JP2000131030A - 材料路の特性の横断方向プロフィルを測定する測定装置 - Google Patents

材料路の特性の横断方向プロフィルを測定する測定装置

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JP2000131030A
JP2000131030A JP11198071A JP19807199A JP2000131030A JP 2000131030 A JP2000131030 A JP 2000131030A JP 11198071 A JP11198071 A JP 11198071A JP 19807199 A JP19807199 A JP 19807199A JP 2000131030 A JP2000131030 A JP 2000131030A
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measuring device
material path
profile measuring
sensor
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Albrecht Dr Meinecke
マイネッケ アルブレヒト
Rudolf Muench
ミュンヒ ルドルフ
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Voith Sulzer Papiertechnik Patent GmbH
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 冒頭に言及した形式の測定装置を改善して、
全体の制御時間を短くして正確な制御を保証することで
ある。 【解決手段】 少なくとも１つの定置形の横断方向プロ
フィル測定装置が設けられており、この測定装置は、種
々に定められた複数の波長領域で材料路を照射する少な
くとも１つのビーム源と、材料路によって影響されるビ
ームの強度を測定する少なくとも１つのセンサとを有し
ており、少なくとも１つの測定および／または評価電子
回路が設けられており、それぞれのセンサにより所定の
時点では種々に定められた複数のビームの波長領域のう
ちただ１つだけが検出される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、抄紙機および／ま
たは厚紙抄造機または塗工機の材料路の所定の特性、例
えば繊維素の帯状物の特性の横断方向プロフィルを測定
する測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】冒頭に言及した形式の従来の一般的な測
定装置は通常の場合、測定装置をトラバースする方向の
ＩＲ線、α線、β線、γ線に基づいて動作する。"Woche
nblattfuer Papierfabrikation", Heft 11/12, 1998 の
609頁、611頁からは測定装置をビームがトラバースしな
い装置が公知であり、この装置は分光測定のために抄紙
機の流送箱の直接後方に配置されている。
【０００３】従来公知の測定装置は、場合によっては当
該の測定が主として材料路の長い自由な流れでしか行え
ない欠点を有する。従来のトラバース形の測定装置では
純粋な横断方向プロフィル測定は実質的に排除されてい
る。なぜならトラバースによりジグザグ形の走査を生じ
させるからである。測定は通常漉網部およびそれぞれの
抄紙機の端部のみで行われるため、その間に存在する複
数の操作素子に対して通常は長い動作時間がかかってお
り、制御が比較的不正確となる。
【０００４】単位面積当たりの重量を測定するために、
ＣＣＤカメラを使用することがすでに知られている。こ
れにより製造された紙の表面全体を検出できる。ただし
例えば画像処理が複雑となる欠点が存在する。
【０００５】すでに湿部の漉網上の原質の導電性を測定
する測定装置も知られている。この種の測定装置は、確
かに該当する流送箱の操作素子の比較的近傍に配置する
ことができる。ただしこの場合、導電性は含水量の尺度
であって、表面積に関する重量の尺度にはならない欠点
がある。このため例えばコーターへの適用は排除されて
しまう。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、冒頭
に言及した形式の測定装置を改善して前述の欠点を回避
し、全体の制御時間を短くして正確な制御を保証するこ
とである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この課題は、少なくとも
