DE19927452C2 - Vorrichtung zur Messung von Feuchtigkeit und Reflexionsvermögen von Oberflächen - Google Patents

Vorrichtung zur Messung von Feuchtigkeit und Reflexionsvermögen von Oberflächen

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Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Messung von Feuchtigkeit und Reflexionsvermögen von Oberflächen mit Hilfe von Licht.
Aus K. Hoffmann, Feuchtemessung durch Infrarotreflexion, Chemie-Ing.-Techn. 35, 55-62 (1963) ist ein optisches Feuchtemeßgerät bekannt, bei dem die beiden Spektralbereiche mit rotierenden Filtern, also zeitlich sequentiell, erzeugt werden. Dies führt bei rasch veränderlichen Objekten zu starken Verfälschungen der Meßwerte.
Bei modernen Hochgeschwindigkeitsdruckmaschinen sind während des Druckprozesses Messungen der Feuchtigkeit des Druckpapiers mit einer sequentiellen Meßmethode nicht möglich, da sich der Meßabstand wegen des Flatterns des Papiers bei schneller Vorwärtsbewegung ständig schnell ändert.
Aus den DE 20 04 087 B2, DE 36 11 645 C2, DE 31 49 869 A1 und der EP 0 137 696 B1 ist das zeitgleiche Messen zweier verschiedener Spektralbereiche zur Feuchtigkeitsmessung bekannt. In der De 20 04 087 B2 ist auch das Problem des Flatterns laufender Papierbahnen beim Messvorgang bekannt, jedoch anders gelöst. Auch das zeitlich versetzte Erfassen verschiedener Messpunkte in Querrichtung ist aus den DE 33 36 659 A1, DE-OS 23 18 032, und DE 41 31 855 A1 bekannt.
Aus der GB 1 266 223 ist eine rechnerische Mittelung nach der Messung bekannt.
Aufgabe der Erfindung ist es eine Vorrichtung der e. g. Art bereitzustellen, welche genaue Messungen auch bei schnell veränderlichem Abstand des Meßobjekts ermöglicht. Gelöst wird diese Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruchs 1. Die Unteransprüche beschreiben vorteilhafte Ausgestaltungen der Vorrichtung. Der Anspruch 9 betrifft eine vorteilhafte Verwendung der Vorrichtung.
Ein besonderer Vorteil der Erfindung besteht darin, daß neben der Feuchtemessung mit Hilfe des kippbaren Spiegels 7 eine Glanzermittlung durchgeführt werden kann. Dieser Spiegel ermöglicht eine interne Eichung. Die Verwendung dieses Spiegels ermöglicht einen kompakten flachen Aufbau, da alle Meßstrahlen innerhalb der Meßvorrichtung in einer Ebene parallel zur Meßebene verlaufen.
Die Lichtausbeute und damit die Messempfindlichkeit wird durch Verwendung eines Spiegels 3 nahezu verdoppelt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines Ausführungsbeispiels mit Hilfe der Figuren näher erläutert.
Dabei zeigt die Fig. 1 den schematischen Aufbau einer erfindungsgemäßen Vorrichtung und die Fig. 2 einen senkrecht dazu liegenden Schnitt.
Die Fig. 1 zeigt oben links die Lampe 1. Das Licht der Lampe 1 wird mit einer geeigneten Optik in einen Faserlichtleiter 16 eingekoppelt. Der Ausgang des Faserlichtleiters wird mit einer Sammellinse über den Strahlteiler 2 (der reflektierte Anteil), den Spiegel 3 (dabei sind die Flächennormalen von Spiegel 3 und Strahlteiler 2 parallel und liegen in einer Ebene mit dem einfallenden Strahl) und den Umlenkspiegel 7, auf den Meßfleck 9, im weitest zulässigen Abstand zwischen Vorrichtung und Meßoberfläche abgebildet. Dadurch ist gewährleistet, daß der Meßfleck 9 bei kleineren Abständen zwischen Anordnung und Meßfläche im Durchmesser nur kleiner werden kann. Ebenso wird der Ausgang des Lichtleiters 16 durch den Strahlteiler 2 (transmittierter Anteil) und über den Umlenkspiegel 7, auf den Meßfleck 8 abgebildet. Bei allen kleineren Abständen ist zwar das Bild unscharf, aber die Ausleuchtung des