DE102005025848B3 - Optische Messvorrichtung und Verwendung der Messvorrichtung zur Messung von Beschichtungen auf organischer- und/oder Polymer-Basis - Google Patents

Optische Messvorrichtung und Verwendung der Messvorrichtung zur Messung von Beschichtungen auf organischer- und/oder Polymer-Basis Download PDF

Info

Publication number
DE102005025848B3
DE102005025848B3 DE102005025848A DE102005025848A DE102005025848B3 DE 102005025848 B3 DE102005025848 B3 DE 102005025848B3 DE 102005025848 A DE102005025848 A DE 102005025848A DE 102005025848 A DE102005025848 A DE 102005025848A DE 102005025848 B3 DE102005025848 B3 DE 102005025848B3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
beam splitter
measuring
light
detectors
wave
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE102005025848A
Other languages
English (en)
Inventor
Gerhard Dr. Spies
Werner Schmidt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BST PROCONTROL GMBH, DE
Original Assignee
PROTAGON PROCESS TECHNOLOGIES
PROTAGON PROCESS TECHNOLOGIES GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by PROTAGON PROCESS TECHNOLOGIES, PROTAGON PROCESS TECHNOLOGIES GmbH filed Critical PROTAGON PROCESS TECHNOLOGIES
Priority to DE102005025848A priority Critical patent/DE102005025848B3/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102005025848B3 publication Critical patent/DE102005025848B3/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0616Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
    • G01B11/0625Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0691Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0216Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using light concentrators or collectors or condensers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3563Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • G01N2021/8427Coatings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets
    • G01N2021/8663Paper, e.g. gloss, moisture content
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1) zur optischen Messung des von einem Messobjekt (3) über einen Strahlenteiler (4) auf mehrere messwellenspezifische Detektoren (14) gelangenden Messlichtes sowie auf die Verwendung einer derartigen Vorrichtung (1). DOLLAR A Um bei einer derartigen Vorrichtung (1) zu erreichen, dass auf einfache Weise wesentlich größere Signalstärken erzielt werden können als bei vergleichbaren bekannten Vorrichtungen, schlägt die Erfindung vor, als Strahlenteiler (4) ein Gehäuse (5) mit einer kegelförmig ausgebildeten inneren Oberfläche (6) zu verwenden, wobei in dem Bereich der Kegelspitze (7) eine Lichteintrittsöffnung (8) für den Eintritt des Messlichtes (9) in dem Strahlenteiler (4) vorgesehen ist. Die messwellenspezifischen Detektoren (14) sind bei dieser Anordnung auf dem der Kegelspitze (7) gegenüberliegenden Bereich der Vorrichtung, bei dem es sich vorzugsweise um den Boden (12) des Strahlenteilers (4) handelt, angeordnet.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Messung des von einem Messobjekt über einen Strahlenteiler auf mehrere messwellenspezifische Detektoren gelangenden Messlichtes. Die Erfindung bezieht sich ferner auf die Verwendung einer derartigen Vorrichtung.
  • Derartige optische Messvorrichtungen sind an sich bekannt. Sie werden unter anderem zur Messung der Schichtdicke von Beschichtungen auf organischer- und/oder Polymer-Basis (z.B. von Papierbeschichtungen) herangezogen. Dabei wird als Messlicht vorwiegend Infrarot-Licht im Bereich von 1-4 μm analysiert, da in diesem Wellenlängenbereich für die polymere Beschichtungen typische Absorptionsbanden liegen. Aufgrund des Vergleiches der Signalstärke im Bereich einer derartigen Absorptionsbande mit einem Referenzsignal kann dann z.B. auf die Schichtdicke der Beschichtung geschlossen werden.
  • Als Strahlenteiler wird bei den bekannten Vorrichtungen häufig eine Ulbricht-Kugel verwendet, bei der das zu analysierende Messlicht durch eine Eintrittsöffnung in die Kugel eintritt und infolge von Reflexionen an den inneren Oberflächen der Kugel zu einer vorgegebenen Anzahl von Austrittsöffnungen gelangt, an denen die messwellenspezifischen Detektoren angeordnet sind. Die entsprechenden elektrischen Detektorsignale werden dann in einer elektronischen Auswerteeinheit ausgewertet.
