FI56903C - Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial - Google Patents
Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial Download PDFInfo
- Publication number
- FI56903C FI56903C FI2738/73A FI273873A FI56903C FI 56903 C FI56903 C FI 56903C FI 2738/73 A FI2738/73 A FI 2738/73A FI 273873 A FI273873 A FI 273873A FI 56903 C FI56903 C FI 56903C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- radiation
- detector
- source
- paper
- web
- Prior art date
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 62
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 18
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 8
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 8
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000011121 hardwood Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 239000011122 softwood Substances 0.000 description 2
- 241001417527 Pempheridae Species 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 238000003556 assay Methods 0.000 description 1
- 235000013405 beer Nutrition 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000003670 easy-to-clean Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
- G01N21/3559—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content in sheets, e.g. in paper
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/34—Paper
- G01N33/346—Paper sheets
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Description
RSr^l ΓβΙ ri1xKUULUTUSJULKAISU CCQno TOäÄ lBJ (11) UTLÄGGNINOSSKRIFT 56903 C ¢45^ Patentti ny'irnr tty 10 M '/'2.0 ^ ^ ^ (51) Kv.lk.*/lnt.CI.‘ G 01 N 21/30 SUOM I —FI N LAN D (21) P*t«nttlh»k«mu* — Pat«ntamttknin| 2738/73 (22) Htkemlspilvi — Aniöknln(tda| 03· 09*73 * ' (23) Alkuptivl—Glltifh«tid>f 03.09.73 (41) Tullut julklMktl — Bllvlt offentllj 06.03.7^
Patentti- ja rekisterihallitus .... U1LI1. , _ . . . , , (44) Nlhtivlkilpsuiofi ja kuul,|ulkalaun pvm. —
Patent- OCh registerstyrelsen Anrtkan utl»|d och utl.skrffitM publkand 31.12.79 (32)(33)(31) Pyydetty etuoikeus— kglrd prloritet 05.09.72 USA(US) 286053 Toteennäytetty—Styrkt (71) Measurex Corporation, 101+75 Imperial Avenue, Cupertino, California 95011+, USA(US) (72) John Joseph Hovarth, Sein Jose, California, USA(US) (7I+) Berggren Oy Ab (5I+) Laite raina-aineen kosteuspitoisuuden mittaamiseksi - Anordning för mätning av fuktinnehället i ett arkmaterial
Keksintö kohdistuu laitteeseen raina-aineen kosteuspitoisuuden mittaamiseksi, jolla aineella on olennaisesti säteilyä hajottavia ja imeviä ominaisuuksia, tarkemmin sanottuna sellaiseen laitteeseen, joka on esitetty patenttivaatimuksen 1 johdannossa.
Kosteusmittareita, joilla mitataan raina-aineen, kuten paperikoneella valmistettavana olevan paperin kosteuspitoisuutta, tunnetaan ennestään. Mittariin kuuluu normaalisti infrapunasäteilyn lähde, joka lähettää säteilyä kahdella spektrinvyöhykkeellä. Vertailuvyöhyke, jonka aaltopituus on esim. 1,7 mikronia, säteilee paperiin, ja se säteilyn määrä, joka läpäisee paperin tai heijastuu paperista, on funktio tietyistä paperin parametreista. Tiedetään, että 1,7 mikronin aaltopituuden sisältävän spektrinvyöhykkeen käsittämä aalto-pituusalue on verraten epäherkkä paperin kosteuspitoisuudelle. Säteilylähde kehittää kuitenkin säteilyä myös spektrinvyöhykkeellä, joka sisältää 1,94 mikronin aaltopituuden, joka sisältyy paperissa olevan veden eli kosteuden absorptiovyöhykkeeseen. Tällöin se infrapunavalon eli -säteilyn määrä, joka läpäisee tai heijastuu 1,94 mikronin aaltopituudella, on funktio sekä paperista että paperissa olevan veden määrästä.
2 56903
Edellä selitettyä tekniikkaa käyttävän kosteusmittarin yksityiskohdat on selitetty tarkemmin US-patenttijulkaisussa 3 641 349.
Joskin ennestään tunnetuilla kosteusmittareilla saadaan tarkkaan mitatuksi veden paino paksuhkoissa paperilaaduissa, niillä on melkein mahdotonta mitata koneen käydessä veden painoa keveissä papereissa kuten silkkipapereissa. Ainoa käyttökelpoinen tekniikka on ollut suorittaa määritys koneesta otetusta näytteestä laboratoriossa. Ilmeistä on, että tällaisella tekniikalla ei päästä tarkkaan paperin vesipitoisuuden säätöön sen valmistusprosessin aikana. Erittäin painavien paperilaatujen kosteusmittaus on myös ollut vaikeata paperin suhteellisen säteilyn läpäisemättömyyden johdosta.
Koska paperikoneen tuotantonopeutta rajoittaa sen kuivatuskapasiteetti, olisi toivottavaa rajoittaa vesipitoisuus mahdollisimman pieneksi. Toisaalta eräitä paperityyppejä saadaan taloudellisemmin valmistetuksi mahdollisimman suurta vesipitoisuutta käyttäen.
Kosteuden mittaukseen liittyviin probleemoihin kuuluu myös mittauslaitteen herkkyys erilaisiin paperilaatuihin nähden. Edellä mainitussa US-patenttijulkaisussa on esitetty eräs tämän probleeman ratkaisu. Mittaukseen vaikuttaa myös paperissa olevien kuitujen esivalmistelu. Esimerkiksi kuitujen kemiallinen tai mekaaninen valmistelu vaikuttaa nykyiseen mittaustekniikkaan.
Niinpä esillä olevan keksinnön eräänä yleisenä tarkoituksena on saada aikaan entistä parempi laite raina-aineen jonkin ominaisuuden mittaamiseksi.
