FI57846C - Foerfarande och anordning foer detektering av spetor i massa - Google Patents

Description

ΓΒ1 ««KUULUTUSJULKAISU zn&Ati

JkSTa [bJ (11) UTLÄGGNINGSSKMFT 5 7946 C (45) Patentti cyännc-tty 10 10 1930 Patent aeddelat V-^-' (51) ».K.W3 «oi I 21/1? SUOMI—FINLAND (tl) PWHMI»fc—.—fttwaiWlMlni 7Ö1332 (22) Hskwniipihri —Ai«eknfn(*d«f 11.05.76 ^ ^ (23) AltopMv*—Glltl(ti«tsda| 11.05.76 (41) Tullut )ulklMk»l — BIMt offuntllg γζ

Mntti. Ja r*kist«HhallltifS NlhMUp». fr kuuLlulici^ pvm.-

Patents och r*flst*rstyr*l««n AiwMcan utlugd och utUkrlfttn pubitcvrud 30.06.80 (32)(33)(31) Pyydetty utueHtuii*—Wglrd priorttvt il*. 05.75

Ruotsi-Sverige(SE) 7505539-2 (71) Ab Tellusond, 93» Norra Stationsgatan, 113 33 Stockholm, Ruotsi-Sverige(SE) Ψ*' (72) Jan Hill, Täby, Ruotsi-Sverige(SE) (7^) Berggren Oy Ab (5^) Menetelmä ja laite tikkujen havaitsemiseksi massassa - Förfarande och anordning för detektering av spetor i massa Tämä keksintö tarkoittaa menetelmää ja laitetta tikkujen havaitsemiseksi paperimassassa. Tikulla tarkoitetaan kahden tai useamman yhteen-liittyneiden kuitujen muodostansa suurehkoa kuidunkappaletta, jotka eivät massan valmistuksen aikana ole vapautuneet tai irronneet toisistaan. Tikut eroavat siis massan kuiduista ensi sijassa siinä, että niiden poikkileikkauksen mitta on suurempi kuin kuitujen ja tavallisesti myös siinä, että niiden pituus on keskimäärin hieman suurempi kuin kuitujen. Kun kuitujen poikkileikkauksen mitta (paksuus) tavallisesti on 10-50 /Um, on tikuiksi nimitettyjen vastaava poikkileikkaus alkaen 80 aina 150 ^um ja ylikin. Tikuiksi nimitettyjen poikkileikkauksen mitan alaraja riippuu usein käytettävissä olevan mittauskojeen kyvystä erottaa kapeita tikkuja, ts. suhteellisen pienen poikkileikkauksen omaa-via tikkuja kuiduista. Tikkujen keskipituus on yleensä 1,5-2 kertaa kuitujen keskipituutta suurempi, kuitenkin massan tyypistä riippuen.

Tikkujen esiintymisellä paperimassassa on oleellinen merkitys massan laadulle. Jokainen tikku aiheuttaa nimittäin valmistetun paperiradan heikentymistä tai repeytymisen uhkaa ja samalla lisääntynyttä paperi-radan repeytymisen vaaraa valmistuksen aikana. Valmiin paperin pin- 2 57846 taan joutunut tikku huonontaa myös paperin painokelpoisuutta esimerkiksi siten, että se imee itseensä painoväriä toisella tavalla kuin ympäröivä paperi tai siten, että se irtoaa painatuksessa ja samalla mahdollisesti tarttuu painolaattaan tai painomuottiin. Sen tähden on oleellisen tärkeätä pystyä tutkimaan esiintyykö massassa tikkuja, ja ensisijassa on kiinnostavaa saada selville tiettyyn massamäärään sisältyvien tikkujen kokonaismäärä, mutta myös esiintyvien tikkujen suuruus tai suuruusj akautuma.