１つの定置形の横断方向プロフィル測定装置が設けられ
ており、この測定装置は、種々に定められた複数の波長
領域で材料路を照射する少なくとも１つのビーム源と、
材料路によって影響されるビームの強度を測定する少な
くとも１つのセンサとを有しており、少なくとも１つの
測定および／または評価電子回路が設けられており、有
利にはそれぞれのセンサにより所定の時点では種々に定
められた複数のビームの波長領域のうちただ１つだけが
検出される構成により解決される。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の構成により、所定の特性
の横断方向プロフィルの正確な測定を必要スペースを低
減し、経済性を高めて行うことができる。この測定は特
に比較的接近しにくい個所や閉鎖されている誘導部の領
域においても行うことができ、この場合該当する材料路
は例えばロール、ロープないしベルト、漉網および／ま
たはフェルトにより支承されている。このため例えば少
なくとも１つのセンサを用いて、材料路またはその被覆
物から反射したビームを検出することができる。これに
加えて、またはこれに代えて、少なくとも１つのセンサ
を用いて、材料ベルトまたはその被覆物を透過したビー
ムを検出することもできる。材料路またはその被覆物か
ら反射したビームを検出することにより、必要スペース
がきわめて小さく済む利点が得られる。
【０００９】本発明の測定装置の有利な実施形態によれ
ば、材料路の動作方向で相互に間隔を有して少なくとも
２つの定置形の横断方向プロフィル測定装置が設けられ
ている。その際有利には、抄紙機および／または厚紙抄
造機または塗工機の少なくとも１つのユニットに、それ
ぞれ材料路の動作方向で相互に間隔を有する少なくとも
２つの定置形の横断方向プロフィル測定装置が配属され
ている。
【００１０】特に制御時間を短くする点に関して有利に
は、そのつどの横断方向プロフィルに作用する少なくと
も１つのアクチュエータまたは操作素子の直接前方およ
び／または直接後方に定置形の横断方向プロフィル測定
装置が配置されている。
【００１１】本発明の構成に基づいて、該当する抄紙機
および／または厚紙抄造機の少なくともプレス部および
／または乾部にそれぞれ少なくとも１つの定置形の横断
方向プロフィル測定装置を設けることができる。
【００１２】これに代えてまたはこれに加えて、抄紙機
および／または厚紙抄造機の少なくとも漉網部および／
または端部にそれぞれ少なくとも１つの定置形の横断方
向プロフィル測定装置を設けることができる。
【００１３】所定の障害量、および／または少なくとも
１つのアクチュエータまたは操作素子によるそのつどの
横断方向プロフィルへの影響をフィルタリング除去する
フィルタ手段を設けることができる。
【００１４】特に必要スペースをできるだけ小さくし、
かつ経済性を向上させるために、有利にはビーム源およ
び／またはセンサは少なくとも１つの導波路に接続され
ている。
【００１５】本発明の測定装置の有利な実施形態では、
少なくとも１つの定置形の横断方向プロフィル測定装置
が近赤外線領域（ＮＩＲ）での動作のために構成されて
いる。
【００１６】少なくとも１つの定置形の横断方向プロフ
ィル測定装置は、例えば単位面積当たりの重量、含水
量、厚さ、所定の含有物質、および／または別の材料路
の特性を定量検出するために構成されている。
【００１７】特に帯状物の自由な流れの領域で測定を行
うために、有利には少なくとも１つの定置形の横断方向
プロフィル測定装置に、材料路を照射する少なくとも１
つの光ビーム源と、材料路によって影響される光ビーム
の強度を測定する少なくとも１つのフォト受信器とが設
けられている。
【００１８】材料路を複数のビーム源を用いて種々の波
長領域で照射する場合、例えば時間的に順次に個々に異
なるビーム源を用いるか、および／または種々のビーム
源の組合せを用いて材料路を照射することができる。
【００１９】本発明の測定装置の別の有利な実施形態で
は、少なくとも１つの定置形の横断方向プロフィル測定
装置に種々のスペクトル感度を有する複数のセンサが設
けられており、それぞれの定置形の横断方向プロフィル
測定装置は有利には、材料路を照射するただ１つのビー
ム源を有している。
【００２０】基本的には、少なくとも１つのセンサ／フ
ィルタユニットが設けられており、このセンサ／フィル
タユニットの感度および／または透過性は調整可能であ
る。
【００２１】有利な実際の実施形態では、少なくとも１
つの発光ダイオードがビーム源として設けられており、
これにより特にこの種の構成素子の寿命を延長して、コ