Keksinnön tarkoituksena on myös saada aikaan edellämainitunlainen laite, joka on erittäin herkkä keveiden raina-aineiden kosteuspitoisuudelle .
Keksinnön tarkoituksena on myös saada aikaan edellämainitunlainen laite, joka ei ole herkkä paperin pinta-alapainon vaihteluille eikä kuitujen esivalmistelun vaihteluille kosteuspitoisuutta mitattaessa.
Keksinnön tarkoituksena on myös saada aikaan edellämainitunlainen laite, joka on erittäin herkkä erittäin raskaiden raina-aineiden kosteuspitoisuudelle.
LG903
Keksinnön tarkoituksena on myös saada aikaan edellämainitunlainen laite, jossa standardoimismenettely on entistä yksinkertaisempi.
Keksinnön tarkoituksena on myös saada aikaan erittäin suuri mittaustarkkuus sekä keveiden että raskaiden raina-aineiden kosteusmittauksessa .
Keksinnön tarkoituksena on myös saada aikaan edellämainitunlainen laite, joka ei ole sanottavasti herkkä raina-aineella oleville päällysteille raina-aineen kosteutta mitattaessa.
Edellä luetellut tarkoitukset saavutetaan seuraavien patenttivaatimusten tunnusmerkeistä ilmenevällä tavalla.
Keksintöä selitetään lähemmin seuraavassa viittaamalla oheisiin piirustuksiin:
Kuvio 1 on osa-perspektiivikuvanto keksinnön mukaisesta laitteesta eli paperin vedenpainon mittauslaitteesta; kuvio 2 on yksinkertaistettu poikkileikkauskuvanto kuvion 1 viivaa 2-2 myöten; kuvio 3 on poikkileikkauskuvanto kuvion 2 viivaa 3-3 myöten; kuvio 4 on kuvion 2 vaihtoehtoinen sovellutusmuoto; kuviot 5 ja 6 ovat diagrammoja, jotka havainnollistavat keksinnön paremmuutta tunnettuun tekniikkaan verrattuna; kuvio 7 on poikkileikkauskuvanto kuvion 2 muunnoksesta, joka erityisesti sopii raskaiden aineiden kosteuden mittaukseen; kuvio 8 on kuvioon 2 nähden vaihtoehtoinen sovellutusmuoto; kuvio 9 on kuvioon 2 nähden vaihtoehtoinen sovellutusmuoto; ja kuvio 10 on kuvioon 8 nähden vaihtoehtoinen sovellututmuoto.
Niin kuin edellä mainitussa US-patenttijulkaisussa on selitetty, paperikoneella valmistettavana olevan raina-aineen jotakin ominaisuutta voidaan mitata asentamalla säteilyn ilmaisin ja säteilyn lähde vaunulle. Vaunu pyyhkäisee edestakaisin koneen poikkisuunnassa, rai-nan kulkiessa koneen suunnassa eli koneen poikkisuuntaan nähden kohtisuorassa suunnassa.
4 E» ϋ 90 3
Kuvio 1 esittää pyyhkäisintä 10, johon kuuluu kehys 11, jossa on jonkin matkan päässä toisistaan yhdensuuntaiset ylinen ja alinen palkki 12, 13, jotka ovat raina-aineen eli paperin 14 poikkisuunnassa. Paperi 14 kulkee pyyhkäisimen 10 läpi nuolen 16 osoittamaan suuntaan. Kehykselle 11 on asennettu ylinen ja alinen mittauspää 17, 18, jotka liikkuvat kehyksen pituussuunnassa eli paperirainan 14 poikittais-suunnassa.
Tarkemmin sanottuna paperiraina 14 kulkee paperin ohjainten 17a ja 18a muodostaman raon 19 läpi. Alinen mittauspää 18 sisältää säteilyn lähteen, joka lähettää säteilyä, joka osuu paperiin 14. Tämän säteilyn voimakkuuden, ja sen jälkeen kun paperi 14 on vaimentanut sen, havaitsee säteilyn ilmaisin, joka sisältyy mittauspäähän 17.
Edellä selitetty on kaaviollisesti esitetty kuviossa 2, jonka mukaan tasomaisessa paperin ohjaimessa 17a on ilmaisimeen yhdistetty aukko eli reikä 21, ja tasomaisessa paperin ohjaimessa 18a on säteilyn lähteeseen yhdistetty aukko eli reikä 22. Kun mitataan paperin kosteuspitoisuutta eli vedenpainoa, käytetään infrapunasäteilyn lähdettä, joka sisältää aallonpituudet 1,7 mikronia ja 1,94 mikronia.
Kuten alussa on selitetty, näiden taajuuksien käyttö paperin kosteuspitoisuuden mittauksessa on tekniikassa vanhastaan tunnettua. Säteilyn lähde ja ilmaisin ja niihin liittyvät reiät 21 ja 22 ovat toisiinsa nähden porrastetut piirustuksessa esitettyyn tapaan, yhdensuuntaisten, tasomaisten ohjainten 17a, ja 18a suunnassa.
Molempien ohjainten 17a ja 18a tasopinnassa on heijastava päällyste säteilyn lähteestä tulevan säteilyn heijastamiseksi. Tämä on esitetty kuviossa 3, jonka mukaan ohjaimella 18a on heijastava päällyste 23, ja samoin ohjaimella 17a on heijastava päällyste 24. Tämä päällyste on mieluimmin hyvin kova, hyvin heijastava ja hyvin kiillotettu. Täten pinta on helppo puhdistaa. Joitakin käyttötarkoituksia varten paperin ohjainten 17a ja 18a pinnat voivat olla anodisesti käsiteltyä alumiinia. Monissa tapauksissa voidaan edullisesti käyttää ei-peili-mäistä heijastuspintaa, niin kuin jäljempänä selitetään. Heijastus-pinta voi esimerkiksi koostua peilipinnasta, joka on päällystetty läpikuultavalla kvartsi- tai lasikeramiikkakerroksella. Vihdoin pintojen ei tarvitse olla tasomaiset eikä yhdensuuntaiset. Ensiksi mainitulla saavutetaan optiset ominaisuudet, joita voidaan helposti 5 S G 90 3 käsitellä. Pintojen muoto voi kuitenkin olla kiekkomainen tai varsin epäsäännöllinen. Mikä tahansa heijastava pinta, joka toimii niin, että se palauttaa lähteestä tulevan säteilyn paperiin, on sopiva.