Tunnettu menetelmä tikkujen havaitsemiseksi paperimassassa perustuu siihen, että massaliete ohjataan valoaläpäisevän mittauskanavan, ns. kuvetin läpi samalla kun mittauskanavan toisella sivulla sijaitsevasta valonlähteestä suunnataan mahdollisimman yhdensuuntainen valonkimppu mittauskanavan läpi sen vastakkaisella sivulla sijaitsevaan valonilmai-simeen siten, että valonkimpun suunta on olennaisesti kohtisuorassa mittauskanavan pituussuuntaan nähden, ts. massalietteen virtaussuuntaan nähden. Massalietteessä oleva tikku aiheuttaa valonkimpun ohittaessaan vähennystä valonilmaisimen vastaanottaman valon voimakkuudessa ja samalla vastaavan vähennyksen valonilmaisimen lähtösignaalin amplitudissa. Tämän voimakkuuden tai amplitudin vähennyksen suuruus muodostaa tikun poikkileikkauksen suuruuden kohtisuorassa suunnassa valon-kimppua kohden, kun taas voimakkuuden tai amplitudin vähennyksen kestoaika ilmaisee tikun pituuden, koska massalietevirrassa olevat tikut sijoittautuvat niin, että niiden pituussuunta suurin piirtein yhtyy virtaussuuntaan. Analysoimalla valonilmaisimen lähtösignaalia sen ampli-tudivaihteluihin nähden on siis mahdollista saada käsitys siitä, esiintyykö massassa tikkuja. Koska tikun poikkileikkaus usein on suunnik-kaanmuotoinen, ts. tikku on ohut ja leveä, on edullista toimia siten, että mittauskanavan läpi suunnataan kaksi toisiinsa nähden kohtisuoraa valonsädekimppua ja samalla kertaa kohti mittauskanavan pituussuunnassa olevaakohtisuoraa tasoa, ja nämä molemmat valonkimput saavat kuljettuaan mittauskanavan läpi vaikuttaa kahteen vastaavaan valonilmaisi-meen ja näiden lähtösignaalit yhdistetään yhteissignaaliksi, joka sen jälkeen analysoidaan yllämainitulla tavalla massassa olevien tikkujen aiheuttamiin amplitudi vaihteluihin nähden.

Huomataan, että tämänkaltaisessa mittauksessa sillä seikalla on perustavaa laatua oleva merkitys, että voidaan tehdä ero toisaalta valon-kimppujen läpi kulkevan tikun aiheuttaman valonkimppujen voimakkuuden vähennyksen ja toisaalta sen valonkimppujen voimakkuuden vähennyksen 3 57846 välillä, jonka samanaikaisesti valonkimppujen alueella lietevirrassa olevat kuidut aiheuttavat. On sen takia olennaista, että mittauksen herkkyys tikkuihin nähden on suuri, samalla kun se kuituihin nähden on alhainen. Tämä voidaan ilmaista sitenkin, että on voitava havaita jokin tikku vaikkakin valonkimppujen valaisemassa mittauskanavan osassa samanaikaisesti on suuri joukko kuituja. Tämän merkitystä valaisee se, että jossakin paperimassassa olevien kuitujen ja tikkujen lukumäärän välisen suhteen tyypillinen arvo on se, että kuitujen lukumäärän suu-ruusarvo on 10 kertaa suurempi kuin tikkujen lukumäärä. Tämä arvo vastaa suunnilleen 1 painoprosentin tikkuisuutta massassa, joka moniin - massalaatuihin nähden on jopa suhteellisen korkea arvo.

Tähän saakka tunnetut ylläkuvatunlaiset mittausmenetelmät ja näiden „ mittausmenetelmien mukaisesti toimivat tunnetut laitteet ovat yllämainitussa suhteessa suhteellisen epätyydyttäviä.

Tämän keksinnön tarkoituksena on sen takia aikaansaada ylläkuvatun tapainen mittausmenetelmä ja vastaava mittauslaite, jolla on olennaisesti suurentunut herkkyys tikkuihin nähden ja ennallaan säilynyt välinpitämättömyys kuituihin nähden, ts. olennaisesti suurempi mahdollisuus havaita valonkimput ohittava tikku vaikkakin valonkimppujen alueella samanaikaisesti olevien kuitujen lukumäärä on suuri.

Keksinnön mukaan tämä saavutetaan ensi sijassa sillä, että kummankin valonilmaisimen lähtösignaalit yhdistetään toisiinsa kertomalla, niin että saadaan kummankin valonilmaisimen lähtösignaaleja edustava yhdis- " tetty signaali, jota analysoidaan siinä esiintyvien tikkujen aiheuttamien amplit udivaiht eluiden suhteen.

