-08-18 | Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha | Apparatus and system for inspecting wall thickness of synthetic resin containers |
WO1990004164A1 (en) * | 1988-10-07 | 1990-04-19 | Andros Analyzers Incorporated | Anesthetic agent identification analyzer and contamination detector |
US5091647A (en) * | 1990-12-24 | 1992-02-25 | Ford Motor Company | Method and apparatus for measuring the thickness of a layer on a substrate |
US5250811A (en) * | 1991-12-20 | 1993-10-05 | Eastman Kodak Company | Method for determining compositional information of a multilayer web |
JPH08178627A (ja) * | 1994-12-26 | 1996-07-12 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 管厚検査方法 |
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EP1719970A3 (en) * | 2000-03-01 | 2009-11-18 | Plastic Technologies, Inc. | Method and apparatus for measuring wall thickness of a plastic container |
TW591202B (en) * | 2001-10-26 | 2004-06-11 | Hermosa Thin Film Co Ltd | Dynamic film thickness control device/method and ITS coating method |
US6872895B2 (en) * | 2002-02-12 | 2005-03-29 | Pressco Technology Inc. | Apparatus and method for providing spatially-selective on-line mass or volume measurements of manufactured articles |
CN1877304B (zh) * | 2005-06-10 | 2010-04-28 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 单种麻醉气体类型编码识别的方法和装置 |
CN112716484A (zh) * | 2020-12-28 | 2021-04-30 | 常州福普生电子科技有限公司 | 一种足底压力分布扫描装置及其使用方法 |
CN116811085B (zh) * | 2023-06-06 | 2024-02-20 | 广东汇发塑业科技有限公司 | 一种多层共挤吹膜机的运行状态实时评估方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5757206A (en) * | 1980-09-24 | 1982-04-06 | Japan Sensaa Corp:Kk | Method of measuring thickness of hollow film such as inflation film and black body furnace for measurement |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3372305A (en) * | 1966-04-15 | 1968-03-05 | Carborundum Co | Silicon carbide igniter |
US3536919A (en) * | 1968-01-22 | 1970-10-27 | Gen Electric | Infrared radiation source with improved ceramic glower rod mounts |
JPS589362B2 (ja) * | 1978-03-10 | 1983-02-21 | 旭化成株式会社 | 赤外線多層フイルム膜厚測定方法及びその測定装置 |
GB2077426B (en) * | 1980-05-30 | 1983-12-14 | Fuji Electric Co Ltd | Apparatus for measuring film thickness |
-
1981
- 1981-10-17 JP JP1981153463U patent/JPS5857911U/ja active Pending
-
1982
- 1982-09-09 DE DE19823233507 patent/DE3233507A1/de not_active Withdrawn
- 1982-09-11 KR KR2019820007186U patent/KR860001691Y1/ko active
- 1982-09-22 US US06/421,323 patent/US4510389A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-09-23 GB GB8227108A patent/GB2111672B/en not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5757206A (en) * | 1980-09-24 | 1982-04-06 | Japan Sensaa Corp:Kk | Method of measuring thickness of hollow film such as inflation film and black body furnace for measurement |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR840001710U (ko) | 1984-05-17 |
GB2111672B (en) | 1986-05-29 |
GB2111672A (en) | 1983-07-06 |
US4510389A (en) | 1985-04-09 |
KR860001691Y1 (ko) | 1986-07-25 |
DE3233507A1 (de) | 1983-04-28 |
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