Lähteestä tuleva säteily saapuu ilmaisimeen varsin monimutkaista kulkuteiden 26 sarjaa myöten, jota osaksi on esitetty katkoviivoilla. Aluksi säteily osuu paperiin 14 siten, että osa siitä läpäisee paperin ja osa heijastuu siitä. Pinnat 23 ja 24 heijastavat taas säteilyn takaisin paperiin, jossa sille tapahtuu samaa, nimittäin että se osaksi läpäisee ja osaksi heijastuu. Lisäksi itse paperi, koska se on läpikuultavaa, hajottaa säteilyä, lisäten kulkuteiden lukumäärää.
Sitä keskimääräistä lukua, joka osoittaa, miten monta kertaa säteily kulkee paperin läpi matkallaan lähteestä ilmaisimeen, voidaan helposti säätää asettelemalla laitteen geometriaa. Tällä tavoin paperi voidaan saattaa näyttämään niin paksulta kuin halutaan.
On todettu, että herkkyys kosteudelle suurenee tiettyyn paperin pinta-alapainoon saakka. Tämän kriittisen arvon yläpuolella herkkyys pysyy olennaisesti vakiona. Jotta herkkyys pin€a-alapainoon nähden saataisiin poistetuksi, simuloidaan pinta-alapaino, joka on kriittisen arvon yläpuolella.
Kuvio 5 esittää veden painon V ja infrapunasäteilyn keskinäistä riippuvuutta. Täysi viiva esittää sitä verraten suurta herkkyyttä, joka saavutetaan keksinnön mukaisella laitteella, jossa käyttämällä pintoja 23 ja 24 ja toisiinsa nähden porrastettua lähdettä ja ilmaisinta säteily pakotetaan noudattamaan lukuisia samanaikaisia sattumanvaraisia kulkuteitä, jotka läpäisevät paperin 14 monia kertoja, niin että saavutetaan kuvion 5 mukainen entistä suurempi herkkyys. Täyden viivan kulmakertoimen suuremmuus katkoviivan kulmakertoimeen verrattuna ilmaisee herkkyyden suuremmuuden määrää. Kuvion 5 katkoviiva edustaa tyypillistä tunnetun tekniikan mukaista ominaiskäyrää, jonka mukaan laite havaitsee vain verraten karkeat vedenpainon muutokset. Tämä verraten epäherkkä katkoviiva-ominaiskäyrä saadaan normaalissa kosteuden mittauslaitteessa ohutta raina-ainetta kuten silkkipaperia mitattaessa, koska suurin osa lähteestä tulevasta säteilystä kulkee raina-aineen läpi vain kerran matkallaan lähteen kanssa ojennuksessa olevaan porrastamattomaan ilmaisimeen.
6 W903 Näin ollen tällainen raina-aine ei riittävästi vaimenna säteilyä eli vaikuta siihen.
Ilmaisimen vedenpainon osoituksena antama lopullinen suhde tietenkin standardoidaan ja kalibroidaan raina-aineiden todellisen vedenpainon saamiseksi. Tämä standardointi ja kalibrointi on täysin selitetty edellä mainitussa US-patenttijulkaisussa. Mainittakoon kuitenkin lyhyesti, että siinä käytetään suotimia, jotka simuloivat tunnettua kosteuspitoisuutta kalibroinnin saattamiseksi ajoittain ajan tasalle.
Paitsi että esillä olevan keksinnön mukaisella tekniikalla voitetaan raina-aineen paksuuden aiheuttamat vaikeudet, sillä myös poistetaan mittauslaitteen herkkyys mitattavana olevan raina-aineen muihin parametreihin kuten pinta-alapainoon, kuitujen esivalmisteluun ja kuitukokoon (kova puu - pehmeä puu) nähden. Tämä on esitetty kuviossa 6, jossa täysi viiva (1), (2) esittää tämän keksinnön mukaan saatua ominaiskäyrää, joka ilmaisee vedenpainon V vastaanotetun 1,7 mikronin ja 1,94 mikronin säteilyn suhteen funktiona. Katkoviivakäyrät (1') ja (21) esittävät ennestään tunnettua tekniikkaa, jossa joko paperin pinta-alapaino tai kuitujen esivalmistelu toimii parametrina, joka aiheuttaa virheellisen tuloksen, ellei sitä oteta huomioon.
Näin ollen esillä oleva keksintö on edullinen myös paksumpien aineiden mittauksissa, jossa tähän mennessä pinta-alapaino on ollut parametrinä kosteuspitoisuutta mitattaessa. Esillä olevan keksinnön mukaan pinta-alapaino parametrinä eliminoituu. Sama koskee kuitutyyp-pejä, joihin nähden esimerkiksi se, onko massa peräisin kemiallisesta vai mekaanisesta jauhatuksesta tai lehtipuusta vai havupuusta, normaalisti vaikuttaisi kosteusmittaukseen. On myös todettu, ks. kuv. 2, että sekä lähteen ja ilmaisimen siirtymävälimatka että rai-nan ohjainten välisen raon 19 leveys ovat verraten epäherkkiä, edellyttäen että kriittinen lisäys tehokkaaseen paperin painoon nähden on ylitetty. Sopivat välimatkat enimpiä papereita varten ovat siirtymä 5 cm ja rako 13 mm.
