FI73319C - Foerfarande foer maetning av egenskaperna i en tvaerprofil hos en kontinuerlig materialbana. - Google Patents

Description

7331 9

MENETELMÄ JATKUVAN AINERAINAN OMINAISUUKSIEN POIKKIPRO-FIILIN MITTAAMISEKSI

Keksinnön kohteena on menetelmä jatkuvan ainerainan ominaisuuksien poikkiprofiilin mittaamiseksi.

Useissa teollisuusprosesseissa tuotetaan materiaaleja jat-5 kuvana rainana. Tällaisia ainerainoja mitataan prosessin aikana joko pistemäisestä, jolloin saadaan yksi pitkittäis-profiili tietystä ainerainan poikittaiskohdasta tai useasta kohdin mittauspäiden avulla, joita liikutetaan mekaanisesti ainerainan poikittaissuunnassa edestakaisin, jolloin saa-10 daan mittaustietoa sekä poikittaisprofiilista että pitkit-täisprofiilista. Nykyisin yhä enemmän esimerkiksi paperi-ja muoviteollisuudessa pyritään mittaamaan poikittaispro-fiilit ja säätämään laitteistoja mittaustulosten avulla heti mittausten jälkeen. Mitattavia omainaisuuksia ovat 15 esim. kosteus, neliöpaino, pinnoitteiden määrä tai laatu.

Tunnettuja menetelmiä käytettäessä ongelmana on mekaanisesti siirrettävien mittauspäiden monimutkaisuus, niiden sijoittaminen ainerainan läheisyyteen sekä ympäristön olo-20 suhteista, kuten kosteudesta tai lämpötilasta, aiheutuvat mittauspäiden luotettavaa toimintaa vaikeuttavat tekijät. Nykyisillä menetelmillä ei mittauksia voida luotettavasti suorittaa samanaikasesti useasta eri kohdasta ainerainan poikittaissuunnassa. Lisäksi ongelmana on mittaustulosten 25 saannin viivästyminen ja tästä aiheutuvat kustannukset, sillä tulokset tulisi saada välittömästi käyttöön ainerainan ominaisuuksien mahdollista säätöä varten..

Keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä jatkuvan 30 ainerainan ominaisuuksien poikkiprofiilin mittaamiseksi, jonka avulla poistetaan nykyisiin menetelmiin liittyviä epäkohtia. Edelleen keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä, jonka avulla mitattavan suureen poikkiprofiili saadaan reaaliajassa sekä tulostusta että säätöä varten.

. · ; 35 Lisäksi keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä, 2 7331 9 jossa mittaukset suoritetaan ilman mekaanisia liikkuvia mittauspäitä ja joka on luotettava, varmatoiminen ja johon ympäristön muutokset eivät vaikuta.

5 Keksinnön tarkoitus saavutetaan menetelmällä, jolle on pääasiassa tunnusomaista se, mitä on esitetty vaatimusosassa.

Keksinnön mukaisessa optisessa (ultravioletti- , näkyvä-tai infrapunavalo) mittausmenetelmässä ei tarvita mekaani-10 sesti traversoivia mittapäitä ja mitattavan suureen poikki-profiili saadaan välittömästi.

Seuraavaksi keksinnön mukaista menetelmää selvitetään tarkemmin viittaamalla oheiseen piirustukseen, jossa 15 kuva 1 esittää erästä sovellutusta laitteistosta keksinnön mukaisen menetelmän toteuttamiseksi osittain poikkileikat-tuna sivusta katsottuna, ja kuva 2 esittää kuvan 1 mukaisen laitteiston analyysi- 1 osan lohkokaaviota.

20

Kuvassa 1 esitettyyn laitteistoon kuuluu lähdekoteloon 2 sijoitetut pulssilaserit, mittauspalkki 7, joka on sijoitettu pääasiassa poikittain ainerainaan 1 nähden, yhdensuuntaisesti mittauspalkin kanssa järjestetty analyysipalkki 8 25 sekä analyysiosa 6. Optisesti johtavasta materiaalista, esim. valokuidusta, valmistetut johtimet 3,5 on sijoitettu palkkien sisään. Välolähdekuitunippu 3 on järjestetty kuljettamaan pulssilasereiden syöttämiä pulsseja mittaus-palkin sisällä. Kuitunippuun ja mittauspalkkiin on järjestö tetty välimatkan päähän toisistaan väliulosottoja 4 ja ana-lyysipalkkiin on järjestetty vastaaville kohdille aukot 9, joihin on sijoitettu keräyskuitunipun 5 kuituja. Väliulosotto jen välinen etäisyys on valittu suuremmaksi kuin valon kulkema matka kuidussa pulssin kestoaikana. Mittauspalkin 35 ulostulot ja analyysipalkin aukot on suojattu tässä sovellutuksessa valoaläpäisevillä suojilla 14.