Meßfleckes homogen (bei geeignetem Faserlichtleiter 17, z. B. einem statistisch gemischten Faserbündel). Die Sammellinse 6 sieht die Meßflecken 8 und 9 über den Umlenkspiegel 7, den Strahlteiler 2 und den Umlenkspiegel 3 und bildet sie auf der Detektorebene ab, eventuell mit Hilfe von weiteren Linsen. Es entstehen in dieser Ebene drei nebeneinander liegende Bilder, die je nach Abstand zwischen der Vorrichtung und der Meßoberfläche mehr oder weniger weit voneinander entfernt sind (das mittlere Bild ist die Abbildung des Bildes des Meßfleckes 9 über den Umlenkspiegel 7, den Spiegel 3 durch den Strahlteiler 2 hindurch mit Hilfe der Linse 6, überlagert von der Abbildung des Meßfleckes 8, über den Umlenkspiegel 7, den Strahlteiler 2 und der Linse 6. Die beiden äußeren Bilder sind die Abbildungen des Meßfleckes 8 über Spiegel 3 und die Abbildung des Meßfleckes 9 über den Spiegel 2, der weiter Strahlengang ist oben beschrieben. Diese beiden störenden Abbildungen werden ausgeblendet, da sich mit sich änderndem Abstand zwischen Vorrichtung und Meßoberfläche, die Einstrahlungswinkel, und damit das Meßsignal ändern würde, und damit das Meßsystem nicht mehr unabhängig vom Abstand einsetzbar wäre. Die dazu notwendige Blende ist hier nicht dargestellt. Durch einen Strahlteiler 10, der vorzugsweise aus einem dichroidischen Spiegel (Farbteiler) besteht, wird die verbleibende Abbildung auf die beiden Detektoren 4, 5 aufgeteilt. Dichroitische Spiegel haben gegenüber von einfachen Strahlteilern den Vorteil, daß für die Detektoren jeweils eine deutlich höhere nutzbare Intensität zur Verfügung steht. Bei Verwendung eines Kurz- oder Langpassfilters als Strahlteiler 10 ist der Intensitätsgewinn etwas geringer.
Die Filter 11 und 12 begrenzen die spektralen Bereiche auf die gewünschten Grenzen. Die Differenz 15 der beiden logarithmierten Detektorsignale 13, 14 ergibt den Quotienten aus den beiden gemessenen Strahlungsintensitäten. Dabei kürzen sich, wenn die optischen Verhältnisse für beide Kanäle gleich sind, Helligkeitunterschiede durch Abstandsänderungen zwischen Vorrichtung und Meßobjekt und durch Verunreinigungen heraus.
Anstelle der Lampe können auch zwei lichtemittierende Dioden mit geeigneten Emissionsspektren verwendet werden. Diese können mit verschiedenen Frequenzen moduliert werden. Das emittierte Licht der beiden Dioden kann vorteilhaft mit einem entsprechenden statistisch gemischten Gabellichtleiter oder einen dichroitischen Spiegel vereinigt werden, Dadurch kann als Nachweisgerät für die Meßstrahlung ein einziger Detektor verwendet werden, Die Filter 11, 12 und der Farbteiler 10 entfallen.
Die Schnittdarstellung von Fig. 2 zeigt die Wirkung des kippbaren Spiegels 7 auf den einfallenden Meßstrahl von der Lampe 1, über den Lichtleiter 17, die Linse 16 und den Strahlteiler 2 auf die Meßfläche 8. Beim eingezeichneten Winkel von 45° kann der Glanz der Oberfläche ermittelt werden. Abweichungen von diesem Winkel ermöglichen das Erfassen der diffusen Reflexion, aus welcher die Feuchtigkeit der Oberfläche ermittelt werden kann. Durch eine senkrechte Stellung des Spiegels 7 in Fig. 2, kann die Vorrichtung auf einfache Weise geeicht werden, da dann die Lichtquelle direkt (über alle optischen Bauteile) von den Detektoren gesehen wird.
Bezugszeichenliste
1
Beleuchtungseinrichtung
2
Strahlteiler
3
Spiegel
4
Detektor
5
Detektor
6
Linse
7
Kippbarer Spiegel
8
Meßfläche
9
Meßfläche
10
Strahlteiler
11
Interferenzfilter
12
Interferenzfilter
13
Logarithmierverstärker
14
Logarithmierverstärker
15
Differenzverstärker
16
Linse
17
Lichtleiter

Claims (9)

1. Vorrichtung zur Messung von Feuchtigkeit und Reflexionsvermögen von Oberflächen mit Hilfe von Licht, bestehend aus
  • a) einer Beleuchtungsvorrichtung (1), deren Emissionsspektrum zwei Wellenlängenbereiche enthält, wobei der eine Wellenlängenbereich Teile einer Wasserabsorptionsbande und der andere Wellenlängenbereich einen benachbarten Teil davon umfaßt,
  • b) einem Strahlteiler (2) zur Aufteilung des Lichts in zwei Teilstrahlen zum Bestrahlen der Oberfläche in zwei Messflecken (8, 9),
  • c) einem Spiegel (3), der den am Strahlteiler (2) reflektierten Teilstrahl so umlenkt, dass er parallel zu dem durch den Strahlteiler durchgehenden Strahl verläuft, wobei der Spiegel (3) und der Strahlteiler (2) die von den Messflecken (8, 9) reflecktierte Strahlung zu einem Strahlengang vereint und zu einem Nachweisgerät (4, 5, 11, 12, 13) für den gleichzeitigen Nachweis der beiden Wellenlängenbereiche lenkt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Linse (6) zwischen dem Strahlteiler (2) und zwei Detektoren (4, 5), welche als Nachweisgerät dienen, zur Erhöhung der Lichtausbeute.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch einen kippbaren Spiegel (7) zwischen dem Spiegel (3), dem Strahlteiler (2) und der Oberfläche, wodurch der Auftreffwinkel der beiden Teilstrahlen auf die Oberfläche der Messflecken (8, 9) identisch verändert werden kann.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungsvorrichtung aus einer Leuchte, deren Licht in eine Faseroptik eingekoppelt wird, und einer Sammellinse besteht.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß vor den Detektoren (4, 5) ein jeweils den spektralen Bereichen entsprechendes Interferenzfilter (11, 12) angeordnet ist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, gekennzeichnet durch einen Strahlteiler (10) zwischen dem Spiegel (2) und den beiden Detektoren (4, 5).
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlteiler (10) ein dichroitischer Farbteiler ist.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlteiler (10) ein Kurz- oder Langpassfilter ist.
9. Verwendung der Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 1-8 in Druckmaschinen.
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2824138B1 (fr) * 2001-04-27 2003-06-13 Usinor Dispositif de mesure de brillance du type reflectometre

