FI78356B - Metod foer maetning av fuktighet. - Google Patents

Metod foer maetning av fuktighet. Download PDF

Info

Publication number
FI78356B
FI78356B FI853529A FI853529A FI78356B FI 78356 B FI78356 B FI 78356B FI 853529 A FI853529 A FI 853529A FI 853529 A FI853529 A FI 853529A FI 78356 B FI78356 B FI 78356B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
opal
window
analyzer
measurement
material web
Prior art date
Application number
FI853529A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI78356C (fi
FI853529L (fi
FI853529A0 (fi
Inventor
Pertti Puumalainen
Reijo Kuusela
Original Assignee
Puumalaisen Tutkimuslaitos Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Puumalaisen Tutkimuslaitos Oy filed Critical Puumalaisen Tutkimuslaitos Oy
Priority to FI853529A priority Critical patent/FI78356C/fi
Publication of FI853529A0 publication Critical patent/FI853529A0/fi
Priority to DE19873708141 priority patent/DE3708141A1/de
Priority to US07/026,219 priority patent/US4812665A/en
Publication of FI853529L publication Critical patent/FI853529L/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI78356B publication Critical patent/FI78356B/fi
Publication of FI78356C publication Critical patent/FI78356C/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86—Investigating moving sheets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
    • G01N21/3559—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content in sheets, e.g. in paper
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86—Investigating moving sheets
    • G01N2021/8609—Optical head specially adapted
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content