- Lähinnä käsillä oleva tapa yhdistää kummankin valonilmaisimen lähtösignaalit olisi niiden laskeminen yhteen. Tätä tapaa onkin käytetty aikaisemmin. On kuitenkin osoittautunut, että kertomalla sen sijaan kummankin valonilmaisimen lähtösignaalit yhdistetyn signaalin synnyttämiseksi saadaan olennaisesti suurempi suhde mittauksessa tikkujen ja kuitujen välisen herkkyyden suhteen.

Keksinnön mukaan käytetään edelleen mieluimmin infrapunaiselta aallonpituudelta olevaa valoa. On nimittäin osoittautunut, että tällä saavutetaan olennaisesti lisääntynyt nousu tikkujen ja kuitujen välisen herkkyyden suhteen, verrattuna näkyvää valoa käytettäessä saatuun.

, 57846

Keksinnön mukaisen menetelmän edullisilla lisäkehittelyillä on patenttivaatimuksissa 3-6 ilmaistut tuntomerkit.

Keksintöä selostetaan seuraavassa tarkemmin oheiseen piirustukseen viitaten, jossa kuvio 1 kuvaa kaavamaisesti laitetta keksinnön mukaan muotoiltujen tikkujen havaitsemiseksi massassa; ja kuvio 2 on mittauskanavan läpi kulkevan valonkimpun läpäisevyyden käyrä valonkimppuun vaikuttavan tikun poikkileikkauksen funktiona; osittain näkyvää valoa sisältävän ja osittain infrapunaista valoa sisältävän valonkimpun läpäisevyyden.

Kuviossa 1 hyvin kaavamaisesti ja vain periaatteessa esitetty laite tikkujen havaitsemiseksi käsittää mittauskanavan 1, ns. valoaläpäisevät seinämät omaavan mittauskuvetin, jonka lävitse sen massan lietevirta johdetaan, jonka tikkuisuutta on tutkittava, kuten nuolella 2 osoitetaan. Piirustuksessa ei tarkemmin näytetyistä valonlähteistä, niihin kuuluvine optiikkoineen, suunnataan kaksi keskenään kohtisuoraa valon-kimppua 3 ja 4 mittauskanavan läpi samaan, mittauskanavan 1 pituussuuntaan nähden kohtisuoraan tasoon. Kumpikin näistä valonkimpuista 3 ja 4 muodostuu mahdollisimman yhdensuuntaisista valonsäteistä ja ne ovat valonlähteeseen kuuluvalla optiikalla muotoiltu siten, että niillä on suhteellisen ohut suunnikkaanmuotoinen poikkileikkaus niin että valon-kimppu on olennaisesti ohuen nauhan muotoinen, joka sijaitsee mittauskanavan 1 pituusakseliin nähden kohtisuorassa tasossa. Valonkimppujen 3 ja 4 kuljettua mittauskanavan 1 lävitse, kummankin valonilmaisin 5 tai 6 ottaa ne vastaan, joka ilmaisin siis antaa lähtösignaalin suhteessa kysymyksessä olevan valonkimpun 3 tai 4 voimakkuuteen sen kuljettua mittauskanavan 1 ja mittauskanavassa virtaavan massalietteen läpi. Huomataan, että mikäli massaliete sisältää tikun, niin se ohittaessaan valonkimput 3 ja 4 heittää "varjon" kumpaankin valonilmaisimeen 5 ja 6 niin, että vastaavan valonilmaisimen vastaanottama valon voimakkuus vähenee. Huomataan, että tämän voimakkuuden vähennyksen suuruus ja samalla vastaava valonilmaisimien lähtösignaalien amplitudin vähennys on tikun leveyden mitta kohtisuorassa suunnassa vastaavaan valonkimppuun 3 ja 4 nähden, ts. kahdessa keskenään kohtisuorassa suunnassa.

Täten mitataan siis sekä tikun "leveys" että sen "paksuus", koska tikku pyrkii mittauskanavan 1 massalietevirrassa sijoittumaan pituussuunnassaan yhteneväisesti virtaussuunnan kanssa. Huomataan edelleen, että 5 57846 voimakkuuden vähenemisen ja siis amplitudin alenemisen kestoaika kummankin valonilmaisimen 5 ja 6 lähettämässä lähtösignaaleissa on tikun pituuden mitta.