11 3 73319

MittauspalRin lähetyskuitunippu voi olla hyvin ohut, jopa yksi kuitu mittauspistettä kohti, koska lasereilla voidaan ampua teho pienen kuitunipun päähän, kun taas analyysipal-kin keräyskuidut joudutaan tekemään paksuimmiksi tarvitta-5 van intensiteetin keräämistehokkuuden takia. Tämä paksuus-vaatimus voi vaihdella ja riippuu lasereiden tehosta ja analysoitavan aineradan absorptiosta tai transmissiosta.

Pulssilaserilla tai -lasereilla syötetään lähetyskuitunip-1G puun pulsseja , jotka ovat kestoltaan alle mikrosekunnin, käytännössä elektroniikan kannalta noin 10-100 nanosekuntia.

Keksinnön mukaista menetelmää ja laitteiston toimintaa selvitetään käyttäen esimerkkinä paperirainan kosteusprofiilin 15 mittaamista.

Paperiradan kosteus mitataan usein veden absorptiopi ikeistä , jotka ovat 1 ä h i - i n f r a p una-a 1 uee 1 1 a 1-2 yum. Mittaukseen on valittu 1 , AO |U m : n veden absorptiopiikki ja referenssi a a 1 -20 lonpituudeksi on valittu 1,30 m. Valinnat johtuvat siitä, että näille aallonpituuksille on saatavissa puolijohdepuls-si laserit sekä alueelle nopea (nousuaika^l ns)(indium-gal-liumarseeni) diodi ilmaisimeksi, mutta myös muita soveltuvia aallonpituuksia voidaan käyttää. Esitetyssä sovellutuk-25 sessa laitteiston lähdekotelossa 2 ovat sekä mi ttauslaseri (1 , 0 ^im) että r e f e re n s s i 1 a s e r i (1,30 ^im) . Ammutaan ensin noin 30 ns pitkä laserpulssi mittaus 1 a s eri 11 a, jossa pulssissa on tasaista aluetta vähintään 10 ns nousun ja laskun välissä, kuitunippuun 3, josta tietty osa otetaan ensimmäi-30 seen ana 1 yysipisteeseen 15· Näin saadaan osa valosta mit-tauspalkin ja analyysipalkin valoaläpäisevien suojien 1 väliseen tilaan. Palkkien välissä ensimmäisellä analyysi-kohdalla 15 el ole paperia ja tätä kohtaa käytetään laserien valon normitusinten siteetin eli nolla-arvon I määrit- o 35 tämiseen. Seuraavaan eli varsinaiseen ana1yysipaikkaan mennään esim. johtamalla pulssi mi11aus pa 1 kin ympäri päiden kautta/ Jos palkin pituus on esim n. 5 m, valo tulee 24 7331 9 noin 2 x 5 x ^ ajan kuluttua tähän analyysipisteeseen, ja jos optisen kuidun (lasin) taitekerroin n on 1,55 ja kaavassa c on valonnopeus tyhjössä, v.oidaan täksi viiväs-tymisajaksi laskea ede11isen kaavan perusteella 50 ns. Lä-5 hetysnippu on johdettu kulkemaan mittaus pa 1 kin päiden kautta pulssien välisen viiveen muodostamiseksi, jolloin pulssit siirtyvät 1ähetinpuole 11 a tällä tavoin kiertämällä aina ylimääräisen lenkin ympäri palkin päiden kautta, ja valo ähdepiste tulee jokaisen väliulostulon 4 kohdalle. N ä i -10 den pisteiden lukumäärä voi vaihdella ja on esim. 50 kpl, jolloin saadaan paperiradan 1 poikkiprofi i 1 i in ^9 analyy-sipaikkaa eli 5 m:n radan profiiliesitys saadaan mitatuksi 10 cm:n resoluutiolla.