ストを低く抑える利点が得られる。このため例えば、発
光ダイオードはこのような目的には適していないという
従来存在していた偏見が克服される。
【００２２】１３００ｎｍから２４００ｎｍまでの波長
領域では、吸収スペクトルに比較的強いピークが存在
し、これは例えば１４５０ｎｍでの水の上色、１９３０
ｎｍでの水、２１００ｎｍでのセルロース繊維、２０１
０ｎｍでのクレイ、約２３００ｎｍでのラテックスおよ
びリグニン、２３００ｎｍから２４００ｎｍまでのポリ
エチレンおよび他のプラスティックである。このため発
光ダイオードは使用不能であり、これまでは白熱フィラ
メントを備えたランプが使用されていた。しかし実験に
より、種々の波長を有する複数のＬＥＤを用いて例えば
単位面積に関連する重量や必要に応じた別の材料路特性
を結論できることがわかった。相対的な測定精度、すな
わち小さな特性変動に対するそれぞれのセンサの応答特
性はきわめて高い。フィラメントを有するランプと比較
して長い寿命を有するＬＥＤは、例えばここで問題とな
っている横断方向プロフィルの測定における適用では特
に重要である。なぜならこの場合通常５０個から５００
個のセンサが同時に使用されるので、ユーザが長期間に
わたってランプの故障を考慮に入れなければならない点
は許容不能だからである。
【００２３】この場合にもきわめて小さな必要スペース
で、特に後方散乱が制限される。この実施形態の理想的
な適用分野は、例えば次のようなものである。
【００２４】（ａ）湿部の漉網上の繊維被覆物 （ｂ）プレス部、乾部フェルトまたは乾部漉網のフェル
ト上の紙料 （ｃ）金属面（例えばロール）上の紙料 （ｄ）染色／塗工ロール（例えばスピードコーター）上
の塗工被覆物 （ｅ）紙料路上の塗工物 これに代えてまたはこれに加えて、基本的には透過光特
性での測定も可能である。ただしこの場合基本的にはコ
ストが高くなる。
【００２５】有利な実際の実施形態では、少なくとも１
つの定置形の横断方向プロフィル測定装置に、材料路に
よって影響される光ビームをセンサ側でスペクトル分割
する手段が設けられている。ここで当該の定置形の横断
方向プロフィル測定装置は分割されたビームを印加可能
なフォトダイオードアレイを有しており、このアレイは
少なくとも１６個のセンサ、例えば２６５個のセンサを
有している。
【００２６】有利には少なくとも１つの定置形の横断方
向プロフィル測定装置に、種々の波長領域で材料路を照
射する複数のビーム源が設けられている。
【００２７】ビーム源は共通の環境内に設けることがで
き、これにより外部に対しては唯一のビーム源と同様に
見なすことができる。ここでは電気的な入力に依存して
放射されるビームの形態を変化させることができる。し
たがって例えば種々に異なる複数のフィラメントを備え
たランプを使用することも可能である。
【００２８】測定および／または評価電子回路は有利に
は、材料路を少なくとも１つの定置形の横断方向プロフ
ィル測定装置により時間的に順次に、種々の波長領域を
有する個別のビーム源か、または種々のビーム源の組合
せを用いて照射する手段を有する。
【００２９】ビーム源に対して種々の距離で配置された
少なくとも２つのセンサが使用される場合、種々の波長
での吸収を付加的に結論することができる。
【００３０】基本的には少なくとも１つの定置形の横断
方向プロフィル測定装置のビーム源に、それぞれ少なく
とも１つの固有のセンサが配属されているか、または固
有のセンサ対が配属されている。この場合スペースにか
かるコストは幾らか大きくなる。しかしセンサによって
得られる測定結果を同時に問い合わせることができる利
点が得られる。
【００３１】本発明の測定装置の有利な実際の実施形態
では、少なくとも１つの定置形の横断方向プロフィル測
定装置は有利には、各測定点に対してそれぞれ３つの光
ビーム源および少なくとも１つのセンサを有している。
このためそれぞれ少なくとも３つの信号を使用可能であ
る。必要なハードウェアは簡単に集積できる。このハー
ドウェアは装置でのスペースをあまり必要とせず、きわ
めて低コストに製造可能である。
【００３２】有利な実際の実施形態では、少なくとも１
つの定置形の横断方向プロフィル測定装置は有利には各
測定点に対して、少なくとも１つの赤外線発光ダイオー
ド（例えば８８０ｎｍまたは９５０ｎｍ）、少なくとも
１つの赤色発光ダイオード（例えば６３５ｎｍ）および
／または少なくとも１つの青色発光ダイオード（例えば
４８０ｎｍ、場合により窒化ガリウムＬＥＤの４３０ｎ
ｍ）を有している。
【００３３】発光ダイオードの反射角はこの測定方法に
大きな影響を有している。有利には少なくとも１つの定