Description

• ··- · 1 ' ' :: 78356
MENETELMÄ KOSTEUDEN MITTAAMISEKSI - METOD FÖR MÄTNING AV FUKTIGHET
Keksinnön kohteena on menetelmä rainana valmistettavan materiaalin, erityisesti paperin, kartongin tai vastaavan, kosteuden mittaamiseksi, jossa materiaalirainan toiselle puolelle sijoitetusta infra-punalähteestä lähetetään infrapunasäteilyä, joka katkotaan osiin, 5 johdetaan materiaalirainalle, materiaalirainan läpi tulevan infrapuna-säteilyn mittausaallonpituuden intensiteettiä havannoidaan mittaus-analysaattorilla ja referenssiaallonpituuden intensiteettiä mitataan referenssianalysaattorilla samanaikaisesti.
10 Nykyisin tunnetaan erilaisia infrapunakosteusmittareita, ja ne kaikki perustuvat yleensä kahden tai useamman aallonpituuden absorptioon vesipitoisessa aineessa.
Rainana valmistettavan materiaalin, erityisesti paperin tai kartongin 15 kosteuden mittaamiseen käytettävät transmissiomittarit voidaan jakaa toimintaperiaatteeltaan kahteen erilaiseen ryhmään. Ensimmäisen ryhmän muodostavat mittarit, joissa käytetään ns. integroivaa palloa, johon tuodaan mittaus- ja referenssisäteet peräkkäin jaksoitettuna ja ne analysoidaan yhdellä ilmaisimella. Toiseen ryhmään kuuluvissa lait-20 teissä säteily siroaa kahden peilin välissä, johon väliin on sijoitettu tutkittava materiaaliraina, edestakaisin ja tästä infrapunasätei-lystä otetusta näytteestä analysoidaan samanaikaisesti mittaus- ja referenssiaallonpituuksien intensiteetit.
25 Näihin tunnettuihin menetelmiin liittyy epäkohtia. Menetelmissä mitataan tutkittavan materiaalin läpi tulleiden mittaus- ja referenssiaallonpituuksien intensiteettejä keskenään, jolloin saatu kosteuspitoisuuden arvo tulee hyvin riippuvaiseksi materiaalin neliöpainosta, täyteaineista, kuitujen jauhatuksesta yms. seikoista. Näiden mene-30 telmien ja mittareiden heikkoutena on lisäksi kapea mittausalue, 2 . - 78356 sillä jos kosteus on yli 15%, mittarit eivät ole enää luotettavia ja antavat märästä (kosteusprosentti 30-50%) aivan vääriä mittaustuloksia. Useimmilla mittareilla ei lisäksi voida mitata kosteuksia neliöpainoltaan suurilta materiaaleilta, jolloin useim-5 mat paksut kartonkilaadut ovat sellaisia, ettei niiden kosteutta voida luotettavasti mitata tunnetuilla menetelmillä ja laitteilla. Usein jo yli 200 g/m^ neliöpainoltaan olevat materiaalit ovat vaikeasti mitattavissa.
10 Keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä kosteuden mittaamiseksi, joka poistaa nykyisiin menetelmiin liittyviä epäkohtia. Lisäksi keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä, jota käyttäen pystytään mittaamaan kosteusalueet 0-100% kaikille paperi- tai kartonkilaaduille tai vastaaville materiaaleille riippumatta materi-15 aalista ja jonka tulosten riippuvuus materiaalin neliöpainosta, täy-teainepitoisuudesta ja/tai jauhatusasteesta on hyvin pieni verrattuna nykyisin tunnettuihin menetelmiin. Edelleen keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä, jota hyväksikäyttäen saadaan nopea ja luotettava mittaustulos.
20
Keksinnön tarkoitus saavutetaan menetelmällä, jolle on pääasiassa tunnusomaista se, mitä on esitetty vaatimusosassa.
: Keksinnön mukaan infrapunasäteily johdetaan materiaalirainalle infra- 25 punasäteilyn osittamislaitteen ja materiaalirainan väliin sijoitetun opaali-ikkunan läpi säteilyn hajoittamiseksi ja mitataan materiaalirainan ja analysaattorien väliin sijoitetulta toiselta opaali-ik-: kunalta samalla säätäen analysaattorit sellaiseen kulmaan jälkimmäi seen opaali-ikkunaan nähden, että mittauksessa saadaan kosteudelle 30 sama arvo riippumatta materiaalirainan paikasta opaali-ikkunoiden välissä. Menetelmällä hajoitetaan infrapunavalo erittäin tehokkaasti opaali-ikkunoilla, jolloin jokaiseen suuntaan tuleva säteilyn mää-: rä on sama. Lisäksi mittaustulos ei riipu materiaalirainan paikasta.
Il .- 3 7 8356
Seuraavaksi keksintöä selvitetään tarkemmin viittaamalla oheiseen piirustukseen, joka esittää erästä laitteistoa keksinnön mukaisen menetelmän soveltamiseksi.