  • Bei der Verwendung einer Ulbricht-Kugel als Strahlenteiler hat es sich unter anderem als nachteilig erwiesen, dass die Reflexion des Messlichtes zwischen der Eintrittsöffnung und den verschiedenen Austrittsöffnungen mit hohen Energieverlusten verbunden ist, so dass die Detektoren häufig nur relativ schwache Signale erzeugen. Dieses führt nicht selten zu einer Verringerung der Messgenauigkeit und der Messgeschwindigkeit.
  • Aus der DE 41 23 818 C2 ist eine Vorrichtung zur Messung der Chemilumineszenz einer in einem Probengefäß befindlichen Probe bekannt, bei der zur optischen Adaption des Öffnungsquerschnittes des Probengefäßes und des die Lumineszenz empfangenden Sensors (Photomultipliers) eine Kegelblende verwendet wird.
  • Aus der DE 198 31 612 A1 ist eine Vorrichtung zur Messung des Querprofiles bestimmter Eigenschaften einer Materialbahn, wie insbesondere einer Faserstoffbahn in einer Papier- und/oder Kartonmaschine, bekannt. Dabei schlägt diese Druckschrift unter anderem vor, die Materialbahn nur mit einer Strahlenquelle zu bestrahlen und die von der Materialbahn reflektierte und gestreute Strahlung mit mehreren Sensoren unterschiedlicher spektraler Empfindlichkeit (z.B. mittels eines Photodiodenarrays) zu ermitteln.
  • Aus der DE 196 21 428 A1 ist ein photoelektrischer Sensor bekannt, der aus einer auf einem Substrat befestigten lichtempfindlichen Vorrichtung besteht, die in einem Gehäuse angeordnet ist. Vor der lichtempfindlichen Vorrichtung ist ein Abschirmteil aus lichtabschirmenden Kunststoff mit einer relativ engen Ausnehmung zur Lichtführung angeordnet, wobei die Ausnehmung auf ihrer der lichtempfindlichen Vorrichtung zugewandten Seite zur optischen Adaption an die Vorrichtung kegelförmig erweitert ist.
  • Aus der US 3 711 701 ist eine gleichmäßig strahlende Lichtquelle bekannt. Diese besteht im wesentlichen aus einer Speziallampe, welche Licht durch einen ersten Diffusor und eine Blende in einen Hohlraum mit sich konisch erweiternden Wänden strahlt. Die Ausgangsöffnung dieses Hohlraumes ist mit einem zweiten Diffusor abgedeckt. Außerdem sind die Wände des Hohlraumes mit einem weißen reflektierenden Anstrich versehen.
  • Aus der US 6 007 225 A ist schließlich ein gerichtetes Lichtsystem bekannt, bei dem das beispielsweise von Lichtfasern kommende Licht mittels eines konisch ausgebildeten Reflektors ein vorgegebenes Sehfeld mit im wesentlichen gleichmäßiger Lichtintensität beleuchtet.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs erwähnten Art anzugeben, bei welcher auf einfache Weise wesentlich größere Signalstärken erzielt werden können als bei vergleichbaren bekannten Vorrichtungen. Der Erfindung liegt ferner die Aufgabe zugrunde, eine bevorzugte Verwendung der erfindungsgemäßen Vorrichtung zu offenbaren.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß hinsichtlich der Vorrichtung durch die Merkmale des Anspruchs 1 und hinsichtlich der Verwendung durch die Merkmale des Anspruchs 8 gelöst. Weitere, besonders vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung offenbaren die Unteransprüche.
  • Die Erfindung beruht im wesentlichen auf dem Gedanken, als Strahlenteiler keine Ulbricht-Kugel zu verwenden, sondern ein Gehäuse mit einer kegel- oder kegelstumpfförmig (im folgenden zusammenfassend als kegelförmig bezeichnet) ausgebildeten inneren Oberfläche, wobei in dem Bereich der Kegelspitze eine Lichteintrittsöffnung für den Eintritt des Messlichtes in den Strahlenteiler vorgesehen ist. Die messwellenspezifischen Detektoren sind bei dieser Anordnung auf dem der Kegelspitze gegenüberliegenden Bereich der Vorrichtung, bei dem es sich vorzugsweise um den Boden des Strahlenteilers handelt, angeordnet.
  • Der Strahlenteiler der erfindungsgemäßen Vorrichtung bewirkt eine nahezu verlustlose Aufspaltung des Messlichtes auf die messwellenspezifischen Detektoren. Wie sich gezeigt hat, sind die Signalausbeute und somit das Signal-Rausch-Verhältnis 10 bis 100 mal höher als bei Verwendung von Ulbricht-Kugeln.