Kuviossa 4 on esitetty säteilyn lähde S ja ilmaisin D, joka on kytketty paperin ohjaimessa 30 oleviin reikiin 28 ja vastaavasti 29.
Reiät ovat kuitenkin raina-aineen 14 samalla puolella eivätkä vastakkaisilla puolilla niin kuin kuviossa 2. Siitä huolimatta saadaan aikaan siirtyminen. Jos laitteeseen kuuluu piirustuksen mukainen heijastava paperin ohjain 31, joka on varustettu heijastuspinnalla 32, syntyy säteilyn kulkuteitä 33, jotka kulkevat paperin 14 läpi 56903 ja takaisin, jolloin ne sekä hajoavat että absorboituvat samaan tapaan kuin kuvion 2 mukaisen sovellutusmuodon yhteydessä on selitetty. Joissakin tapauksissa, varsinkin erityisen raskaiden papereiden mittausta varten, heijastuspinta 32 voidaan kuitenkin jättää pois, niin että laitteessa on vain yksi heijastuspinta eli ohjain 30. Kuvioon on merkitty tällöin syntyvä säteen kulkutie 34, jossa mitattavan ominaisuuden ilmaisemiseen käytetään paperin 14 toisen sivun heijasta-vuutta eikä paperin valonläpäisyominaisuutta. On tietysti ennestään tunnettua, että jokin ominaisuus voidaan mitata Beer'in lain mukaan mittaamalla säteilyn siirtyminen sen läpi tai heijastuminen siitä, minkä tyyppisessä aineessa tahansa, olkoonpa aine rainamaista tai muunlaista.
Kuvio 7 esittää kuvion 2 muunnosta, joka sopii erikoisesti erittäin 2 raskaiden papereiden, esim. 590 g/m painavien papereiden kosteuden mittaamiseen. Heijastuspinnat 23’ ja 24' ovat puolipallon muotoiset. Säteilyn lähde ja ilmaisin sijaitsevat linssien 41 ja 42 takana. Molempien heijastuspintojen kaarevuuskeskipisteet 43 ja 44 sijaitsevat paperin 14' sisässä. Nämä kaksi keskiötä ovat mieluimmin myös samalla suoralla suurimman tehokkuuden saavuttamiseksi.
Laitteen toimiessa heijastuspinnat lähettävät säteilyn toistuvasti takaisin eli palauttavat sen paperin 14' työalueelle, kunnes se saadaan läpäisemään paperi. Tämä on päinvastoin kuin ennestään tunnetuissa laitteissa, joissa suurin osa säteilystä hajaantuu, mistä aiheutuu alhainen herkkyys. Keksinnön mukaisessa laitteessa olennaisesti kaikki säteily, jonka paperi alunperin heijastaa lähteestä, heijastuu takaisin, kunnes se pakottuu paperin läpi.
Kuvion 4 mukaiset sovellutusmuodot toimivat samaan tapaan raskailla papereilla, mutta siirtymä pienentää jossakin määrin tehokkuutta.
Näin ollen esillä olevan keksinnön mukaan säteilyä, jonka raina-aine 14 on vaimentanut tai aabsorboinut joko päästämällä sen lävitseen tai heijastamalla sen, heijastetaan niin, että säteilyn kulkutie joka tapauksessa joutuu moninkertaiseen sattumanvaraiseen kosketukseen raina-aineen kanssa.
Edellä selitettyä keksinnön ajatusta voidaan soveltaa myös muiden raina-aineiden yleisominaisuuksien kuten sen kemiallisen koostumuksen mittaukseen.
8 bS3C3
Niin kuin edellä on mainittu, tiettyjä käyttötarkoituksia varten ei-peilimäinen paperiohjäinten 17a ja 18a heijastuspinta edistää samanaikaisia, sattumanvaraisia säteilyn kulkuteitä, niin että saavutetaan vielä parempi herkkyys. Niin kuin kuviosta 8 näkyy, paperin ohjaimet 17a ja 18a, joissa on toisiinsa nähden porrastetut reiät 21 ja 22, joihin on kytketty ilmaisin D ja vastaavasti säteilyn lähde S, on tälläin peitetty läpikuultavaa ainetta olevilla levyillä 51 ja vastaavasti 52. Levyt 51 ja 52 ovat mieluimmin läpikuultavaa kvartsityyppistä ainetta. Tällainen aine toimii erittäin tehokkaana säteilyn hajottajana. Levyissä 51 ja 52 voi lisäksi olla alumiininen heijastustausta 53 ja 54 heijastusherkkyyden parantamiseksi levyn kaikissa muissa paikoissa paitsi reikien 21 ja 22 kohdalla.
Näin ollen lähteestä 22 tulevan säteilyn hajottaa kvartsikerros 52, saaden aikaan samanaikaisia monilukuisia säteilyn kulkuteitä, jotka paperin 14 läpäistyään (joka itsekin toimii hajotuselimenä, koska se on läpikuultava) heijastuvat ja hajottuvat vielä enemmän alumiini-taus tällä 53 varustetussa hajotuskerroksessa 51.
Kuvion 8 mukainen sovellutusmuoto on erityisen käyttökelpoinen ke- 2 veillä papereilla, esimerkiksi 5-10 g/m painavilla papereilla suoritettavissa mittauksissa. Säteilyn lähteen ja ilmaisimen välinen siirtymä on likimäärin 5 cm.
Kuvioiden 9 ja 10 mukaiset sovellutusmuodot ovat sen sijaan parem- 2 min sopivia raskaan, esimerkiksi 490 g/m painavan paperin mittaamiseen. Näissä sovellutusmuodoissa reiät 21 ja 22 eivät ole toisiinsa nähden porrastettuja, vaan kohdakkain. Lisäksi kuvion 9 mukaan rei'issä, jotka tietenkin on yhdistetty säteilyn lähteeseen S ja vastaavasti ilmaisimeen D, on kvartsi-ikkunat eli - levyt 55 ja 56. Tämä sovitus antaa hyvän herkkyyden kosteusmittauksille siitäkin huolimatta, että raskaampi paperiaine 14 antaa merkitsevästi suuremman hajotuksen kuin kevyt paperi, koska hajotusikkunat eli -levyt 55 ja 56 minimoivat kosteusmittauksen herkkyyden mahdolliset muutokset hajotuskykynsä johdosta. Samalla se, että säteilyn lähde ja ilmaisin ovat kohdakkain, päästää merkitsevästi suuremman määrän säteilyä läpi lähteestä ilmaisimeen kuin kuvion 8 mukaisessa siirtymä-sovituksessa. Kuvion 10 mukaiset lisäheijastuskerrokset antavat lisää tehoa.
9 56903
Joskin kuvioissa 8, 9 ja 10 on hajotusikkunat tai -elimet sekä säteilyn lähteen että ilmaisimen kohdalla, on todennäköistä, että olisi sopivaa käyttää vain yhtä ikkunaa varsinkin raskaalla paperilla. Todennäköistä on kuitenkin myös se, että käyttämällä symmetristä sovitusta, jossa on hajotuselin sekä lähteen että ilmaisimen kohdalla, saadaan aikaan symmetria, jolla on se etu, että se pienentää mittauslaitteen herkkyyttä paperin 14 lepatukselle.
Hyvän tehokkuuden kannalta on myös tärkeätä sijoittaa hajotusikkunat tai -levyt riittävän lähelle raina-ainetta, niin että säteily saadaan tavoitetuksi siten, että se liikkuu edestakaisin muodostaen mainitut sattumanvaraiset kulkutiet.
Vielä eräs kuvioiden 8-10 mukaisten sovellutusmuotojen ja varsinkin kuvion 9 mukaisen sovellutusmuodon etu on se, että standardoinnissa, kun mittauslaitteen kalibrointi halutaan saattaa ajan tasalle, ei tarvita kuivaa paperia edustavaa vertailustandardia. Toisin sanoen paperi 14 voidaan vain poistaa raosta ja suorittaa standardointi-mittaukset ilman muuta, koska hajotusikkunat itse toimivat "kuivana" standardina. Nämä sovellutusmuodot vähentävät myös herkkyyttä paperin päällysteeseen nähden, koska, mikä pitää paikkansa myös raskaan paperin tapauksessa, päällysteen suurempi hajotuskyky mitätöityy hajotus-ikkunoiden johdosta. Etu on lisäksi se, että äärimmäisen tehokkaita optisia lähteitä voidaan käyttää. Tämä johtuu siitä, että säteilyn tarvitsee saavuttaa vain hajotusikkuna ollakseen hyödyllinen, sen sijaan, että aikaisemmissa rakenteissa hyvin rajoitetun säteen tarve rajoitti optista tehokkuutta.
Eräät esillä olevan keksinnön edut voidaan teoreettiselta kannalta selittää vertaamalla paperirainaa suurennettuna heinäkasaan. Paperi koostuu kuitukerroksista, jolloin näiden kerrosten läpi kulkeva valo heijastuu sattumanvaraisesti. Tällaista paperimallia itse asiassa simuloidaan tämän keksinnön mukaan käytetyillä kahdella hajotusikku-nalla. Tämä siksi, että niiden väliin tavoitettu valo heijastuu edestakaisin sattumanvaraisesti.
1° Sfc903 Näin ollen on ilmeistä, että kaksi hajotuslaattaa tai -levyä muodostaa näyte- eli optisen kennon, jolla on samat optiset ominaisuudet kuin kuivalla paperilla. Kun läpikuultavien hajotuslevyjen välimatka lisäksi valitaan asianmukaisesti ja säteilyn lähteen ja ilmaisimen välille (eräissä tapauksissa) järjestetään siirtymä, näytekennolla on raskaan kuivan paperin optiset ominaisuudet.
Edellä olevalla on se vaikutus, että se vähentää keksinnön mukaisen mittausjärjestelmän herkkyyttä paperin pinta-alapainoon, kuitutyyp-piin, päällysteisiin ja lisäaineisiin nähden. Toisin sanoen, koska näytekenno simuloi verraten raskasta paperia, verraten keveän rainan märkää paperia tuominen laitteeseen ei muuta merkitsevästi kokonais-yhdistelmän tehokasta paksuutta, so. tuodun näytteen ja simuloidun paperin paksuuden yhdistelmää. Näin ollen säteily, jota käytetään vedenpainon mittaukseen esillä olevan keksinnön mukaisesti, havaitsee vain vesipitoisuuden muutoksen eikä pinta-alapaino siihen sanottavasti vaikuta. Vielä tärkeämpää on, että simuloimalla paksumpaa paperia saavutetaan keveän paperin vesipitoisuuden mittauksessa tarkkuus, joka aikaisemmin saavutettiin vain raskaan paperin mittauksessa.
Koska, niin kuin edellä on mainittu, näytekennon näennäisen, simuloidun paperin paksuuden keskimääräisen optisen kulkutien pituuden määräävät läpikuultavien hajotuslevyjen välimatka ja säteilyn lähteen ja ilmaisimen välinen porrastus, optinen kenno voidaan itse asiassa virittää niin, että sillä saadaan mittaukset suoritetuksi mahdollisimman hyvin tietyllä paperin paksuusaiueella. Tarkemmin sanottuna, virittämällä saadaan aikaan simuloitu paperin paksuus, joka on paljon suurempi kuin paperinäytteen todellinen paksuus.