置形の横断方向プロフィル測定装置に少なくとも１つの
発光ダイオードが設けられており、この発光ダイオード
の反射角は約１２゜から約３０゜の間の範囲である。材
料路の表面または被覆物に対する距離は有利には約５ｍ
ｍから約２０ｍｍまでの範囲である。
【００３４】発光ダイオードの切換周波数は、特性測定
値が確認される時間パターンと比較して高くなければな
らない。この切換周波数は、センサおよび発光ダイオー
ドの限界周波数と評価電子回路の速度とにより制限され
る。実際には例えば１秒間に約１０００回以上の切換過
程が考えられる。このため例えば０.５秒ごとに１つの
特性測定値を得ることができ、この測定値自体は評価回
路によって５００回以上の個別の測定から生じる。同様
の結果は例えば５０Ｈｚの切換周波数が選択され、切換
過程後、１０個の個別の測定値が得られることにより達
成される。
【００３５】得られた測定値から、例えば経験値と比較
することにより、材料路の重要な特性を結論することが
できる。例えば一般的な単位面積当たりの重量の変化は
全ての測定信号でほぼ同様に作用するが、他の特性の変
化はきわめて多様に信号に作用することがわかってい
る。実験によって、例えば含水量の変化が測定信号にど
のように表れているかを検査できる。このような知識を
評価アルゴリズムに使用することができる。測定および
／または評価電子回路ではこうしたアルゴリズムが、例
えば測定信号から種々の特性を定量的に求めるために使
用される。
【００３６】本発明の測定装置の有利な実際の実施形態
では、測定および／または評価電子回路は同時に複数の
定置形の横断方向プロフィル測定装置に配属されてい
る。
【００３７】それぞれの測定個所を該当する調整個所の
できる限り近傍で選択することにより、材料路または被
覆物の当該の測定位置に、実質的にこれを所管する操作
素子を一義的に直接に配属することができる。その結果
測定位置とアクチュエータまたは操作素子は共通の電子
回路を介して迅速に制御される。アクチュエータの作用
が大きな度合で細部に関わっている場合、アクチュエー
タの電子回路は相互に調整素子を介して情報を交換で
き、各アクチュエータを調整の際に現に調整されている
他の素子と同様に考慮することができる。
【００３８】これによりいわゆる測定値検出計算機にお
いて、上述のように構成しない場合にはこの計算機から
いわゆる横断方向プロフィル計算機、当該の操作素子ま
たは当該のアクチュエータへデータを伝送するためにか
かるが、この時間損失が回避される。
【００３９】例えばいわゆるスピードコーターに関連し
て、基本的な制御回路により塗工ロールの層の厚さを一
定に維持することができる。収容されている制御回路は
例えば正確な塗料の塗布の絶対値の維持のために用いら
れる。
【００４０】本発明の測定装置の別の有利な実施形態は
従属請求項に記載されている。
【００４１】
【実施例】本発明を以下に実施例に基づき図に関連して
詳細に説明する。
【００４２】図１には材料路１２、例えば抄紙機および
／または厚紙抄造機または塗工機の繊維原質の材料路の
所定の特性の横断方向プロフィルを測定する測定装置１
０が示されている。
【００４３】測定装置１０は少なくとも１つの定置され
た横断方向プロフィル測定装置１４を有している。この
横断方向プロフィル測定装置は動作範囲にわたって分割
された複数のビーム源１８およびセンサ２０を有してお
り、材料路１２によって影響を受ける光の強度が測定さ
れる。この場合それぞれの測定点に対して複数のビーム
源１８および／または複数のセンサ２０が設けられてい
る。例えば１ｍごとに５０個の測定点を設けてもよい。
しかも基本的には別の測定点密度も可能である。
【００４４】材料路１２は矢印Ｌの方向で定置形の横断
方向プロフィル測定装置１４の下方を通過する。その際
に定置形の横断方向プロフィル測定装置１４のケーシン
グ２２に観察ウィンドウ１６、１６’が設けられてお
り、この観察ウィンドウに、各測定点について少なくと
もそれぞれ１つの光ビーム源１８、例えば少なくとも１
つの発光ダイオード２０、または少なくとも１つのセン
サ２０、例えばフォト受信器が対向して配置されてい
る。これらは定置形の横断方向プロフィル測定装置１４
のケーシング２２内に配置されている。観察ウィンドウ
１６、１６'は材料路１２から間隔を置いて設けられて
いる。有利には、例えばセンサ２０と材料路１２または
その被覆物との間の距離は約５ｍｍ〜約２０ｍｍの範囲
である。
【００４５】定置形の横断方向プロフィル測定装置１４
にはさらに測定および／または評価電子回路２４が配属
されており、この電子回路はこの場合ケーシング２２の