  • Der Neigungswinkel α der kegelförmig ausgebildeten inneren Oberfläche des Strahlenteilers (Winkel zwischen der inneren Mantellinie und der Kegelachse) sollte vorzugsweise zwischen 30° und 45° liegen. Er wird derart gewählt, dass sich ein Optimum zwischen benötigter Detektorfläche (Boden) und Nutzung der Hauptintensität der Lichtkeule ergibt.
  • Bei einem vorteilhaften Ausführungsbeispiel weist die Vorrichtung mindestens 6 messwellenspezifische Detektoren auf, die jeweils bei unterschiedlichen Messwellenlängen ihre größte Empfindlichkeit besitzen. Dabei hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn die Detektoren gleichmäßig über den Boden des Strahlenteilers verteilt angeordnet sind.
  • Um zu gewährleisten, dass das Messlicht sich möglichst gleichmäßig im Innenraum des Strahlenteilers verteilt, hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn vor der Eintrittsöffnung des Strahlenteilers ein Diffusor (z.B. in Form einer aufgerauhten Scheibe) angeordnet ist. Dieses hat sich insbesondere in den Fällen als vorteilhaft erwiesen, bei denen das Messgut eine glatte Oberfläche besitzt und somit das Licht keine natürliche Streuung erfährt.
  • Überdies sollte der Strahlenteiler eine reflektierende innere Oberfläche besitzen (d.h. z.B. verspiegelt sein), so dass das Messlicht, welches nicht direkt zu einem Detektor gelangt, nach Reflexion an der inneren Oberfläche ebenfalls noch zur Signalbildung beiträgt.
  • Schließlich sollte die zwischen dem Messobjekt und den Detektoren angeordnete Optik der Vorrichtung in dem Wellenlängenbereich des verwendeten Messlichtes wellenlängenneutral sein, um aufwendige Messwertkorrekturen zu vermeiden.
  • Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus den folgenden anhand einer Figur erläuterten Ausführungsbeispielen.
  • In der Figur ist mit 1 eine Vorrichtung zur Messung der Dicke eines auf einer Papierbahn 2 befindlichen Polymerfilmes 3 bezeichnet. Die Vorrichtung 1 umfasst einen Strahlenteiler 4, der im wesentlichen aus einem Gehäuse 5 mit einer kegelförmig ausgebildeten und verspiegelten inneren Oberfläche 6 besteht. In dem Bereich der Kegelspitze 7 der inneren Oberfläche 6 ist eine Lichteintrittsöffnung 8 für den Eintritt von Messlicht 9 vorgesehen.
  • Vor der Lichteintrittsöffnung 8 des Strahlenteilers 4 ist ein Diffusor 10 angeordnet, um zu gewährleisten, dass das Messlicht 9 sich möglichst gleichmäßig in dem kegelförmigen Innenraum 11 verteilt.
  • In dem der Kegelspitze 7 des Strahlenteilers 4 gegenüberliegenden Bereich befindet sich der Boden 12 des Strahlenteilers 4 mit mehreren, gleichmäßig verteilt angeordneten Austrittsöffnungen 13. An diesen Austrittsöffnungen 13 sind messwellenspezifische Detektoren 14 befestigt, deren maximale Empfindlichkeit unterschiedlich ist und im Bereich zwischen 1 und 4 μm liegt.
  • Die Ausgänge der Detektoren 14 sind über elektrische Leitungen 15 mit einer elektronischen Auswerteeinrichtung 16 verbunden, die ihrerseits mit einer Tastatur 17 und einem Monitor 18 zur Darstellung der Messergebnisse verbunden ist.
  • Wie aus der Figur ersichtlich ist, ist eine Lichtquelle 19 (z.B. eine Halogenlampe oder ein Leuchtdioden-Array) zur Erzeugung von entsprechendem IR-Licht vorgesehen, mittels welcher der zu überprüfende Polymerfilm 3 beleuchtet wird. Das von diesem Polymerfilm 3 gestreute und reflektierte Licht gelangt dann durch den Diffusor 10 und die Lichteintrittsöffnung 8 in den Innenraum 11 des Strahlenteilers 4 und von dort über die Austrittsöffnungen 13 in die Detektoren 14. Die entsprechenden elektrischen Signale der Detektoren 14 werden anschließend von der elektronischen Auswerteeinrichtung 16 weiterverarbeitet und z.B. auf dem Monitor 18 dargestellt.
  • 1
    Vorrichtung
    2
    Papierbahn
    3
    Polymerfilm, Beschichtung, Messobjekt
    4
    Strahlenteiler
    5
    Gehäuse
    6
    innere Oberfläche
    7
    Kegelspitze
    8
    Lichteintrittsöffnung
    9
    Messlicht
    10
    Diffusor
    11
    Innenraum
    12
    Boden
    13
    Austrittsöffnung
    14
    Detektor
    15
    elektrische Leitung
    16
    Auswerteeinrichtung
    17
    Tastatur
    18
    Monitor
    19
    Lichtquelle
    α
    Neigungswinkel