Keksinnön mukaisesti kummankin valonilmaisimen 5 ja 6 lähtösignaalit liitetään signaalikertojaan 8, joka siis lähettää lähtösignaalin, joka vastaa kummankin valonilmaisimen 5 ja 6 signaalien tuotetta. Huomataan, että signaalikertojan 8 lähettämä lähtösignaalikin osoittaa tilapäistä taajuuden vähennystä tikun ohittaessa mittauskanavan 1 lietevirrassa molemmat valonkimput 3 ja 4. Tämän tilapäisen taajuuden vähennyksen ^ suuruus muodostaa tikun poikkileikkauspinnan mitan, kun taas amplitudin vähennyksen kestoaika muodostaa tikun pituuden mitan. Tämä signaali-kertojan 8 lähtösignaali on liitetty signaalianalysaattori- ja esittely-„ yksikköön 7, jossa signaali analysoidaan siinä esiintyvien, lietevirrassa olevien tikkujen aiheuttamien tilapäisten amplitudin vähennysten suhteen, kuten seuraavassa tarkemmin selostetaan.

Kertomalla keksinnön mukaisesti kummankin valonilmaisimen 5 ja 6 lähettämät lähtösignaalit ja analysoimalla siis näiden kummankin signaalin tuotetta vastaavaa yhdistettyä signaalia saavutetaan suurempi mahdollisuus havaita tikkuja massalietevirrassa huolimatta siitä, että se samalla sisältää kuitujakin, jotka myös vaikuttavat valonkimppuihin 3 ja 4, kuin olisi mahdollista yhdistämällä valonilmaisimien 5 ja 6 lähtösignaalit laskemalla signaalit yhteen.

Tässä suhteessa saavutetaan huomattava lisäparannus jos keksinnön erään suositun sovellutusmuodon mukaisesti näkyvän valon sijasta käytetään infrapunaiselta aallonpituusalueelta olevaa valoa. Tähän lienee syynä se, että on osoittautunut, että yhteys tikun valonkimpussa aiheutta-^ man voimakkuuden vähennyksen ja tikun paksuuden välillä muodostaa olennaisesti lineaarisen funktion näkyvää valoa käytettäessä, mutta infrapunaista valoa käytettäessä sen sijaan epälineaarisen funktion.

Tätä suhdetta kuvaa käyrä 2, joka osoittaa valonkimpun läpäisevyyden vä-. lisen yhteyden, ts. sen prosentuaalisen suhteen mittauskanavasta ulos-tunkeutuvan valonkimpun voimakkuuden ja mittauskanavaan kohdistuvan valonkimpun voimakkuuden välillä, mittauskanavassa olevan tikun valon-kimppuun vaikuttavan paksuuden funktiona, ja viiva A esittää yhteyttä joka saadaan näkyvää valoa, tarkemmin sanoen halogeenilampun valoa käytettäessä ja viiva B esittää sitä suhdetta, joka saadaan käytettäessä infrapunaista valoa, tarkemmin sanottuna 930 nm:n aallonpituuden omaa- 6 57846 van valodiodin valoa. Kuten kumpaakin viivaa A ja B suoraan verrattaessa ilmenee, että infrapunaista valoa käytettäessä noin 80 ^,um ja sen ylittävänkin paksuuden omaavat tikut vaikuttavat paljon voimakkaammin valonkimpun läpäisevyyteen sellaiseen kuituihin nähden, joiden läpileikkaus on suuruudeltaan 10-50 y-um, kuin näkyvää valoa käytettäessä saavutetaan (viiva A).

On suoritettu kokeita ja arviointeja sen seikan määrittelemiseksi, kuinka monta kuitua korkeintaan saa vaikuttaa valonkimppuihin 3 ja 4 jotta samalla voitaisiin havaita tikku. Näitä on suoritettu neljässä eri tapauksessa, nimittäin: 1) näkyvä valo ja valonilmaisimien lähtösignaa-lien laskeminen yhteen, 2) näkyvä valo ja valonilmaisimien lähtösignaa-lien kertominen keskenään, 3) infrapunainen valo ja valonilmaisimien lähtösignaalien laskeminen yhteen sekä 4) infrapunainen valo ja valonilmaisimien lähtösignaalien kertominen keskenään. Näistä tutkimuksista ja arvioinneista saatiin alla olevassa taulukossa ilmoitetut arvot maksimimäärille kuituja, jotka yhtäaikaisesti saavat vaikuttaa kumpaankin valonkimppuun ilman, että tikun havaitseminen käy mahdottomaksi. Tutkimukset ja arvioinnit suoritettiin kahdelle eri paksuiselle tikulle, nimittäin osaksi 100 ^um ja osaksi 200 ^um.

