FI109377B - Menetelmä materiaalin pinnan karheuden mittaamiseksi - Google Patents

Menetelmä materiaalin pinnan karheuden mittaamiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI109377B
FI109377B FI962732A FI962732A FI109377B FI 109377 B FI109377 B FI 109377B FI 962732 A FI962732 A FI 962732A FI 962732 A FI962732 A FI 962732A FI 109377 B FI109377 B FI 109377B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
ellipse
camera
scattering
measuring
axis
Prior art date
Application number
FI962732A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI962732A (fi
FI962732A0 (fi
Inventor
Karlheinz Schaust
Werner Hagen
Original Assignee
Honeywell Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honeywell Ag filed Critical Honeywell Ag
Publication of FI962732A publication Critical patent/FI962732A/fi
Publication of FI962732A0 publication Critical patent/FI962732A0/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI109377B publication Critical patent/FI109377B/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

109377
Menetelmä materiaalin pinnan karheuden mittaamiseksi. -Förfarande för mätning av ett materials ytgrovhet.
Keksinnön kohteena on patenttivaatimuksen 1 johdanto-osan 5 mukainen menetelmä materiaalin pinnan karheuden mittaamiseksi .
Tällainen menetelmä on tunnettu julkaisusta CH 552 197.
Siinä ehdotetaan mm. järjestämään rivi detektoreita pitkin 10 hajontavaloellipsin pääakselia, joka ellipsi muodostuu, kun materiaalin pinnalla on karheus ja kun pintaa valaistaan yhdensuuntaisella valonsädekimpulla ennalta määrätyssä kulmassa. Sopivimmin siinä viitataan heijastuskulman läheisyydessä hajontavalokartion puoliarvoleveys ja käytetään 15 sitä mittana tutkitun pinnan karheudelle. Detektoririvin avulla tapahtuvan analysoinnin asemesta julkaisussa on esitetty myös analysointi televisiokameran avulla.
Karheudella on huomattava merkitys paperin valmistuksessa, 20 koska karheus tai kääntäen sileys ennakoi, mitä tulee pape- . . rin painettavuuteen.
7 Tunnetussa laitteessa on huolehdittava siitä, että kohdassa, f · ,, I .·· jossa materiaalirainaa valaistaan valonsadekimpulla, raina :,*·:25 on siten ohjattuna, että liikkeen vuoksi ei synny liian i suuria paikallisia muutoksia materiaalirainan kulkutasossa, H: jotta vältetään, että hajontavaloellipsi ei joudu ulos detektorin tunnustelukentästä. Sama ongelma esiintyy, jos mitattava pinta on liian karhea, jolloin hajontavalojakauma • J*30 ha jontavaloellipsin akselilla ylittää rividetektorin tai : televisiokameran ennalta määrätyn tunnustelukentän.
Keksinnön tehtävänä on siten edelleenkehittää tunnetun ··.··. laitteen avulla suoritettavaa menetelmää siten, että myös ,,.•35 erittäin karhean pinnan karheus voidaan mitata. Tämän tehtä- .7: vän ratkaisu onnistuu patenttivaatimuksen 1 tunnusmerkkiosan ,·, ; tunnusmerkkien avulla. Keksinnön mukaisen menetelmän muu* 2 109377 edulliset edelleenkehitelmät ilmenevät epäitsenäisistä vaatimuksista.
Keksintöä selostetaan seuraavassa lähemmin viittaamalla 5 oheiseen piirustukseen, jossa:
Kuvio 1 esittää periaatteellista mittausjärjestelyä.
Kuvio 2 esittää kaaviollista luonnosta keksinnön mukaisen 10 menetelmän kuvaamiseksi.
Kuvion 1 mukaisesti valaistaan teleskoopissaan 10 laajennetun kollimoidun valonsädekimpun 12 avulla tutkittavaa pintaa 14. Karheasta pinnasta 14 heijastuneet säteet 16 johdetaan 15 optiikan 18 avulla vastaanottimeen 20, joka voi muodostua juovamaisesta tai pintamaisesta detektorijärjestelystä ja erityisesti viiva- tai pintakamerasta (Vidikon tai CCD).
Kuvion 2 mukaisesti on havaittavissa, että viivakamera 20', 20 kun se on suunnattu nuolen avulla merkityn pinnan 14 lii-. ; kesuunnan mukaisesti, ei enää täysin tunnista hajontavaloel- .I lipsin pääakselia a, kun materiaalilla on suuri karheus ja ·, ΐ siten hajontaellipsi on laajentunut. Kiertämällä viivakame- /' raa 20' pääakselin a suhteen ennalta määrätyn kulman, voi- 25 daan saavuttaa se, että kamera jälleen tunnistaa hajontael-lipsin. Edullisesti viivakameran 20 kierto tapahtuu siten, , f .'k että kamera osuu yhteen hajontavaloellipsin sivuakselin b kanssa. Puoliarvoleveyden ilmaisu mittana pinnan karheudelle : kk voidaan tällöin suorittaa hajontavaloellipsin sivuakselin b 30 suhteen.
* t
Edelleen voidaan kuviosta 2 havaita, että käytettäessä ; .· pintakameraa 20" voi se vielä analysoida hajontavaloellipsin > » ’ sivuakselin b suhteen, kun pintakameran sensorielementit •'.35 järjestetään viivatunnustelua varten yhdensuuntaisesti ·.: pinnan 14 liikesuuntaan nähden, kuten tämä muutamien piir- ·. : rettyjen tunnusteluviivojen avulla on esitetty.