Claims (7)

  1. Vorrichtung zur Messung des von einem Messobjekt (3) über einen Strahlenteiler (4) auf mehrere messwellenspezifische Detektoren (14) gelangenden Messlichtes (9) mit den Merkmalen: a) der Strahlenteiler (4) besteht aus einem Gehäuse (5) mit einer kegelförmig ausgebildeten inneren Oberfläche (6) und einem der Kegelspitze (7) gegenüberliegenden Boden (12); b) in dem Bereich der Kegelspitze (7) der inneren Oberfläche (6) des Strahlenteilers (4) ist eine Lichteintrittsöffnung (8) für den Eintritt des Messlichtes (9) in den Strahlenteiler (4) vorgesehen; c) vor der Lichteintrittsöffnung (8) des Strahlenteilers (4) ist ein Diffusor (10) angeordnet; d) die messwellenspezifischen Detektoren (14) sind an dem Boden (12) des Strahlenteilers (4) angeordnet.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoren (14) gleichmäßig über den Boden (12) des Strahlenteilers (4) verteilt angeordnet sind.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung mindestens 6 messwellenspezifische Detektoren (14) umfasst, die jeweils bei unterschiedlichen Messwellenlängen ihre größte Empfindlichkeit besitzen.
  4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlenteiler (4) eine reflektierende innere Oberfläche (6) aufweist.
  5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die zwischen Messobjekt (3) und Detektoren (14) angeordneten optischen Bauelemente der Vorrichtung in dem Wellenlängenbereich des verwendeten Messlichtes (9) wellenlängenneutral sind.
  6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Neigungswinkel (α) der kegelförmig ausgebildeten inneren Oberfläche (6) des Strahlenteilers (4) zwischen 30° und 45° beträgt.
  7. Verwendung einer Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 6 zur Messung von Beschichtungen auf organischer- und/oder Polymer-Basis, wobei mittels der Vorrichtung als Messlicht Infrarot-Licht im Bereich von 1-4 μm analysiert wird.
DE102005025848A 2005-06-06 2005-06-06 Optische Messvorrichtung und Verwendung der Messvorrichtung zur Messung von Beschichtungen auf organischer- und/oder Polymer-Basis Expired - Fee Related DE102005025848B3 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005025848A DE102005025848B3 (de) 2005-06-06 2005-06-06 Optische Messvorrichtung und Verwendung der Messvorrichtung zur Messung von Beschichtungen auf organischer- und/oder Polymer-Basis

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005025848A DE102005025848B3 (de) 2005-06-06 2005-06-06 Optische Messvorrichtung und Verwendung der Messvorrichtung zur Messung von Beschichtungen auf organischer- und/oder Polymer-Basis