Erittäin raskaiden paperien tapauksessa saattaa olla mahdotonta saada aikaan edellä selitettyä epäherkkyyttä pinta-alapainoon nähden, koska optinen tehokkuus eli lineaarisuus on säilytettävä. Sen vuoksi ei ole mahdollista simuloida suhteellisesti paljon raskaamman paperin paksuutta.
Toiselta näkökannalta on myös ilmeistä, että sen sijaan että käytetään kahta hajotusikkunaa tai -levyä, toinen hajotusikkunoista voidaan korvata raskaalla paperilla, joka itse toimii hajottimena.
Claims (10)
1. Laite raina-aineen (14, 14') kosteuspitoisuuden mittaamiseksi, jolla aineella on olennaisesti säteilyä hajottava ja imeviä ominaisuuksia, missä laitteessa on elimiä (17, 18), jotka rajaavat raina-aineen radan ja käsittävät toisaalta säteilylähteen (S), joka sijaitsee radan toisella puolen ja lähettää sellaisen spektrinvyöhykkeen säteilyä, joka on suhteellisen herkästi veteen imeytyvää ja toisen spektrinvyöhykkeen säteilyä, joka suhteellisen epäherkästi imeytyy veteen, kun taas kummankin spektrinvyöhykkeen säteilyt imeytyvät ja hajottuvat herkästi raina-aineeseen, ja toisaalta radan vieressä olevan ilmaisimen (D) säteilyn osan vastaanottamiseksi tämän kohdattua radalla olevan raina-aineen, ja vastaanotetun säteilyn muuntamiseksi sähköiseksi signaaliksi, sekä elimiä (23, 24; 23', 24'; 32; 51-54; 55, 56), jotka ovat sovitetut siten lähteen, ilmaisimen ja radan suhteen, että ne yhteistoiminnassa raina-aineen kanssa aikaansaavat olennaisen ja toistuvan hajonnan heijastamalla olennaisesti kaiken säteilyn sen tiellä lähteestä ilmaisimeen olennaisen säteily-määrän estämiseksi siirtymästä suoraan lähteestä ilmaisimeen, minkä ohessa sähköinen signaali on suhteellinen kosteuspitoisuuteen ja kosteuden mittaaminen on olennaisesti riippumaton raina-aineen hajotus- tai imemisvaihteluista, tunnettu siitä, että suoran siirtymisen estävät elimet (23, 24; 23', 24'; 32; 51-54; 55, 56) käsittävät säteilyä hajottavaa ainetta (51, 52; 55, 56) sellaisessa asemassa radan varressa, että se katkaisee kaiken säteilyn sen matkalla lähteestä (S) ilmaisimeen (D).
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että radan rajaavat osat (17, 18) käsittävät erillään olevia osia 17a, 18a; 30, 31), joissa on pintoja, joiden välitse raina-aine (14, 14') kulkee.
3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen laite, tunnettu siitä, että erillään olevissa osissa (17a, 18a; 30, 31) on aukkoja (21, 22; 28, 29), joihin lähde (S) ja ilmaisin (D) on yhdistetty.
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen laite, tunnettu siitä, että raina-aine (14, 14’) kulkee yhtenäisenä yli ainakin yhden aukon ja peittää ainakin yhden aukoista (21, 22; 28, 29).
12 SG903
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen laite, tunnettu siitä, että lähde (S) ja ilmaisin (D) ovat yhdistetyt raina-aineen (14, 14') radan vastakkaisilla puolilla oleviin aukkoihin (21, 22).
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunnettu siitä, että lähteen (S) aukko (22) on rataan nähden porrastettu sivuittain ilmaisimen (D) aukon (21) suhteen.
7. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunnettu siitä, ettällähteen (S) ja ilmaisimen (D) aukot (21, 22) sijaitsevat kohdakkain .
8. Patenttivaatimuksen 7 mukainen laite, tunnettu siitä, että säteilyä hajottava aine (55, 56) on lähteen (S) ja ilmaisimen (D) aukkojen (21, 22) laajuinen.
9. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunnettu siitä, että säteilyä hajottava aine (51, 52) on läpinäkyvää kvartsia, jonka tausta (53, 54) aukkoja (21, 22) lukuun ottamatta on heijastava.
10. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että raina-aine (14, 14') on paperia.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US28605372A | 1972-09-05 | 1972-09-05 | |
| US28605372 | 1972-09-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI56903B FI56903B (fi) | 1979-12-31 |
| FI56903C true FI56903C (fi) | 1980-04-10 |
Family
ID=23096856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI2738/73A FI56903C (fi) | 1972-09-05 | 1973-09-03 | Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3793524A (fi) |
| JP (1) | JPS5749854B2 (fi) |
| CA (1) | CA958915A (fi) |
| CH (1) | CH570618A5 (fi) |
| DE (1) | DE2343869C3 (fi) |
| FI (1) | FI56903C (fi) |
| GB (1) | GB1420854A (fi) |
| NO (1) | NO146517C (fi) |
| SE (1) | SE388485B (fi) |
Families Citing this family (44)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2295419A1 (fr) * | 1974-12-21 | 1976-07-16 | Kyoto Daiichi Kagaku Kk | Dispositif de mesure de reflectance et structure de papier de test composite faisant l'objet d'une telle mesure |
| US4027161A (en) * | 1976-04-05 | 1977-05-31 | Industrial Nucleonics Corporation | Minimizing wave interference effects on the measurement of thin films having specular surfaces using infrared radiation |
| US4052615A (en) * | 1976-07-30 | 1977-10-04 | Industrial Nucleonics Corporation | Spherical cavity method and apparatus for measuring a sheet material property using infrared radiation |
| US4306151A (en) * | 1978-02-03 | 1981-12-15 | Measurex Corporation | Method of measuring the amount of substance associated with a material in the presence of a contaminant |