Yhteenlask.signaalit Kerrotut signaalit Tikun paksuus ^um Näkyvä valo IR-valo Näkyvä valo IR-valo 100 3 6 8 40 200 5 7 20 50

Kuten tästä taulukosta suoraan ilmenee niin sekä valonilmaisimien lähtösignaalien kertominen niiden yhteenlaskemisen sijasta että infrapunai-sen valon käyttö näkyvän valon sijasta parantaa huomattavasti herkkyyttä tikkujen suhteen kuituihin verrattuna. Verrattomasti paras tulos saadaan kuitenkin, jos kummankin valonilmaisimen lähtösignaalit sekä kerrotaan että käytetään infrapunaista valoa, jolloin saavutetaan sellainen herkkyys tikkujen suhteen kuituihin nähden, joka on noin 10 kertaa suurempi kuin valonilmaisimien yhteenlaskussa ja näkyvää valoa käytettäessä saatu.

Analysaattoriyksikkö 7 voi yksinkertaisimmassa tapauksessa olla muotoiltu laskemaan tilapäisiä, tikkujen massalietevirrassa aiheuttamia taajuuden vähennyksiä signaalikertojan 8 lähettämässä lähtösignaalissa tiettynä ajanjaksona. Täten saadaan tietää tikkujen lukumäärä siinä

Claims (12)

1. 7 57846 massassa, joka kysymyksessä olevana aikavälinä on kulkenut mittauskanavan 1 lävitse. Keksinnön erään edullisen edelleen kehittelyn mukaisesti signaalin analysaattoriyksikkö 7 on sitä paitsi muotoiltu määräämään mainittujen tikkujen aiheuttamien tilapäisten .amplitudin vähennysten suuruuden ja kestoajan signaalikertojan 8 lähettämässä lähtösignaalissa. Täten saadaan tietoa tikkujen poikkileikkausmitasta (paksuus) ja pituudesta, koska kuten edellä on mainittu, amplitudin vähennyksen suuruus on amplitudin vähennyksen aiheuttavan tikun poikkileikkausmitta, kun taas amplitudin vähennyksen kestoaika muodostaa tikun paksuuden mitan. Analysaattoriyksikkö voi tällöin mielellään olla järjestetty jakamaan amplitudin vähennykset signaalikertojan 8 lähtösignaalissa niiden suuruuden ja kestoajan mukaisiin ryhmiin ja laskemaan amplitudin vähennysten kokonaismäärän jokaisessa tällaisessa ryhmässä tiettynä aikavälinä. Täten saadaan tietää massan sisältämien tikkujen kokonaismäärä tikkujen eri suuruusryhmissä. Tikut voidaan esimerkiksi jakaa 16 sellaiseen paksuus/ pituusryhmään esimerkiksi paksuusvälein 80-150 ^um, 150-250 /um, 25Ο-5ΟΟ /Um ja >500 yum ja pituusvälein 0-1 mm, 1-2 mm, 2-4 mm ja > 4 mm.
2. 1. Menetelmä tikkujen havaitsemiseksi massasta, jossa massaliete johdetaan valoaläpäisevät seinämät omaavan mittauskanavan (1) läpi, kaksi keskenään kohtisuoraa valonsädekimppua (5, 4) suunnataan mittauskanavan lävitse yhteiseen, mittauskanavan virtaussuuntaan nähden kohtisuoraan tasoon, ja kummankin mittauskanavasta ulostunkeutuvan valonkimpun voimakkuus mitataan kahdella valonilmaisimella (5, 6), tunnettu siitä, että kummankin valonilmaisimen (5, 6) lähtösignaalit kerrotaan ^ keskenään (8) niin että saadaan kummankin valonilmaisimen lähtösignaalia edustava tuote, yhdistetty signaali, jota analysoidaan (7) siinä esiintyvien amplitudin vaihteluiden suhteen.
3. 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kummassakin valonkimpussa (3, *0 käytetään sellaista valoa, jonka aallonpituus on infrapunaiselta aallonpituusalueelta.
4. 3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että tikkujen massalietevirrassa aiheuttamien tilapäisten amplitudin vähennysten lukumäärä yhdistetyssä signaalissa lasketaan tiettynä aikavälinä. 8 57846
5. 4. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen menetelmä, tunnet-t u siitä, että tikkujen massalietevirrassa aiheuttamien tilapäisten amplitudin vähennysten suuruus mitataan.
6. 5. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen menetelmä, tunnet-t u siitä, että tikkujen massalietevirrassa aiheuttamien tilapäisten amplitudin vähennysten kestoaika yhdistetyssä signaalissa mitataan.
7. 6. Patenttivaatimusten 4 ja 5 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että tikkujen massalietevirrassa aiheuttamat tilapäiset amplitudin vähennykset yhdistetyssä signaalissa jaetaan ryhmiin suuruutensa ja/tai kestoaikansa mukaan ja että jokaisessa tällaissa ryhmässä tapahtuvien 'amplitudin vähennysten lukumäärä lasketaan tiettynä aikavälinä.
8. 7. Laite tikkujen havaitsemiseksi massasta jonkin patenttivaatimusten 1-6 mukaisella menetelmällä, joka käsittää valoaläpäisevät seinämät omaavan mittauskanavan (1), kaksi mittauskanavan sivulla olevaa valonlähdettä, jotka on asetettu suuntaamaan kaksi keskenään kohtisuoraa valonsädekimppua (3, 4) mittauskanavaa kohden yhteisessä, mittauskanavan virtaussuuntaan nähden kohtisuorassa tasossa, ja kaksi valonilmai-sinta (5, 6), jotka on sijoitettu vastaanottamaan mainitut valonsäde-kimput (3, 4) niiden kuljettua mittauskanavan läpi ja synnyttämään näiden valonsädekimppujen voimakkuutta edustavia lähtösignaaleja, tunnettu siitä, että se sisältää signaalikertojan (8), johon tulevat kummankin valonilmaisimen (5, 6) lähtösignaalit, jotka ovat järjestetyt synnyttämään valonilmaisimien lähtösignaaleja edustavan tuotteen, yhdistetyn signaalin, sekä signaaleja muokkaavat elimet (7), joihin signaalikertojan (8) lähettämä yhdistetty signaali kulkeutuu ja jotka analysoivat tämän signaalin siinä esiintyvien amplitudin vaihteluiden suhteen.
9. 8. Patenttivaatimuksen 7 mukainen laite, tunnettu siitä, että mainitut valonlähteet ovat sellaisia, joiden lähettämä säteily sijaitsee infrapunaisella aallonpituusalueella. 1 Patenttivaatimusten 7 tai 8 mukainen laite, tunnettu siitä, että mainitut signaaleja muokkaavat elimet (7) ovat järjestetyt laskemaan signaalikertojan (8) lähettämässä yhdistetyssä signaalissa esiintyvien tilapäisten amplitudin vähennysten lukumäärän tiettynä aikavälinä . 9 57846
10. 10. Jonkin patenttivaatimusten 7-9 mukainen laite, tunnettu siitä, että mainitut signaaleja muokkaavat elimet (7) ovat järjestetyt määräämään signaalikertojan (8) lähettämässä yhdistetyssä signaalissa esiintyvien tilapäisten amolitudin vähennysten suuruuden.
11. 11. Jonkin patenttivaatimusten 7_9 mukainen laite, tunnettu siitä, että mainitut signaaleja muokkaavat elimet (7) ovat järjestetyt määräämään signaalikertojan (8) lähettämässä yhdistetyssä signaalissa esiintyvien tilapäisten amplitudin vähennysten kestoajan.
12. 12. Patenttivaatimusten 10 ja 11 mukainen laite, tunnettu siitä, että mainitut signaaleja muokkaavat elimet (7) ovat järjestetyt jakamaan signaalikertojan (8) lähettämässä yhdistetyssä signaalissa esiintyvät tilapäiset amplitudin vähennykset ryhmiin niiden suuruuden ja/tai kestoajan mukaan sekä laskemaan jokaisessa sellaisessa ryhmässä tiettynä aikavälinä tapahtuvien amplitudin vähennysten lukumäärän.