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102005025848B3 true DE102005025848B3 (de) 2007-02-15

Family

ID=37681314

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102005025848A Expired - Fee Related DE102005025848B3 (de) 2005-06-06 2005-06-06 Optische Messvorrichtung und Verwendung der Messvorrichtung zur Messung von Beschichtungen auf organischer- und/oder Polymer-Basis

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102005025848B3 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008070411A2 (en) * 2006-12-05 2008-06-12 The Boeing Company Coating thickness measurement using a near infrared absorbance technique and a light diffuser
US8072616B2 (en) 2006-12-05 2011-12-06 The Boeing Company Application of crossed teflon diffuser to coatings on oriented surfaces
CN104011535A (zh) * 2011-12-15 2014-08-27 费南泰克控股有限公司 用于检验设有气体阻隔层的物体的方法和系统

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3711701A (en) * 1970-12-04 1973-01-16 California Inst Of Techn Uniform variable light source
US4225782A (en) * 1978-08-14 1980-09-30 Sanders Associates, Inc. Wide field of view-narrow band detection system
DE3149709A1 (de) * 1980-12-17 1982-06-24 Fuji Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa Infrarot-dickenmessvorrichtung
DE4123818C2 (de) * 1991-07-18 1994-05-19 Berthold Lab Prof Dr Vorrichtung zur Messung der Chemilumineszenz einer in einem Probengefäß befindlichen Probe
DE19621428A1 (de) * 1995-05-29 1996-12-05 Oki Electric Ind Co Ltd Photoelektrischer Sensor mit einer eingebauten Lichtführung
US6007225A (en) * 1997-10-16 1999-12-28 Advanced Optical Technologies, L.L.C. Directed lighting system utilizing a conical light deflector
DE19831612A1 (de) * 1998-07-14 2000-01-20 Voith Sulzer Papiermasch Gmbh Meßsystem

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3711701A (en) * 1970-12-04 1973-01-16 California Inst Of Techn Uniform variable light source
US4225782A (en) * 1978-08-14 1980-09-30 Sanders Associates, Inc. Wide field of view-narrow band detection system
DE3149709A1 (de) * 1980-12-17 1982-06-24 Fuji Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa Infrarot-dickenmessvorrichtung
DE4123818C2 (de) * 1991-07-18 1994-05-19 Berthold Lab Prof Dr Vorrichtung zur Messung der Chemilumineszenz einer in einem Probengefäß befindlichen Probe
DE19621428A1 (de) * 1995-05-29 1996-12-05 Oki Electric Ind Co Ltd Photoelektrischer Sensor mit einer eingebauten Lichtführung
US6007225A (en) * 1997-10-16 1999-12-28 Advanced Optical Technologies, L.L.C. Directed lighting system utilizing a conical light deflector
DE19831612A1 (de) * 1998-07-14 2000-01-20 Voith Sulzer Papiermasch Gmbh Meßsystem