15 Paperin kosteusprofiilia mitattaessa palkki on sijoitettava kuvan 1 mukaisesti ainerainan vastakkaisille puolille. Kun valo on kulkenut lähetyspisteistä ^ suojien 11* välissä olevan paperiradan 1 läpi, se osuu ana 1yysipa 1 kin keräyskuitui-hin ja keräyskuitunipussa 5 havaitaan peräkkäinen pulssijo-20 no, jossa on 50 kpl pulsseja 50 ns:n välein. Keräysnipus-sa pulssit ohjataan analyysiosaan 13 seuraavasti: Saatuaan analysointikäskyn vahvistimen vahvistus alkaa nousta siten, että se vastaa optisissa kuiduissa 3 tapahtuvaa vaimenemista eli, jos kuitunippu 3 on jaettu tasaisesti eri analysoin-25 tipisteisiin ja kuidun maksimipituuden 500 m vaimeneminen on 90 % käytetyillä aallonpituuksilla, tällöin vahvistimen vahvistus nousee 50 x 50 ns:n eli 2,5 jus : n aikana eksponen-tialisesti 10- kertaiseksi.

30 Lisäksi vahvistin biasoidaan siten, että 8-bitin muuntimia varten levitetään jännitetaso siten, että ylin arvo ja alin arvo asetetaan analyysialueen ylä- ja alarajaksi. Seuraa-vaksi menee analysoitava pulssijono noin 10 ns:n asettumis-ajan omaaville pitopiirei11 e 17, jotka luetaan ja kanavoi-35 daan mu 11ip1ekserei11ä 18 signaaliprosessorille 19· Mikroprosessori ohjausosa 13 huolehtii näiden neljän signaaliprosessorin multipleksauksesta ja analyysistä niin, että ne 5 7331 9 lukevat mittaustulokset 50 ns:n välein ns. FIFO- muisteihin 11 järjestyksessä. Kahdeksan bitin A/D- muunnokseen ja muistiintalletukseen kuluva aika yhdellä signaaliprosessorilla on 200 ns, josta johtuu neljän prosessorin rin-5 nakkaiskäyttö tässä esimerkissä. Tämän jälkeen välittömästi eli n. 3 yUs:n kuluttua edellisen laserpulssin laukaisusta ammutaan re ferenssi1 aseri11 a pulssi optiseen kuituun 3» jolloin prosessin kulku on sama kuten mittaus 1 aseri1 1akin ja tulokset tallennetaan taas FIFO- muistiin edellisen ana-10 lyysin jatkoksi. Seuraavaksi pääprosessori kortti 13 kerää ensin mittaus 1 a serin tulokset ja normittaa ne 1. kanavan i^rn mukaan ja referenssi laserin tulokset taas vastaavasti oman l^rnsa mukaan. Kosteuden arvot ratkaistaan 13 kuten normaalisti referenssi- ja mittauskanavan suhteesta kalib-15 ro i n t i nä y t te i de n avulla. Yhdessä mittauksessa ei 3 |us:n aikana ehdi paperirata käytännössä heilahtaa, joten referenssi- ja mittausarvot saadaan samasta paikasta rataa, koska analyysialue on 5 “ 8 cm halkaisijaltaan ja paperikoneen rata liikkuu .3 |Js:n aikana maksimissaan 0,1 mm.