5 Tässä sovellutuksessa materiaalirainan 1 toiselle puolelle on sijoitettu infrapunalähdeosa 8 ja materiaalirainan vastakkaiselle puolelle on sijoitettu analysaattoriosa 9. Infrapunaosaan kuuluu infrapunalähde 2, infrapunalähteen ja materiaalirainan väliin sijoitettu osittamislaite 3, ns. chopperi, säteilyn katkomiseksi osiin, 10 infrapunalähteen läheisyyteen sijoitetut linssi 10 ja peili 11 säteilyn keskittämiseksi chopperiin, ja chopperin ja materiaalirainan väliin sijoitettu opaali-ikkuna 6 infrapunasäteilyn hajoittamiseksi. Chopperi on järjestetty katkomaan säteilyn osiin tunnetulla tavalla, esim. tietyn taajuisen värähtelyn, rakojen tms. avulla.
15
Analysaattoriosaan kuuluu mittausanalysaattori 4 ja referenssiana-lysaattori 5 sekä analysaattorien ja materiaalirainan väliin sijoitettu opaali-ikkuna 7. Analysaattoreihin kuuluu suuntausputket 12, 13 säteilyn kollimoimiseksi analysaattoreihin, ja suodatin-, linssi-20 ja detektoriyhdistelmät 14, 15. Analysaattorit ovat rakenteeltaan toisiaan vastaavia, ainoana erona on se, että mittausanalysaattoris-sa suodattimet päästävät detektorille mittausaallonpituuden, joka on veden absorptioaallonpituuden päällä, ja referenssianalysaat-torissa suodattimet päästävät detektorille referenssiaallonpituu-25 den, joka on edullisesti välittömästi veden absorptioaallonpituuden vieressä.
Analysaattorit on järjestetty erillisiksi ja säädettäviksi keskenään ja/tai opaali-ikkunan 7 suhteen esim. niveltämällä ne analysaattori-30 osaan tai vastaavalla tavalla. Analysaattorit ovat säädettävissä joko yhdessä tai erikseen niiden välisen kulman ja/tai niiden ja opaali-ikkunan välisen kulman muuttamiseksi, mutta siten, että ne näkevät aina pääasiassa saman alueen opaalilasi-ikkunan pinnasta.
4 78356
Mittauslaitteen virittäminen ja kosteuden määrittäminen käyttäen keksinnön mukaista menetelmää tapahtuu seuraavasti: Infrapuna- lähdeosan 8 ja analysaattoriosan 9 välinen rako, jossa materiaalisina kulkee valmistuksen ja mittauksen aikana, säädetään haluttuun 5 arvoon. Infrapunalähteestä saatava säteily kohdistetaan peilin ja linssin avulla chopperin läpi opaalilasi-ikkunaan, johon saadaan tehokas valokiila. Opaali-ikkuna sirottaa valoa joka suuntaan ja osa valosta tulee analysaattoriosan opaali-ikkunaan. Kalibroitaessa ei materiaalisina ole tässä vaiheessa raossa. Opaali-ikkuna 10 sirottaa valon tehokkaasti ja osa valosta havaitaan analysaattoreilla. Näin saadaan vertailuarvot, kun materiaalisina ei ole infrapunaosan ja analysaattoriosan välissä.
Edelleen kalibroitaessa laitetaan näytemateriaali osien väliin 15 ja säädetään analysaattorien katselukulmaa opaali-ikkunalle siten, että saadaan aina sama kosteusarvo,vaikka näyte on eri ääriarvoissaan mittausvälissä, joko opaali-ikkunassa 6 tai 7 kiinni. Laitteisto voidaan kalibroida yhden koneen kokonaistuotannolle, mutta haluttaessa voidaan katselukulmia muuttaa.
20
Kosteusarvoon verrannollinen mittarin arvo saadaan nyt laskemalla lähtöarvoja, jotka mitattiin silloin kun mitään ei ole osien välissä, *: hyväksi käyttäen suhteuttamalla mittaussäteen absorptio referenssi- säteen absorptioon. Aikaisemmin on laskettu vain läpitulleiden mittaus-25 ja referenssisäteiden intensiteettien suhde. Kun laskutoimitukset on tehty tällä tavalla käyttäen hyväksi tätä uutta menetelmää ja aallonpituudet ovat muun materian kannalta paitsi veden lähes samat, saadaan vesimäärä kuljetettua valotienpituutta kohti määrättyä, jolloin neliöpaino ja muut virhettä aiheuttavat tekijät pienenevät huomatta-30 vasti.
Menetelmän eräissä muissa sovellutuksissa materiaalirainaa tarkastellaan usemmalla kuin kahdella, pääasiassa samaa aluetta opaali-ikkunalta mittaavalla, säädettävän katselukulman omaavalla analy- • . 5 78356 saattorilla. Tällöin mittaustulos saadaan entistä tarkemmaksi.
Keksinnön mukaista menetelmää käyttäen voidaan mitata hyvinkin paksuja kartonkilaatuja, jopa sellulevyjä, joiden neliöpaino Λ 5 voi olla 1000 g/m . Useissa mittauksissa on havaittu, että kos-teusarvoja voidaan mitata tarkasti kosteusprosentin ollessa 0-100%. Samoin on huomattu, että esim. neliöpainon kaksinkertaistaminen vaikuttaa tulokseen vähemmän kuin 0,2%-yksikköä.
10 Keksintöä ei rajata esitettyyn edulliseen sovellutukseen vaan se voi vaihdella patenttivaatimusten puitteissa.