Claims (5)

109377
1. Menetelmä materiaalin, erityisesti paperirainan, pinnan karheuden mittaamiseksi, jolloin materiaalin pinta valais- 5 taan yhdensuuntaisella valonsädekimpulla ja analysoidaan heijastuneen valon hajontaellipsi, tunnettu siitä, että optisesti karheiden pintojen yhteydessä hajontaellipsi analysoidaan hajontaellipsin pääakselista poikkeavassa suunnassa. 10
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, jossa analysointiin käytetään viivakameraa, tunnettu siitä, että viivakamera on kierretty hajontaellipsin pääakselin suhteen. 15
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, jossa käytetään pintakameraa, tunnettu siitä, että hajontaellipsin tunnustelu suoritetaan pintakameran avulla pääakselista poikkeavassa suunnassa. 20 . . 4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen menetelmä, tunnet- | t u siitä, että viivatunnustelu tapahtuu yhdensuuntaisesti ], hajontaellipsin pääakseliin nähden. * I · f·
5. Jonkin patenttivaatimuksen 1 - 4 mukainen menetelmä, ,,γ tunnettu siitä, että hajontaellipsin analysointi ' ’ · , f tapahtuu sivuakselilla. 1 » i 109377
FI962732A 1994-01-07 1996-07-03 Menetelmä materiaalin pinnan karheuden mittaamiseksi FI109377B (fi)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP94100144 1994-01-07
EP94100144 1994-01-07
EP9404305 1994-12-24
PCT/EP1994/004305 WO1995018952A1 (de) 1994-01-07 1994-12-24 Verfahren zur messung der rauhigkeit einer materialoberfläche

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI962732A FI962732A (fi) 1996-07-03
FI962732A0 FI962732A0 (fi) 1996-07-03
FI109377B true FI109377B (fi) 2002-07-15

Family

ID=8215587

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI962732A FI109377B (fi) 1994-01-07 1996-07-03 Menetelmä materiaalin pinnan karheuden mittaamiseksi

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6067162A (fi)
EP (1) EP0738382B1 (fi)
DE (1) DE59408186D1 (fi)
FI (1) FI109377B (fi)
WO (1) WO1995018952A1 (fi)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5818453A (en) * 1996-01-05 1998-10-06 Weavexx Corporation System for evaluating print quality for a sheet
GB9827377D0 (en) * 1998-12-11 1999-02-03 Surface Inspection Ltd Machine vision system and tile inspection apparatus incorporating such a system
US6477892B1 (en) 2000-08-15 2002-11-12 Hewlett-Packard Company Methods and systems for ascertaining the roughness of a print media surface
US6850333B1 (en) * 2000-08-24 2005-02-01 Therma-Wave, Inc. Optimized aperture shape for optical CD/profile metrology
NZ519475A (en) * 2002-06-11 2004-10-29 Ind Res Ltd Measuring wood properties by optical investigation of tracheid orientations
EP2647949A1 (fr) * 2012-04-04 2013-10-09 Siemens VAI Metals Technologies GmbH Méthode et dispositif de mesure de planéité d'un produit métallique

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH552197A (de) * 1972-11-24 1974-07-31 Bbc Brown Boveri & Cie Einrichtung zum messen der rauhigkeit einer oberflaeche.
DE3703504A1 (de) * 1987-02-05 1988-08-18 Automation W & R Gmbh Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der oberflaechenrauhigkeit und/oder der oberflaechenstruktur von gegenstaenden
GB9116115D0 (en) * 1991-07-25 1991-09-11 Nat Res Dev Fibre-optic probe for surface measurement

Also Published As

Publication number Publication date
WO1995018952A1 (de) 1995-07-13
FI962732A (fi) 1996-07-03
EP0738382A1 (de) 1996-10-23
EP0738382B1 (de) 1999-04-28
US6067162A (en) 2000-05-23
DE59408186D1 (de) 1999-06-02
FI962732A0 (fi) 1996-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5162660A (en) Paper roughness or glass sensor using polarized light reflection
US4879471A (en) Rapid-scanning infrared sensor
CA1271051A (en) Method and system for optically testing sawn timber
RU2243540C2 (ru) Устройство и способ для высокоскоростной дефектоскопии отражающего материала
FI93492C (fi) Menetelmä mittavirheiden havaitsemiseksi
US4966455A (en) Real time mottle measuring device and method
KR860004303A (ko) 광산란분석에 의해 사 또는 필라멘트의 평균단면특성을 측정하는 방법
CA2818274A1 (en) Single-sided infrared sensor for thickness or weight measurement of products containing a reflective layer
DE69902155D1 (de) Anordnung und verfahren zum anwenden von diffusionswellenspektroskopie zur messung der eigenschaften von mehrphasigen systemen und änderungen darin
FI109377B (fi) Menetelmä materiaalin pinnan karheuden mittaamiseksi
BR9708225A (pt) Processo e dispositivo para medição de densidade
US6717675B1 (en) System and method for determining fiber orientation in fibrous material webs
KR890000886A (ko) 광택 게이지(gauge)
FI78356C (fi) Metod foer maetning av fuktighet.
EP1715290A1 (en) Confocal measurement method and apparatus in a paper machine
US20020113975A1 (en) Method and measuring arrangement for measuring paper surface
US6504617B2 (en) Method and measuring arrangement for measuring paper surface
KR870009247A (ko) 온라인 감시를 위한 광 파이버 이미징 시스템
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
US7146279B2 (en) Measuring device
US5982498A (en) Method for determining the structure of a body surface
FI67448B (fi) Foerfarande och anordning foer detektering av strimmor i maskinriktningen hos papper
US5084628A (en) Sheet inspection method and apparatus having retroreflecting means
US10837889B2 (en) Apparatus and method for measuring particle size distribution by light scattering
JPS6125042A (ja) 表面欠陥検査装置