20 Käytännössä mittauslaitteisto saatetaan toimintakuntoon seuraavasti: Mittaus- ja ana 1yysipa 1 kki siirretään radan läpiviennin ajaksi tunnetulla tavalla, esimerkiksi paineli masy 1 i nte r ί 1 1 ä 21, reilusti irti radasta ja mitattaessa 25 asetetaan lähelle rataa, raon jäädessä 1-2 cm:iin. Prosessori korti n ohjaamana mittaus alkaa millisekunnin välein ja aluksi lasketaan biasvahvistimen alaraja lähelle nollaa ja vahvistus minimiin, jolloin saadaan kaikkien pulssien korkeudet varmasti 8-bitin muuntimen lukuikkunaan. Tämän 30 jälkeen seurataan vain veden absorptiopiikin kohdalla olevaa varsinaista mίttausaa11onpituutta ja otetaan pois laskuista ensimmäinen I -kanava. Biasvahvistimen biasrajaa aletaan nostaa, kunnes lähestytään alinta mahdollista arvoa ja jätetään alaraja tähän. Seuraavaksi nostetaan vah-35 vistusta siten, että ylin mahdollinen mittausarvo on lähellä analogia/digitaali- muuntimen ylärajaa. Näin on saatu analog i a /d i g i taa 1 i - muuntimen erottelukyky maksimoitua. Tämän 6 73319 jälkeen ajetaan I - kanavan intensiteetti ns. harmaakilialla automaattisesti edellä asetetun ana 1ysointi-ikkunan puoliväliin. Harmaakiila on asetettu välittömästi I -kanavan o tulokuidun eteen. Lopuksi mittausprosessori11 a säädetään 5 referenssίaa 11onpituus1aserin I 1 - kanavan avulla analysointi-ikkunan puoliväliin ja tarkastetaan, että mittaus-arvot osuvat myös ana 1ogia/digitaa 1i- muuntimen ikkunaan.

Näin on suoritettu mittauslaitteiston kalibrointi ja jat-10 kuva mittaus voi alkaa. Tällaiseen kalibrointiin ei mene aikaa kuin muutama sekunti. Mittausjärjestelmä kalibroidaan tämän jälkeen aina., jos jokin m i 11 au sa r vor.menee yli tai ali ana 1ogia/digitaa 1 i- mittausikkunan sekä aina säädettävissä olevin välein. Vesimäärä kustakin analysointi-15 pisteestä (L9 kpl) lasketaan suoritettujen mittaus 1 a serin (1,L0 yum) intensiteettien ja ref erens s i 1 aser i n (1,30 ^im) intensiteettien suhteesta.

Kuvassa 2 näkyvät lisäksi harmaakiilan säätö 22 ja toisen 20 pulssilaserin tehosäätö 23 sekä valmiin profiilin ulostulo 2k näyttöä, raportointia ja säätöä varten.

Kosteusprosentin laskeminen mittaustuloksista suoritetaan joko annetun keskimääräisen kuivane 1 iöpainon avulla, joka 25 mitataan muualla koneessa olevalla tarkalla ne 1iöpainomit-tarilla tai järjestelmään asetetaan yksi beettane1iöpainomi ttari , jolla mitataan yhden ana 1ysointipaikan kohdalta neliöpaino ja muiden analysointipisteiden kohdalta saadaan neliöpaino referenssisäteen vaimenemisesta kalibroinnin 30 avulla. Tällöin on mitattava muistiin ilman paperirataa kaikkien pisteiden nolla-arvot, joihin vertaamalla saadaan lasketuksi jokaisen mittauspisteen vaimeneminen eli ns. geometrinen tekijä. Tällaisella järjestelyllä päästään, kun lasketaan vielä useamman mittauksen keskiarvoja, reaali -35 aikaiseen tarkkaan kosteusmitta ukseen, jossa ana 1ogiasignaa-lit mitataan yli promillen tarkkuudella ja lopullinen kosteuden määrittely alle 0,1 %- yksikön tarkkuudella.

li 7 73319

Keksinnön mukaisella menetelmällä' mitataan myös orgaanisia ja epäorgaanisia pinnoitteita tai esim. fluoresoivia aineita. Palkit asetetaan tällöin samalle puolelle ainerainaa toistensa suhteen kallistettuina sellaiseen kulmaan, että 5 analysoitavasta pinnasta sironnut valo osuu ana 1yysipa 1 kin pinnalle palkin aukkojen kohdille. Pinnoitteen määrää mi-tattessa valon heijastus tapahtuu pinnoitteen ja ainerainan rajapinnasta. Pinnoitteen absorpoidessa toista aallonpituutta paremmin kuin toista asennetaan pu1 s si1 aserit näihin 10 aallonpituuksiin ja jokaisesta mittauspisteestä mitataan heijastusten suhde, jolloin pinnoitteen poikkiprofiili saadaan laskettua tunnettujen näytteiden perusteella tehdyn kalibroinnin avulla.

15 Fluoresoivia aineita mitataan yhden pu1ssi1aserin avulla ja asettamalla keräyskuitunipun 5 ja ilmaisimen 10 väliin filtteri, jolloin analysoidaan mitattavaksi vain fluoresenssi aa 1 1 onp i tuus . Näin saadun f 1uore sens siva1 on määrästä eri mittauspisteissä lasketaan tunnettujen näytteiden 20 perusteella tehdyn kalibroinnin avulla fluoresoivan aineen määrä tai pitoisuus aine rainassa.

Mitattaessa UV-alueella joudutaan käyttämään esim. kahta typpilaseria, joista otetaan.eri filttereillä sopivat a a 1 -25 lonpituudet kuituun 7. U I travio 1 e11i-, näkyvällä- ja infrapunavalolla 1 p: n asti voidaan käyttää normaaleja p i i-pohjaisia diodeja ilmaisimina. Yleensä kuitumenetelmä sopii nykyisillä saatavissa olevilla materiaaleilla alueelle, jossa käsitellään valon aallonpituuksia 200 nm- 1* jjm, kui-30 tenkin kummankin rajan läheisyydessä pitkillä kuiduilla on jo intensiteetissä huomattava absorptio.

Menetelmään tulee myös viivettä ana1yysipa 1 kin analyysipis-teiden välisestä matkaerosta, joka voidaan laskea analysoi-35 tavan pulssijonon pulssienvaliseksi lisäviiveeksi. Luonnollisesti myös ana 1 yysipuo1 e 1 1 e voidaan järjestää kuidun pituuteen 1isävi ivettä jopa niin, että lähtöpuolen viivelinjaa 8 73319 voidaan lyhentää minimiin. Tämä ei kuitenkaan ole mielekästä, koska ana 1yysipuo1 e 1 1 a voidaan kuitunipun paksuudella nostaa analysoitavaa intensiteettiä.

5 Keksintöä ei rajata esitettyihin sovellutuksiin, vaan se voi vaihdella patenttivaatimusten puitteissa.

Claims (7)

9 7 3 31 9 PATENTTIVAATIMUKSET ^

1. Menetelmä jatkuvan ainerainan (1) ominaisuuksien poik- kiprofiilin mittaamiseksi, jossa menetelmässä määrättyjä aallonpituuksia omaavia valopulsseja syötetään optisesti johtavasta materiaalista valmistettuun, pääasiassa poikit- 5 tain ainerainan suhteen järjestettyyn johtimeen (3), pulssit ohjataan ulos johtimesta ainerainaa kohti avautuvien väliulosottojen (A) kautta, ainerainan läpi menneet ja/tai ainerainasta sironneet pulssit kerätään johtimen (3) kanssa pääasiassa yhdensuuntaiseksi järjestetyn 10 toisen johtimen avulla (5) ja johdetaan analyysiosaan (6) t u n n e t t u siitä, että ainakin yhdellä puissilase-rilla syötetään pulssit peräkkäin mittauspalkkiin (7) sijoitettuun optiseen kuituun/kuitunippuun (3), valoa ohjataan ulos ainerainaa kohti välimatkan, joka on suurempi 15 kuin valon kulkema matka kuidussa pulssin kestoaikana, päähän toisistaan järjestettyjen väliulosottojen (4) kautta, pulssit kerätään analyysipalkin (8) aukkoihin (9) sijoitettujen optisten kuitujen muodostaman johtimen (5) avulla ja johdetaan analyysiosaan, jolloin väliulosottojen 20 kautta ohjatut pulssit tulevat peräkkäisinä pulsseina analyysiosaan, jossa niitä vahvistetaan normitusintensi-teetin mukaan ja vertaamalla pulssien intensiteettejä kalibroinnin avulla saatuihin tuloksiin lasketaan mitattavan ominaisuuden poikki pr ofii1i. 25

2. Förfarande enligt patentkravet 1, känneteck-nat av, att pulserna leds tili en detektor (10) belägen i analyserinsdelen (6), varefter beroende pä de 15 olika passerade sträckorna i ledarelementen (3, 5) signaler i form av en följd av kommande pulser förstärks och analyseras, varpä frän varje efter varandra kommande mät-punkt en egen pulshöjd erhälls i ett minne (11) hos mät-anordningen, varifrän resultaten utmatas och beräknas. 20