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US384553A (en) * 1888-06-12 Sash-fastener
DE2318032A1 (de) * 1972-04-10 1973-10-31 Infra Systems Inc Infrarotmessanordnung
US3792271A (en) * 1972-06-30 1974-02-12 Asea Ab Means for determining moisture content and/or surface weight
DE2004087B2 (de) * 1969-02-17 1978-09-14 Measurex Corp., Santa Clara, Calif. (V.St.A.) Einrichtung zur Bestimmung der Menge einer in einem Grundmaterial enthaltenen Substanz
DE3149809A1 (de) * 1981-12-16 1983-07-21 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Vorrichtung zum herstellen evakuierter beutelpackungen
DE3336659A1 (de) * 1982-10-12 1984-04-12 Sentrol Systems Ltd., Downsview, Ontario Feuchtigkeitsmessgeraet zum messen des feuchtigkeitsgehalts einer laufenden materialbahn
DE3611645C2 (de) * 1986-04-07 1989-05-11 Grapho Metronic Mess- Und Regeltechnik Gmbh & Co Kg, 8000 Muenchen, De
EP0137696B1 (de) * 1983-09-26 1989-06-21 The Wiggins Teape Group Limited Verfahren und Einrichtung zur Messung des Wasserinhaltes
DE4131835A1 (de) * 1991-09-22 1993-03-25 Optronik Gmbh Berlin Opto Elek Fehlererkennungsgeraet
DE4321177A1 (de) * 1993-06-25 1995-01-05 Heidelberger Druckmasch Ag Vorrichtung zur parallelen Bildinspektion und Farbregelung an einem Druckprodukt
DE19831612A1 (de) * 1998-07-14 2000-01-20 Voith Sulzer Papiermasch Gmbh Meßsystem

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3675019A (en) * 1971-03-19 1972-07-04 Measurex Corp Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material
EP0177921B1 (de) * 1984-10-08 1993-01-13 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Verfahren und Vorrichtung zur Messung des eine Offsetdruckplatte anfeuchtenden Wassers
US4884697A (en) * 1988-06-21 1989-12-05 Takacs Peter Z Surface profiling interferometer
US5067817A (en) * 1990-02-08 1991-11-26 Bauer Associates, Inc. Method and device for noncontacting self-referencing measurement of surface curvature and profile
US5674698A (en) * 1992-09-14 1997-10-07 Sri International Up-converting reporters for biological and other assays using laser excitation techniques

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US384553A (en) * 1888-06-12 Sash-fastener
DE2004087B2 (de) * 1969-02-17 1978-09-14 Measurex Corp., Santa Clara, Calif. (V.St.A.) Einrichtung zur Bestimmung der Menge einer in einem Grundmaterial enthaltenen Substanz
DE2318032A1 (de) * 1972-04-10 1973-10-31 Infra Systems Inc Infrarotmessanordnung
US3792271A (en) * 1972-06-30 1974-02-12 Asea Ab Means for determining moisture content and/or surface weight
DE3149809A1 (de) * 1981-12-16 1983-07-21 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Vorrichtung zum herstellen evakuierter beutelpackungen
DE3336659A1 (de) * 1982-10-12 1984-04-12 Sentrol Systems Ltd., Downsview, Ontario Feuchtigkeitsmessgeraet zum messen des feuchtigkeitsgehalts einer laufenden materialbahn
EP0137696B1 (de) * 1983-09-26 1989-06-21 The Wiggins Teape Group Limited Verfahren und Einrichtung zur Messung des Wasserinhaltes
DE3611645C2 (de) * 1986-04-07 1989-05-11 Grapho Metronic Mess- Und Regeltechnik Gmbh & Co Kg, 8000 Muenchen, De
DE4131835A1 (de) * 1991-09-22 1993-03-25 Optronik Gmbh Berlin Opto Elek Fehlererkennungsgeraet
DE4321177A1 (de) * 1993-06-25 1995-01-05 Heidelberger Druckmasch Ag Vorrichtung zur parallelen Bildinspektion und Farbregelung an einem Druckprodukt
DE19831612A1 (de) * 1998-07-14 2000-01-20 Voith Sulzer Papiermasch Gmbh Meßsystem

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
K. Hoffmann: Chem. Ing. Tech. 35,55 (1963) *

Also Published As

Publication number Publication date
DE19927452A1 (de) 2001-01-25
WO2000077493A8 (de) 2003-08-14
WO2000077493A2 (de) 2000-12-21
AU5964700A (en) 2001-01-02
WO2000077493A3 (de) 2001-04-19

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