Claims (6)

  1. 6 78356
  2. 1. Menetelmä ralnana valmistettavan materiaalin, erityisesti paperin tai vastaavan, kosteuden mittaamiseksi, jossa materiaalirainan (1) toiselle puolelle sijoitetusta in£rapunalähteestä (2) lähetetään infrapunasäteilyä, 5 infrapunasäteily katkotaan osiin (3), johdetaan materiaa- lirainalle (1) opaali-ikkunan (6) läpi säteilyn hajoitta-miseksi ja mitataan materiaalirainan ja analysaattorien (4,5,) väliin sijoitetulta toiselta opaali-ikkunalta (7) siten, että materiaalirainan läpi tulevan infrapunasätei- 10 lyn mittausaallonpituuden intensiteettiä mitataan mit-tausanalysaattorilla (4) ja infrapunasäteilyn referenssi-aallonpituuden intensiteettiä mitataan referenssianaly-saattorilla (5) samanaikaisesti, tunnettu siitä, että analysaattorien (4,5) ja jälkimmäisen opaali-ikkunan 15 välistä kulmaa muutetaan ja analysaattorit (4,5) säädetään sellaiseen kulmaan jälkimmäiseen opaali-ikkunaan nähden, että mittauksessa saadaan kosteudelle sama arvo riippumatta materiaalirainan paikasta opaali-ikkunoiden välissä. 20 : 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, t u n - . n e t t u siitä, että mittausanalysaattorilla ja refe- renssianalysaattorilla tarkastellaan aina samaa aluetta opaali-ikkunan (7) pinnalta. 25
  3. 3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittausanalysaattorin ja referens-sianalysaattorin välistä kulmaa ja/tai kummankin analysaattorin ja opaali-ikkunan välistä kulmaa säädetään 30 muista säädöistä riippumatta saman arvon saamiseksi kosteudelle materiaalirainan paikan vaihtuessa.
  4. 4. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittaus- ja referenssiaal- 35 lonpituudet ovat mahdollisimman lähellä toisiaan, jolloin 7 78356 materiaalirainan kosteuspitoisuus lasketaan tunnettujen kalibrointinäytteiden avulla laskemalla lähtöarvojen, kun näytettä ei ole opaali-ikkunoiden välissä, avulla referenssiaallonpituuden intensiteetin vaimenemiseen 5 suhteutettu mittausaallonpituuden intensiteetin vaime neminen .
  5. 5. Jonkin patenttivaatimuksista 1-4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että infrapunasäteilyä mitataan 10 useammalla kuin kahdella, samaa aluetta opaali-ikkunalta mittaavalla, säädettävään katselukulman omaavalla analysaattorilla .
  6. 6. Jonkin patenttivaatimuksista 1-5 mukainen menetelmä, 15 tunnettu siitä, että mitataan näytearkkien kosteuspitoisuuksia. 8 78356
FI853529A 1985-09-16 1985-09-16 Metod foer maetning av fuktighet. FI78356C (fi)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI853529A FI78356C (fi) 1985-09-16 1985-09-16 Metod foer maetning av fuktighet.
DE19873708141 DE3708141A1 (de) 1985-09-16 1987-03-13 Feuchtigkeitsmessverfahren
US07/026,219 US4812665A (en) 1985-09-16 1987-03-16 Method and apparatus for measuring of humidity

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI853529A FI78356C (fi) 1985-09-16 1985-09-16 Metod foer maetning av fuktighet.
FI853529 1985-09-16

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI853529A0 FI853529A0 (fi) 1985-09-16
FI853529L FI853529L (fi) 1987-03-17
FI78356B true FI78356B (fi) 1989-03-31
FI78356C FI78356C (fi) 1989-07-10

Family

ID=8521346

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI853529A FI78356C (fi) 1985-09-16 1985-09-16 Metod foer maetning av fuktighet.

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4812665A (fi)
DE (1) DE3708141A1 (fi)
FI (1) FI78356C (fi)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3027161B2 (ja) * 1989-07-14 2000-03-27 株式会社リコー 画像形成装置における画像濃度検知装置
DE4040101A1 (de) * 1990-12-14 1992-06-17 Siemens Ag Materialfeuchte-messverfahren, verwendung und messeinrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
US5963336A (en) * 1995-10-10 1999-10-05 American Air Liquide Inc. Chamber effluent monitoring system and semiconductor processing system comprising absorption spectroscopy measurement system, and methods of use
US5742399A (en) * 1996-04-18 1998-04-21 American Air Liquide, Inc. Method for stabilizing the wavelength in a laser spectrometer system
US5818578A (en) * 1995-10-10 1998-10-06 American Air Liquide Inc. Polygonal planar multipass cell, system and apparatus including same, and method of use
US5949537A (en) 1996-04-18 1999-09-07 American Air Liquide Inc. In-line cell for absorption spectroscopy
US5880850A (en) * 1996-04-18 1999-03-09 American Air Liquide Inc Method and system for sensitive detection of molecular species in a vacuum by harmonic detection spectroscopy
DE19701904C2 (de) * 1997-01-21 2002-02-14 Michael Tummuscheit Vorrichtung zur quantitativen Bestimmung der Oberflächenfeuchte mit Hilfe eines kombinierten Verfahrens
US6442736B1 (en) 2000-10-03 2002-08-27 L'air Liquide Societe Anonyme A Directoire Et Conseil De Surveillance Pour L'etude Et L'expolitation Des Procedes Georges Claude Semiconductor processing system and method for controlling moisture level therein
DE10305598A1 (de) * 2003-02-11 2004-08-19 Voith Paper Patent Gmbh Messverfahren und Messeinrichtung zur Bestimmung des Feuchtigkeitsgehaltes einer Materialbahn
US7397563B2 (en) 2005-11-08 2008-07-08 Honeywell International Inc. Pass-line insensitive sensor
US7460233B2 (en) * 2005-11-08 2008-12-02 Honeywell International Inc. Pass-line and tilt insensitive sensor
US7619740B2 (en) * 2007-10-11 2009-11-17 Honeywell International Inc. Microgloss measurement of paper and board
US8148690B2 (en) * 2009-09-24 2012-04-03 ABB, Ltd. Method and apparatus for on-line web property measurement
DK3222952T3 (en) * 2011-09-06 2019-04-08 Rv Holding B V Method and system for freeze-drying injectable compositions, in particular pharmaceutical compositions
RU2669156C1 (ru) * 2017-11-09 2018-10-08 Акционерное общество "ГМС Нефтемаш" Поточный влагомер
RU2704034C1 (ru) * 2019-01-29 2019-10-23 Акционерное общество "ГМС Нефтемаш" Поточный влагомер