2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, t u n n e t-t u siitä, että pulssit johdetaan analyysiosassa (6) olevaan ilmaisimeen (10), minkä jälkeen johtimissa (3, 5) eri pituisen kulkumatkan takia pulssijonossa tulevat 30 signaalit vahvistetaan ja analysoidaan, jolloin jokaisesta peräkkäisestä analysipisteestä saadaan oma pulssikor-keus mittauslaitteen muistiin (11), josta tulokset luetaan ja lasketaan. ίο 7 3 31 9

3. Förfarande enligt patentkravet 1 eller 2, kanne-tecknat av, att absorptionen av ljus frän puls-lasrarna bade i den 1jusavgivande fibern (3) och den ljus-samlande fibern (5) riktas med en förstärkare inbyggd 25. en förstärkningsenhet (12), varvid förstärkarens för-stärkning ökar exponentiellt med samma tidskonstant som väglängderna dämpas, vid passage genom fibrerna före ana-lysen, och ökningen i förstärkning är ästadkommen med hjälp av en mikroprocessor-innehailande kontrollenhet 30 (13), när den första laserijuspulsen leds frän den närmas- te mätpunkten.

3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pulssilasereiden valon absorptio sekä valolähdekuidussa (3) että keräyskuidussa (5) korjataan vahvistinyksikköön (12) rakennetulla vahvistimella, 5 jonka vahvistus kasvaa eksponentiaalisesti samalla aikavakiolla· kuin aallonpituudet vaimenevat kulkiessaan kuiduissa ennen analyysiä, ja jonka vahvistuksen kasvu laukaistaan mikroprosessoripitoisen ohjausyksikön (13) avulla, kun ensimmäinen laserpulssin valo johdetaan lähimmästä analyysi- 10 pisteestä.

4. Förfarande enligt nägot av patentkraven 1-3, k ä n -netecknat av, att som förstärkare (12) i 35 analyseringsdelen används en förspänd förstärkare, varvid frän början kalibrering av omrädet för ett analog-digitalt modem begränsas automatiskt tili variationsomrädet för mätsignalerna, och det frän fibern tili normeringsmätpunk- 13 7 3 31 9 ten inkommande ljuset justeras inom dessa mätgränser med en automatisk rörlig neutral kil, och att frän de sa erhallna mätresultaten, som tar hänsyn till förspän-ningen, beräknas värdena av den önskade mätstorheten 5 för äskädliggörande i en tvärprofil av materialbanan.

4. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että analyysiosan vahvistimena (12) käytetään biasoitua vahvistinta, jolloin alkukalibroinnissa 15 analogia-digitaalimuuntimen alue rajataan automaattisesti mittaussignaalien vaihteluvälille ja automaattisesti liikuteltavan harmaakiilan avulla normitusmittauspisteeseen kuidusta tuleva valo säädetään näiden mittausrajojen väliin ja, että näin saaduista mittaustuloksista, ottaen huomioon 20 biasointi, lasketaan halutun mittaussuureen arvot poikki-profiilin esitykseen ainerainasta. «·*

5. Förfarande enligt nägot av patentkraven 1-4, k ä n -netecknat av, att fukthalten i en pappersbana mäts med hjälp av tvä lasrar i närbeleget infrarödomrädet, 10 varvid vaglängden hos en av dessa motsvarar vaglängden hos en absorptionstopp för vatten och den andra används som en referensväglängd, varvid ytvikten hos papperet mäts genom absorption av en referenssträle och vattenhalten beräknas ur förhällandet för intensiteten mellan stralarna 15 frän de tvä lasrarna.

5. Jonkin patenttivaatimuksista 1-4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että paperirainan kosteusprosentti- 25 profiili mitataan kahdella lähi-infrapuna-alueen pulssila-serilla, joista toisen aallonpituus vastaa veden absorptio-piikin aallonpituutta ja toista käytetään referenssiaallon-pituutena, jolloin paperin neliöpaino mitataan referenssi-säteen absorptiosta ja vesimäärä näiden kahden säteen inten- 30 siteettien suhteesta.