内部に配置されている。測定および／または評価電子回
路２４は少なくとも１つの線路２６を介して上位の装
置、例えばプロセスガイドシステムおよび／または給電
部へ接続されている。
【００４６】材料路１２またはその被覆物の光学的な照
射は、例えば種々に定められた複数の波長領域で行われ
る。そのつどの測定位置に対応する少なくとも１つのビ
ーム源１８を用いて、材料路１２またはその被覆物によ
って影響を受ける光の強度が測定される。この場合当該
の各測定点に配属されたセンサ２０は所定の時点では所
定の種々の波長領域の内ただ１つの光だけを検出する。
【００４７】この実施例では単に材料路１２またはその
被覆物から反射された光のみが検出される。これにより
必要なスペースは最小限に抑えられている。
【００４８】有利には、材料路の動作方向Ｌで相互に所
定の距離を有する少なくとも２つの定置形の横断方向プ
ロフィル測定装置が設けられている。このような定置形
の横断方向プロフィル測定装置は例えば当該の抄紙機お
よび／または厚紙抄造機のプレス部および／または乾部
に設けられている。この場合この種の定置形の横断方向
プロフィル測定装置は例えば閉鎖された材料路誘導部の
所定の領域にも導入することができる。また基本的には
抄紙機および／または厚紙抄造機の漉網部および／また
は端部にこの種の定置形の横断方向プロフィル測定装置
を設けることもできる。できる限り短い制御時間を達成
するために、それぞれの定置形の横断方向プロフィル測
定装置は例えばそのつどの横断方向プロフィルに作用す
る少なくとも１つのアクチュエータまたは操作素子の直
接前方および／または直接後方に配置することができ
る。
【００４９】図２には、測定装置１０の定置形の横断方
向プロフィル測定装置１４の別の実施例が概略図で示さ
れている。ここでは単に測定点ごとに定められているビ
ーム源およびセンサのグループが示されている。
【００５０】図２からわかるように、同様にケーシング
２２を有する定置形の横断方向プロフィル測定装置１４
はそれぞれの測定点に対して３つの光ビーム源１８と少
なくとも１つのセンサまたはフォト受信器２０とを有し
ている。ビーム源１８およびセンサ２０はそれぞれ測定
および／または評価電子回路２４に接続されており、こ
の電子回路は少なくとも１つの線路２６を介して上位の
装置、例えばプロセスガイドシステムおよび／または給
電部に接続することができる。この実施例では測定およ
び／または評価電子回路２４はケーシング２２の外部に
配置されている。
【００５１】３つのビーム源はこの実施例では、赤外線
発光ダイオード１８１、赤色発光ダイオード１８２、青
色発光ダイオード１８３により形成されている。このた
め材料路１２は３つのビーム源による種々の波長領域で
照射される。
【００５２】基本的にはそれぞれの測定点にそれぞれ２
つのセンサまたはフォト受信器２０を設けることがで
き、これらを有利にはビーム源１８に対して種々の距離
１８を置いて配置できる。
【００５３】測定および／または評価電子回路２４は照
射および測定の時間フローを制御する。この測定および
／または評価電子回路を例えばケーシング２２内または
ケーシング上に配置してもよいし（図１を参照）、また
この実施例の場合のように別個のケーシングに収容して
もよい。
【００５４】測定および／または評価電子回路２４また
は該当する上位の装置は基本的には、例えば単位面積当
たりの重量、含水量、厚さ、所定の含有物質、および／
または別の材料路１２の特性または材料路１２上の被覆
物の特性を表す少なくとも１つの信号を送出する。
【図面の簡単な説明】
【図１】材料路の所定の特性の横断方向プロフィルを測
定するための測定装置の第１の実施例を示す概略図であ
る。
【図２】測定装置の別の実施例を示す概略図である。
【符号の説明】 １０ 測定装置 １２ 材料路 １４ 横断方向プロフィル測定装置 １６、１６’ 観察ウィンドウ １８、１８１、１８２、１８３ ビーム源 ２０ センサ ２２ ケーシング ２４ 評価電子回路 ２６ 線路 Ｌ 材料路の動作方向
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ルドルフ ミュンヒ ドイツ連邦共和国 ケーニッヒスブロン エシンガー シュトラーセ ７

Claims (26)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 抄紙機および／または厚紙抄造機または
    塗工機の材料路（１２）の所定の特性、例えば繊維素の
    帯状物の特性の横断方向プロフィルを測定する測定装置
    （１０）において、 少なくとも１つの定置形の横断方向プロフィル測定装置
    （１４）が設けられており、 該測定装置は、種々に定められた複数の波長領域で材料
    路（１２）を照射する少なくとも１つのビーム源（１
    ８）と、材料路（１２）によって影響されるビームの強
    度を測定する少なくとも１つのセンサ（２０）とを有し
    ており、 少なくとも１つの測定および／または評価電子回路（２
    ４）が設けられており、有利にはそれぞれのセンサ（２
    ０）により所定の時点では種々に定められた複数のビー
    ムの波長領域のうちただ１つだけが検出される、ことを
    特徴とする材料路の所定の特性の横断方向プロフィルを
    測定する測定装置。
  2. 【請求項２】 材料路の動作方向（Ｌ）で相互に間隔を
    有する少なくとも２つの定置形の横断方向プロフィル測
    定装置（１４）が設けられている、請求項１記載の装
    置。
  3. 【請求項３】 抄紙機および／または厚紙抄造機または
    塗工機の少なくとも１つのユニットにそれぞれ、材料路
    の動作方向（Ｌ）で相互に間隔を有する少なくとも２つ
    の定置形の横断方向プロフィル測定装置（１４）が配属
    されている、請求項２記載の装置。
  4. 【請求項４】 そのつどの横断方向プロフィルに作用す
    る少なくとも１つのアクチュエータまたは操作素子の直
    接前方および／または直接後方に定置形の横断方向プロ
    フィル測定装置（１４）が配置されている、請求項１か
    ら３までのいずれか１項記載の装置。
  5. 【請求項５】 抄紙機および／または厚紙抄造機の少な
    くともプレス部および／または乾部にそれぞれ少なくと
    も１つの定置形の横断方向プロフィル測定装置（１４）
    が設けられている、請求項１から４までのいずれか１項
    記載の装置。
  6. 【請求項６】 少なくとも１つの定置形の横断方向プロ
    フィル測定装置（１４）が閉鎖された材料路誘導部の領
    域に設けられている、請求項１から５までのいずれか１
    項記載の装置。
  7. 【請求項７】 抄紙機および／または厚紙抄造機の少な
    くとも漉網部および／または端部に少なくとも１つの定
    置形の横断方向プロフィル測定装置（１４）が設けられ
    ている、請求項１から６までのいずれか１項記載の装
    置。
  8. 【請求項８】 所定の障害量および／または少なくとも
    １つのアクチュエータまたは操作素子によるそのつどの
    横断方向プロフィルへの影響をフィルタリング除去する
    フィルタ手段が設けられている、請求項１から７までの
    いずれか１項記載の装置。
  9. 【請求項９】 ビーム源（１８）および／またはセンサ
    （２０）は少なくとも１つの導波路に接続されている、
    請求項１から８までのいずれか１項記載の装置。
  10. 【請求項１０】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）は近赤外線領域（ＮＩＲ）で
    の動作のために構成されている、請求項１から９までの
    いずれか１項記載の装置。
  11. 【請求項１１】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）は単位面積当たりの重量、含
    水量、厚さ、所定の含有物質、および／または材料路
    （１２）の他の特性を定量検出するために構成されてい
    る、請求項１から１０までのいずれか１項記載の装置。
  12. 【請求項１２】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）に、材料路（１２）および／
    または材料路の被覆物を通過したビームを検出する少な
    くとも１つのセンサ（２０）が設けられている、請求項
    １から１１までのいずれか１項記載の装置。
  13. 【請求項１３】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）に、材料路（１２）および／
    または材料路の被覆物で反射されたビームを検出する少
    なくとも１つのセンサ（２０）が設けられている、請求
    項１から１２までのいずれか１項記載の装置。
  14. 【請求項１４】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）に、材料路（１２）を照射す
    る少なくとも１つの光ビーム源（１８）が設けられてお