| US4224513A (en) * | 1978-04-06 | 1980-09-23 | Measurex Corporation | Apparatus for the on-line measurement of the opacity of a paper sheet |
| GB2046432B (en) * | 1979-04-09 | 1983-05-11 | Infrared Eng Ltd | Apparatus for determining the thickness moisture content or other parameter of a film or coating |
| US4323311A (en) * | 1979-05-11 | 1982-04-06 | Sira Institute Limited | Apparatus and method for detecting holes in sheet material |
| US4277177A (en) * | 1979-12-05 | 1981-07-07 | Measurex Corporation | Apparatus to measure select properties of a moving sheet |
| US4319847A (en) * | 1979-12-05 | 1982-03-16 | Measurex Corporation | Apparatus to measure select properties of a moving sheet with improved standardization means |
| JPS6042359Y2 (ja) * | 1980-07-04 | 1985-12-26 | 横河電機株式会社 | 赤外線分析装置 |
| US4406545A (en) * | 1981-05-07 | 1983-09-27 | Western Electric Company, Inc. | Methods of and apparatus for measuring surface areas |
| JPS57186156A (en) * | 1981-05-13 | 1982-11-16 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Characteristic measuring device for sheet of body |
| JPS5838036A (ja) * | 1981-08-29 | 1983-03-05 | Fujitsu Ltd | レベル検出方式 |
| JPS5842657U (ja) * | 1981-09-12 | 1983-03-22 | 加茂 栄一 | 製紙における光学式坪量検出装置 |
| CA1205925A (en) * | 1982-05-17 | 1986-06-10 | John A. Dahlquist | Gauge for measuring a sheet of material |
| GB2127541B (en) * | 1982-09-27 | 1986-08-20 | Imp Group Plc | Monitoring sheet material |
| US4577104A (en) * | 1984-01-20 | 1986-03-18 | Accuray Corporation | Measuring the percentage or fractional moisture content of paper having a variable infrared radiation scattering characteristic and containing a variable amount of a broadband infrared radiation absorber |
| US4769544A (en) * | 1984-06-01 | 1988-09-06 | Measurex Corporation | System and process for measuring fiberglass |
| US4766315A (en) * | 1986-07-14 | 1988-08-23 | Accuray Corporation | Apparatus and process for measuring physical parameters of sheet material |
| US4733078A (en) * | 1986-08-25 | 1988-03-22 | Accuray Corporation | Measurement of moisture-stratified sheet material |
| US4928013A (en) * | 1987-02-17 | 1990-05-22 | Measurex Corporation | Temperature insensitive moisture sensor |
| US4823008A (en) * | 1987-11-05 | 1989-04-18 | Process Automation Business, Inc. | Apparatus and methods employing infrared absorption means to measure the moisture content of heavy grades of paper |
| US4957770A (en) * | 1989-01-27 | 1990-09-18 | Measurex Corporation | Coating weight measuring and control apparatus and method |
| US5049216A (en) * | 1989-05-31 | 1991-09-17 | Measurex Corporation | Warp control apparatus and method for sheet material |
| US5166747A (en) * | 1990-06-01 | 1992-11-24 | Schlumberger Technology Corporation | Apparatus and method for analyzing the composition of formation fluids |
| US5124552A (en) * | 1991-01-28 | 1992-06-23 | Measurex Corporation | Sensor and method for measuring web moisture with optimal temperature insensitivity over a wide basis weight range |
| US5338361A (en) * | 1991-11-04 | 1994-08-16 | Measurex Corporation | Multiple coat measurement and control apparatus and method |
| DE69233073T2 (de) * | 1991-12-09 | 2004-03-18 | Measurex Corp., Cupertino | Sensor und Verfahren zur Messung ausgewählter Bestandteile eines Materials |
| US5276327A (en) * | 1991-12-09 | 1994-01-04 | Measurex Corporation | Sensor and method for mesaurement of select components of a material |
| US5250811A (en) * | 1991-12-20 | 1993-10-05 | Eastman Kodak Company | Method for determining compositional information of a multilayer web |
| US5821536A (en) * | 1995-06-07 | 1998-10-13 | Pettit; John W. | Solid state infrared gauge |
| FI110638B (fi) * | 1998-10-06 | 2003-02-28 | Metso Paper Automation Oy | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi |
| US6253604B1 (en) | 2000-01-19 | 2001-07-03 | Impact Systems, Inc. | Scanner with interior gauging head and combined dust and drive belt |
| EP1271130A1 (en) * | 2001-06-20 | 2003-01-02 | Voith Paper Patent GmbH | Scanner |
| US6960769B2 (en) * | 2002-10-03 | 2005-11-01 | Abb Inc. | Infrared measuring apparatus and method for on-line application in manufacturing processes |
| US8345254B2 (en) * | 2004-02-13 | 2013-01-01 | David Prystupa | Multiple pass imaging spectroscopy |
| JP5614633B2 (ja) * | 2010-07-29 | 2014-10-29 | 国立大学法人九州工業大学 | 回転工具と被加工物間の間隙長さ測定方法及びシステム |
| US8314388B2 (en) | 2010-12-20 | 2012-11-20 | Honeywell Asca Inc. | Single-sided infrared sensor for thickness or weight measurement of products containing a reflective layer |
| US8975586B2 (en) | 2011-06-06 | 2015-03-10 | Honeywell Asca Inc. | Diffusing measurement window for near and mid IR multichannel sensor |
| US20130148107A1 (en) * | 2011-12-07 | 2013-06-13 | Honeywell Asca Inc. | Multi-source sensor for online characterization of web products and related system and method |
| FR2986519B1 (fr) | 2012-02-07 | 2014-08-29 | Solystic | Machine de tri d'objets plats sur chant de niveau sonore reduit |
| DE102015102997A1 (de) | 2015-03-02 | 2016-09-08 | BST ProControl GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum Messen von im Wesentlichen in zwei Dimensionen ausgedehntem Messgut |