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3641349A (en) * 1969-09-29 1972-02-08 Measurex Corp Method for measuring the amount of substance associated with a base material
US3675019A (en) * 1971-03-19 1972-07-04 Measurex Corp Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material
US3965356A (en) * 1975-04-30 1976-06-22 Measurex Corporation Apparatus for measuring a predetermined characteristic of a material using two or more wavelengths of radiation
US4006358A (en) * 1975-06-12 1977-02-01 Measurex Corporation Method and apparatus for measuring the amount of moisture that is associated with a web of moving material
US4052615A (en) * 1976-07-30 1977-10-04 Industrial Nucleonics Corporation Spherical cavity method and apparatus for measuring a sheet material property using infrared radiation
US4171918A (en) * 1976-12-27 1979-10-23 Sentrol Systems Ltd. Infrared moisture measuring apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
DE3708141A1 (de) 1988-09-22
US4812665A (en) 1989-03-14
FI78356C (fi) 1989-07-10
FI853529L (fi) 1987-03-17
FI853529A0 (fi) 1985-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI78356C (fi) Metod foer maetning av fuktighet.
FI56903C (fi) Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial
FI81203C (fi) Foerfarande och anordning foer maetning av vattenhalt.
JP4008582B2 (ja) コーティング重量の計測と制御装置及び方法
CA1193660A (en) Microwave moisture sensor
JPH02247528A (ja) コーティング重量測定および制御装置とその方法
US20080135761A1 (en) Multi-channel infrared optical phase fraction meter
EP0150945A3 (en) Method and apparatus for measuring properties of thin materials
DE69902155D1 (de) Anordnung und verfahren zum anwenden von diffusionswellenspektroskopie zur messung der eigenschaften von mehrphasigen systemen und änderungen darin
US6717675B1 (en) System and method for determining fiber orientation in fibrous material webs
FI57845B (fi) Foerfarande och anordning foer detektering av spetor i massa
EP2028476A1 (en) System and method for measurement of degree of moisture stratification in a paper or board
US3879607A (en) Method of measuring the amount of substance associated with a base material
EP1095265A1 (en) Method and apparatus for measuring properties of a moving web
FI65673C (fi) Foerfarande och anordning foer detektering av kvistar eller dyikt i saogat virke
FI110638B (fi) Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi
FI73319B (fi) Foerfarande foer maetning av egenskaperna i en tvaerprofil hos en kontinuerlig materialbana.
FI991346A (fi) Menetelmä ja laitteisto paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi
JPH11237377A (ja) 紙やシートの品質測定装置
FI57846C (fi) Foerfarande och anordning foer detektering av spetor i massa
US4785185A (en) Submillimeter laser measurement of water or filler content of sheets and bands of dielectric material
EP2584321B1 (en) A method and apparatus for estimating the dry mass flow rate of a biological material
FI109377B (fi) Menetelmä materiaalin pinnan karheuden mittaamiseksi
FI67958B (fi) Foerfarande och anordning foer bestaemning av koncentrationen av en substans som aer bunden till partiklar transporterade i ett stroemmande medium
US4033699A (en) Vapor concentration monitor

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: PUUMALAISEN TUTKIMUSLAITOS OY