6. Förfarande enligt nägot av patentkraven 1-4, k ä n -netecknat av, att den tvärgäende profilen för raängden av en ytbeläggning pä materialbanan mäts genom att 20 placera tvä bommar (7, 8) pä samma sida av materialbanan i lutning i förhällande tili varandra med en sädan vinkel, att ljus spritt frän den för analysering avsedda ytan träffar ytan pä analyseringsbommen (8) pä platserna för öppnigarna (9), varvid när ytan absorberar en första 25 väglängd bättre än en annan väglängd, egna pulslasrarna är inställda pä dessa väglängder, och vid varje mätpunkt förhällandet mäts mellan reflektionerna, som sker frän gränsytan mellan ytbeläggningen och materialbanan, varvid en tvärgäende profil för ytbeläggningen kan beräknas 30 med hjälp av en kalibrering gjord pä basis av kända prov.

6. Jonkin patenttivaatimuksista 1-4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ainerainan päällystemäärän poikkiprofiili mitataan asettamalla palkit (7,8) samalle 35 puolelle ainerainaa toisensa -suhteen kallistettuina sellaiseen kulmaan, että analysoitavasta pinnasta sironnut valo osuu analyysipalkin (8) pinnalle palkin aukkojen (9) kohdille, jolloin päällysteen absorboidessa toista aallonpituutta paremmin kuin toista omat pulssilaserit asetetaan 11 7331 9 näihin aallonpituuksiin ja jokaisesta mittauspisteestä mitataan päällysteen ja päällystämättömän ainerainan rajapinnasta tapahtuvien heijastusten suhde, jolloin päällysteen poikkiprofiili saadaan lasketuksi tunnettujen näyt-5 teiden perusteella tehdyn kalibroinnin avulla.

7. Jonkin patenttivaatimuksista 1-4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valoafluoresoivaa päällystettä tai täyteainetta mitataan ainerainasta ampumalla virit-10 tävä aallonpituus yhdellä pulssilaserilla valolähdekuitu-nippuun (3) ja asettamalla keräyskuitunipun (5) ja detektorin (10) väliin filtteri, joka laskee lävitse vain fluoresenssivaloa ja, että näin saadusta fluoresenssivalon määrästä eri mittauspisteistä lasketaan tunnettujen näyt-15 teiden perusteella tehdyn kalibroinnin avulla fluoresoivan aineen määrä tai pitoisuus ainerainassa. 20 1. Förfarande för mätning av egenskaperna i en tvärprofil hos en kontinuerlig materialbana (1), vid vilket förfarande ljuspulser vid vissa vaglängder mätäs in i ett ledar-element (3) gjort av ett optiskt ledande material anordnat huvudsakligen i materialbanans tvärriktning, pulserna rik-25 tas ut fran ledarelementet genom mellanliggande utlopps-öppningar (4), vilka öppnar sig i riktning mot materialba-nan, de genom materialbanan passerande och/eller fran materialbanan spridda pulserna uppsamlas med hjälp av ett andra ledarelement (5), som är anordnat väsentligen 30 parallellt med ledarelementet (3), och leds tili en ana-lysdel (6), kännetecknat av, att medelst atminstone en pulslaser mätäs pulser i sekvens in i ett inuti en mätbom (7) placerat optiskt fiber/fiberbunten (3), ljus leds ut i riktning mot materialbanan genom 35 mellanliggande utloppsöppningarna (4), som är anordnade pä ett avständ frän varandra, som är större an den sträcka, som passeras av ljuset i fibret under varaktig- 12 7331 9 heten av en puis, pulserna samlas med hjälp av ledarele-raentet (5), som har bildats av fibrer, vilka är placerade i öppningar (9) pä en analyseringsbom (8) och leds tili analysdelen (6), varvid de genom de mellanliggande utlop-5 pen riktade pulserna anländer sora pulser i sekvens tili analysdelen, där de förstärks beroende pä normerings-intensiteten och genom jämförelse av intensiteterna av pulserna med resultat erhällna genom kalibrering av den tvärgaende profilen beräknas tvärprofilen av den egen- 10 skapen, som skall mätäs.

7. Förfarande enligt nägot av patentkraven 1-4, k ä n -netecknat av, att ett fluorescerande ytbe-läggnings- eller fyllnadsmaterial mäts frän materialbana 35 genom att sända ut en avstämd väglängd med en pulslaser till den 1jusavgivande fiberbunten (3) och genom att placera ett filter, som endast tilläter det fluorescerande