| US9927366B2 (en) | 2015-03-24 | 2018-03-27 | Honeywell Limited | Spectroscopic sensor for thickness or weight measurement of thin plastic films |
| FI130248B (fi) * | 2019-09-23 | 2023-05-08 | Valmet Automation Oy | Paperirainan mittalaite ja -menetelmä |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1848874A (en) * | 1929-09-25 | 1932-03-08 | fitz gerald | |
| US2474828A (en) * | 1946-05-16 | 1949-07-05 | John R Connelly | Optical method and apparatus for measuring the accuracy of firearms |
| US3080789A (en) * | 1960-07-01 | 1963-03-12 | Technicon Instr | Flow cells |
| US3414354A (en) * | 1964-10-28 | 1968-12-03 | Perkin Elmer Corp | Raman spectrometers |
| US3319071A (en) * | 1964-11-27 | 1967-05-09 | Gen Motors Corp | Infrared gas analysis absorption chamber having a highly reflective specular internal surface |
| US3518001A (en) * | 1965-03-01 | 1970-06-30 | Beckman Instruments Inc | Radiant energy analyzer |
| US3281597A (en) * | 1965-09-23 | 1966-10-25 | Greenberg Melvin | Infrared device for measuring steam quality |
| US3524066A (en) * | 1966-08-22 | 1970-08-11 | Monsanto Co | Fluid measurement system having sample chamber with opposed reflecting members for causing multiple reflections |
| FR1509107A (fr) * | 1966-11-29 | 1968-01-12 | Optique Soc Gen | Procédé et appareil de détection des défauts d'une matière transparente |
| US3551678A (en) * | 1967-02-13 | 1970-12-29 | Sybron Corp | Paper parameter measurement using infrared radiation |
| US3478210A (en) * | 1967-08-23 | 1969-11-11 | Gen Electric | Extended range infrared moisture gage standards |
| US3641349A (en) * | 1969-09-29 | 1972-02-08 | Measurex Corp | Method for measuring the amount of substance associated with a base material |
| US3594087A (en) * | 1969-11-06 | 1971-07-20 | Baxter Laboratories Inc | Optical densitometer with retroreflective means |
| GB1325753A (en) * | 1969-11-06 | 1973-08-08 | Baxter Laboratories Inc | Testing radiation absorption characteristics |
| US3675019A (en) * | 1971-03-19 | 1972-07-04 | Measurex Corp | Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material |
-
1972
- 1972-09-05 US US00286053A patent/US3793524A/en not_active Expired - Lifetime
-
1973
- 1973-08-16 CA CA178,917A patent/CA958915A/en not_active Expired
- 1973-08-21 GB GB3949073A patent/GB1420854A/en not_active Expired
- 1973-08-31 DE DE732343869A patent/DE2343869C3/de not_active Expired
- 1973-09-03 FI FI2738/73A patent/FI56903C/fi active
- 1973-09-04 SE SE7312013A patent/SE388485B/xx unknown
- 1973-09-04 CH CH1269773A patent/CH570618A5/xx not_active IP Right Cessation
- 1973-09-04 NO NO3463/73A patent/NO146517C/no unknown
- 1973-09-05 JP JP48100110A patent/JPS5749854B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2343869C3 (de) | 1979-03-08 |
| CA958915A (en) | 1974-12-10 |
| US3793524A (en) | 1974-02-19 |
| DE2343869B2 (de) | 1978-07-13 |
| FI56903B (fi) | 1979-12-31 |
| NO146517B (no) | 1982-07-05 |
| JPS5749854B2 (fi) | 1982-10-25 |
| GB1420854A (en) | 1976-01-14 |
| CH570618A5 (fi) | 1975-12-15 |
| DE2343869A1 (de) | 1974-03-28 |
| SE388485B (sv) | 1976-10-04 |
| JPS4966194A (fi) | 1974-06-26 |
| NO146517C (no) | 1982-10-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI56903C (fi) | Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial | |
| US8975586B2 (en) | Diffusing measurement window for near and mid IR multichannel sensor | |
| CA1275170C (en) | Method for on-line thickness monitoring of a transparent film | |
| US4733078A (en) | Measurement of moisture-stratified sheet material | |
| US9927366B2 (en) | Spectroscopic sensor for thickness or weight measurement of thin plastic films | |
| US4052615A (en) | Spherical cavity method and apparatus for measuring a sheet material property using infrared radiation | |
| KR880010326A (ko) | 온도 보상된 습도 감지기 | |
| FI78356C (fi) | Metod foer maetning av fuktighet. | |
| CA2818274A1 (en) | Single-sided infrared sensor for thickness or weight measurement of products containing a reflective layer | |
| US6717675B1 (en) | System and method for determining fiber orientation in fibrous material webs | |
| US6111651A (en) | Method and apparatus for measuring properties of a moving web | |
| FI57845B (fi) | Foerfarande och anordning foer detektering av spetor i massa | |
| EP0321836A2 (en) | Improved reflectance photometer | |
| JPH11237377A (ja) | 紙やシートの品質測定装置 | |
| US4785185A (en) | Submillimeter laser measurement of water or filler content of sheets and bands of dielectric material | |
| FI110638B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi | |
| FI57846C (fi) | Foerfarande och anordning foer detektering av spetor i massa | |
| US5982498A (en) | Method for determining the structure of a body surface | |
| FI108811B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi | |
| US6229612B1 (en) | Paper area density measurement from forward transmitted scattered light | |
| Tsuchikawa et al. | Directional characteristics model and light-path model for biological material having cellular structure | |
| JP3383666B2 (ja) | 素材の特定成分測定センサおよびその測定方法 | |
| Tsuchikawa et al. | Nondestructive measurement of wood properties by using near-infrared laser radiation | |
| JP6642667B2 (ja) | 赤外線水分計 | |
| JPS63225147A (ja) | 湿度を測定する方法 |