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008070411A2 (en) * 2006-12-05 2008-06-12 The Boeing Company Coating thickness measurement using a near infrared absorbance technique and a light diffuser
WO2008070411A3 (en) * 2006-12-05 2008-10-23 Boeing Co Coating thickness measurement using a near infrared absorbance technique and a light diffuser
US7468519B2 (en) 2006-12-05 2008-12-23 The Boeing Company Near infrared light diffuser
US8072616B2 (en) 2006-12-05 2011-12-06 The Boeing Company Application of crossed teflon diffuser to coatings on oriented surfaces
CN104011535A (zh) * 2011-12-15 2014-08-27 费南泰克控股有限公司 用于检验设有气体阻隔层的物体的方法和系统
CN104011535B (zh) * 2011-12-15 2016-02-03 费南泰克控股有限公司 用于检验设有气体阻隔层的物体的方法和系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2712074C3 (de) Vorrichtung zur Messung der diffusen Reflexion von Oberflächen
DE102006005574B4 (de) Meßvorrichtung zur Bestimmung der Größe, Größenverteilung und Menge von Partikeln im nanoskopischen Bereich
DE102011053140B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Messen optischer Eigenschaften von transparenten Materialien
DE202005011177U1 (de) Vorrichtung zur Analyse, insbesondere fotometrischen oder spektralfotometrischen Analyse
EP0458223A2 (de) Vorrichtung zur Messung der Absorption von transparenten Proben mit ungünstiger Aussenform
DE19948587A1 (de) Spektralphotometrische und nephelometrische Detektionseinheit
DE10315676B4 (de) Sensor für Oberflächen
DE112007000650B4 (de) Lichtsender, Lichtempfänger und Messeinrichtung zur Messung optischer Eigenschaften transparenter Substrate
DE3713149A1 (de) Fernmess-spektrophotometer
AT510765B1 (de) Vorrichtung zur photometrischen bzw. spektrometrischen untersuchung einer flüssigen probe
CH618266A5 (en) Spectrophotometer.
AT507221A4 (de) Vorrichtung für das messen des wassergehaltes einer stoffmischung
EP3564654B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur untersuchung von beschichtungen mit effektpigmenten
DE102006045285B4 (de) Vorrichtung zur Untersuchung von Oberflächeneigenschaften mit indirekter Beleuchtung
DE102011050969A1 (de) Vorrichtung zur referenzierten Messung von reflektiertem Licht und Verfahren zum Kalibrieren einer solchen Vorrichtung
DE102005025848B3 (de) Optische Messvorrichtung und Verwendung der Messvorrichtung zur Messung von Beschichtungen auf organischer- und/oder Polymer-Basis
EP3290904B1 (de) Messlichtquelle und messanordnung zum erfassen eines reflexionsspektrums
DE102008057115A1 (de) Verfahren zur quantitativen Bestimmung der Konzentration von Fluorophoren einer Substanz in einer Probe und Vorrichtung zu seiner Durchführung
EP2261641A2 (de) Anordnung und Verfahren zur Bestimmung der Lumineszenzquantenausbeute einer lumineszierenden Probe
DE19920184C2 (de) Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, sowie Reflektanz-Meßsonde
EP1750106B1 (de) Spektralphotometer zur Messung mit einer gegenüber Aussenlicht offenen Messzelle
DE10106032B4 (de) Vorrichtung zur homogenen Ausleuchtung einer kleinen Fläche mit einer Ulbricht'schen Kugel
DE102004037040A1 (de) Vorrichtung zur quantifizierten Bewertung von Oberflächeneigenschaften
DE102004018754B4 (de) Vorrichtung für die Messung der Lichtstreuung und Lichtabsorption von Proben
DE102018216836B3 (de) Offener Streulichtrauchmelder mit koaxialer Anordnung von Lichtsender und Lichtempfänger

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of the examined application without publication of unexamined application
8364 No opposition during term of opposition
R082 Change of representative

Representative=s name: RAETSCH:IP PATENTANWALTSKANZLEI, DE

R082 Change of representative

Representative=s name: RAETSCH:IP PATENTANWALTSKANZLEI, DE

R082 Change of representative

Representative=s name: RAETSCH:IP PATENTANWALTSKANZLEI, DE

R081 Change of applicant/patentee

Owner name: BST PROCONTROL GMBH, DE

Free format text: FORMER OWNER: PROTAGON PROCESS TECHNOLOGIES GMBH, 56579 RENGSDORF, DE

Effective date: 20150511

R082 Change of representative

Representative=s name: RAETSCH:IP PATENTANWALTSKANZLEI, DE

Effective date: 20150306

Representative=s name: RAETSCH:IP PATENTANWALTSKANZLEI, DE

Effective date: 20150309

Representative=s name: RAETSCH:IP PATENTANWALTSKANZLEI, DE

Effective date: 20150511

Representative=s name: TER MEER STEINMEISTER & PARTNER PATENTANWAELTE, DE

Effective date: 20150309

Representative=s name: TER MEER STEINMEISTER & PARTNER PATENTANWAELTE, DE

Effective date: 20150511

Representative=s name: TER MEER STEINMEISTER & PARTNER PATENTANWAELTE, DE

Effective date: 20150306

R082 Change of representative

Representative=s name: TER MEER STEINMEISTER & PARTNER PATENTANWAELTE, DE

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee