FI108811B - Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi - Google Patents

Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI108811B
FI108811B FI980323A FI980323A FI108811B FI 108811 B FI108811 B FI 108811B FI 980323 A FI980323 A FI 980323A FI 980323 A FI980323 A FI 980323A FI 108811 B FI108811 B FI 108811B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
measuring
amount
coating
micrometers
paper
Prior art date
Application number
FI980323A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI980323A0 (fi
FI980323A (fi
Inventor
Jussi Tenhunen
Markku Maentylae
Markku Kaensaekoski
Original Assignee
Metso Paper Automation Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Metso Paper Automation Oy filed Critical Metso Paper Automation Oy
Priority to FI980323A priority Critical patent/FI108811B/fi
Publication of FI980323A0 publication Critical patent/FI980323A0/fi
Priority to EP99902585A priority patent/EP1055114A1/en
Priority to AU22829/99A priority patent/AU2282999A/en
Priority to PCT/FI1999/000098 priority patent/WO1999041590A1/en
Priority to CA002320941A priority patent/CA2320941A1/en
Publication of FI980323A publication Critical patent/FI980323A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI108811B publication Critical patent/FI108811B/fi
Priority to US10/282,944 priority patent/US20030132387A1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3563Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Paper (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

108811
MENETELMÄ JA LAITE LIIKKUVALLA ALUSTALLA OLEVAN PÄÄLLYSTEEN MÄÄRÄN MITTAAMISEKSI
Keksinnön kohteena on menetelmä liikkuvalla alustalla olevan päällys-5 teen määrän mittaamiseksi, jolloin liikkuva alusta on paperi- tai kartonkiraina, missä menetelmässä mitataan paperi-tai kartonkirainalla olevan päällysteen ainakin yhden komponentin määrä heijastusmittauksella.
Edelleen keksinnön kohteena on laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi, jolloin liikkuva alusta on paperi- tai 10 kartonkiraina, mihin laitteeseen kuuluu säteilylähde valonsäteen tuottamiseksi, detektori heijastuneen valonsäteen mittaamiseksi ja välineet detektorin signaalin käsittelemiseksi, joka laite on sovitettu mittaamaan paperi- tai kartonkirainalla olevan päällysteen ainakin yhden komponentin määrä
Liikkuvalla alustalla, kuten paperi- tai kartonkirainalla olevaa päällys-15 teen määrää on tärkeää seurata valmistusprosessissa. Päällystäminen parantaa paperin painettavuutta ja päällysteen määrä on pyrittävä pitämään samassa paperilajissa mahdollisimman tarkasti vakiona. Päällystysaineet koostuvat sideaineista ja pääilystyspigmenteistä. Yleisimpiä paperin päällystyksessä käytettäviä päällystyspigmenttejä ovat kaoliini, kalsiumkarbonaatti ja titaanidioksidi. 20 Päällystemäärää mitataan yleensä paperinvalmistusprosessin aikana jatkuva-: toimisesti mittalaitteilla, jotka liikkuvat paperin poikkisuunnassa kohtisuoraan paperirainan yli, rainan liikkuessa eteenpäin.
• * » : *.: US-patentissa 5 455 422 on esitetty menetelmä, missä mitataan pääl- : ’'*: lysteen määrää mittaamalla esimerkiksi lateksin absorptiopiikki aallonpituudella :Y: 25 2,30 mikrometriä ja saven absorptiopiikki aallonpituudella 2,21 mikrometriä.
; ‘; Edelleen kyseisessä patentissa on esitetty kalsiumkarbonaatin mittaaminen mit taamalla takaisinsironnan määrä aallonpituudella 2,09 mikrometriä.
. Kalsiumkarbonaatin määrän mittaamiseen kyseinen menetelmä on kuitenkin • · · epävarma ja epätarkka. Kalsiumkarbonaatin määrä voitaisiin määrittää myös 30 esimerkiksi kaoliinin mittauksen perusteella olettaen, että kaoliinin ja *:1 * i kalsiumkarbonaatin määrien suhde on päällysteessä vakio. Tämä ei kuitenkaan aina pidä paikkaansa ja ongelmia syntyy erityisesti, jos kaoliinin pitoisuus on .. *. matala eli alle noin 20 % ja karbonaatin pitoisuus taas vastaavasti suuri eli noin 80%.
• · 2 i 108811 EP-julkaisussa 0 332 018 on esitetty menetelmä, missä paperissa olevan kaoliinin määrä mitataan transmissiomittauksella esimerkiksi noin aallonpituuksilla 1,4 ja 2,2 mikrometriä. Transmissiomittauksella on kuitenkin erittäin vaikea määritellä, mikä on päällysteen osuus mittaustuloksesta. Edelleen kal-5 siumkarbonaatin osuus joudutaan aproksimoimaan edellisessä kappaleessa esitetyllä tavalla.
GB-julkaisussa 2 127 541 on esitetty paperissa olevien lisäaineiden määrän mittaus transmissiomittauksella. Julkaisussa on esitetty kalsiumkarbonaatin määrän mittaus mittaamalla absorptiopiikit aallonpituuksilla 11,54 mik-10 rometriä ja 11,77 mikrometriä. Kyseisellä menetelmällä ei pystytä mittaamaan päällysteen määrää, koska pohjapaperissa olevat täyteaineet tulevat mukaan tuloksiin. Lisäksi paperin absorptio voi olla niin voimakas, että mittaus paperin lävitse ei onnistu. Edelleen kokonaisuutena mittaustulosten tarkkuus ei ole riittävän hyvä.
15 Tämän keksinnön tarkoituksena on saada aikaan menetelmä, missä edellä mainittuja epäkohtia pystytään välttämään.
Keksinnön mukaiselle menetelmälle on tunnusomaista se, että mitataan paperi- tai kartonkirainalla olevan päällysteen kalsiumkarbonaatin määrä mittaamalla kalsiumkarbonaatin absorptiopiikki noin aallonpituudella 3,95 mik-20 rometriä.
: '.: Edelleen keksinnön mukaiselle laitteelle on tunnusomaista se, että lai- te on sovitettu mittaamaan kalsiumkarbonaatin määrä päällysteestä mittaamalla ! ’ · ’: kalsiumkarbonaatin absorptiopiikki noin aallonpituudella 3,95 mikrometriä.
Keksinnön olennainen ajatus on, että mitataan päällysteen kom-: ‘; 25 ponentteja heijastusmittauksella siten, että mitataan kalsiumkarbonaatin määrä , :·. mittaamalla kalsiumkarbonaatin absorptiopiikki aallonpituudella noin 3,95 mik rometriä ja/tai kaoliinin määrä mittaamalla kaoliinin absorptiopiikki noin aallonpituudella 2,7 mikrometriä.
: Keksinnön etuna on, että kalsiumkarbonaatin ja kaoliinin määrä pysty- 30 tään mittaamaan erittäin tarkasti ja luotettavasti joko yhtä aikaa, samassa mitta-·:··! uksessa tai erikseen, eri mittauksilla. Edelleen on mahdollista mitata kalsium- :"': karbonaatin ja kaoliinin yhteismäärä useasta päällekkäisestä sivelystä ja mitta uksen selektiivisyys sekä kalsiumkarbonaatille että kaoliinille on erittäin hyvä.
Keksintöä selitetään tarkemmin oheisissa piirustuksissa, joissa ‘ · · · * 35 kuvio 1 esittää kaavamaisesti erästä keksinnön mukaista mittalaitetta, j 3 108811 kuvio 2 esittää pohjapaperin ja kalsiumkarbonaatilla päällystetyn paperin spektrejä ja kuvio 3 esittää pohjapaperin ja kaoliinilla päällystetyn paperin spektrejä.
5 Kuviossa 1 on esitetty mittausjärjestely, missä mitataan kohteesta hei jastunutta säteilyä eli säteilylähde ja vastaanotin ovat samalla puolella mitattavaa kohdetta. Kyseistä mittausta kutsutaan heijastusmittaukseksi.
Kuviossa 1 on esitetty mittalaite, johon kuuluu säteilylähde 1, joka tuottaa valonsäteen 2. Säteilylähde 1 voi olla esimerkiksi halogeenilamppu tai 1 o joku muu sopiva säteilylähde infrapunasäteen tuottamiseksi. Valonsäde 2 ohjataan suotimen 3 läpi. Suodin 3 suodattaa valon niin, että vain mittauksen kannalta olennainen ja oikealla aallonpituuskaistalla oleva valo pääsee mittauskoh-teeseen. Suodin 3 voi olla esimerkiksi pyörivä suodinkiekko, jossa on useita in-terferenssisuotimia tai jokin muu sinänsä täysin tunnettu suodinratkaisu. Suoti-15 men 3 rakenne on alan ammattimiehelle sinänsä täysin tunnettu, joten sitä ei tässä yhteydessä ole selitetty sen tarkemmin. Suotimen 3 jälkeen valonsäde 2 kohdistetaan ikkunan 5 läpi paperikoneella kulkevaan liikkuvaan paperi- tai kar-tonkirainaan 4. Ikkuna 5 voi olla valmistettu esimerkiksi kvartsilasista. Paperi-tai kartonkiraina 4 liikkuu nuolen A suuntaan. Paperi- tai kartonkirainan 4 pintaan 20 on sovitettu päällyste 4a. Liikkuvan paperi- tai kartonkirainan 4 sijaan voi liikku-: ·' va alusta, jolla olevia päällysteitä mitataan, olla myös esimerkiksi paperinpääl- •V · j lystyskoneen tela, paperikoneen tela ja/tai yleensä metallilevyn pinta. Laitteis- ! ‘ · ’: tossa on lisäksi referenssinäyte 6, joka siirretään tietyin väliajoin mittauskohtaan : ‘"; nuolen B mukaisesti. Näyte 6 toimii heijastusreferenssinä ja siitä saatava mitta- . . ·. 25 ustulos antaa kuvan valonlähteen 1, detektorin 7 ja ikkunan 5 kunnosta. Lisäksi referenssimittausta voidaan haluttaessa käyttää varsinaisen mittaustuloksen korjaamiseen.
, , Heijastunut valonsäde 2 johdetaan detektorille 7. Detektorilta 7
• · I
/ signaalit johdetaan esivahvistimien 8 kautta tietokoneelle 9 mitatun tiedon ·· ·' 30 käsittelemiseksi sinänsä tunnetulla tavalla. Kuviossa 1 ei selvyyden vuoksi ole ·:··: esitetty valonsäteen 2 kohdistamiseen ja suuntaamiseen mahdollisesti ; “ ’. tarvittavaa optiikkaa. Valon johtamiseen/ohjaamiseen käytetty rakenne voi olla esimerkiksi kuvantava optiikka, valokuitu tai valokuitukimppu.
: ’ Kuviossa 2 on esitetty pohjapaperin heijastusspektri käyrällä C ja kal- 35 siumkarbonaatilla päällystetyn paperin heijastusspektri katkoviivalla piirretyllä käyrällä D. Vaaka-akselilla on aallonpituus λ mikrometreinä ja pystyakselilla ab- i 4 108811 sorbanssi. Spektrejä mitattaessa yllättäen löydettiin kalsiumkarbonaatilta ab-sorptiopiikki E aallonpituusalueella 3,95 mikrometriä. Sovittamalla kuvion 1 mukainen laite mittaamaan absorptiopiikki noin aallonpituudella 3,95 mikrometriä pystytään laitteella mittaamaan kalsiumkarbonaatin määrä.
5 Kalsiumkarbonaatin mittausta varten referenssiaallonpituuksiksi sopi vat esimerkiksi 4,55 mikrometriä ja/tai 3,7 mikrometriä. Kaoliinille taas sopivat referenssiaallonpituuksiksi esimerkiksi 2,64 mikrometriä ja/tai 2,8 mikrometriä. On huomattava, että referenssiaallonpituuksina voidaan käyttää mitä tahansa varsinaista mittauspiikkiä lähellä olevia referenssiaallonpituuksia. Olennaista on, 10 että pohjapaperin ja päällystetyn paperin absorbanssit ovat ko. aallonpituusalueella samat tai likipitäen samat. Aallonpituus 3,7 mikrometriä on erityisen edullinen, koska sitä voidaan käyttää referenssinä myös veden määrän mittausta varten. Veden määrän mittaus on edullista tehdä esimerkiksi aallonpituudella noin 3,175 mikrometriä.
15 Suoritetuissa mittauksissa todettiin karbonaatin neliömassaa lisättäes sä heijastavuuden kasvavan yli 6,3 mikrometrin alueella. Sen sijaan alle 6,3 mikrometrin alueella heijastuvuuden todettiin pienenevän karbonaatin neliö-massaa lisättäessä, jolloin tällä alueella absorptiomittaus toimii varsin luotettavasti.
20 Kuviossa 3 on esitetty pohjapaperin heijastusspektri käyrällä F ja kao- : .·' liinipäällysteisen paperin heijastusspektri katkoviivalla esitetyllä käyrällä G.
, * · j Myös kuviossa 3 on vaaka-akselilla aallonpituus λ mikrometreinä ja pystyakselil- : la absorbanssi. Spektrejä mitattaessa myöskin yllättäen löydettiin kaoliinilta ab- : sorptiopiikki H noin aallonpituusalueella 2,7 mikrometriä. Sovittamalla esimer- . ·. 25 kiksi kuvion 1 mukainen laite mittaamaan kaoliinin absorptiopiikki noin aallonpi- : ·. tuudella 2,7 mikrometriä pystytään määrittämään kaoliinin määrä päällysteessä.
Säteilylähteen, ikkunoiden ja detektorien signaalikohinasuhteeseen , . vaikuttavien ominaisuuksien sekä laitteen hinnan kannalta on kalsiumkarbonaa- V.: tin määrän mittausta varten mittausaallonpituus 3,95 mikrometriä edullinen.
30 Edelleen karbonaatin määrän mittaus aallonpituusalueella 3,95 mikrometriä *:*: voidaan toteuttaa samaan mittariin kaoliinin 2,7 mikrometrin absorptiopiikin mit- : ; tauksen kanssa.
Piirustus ja siihen liittyvä selitys on tarkoitettu vain havainnollistamaan : keksinnön ajatusta. Yksityiskohdiltaan keksintö voi vaihdella patenttivaatimusten • .: 35 puitteissa.

Claims (10)

1. Menetelmä liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi, jolloin liikkuva alusta on paperi- tai kartonkiraina (4), missä menetel-5 mässä mitataan paperi- tai kartonkirainalla (4) olevan päällysteen (4a) ainakin yhden komponentin määrä heijastusmittauksella, tunnettu siitä, että mitataan paperi- tai kartonkirainalla (4) olevan päällysteen kalsiumkarbonaatin määrä mittaamalla kalsiumkarbonaatin absorptiopiikki noin aallonpituudella 3,95 mikrometriä.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, et tä mitataan referenssiarvo kalsiumkarbonaatin absorptiopiikin mittaukselle aallonpituudella noin 3,7 mikrometriä.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitataan kaoliinin määrä mittaamalla kaoliinin absorptiopiikki noin aal- 15 lonpituudella 2,7 mikrometriä.
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitataan referenssiarvo kaoliinin absorptiopiikin mittaukselle aallonpituudella noin 2,64 mikrometriä.
5. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, t u n - 20. e 11 u siitä, että mitataan veden määrä noin aallonpituudella 3,175 mikromet- : riä.
: / .: 6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, et- .*’·*: tä mitataan referenssiarvo veden määrän mittausta varten aallonpituudella noin 3,7 mikrometriä. . ·. 25
7. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, t u n - •. n e 11 u siitä, että päällysteen määrää mitataan jatkuvatoimisesti.
5 108811
8. Laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi, . . jolloin liikkuva alusta on paperi- tai kartonkiraina (4), mihin laitteeseen kuuluu | säteilylähde (1) valonsäteen (2) tuottamiseksi, detektori (7) heijastuneen valon- • · ·: 30 säteen (2) mittaamiseksi ja välineet detektorin (7) signaalin käsittelemiseksi, jo- . ’ ·: ka laite on sovitettu mittaamaan paperi- tai kartonkirainalla (4) olevan päällys teen (4a) ainakin yhden komponentin määrä, tunnettu siitä, että laite on sovitettu mittaamaan kalsiumkarbonaatin määrä paperi- tai kartonkirainalla (4) : ' olevasta päällysteestä (4a) mittaamalla kalsiumkarbonaatin absorptiopiikki noin .: 35 aallonpituudella 3,95 mikrometriä. 108811
9. Patenttivaatimuksen 8 mukainen laite, tunnettu siitä, että laite on sovitettu mittaamaan kaoliinin määrä päällysteestä (4a) mittaamalla kaoliinin ab-sorptiopiikki noin aallonpituudella 2,7 mikrometriä.
10. Patenttivaatimuksen 8 tai 9 mukainen laite, tunnettu siitä, että 5 laite on sovitettu mittaamaan päällysteen määrää jatkuvatoimisesti. » » 7 108811
FI980323A 1998-02-12 1998-02-12 Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi FI108811B (fi)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI980323A FI108811B (fi) 1998-02-12 1998-02-12 Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi
EP99902585A EP1055114A1 (en) 1998-02-12 1999-02-10 Method and device for measuring the amount of coating on a moving substrate
AU22829/99A AU2282999A (en) 1998-02-12 1999-02-10 Method and device for measuring the amount of coating on a moving substrate
PCT/FI1999/000098 WO1999041590A1 (en) 1998-02-12 1999-02-10 Method and device for measuring the amount of coating on a moving substrate
CA002320941A CA2320941A1 (en) 1998-02-12 1999-02-10 Method and device for measuring the amount of coating on a moving substrate
US10/282,944 US20030132387A1 (en) 1998-02-12 2002-10-29 Method and device for measuring the amount of coating on a moving substrate

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI980323A FI108811B (fi) 1998-02-12 1998-02-12 Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi
FI980323 1998-02-12

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI980323A0 FI980323A0 (fi) 1998-02-12
FI980323A FI980323A (fi) 1999-08-13
FI108811B true FI108811B (fi) 2002-03-28

Family

ID=8550827

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI980323A FI108811B (fi) 1998-02-12 1998-02-12 Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP1055114A1 (fi)
AU (1) AU2282999A (fi)
CA (1) CA2320941A1 (fi)
FI (1) FI108811B (fi)
WO (1) WO1999041590A1 (fi)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI110638B (fi) * 1998-10-06 2003-02-28 Metso Paper Automation Oy Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi
US6441375B1 (en) 2000-01-06 2002-08-27 Eurotherm Gauging Systems, Inc. Method and apparatus for automated on-line substrate independent calibration and measurement spectral analysis
FI115856B (fi) * 2000-02-10 2005-07-29 Metso Automation Oy Menetelmä ja laite päällysteen mittaamiseksi
FI109926B (fi) * 2001-04-20 2002-10-31 Valmet Raisio Oy Menetelmä ja järjestelmä päällystereseptin hallinnassa
DE102004003042A1 (de) * 2004-01-20 2005-08-18 Voith Paper Patent Gmbh Flächengewicht der Decklage einer Faserstoffbahn

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2127541B (en) * 1982-09-27 1986-08-20 Imp Group Plc Monitoring sheet material
US4755501A (en) * 1984-05-18 1988-07-05 Amoco Corporation Color developing composition for carbonless paper copying system
CA1319273C (en) * 1988-03-10 1993-06-22 Steven Perry Sturm Clay sensor
US5338361A (en) * 1991-11-04 1994-08-16 Measurex Corporation Multiple coat measurement and control apparatus and method
AU5990998A (en) * 1997-02-13 1998-09-08 Valmet Automation Inc. Method for measuring the components of a coating on a moving base material
US5795394A (en) * 1997-06-02 1998-08-18 Honeywell-Measurex Coating weight measuring and control apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
FI980323A0 (fi) 1998-02-12
FI980323A (fi) 1999-08-13
WO1999041590A1 (en) 1999-08-19
EP1055114A1 (en) 2000-11-29
CA2320941A1 (en) 1999-08-19
AU2282999A (en) 1999-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5338361A (en) Multiple coat measurement and control apparatus and method
US6074483A (en) Coating weight measuring and control apparatus and method
CA2633236C (en) Combined paper sheet temperature and moisture sensor
JPH02247528A (ja) コーティング重量測定および制御装置とその方法
US6179918B1 (en) Silicone coat weight measuring and control apparatus
JP2000131030A (ja) 材料路の特性の横断方向プロフィルを測定する測定装置
US6183561B1 (en) Coat weight measuring and control apparatus
FI108811B (fi) Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi
JPH11237377A (ja) 紙やシートの品質測定装置
FI110638B (fi) Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi
WO1999014579A1 (fi) Method and apparatus for measuring properties of paper
FI115412B (fi) Menetelmä ja laitteisto paperirainalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi
CA2279904C (en) Method for measuring the components of a coating on a moving base material
US20030132387A1 (en) Method and device for measuring the amount of coating on a moving substrate
FI108812B (fi) Optinen mittausmenetelmä ja laite optisten mittausten suorittamiseksi
NO146451B (no) Apparat for maaling av fuktighetsinnhodet i en bevegelig papirbane
JPS6161625B2 (fi)

Legal Events

Date Code Title Description
MA Patent expired