    り、材料路によって影響される光ビームの強度を測定す
    る少なくとも１つのフォト受信器（２０）が設けられて
    いる、請求項１から１３までのいずれか１項記載の装
    置。
  15. 【請求項１５】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）に種々のスペクトル感度を有
    する複数のセンサ（２０）が設けられており、前記装置
    は有利には材料路（１２）を照射するただ１つのビーム
    源（１８）を有している、請求項１から１４までのいず
    れか１項記載の装置。
  16. 【請求項１６】 少なくとも１つのセンサ／フィルタユ
    ニットが設けられており、該センサ／フィルタユニット
    のスペクトル感度および／または透過性を調整可能であ
    る、請求項１から１５までのいずれか１項記載の装置。
  17. 【請求項１７】 少なくとも１つの発光ダイオード（１
    ８）がビーム源として設けられている、請求項１から１
    ６までのいずれか１項記載の装置。
  18. 【請求項１８】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）に、材料路（１２）によって
    影響される光ビームをセンサ側でスペクトル的に分割す
    る手段が設けられており、前記装置は分割されたビーム
    を印加可能なフォトダイオードアレイを有しており、該
    アレイは少なくとも１６個のセンサ（２０）、例えば２
    ６５個のセンサを有している、請求項１から１７までの
    いずれか１項記載の装置。
  19. 【請求項１９】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）に、種々の波長領域で材料路
    （１２）を照射する複数のビーム源（１８）が設けられ
    ている、請求項１から１８までのいずれか１項記載の装
    置。
  20. 【請求項２０】 測定および／または評価電子回路（２
    ４）は、材料路（１２）を少なくとも１つの定置形の横
    断方向プロフィル測定装置（１４）により時間的に順次
    に、種々の波長領域を有する個別のビーム源または種々
    のビーム源の組合せを用いて照射する手段を有する、請
    求項１から１９までのいずれか１項記載の装置。
  21. 【請求項２１】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）にビーム源に対して種々の距
    離で配置された少なくとも２つのセンサ（２０）が設け
    られている、請求項１から２０までのいずれか１項記載
    の装置。
  22. 【請求項２２】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）のビーム源（１８）に、それ
    ぞれ少なくとも１つの固有のセンサ（２０）が配属され
    ているか、または固有のセンサ対が配属されている、請
    求項１から２１までのいずれか１項記載の装置。
  23. 【請求項２３】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）は有利には各測定点に対して
    それぞれ３つの光ビーム源（１８）および少なくとも１
    つのセンサ（２０）を有している、請求項１から２２ま
    でのいずれか１項記載の装置。
  24. 【請求項２４】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）は有利には各測定点に対し
    て、少なくとも１つの赤外線発光ダイオード、少なくと
    も１つの赤色発光ダイオード、および／または少なくと
    も１つの青色発光ダイオード（１８）を有している、請
    求項１から２３までのいずれか１項記載の装置。
  25. 【請求項２５】 少なくとも１つの定置形の横断方向プ
    ロフィル測定装置（１４）に少なくとも１つの発光ダイ
    オード（１８）が設けられており、該発光ダイオードの
    反射角は約１２゜から約３０゜の間の範囲にある、請求
    項１から２４までのいずれか１項記載の装置。
  26. 【請求項２６】 測定および／または評価電子回路（２
    ４）は同時に複数の定置形の横断方向プロフィル測定装
    置（１４）に配属されている、請求項１から２５までの
    いずれか１項記載の装置。
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