FI56903C - Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial - Google Patents

Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial Download PDF

Info

Publication number
FI56903C
FI56903C FI2738/73A FI273873A FI56903C FI 56903 C FI56903 C FI 56903C FI 2738/73 A FI2738/73 A FI 2738/73A FI 273873 A FI273873 A FI 273873A FI 56903 C FI56903 C FI 56903C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
detector
source
paper
web
Prior art date
Application number
FI2738/73A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI56903B (fi
Inventor
John Josehp Howarth
Original Assignee
Measurex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Measurex Corp filed Critical Measurex Corp
Publication of FI56903B publication Critical patent/FI56903B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI56903C publication Critical patent/FI56903C/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86—Investigating moving sheets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
    • G01N21/3559—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content in sheets, e.g. in paper
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/34—Paper
    • G01N33/346—Paper sheets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)

Claims (10)

1. Anordning för mätning av fuktinnehället i ett arkmaterial (14, 14. med väsentliga strälningsspridande och -absorberande egenskaper, vilken anordning innefattar organ (17, 18), som avgränsar en bana för arkmaterialet och innefattar dels en strälningskälla (S), vilken är belägen pä en sida om banan och emitterar strälning inom ett spektralband, i vilket strälningen är relativt känslig för absorption i vatten, och ett annat spektralband, i vilket strälningen är relativt okänslig för absorption i vatten, medan strälningen i bäda spektralbanden är känsliga för absorption och spridning i arkmaterialet, dels en strälningsdetektor (D) invid banan för mottagning av en del av strälningen, efter det att denna träffat arkmaterialet i banan, och för omvandling av den mottagna strälningen tili en elekt-risk signal, samt organ (23, 24; 23’, 24'; 32; 51-54; 55, 56), som är sä anordnade relativt källan, detektorn och banan, att de i sam-verkan med arkmaterialet ästadkommer väsentlig och upprepad spridning 13 £16903 med reflektion av väsentligen all strälningen under dennas väg frän kallan till detektorn för att förhindra direkt överföring av nägon väsentlig strälningsmängd frän kallan tili detektorn, var-vid den elektriska signalen är proportionell mot fuktinnehället och fuktmätningen är väsentligen oberoende av fluktuationer i ark-materialets spridning eller absorption, kännetecknad därav, att de direkt överföring förhindrande organen (23, 24; 23', 24'; 32; 51-54; 55, 56) innefattar strälningsspridande material (51, 52; 55, 56) i ett sädant läge invid banan, att all straining som rör sig frän källan (S) tili detektorn (D) avskäres därav.
2. Anordning enligt patentkravet 1, kännetecknad därav, att de banan avgränsande organen (17, 18) innefattar ätskilda element (17a, 18a; 30, 31) med ytor, mellan vilka arkina teriä let (14, 14') passerar.
3. Anordning enligt patentkravet 2, kännetecknad därav, att de ätskilda elementen (17a, 18a; 30, 31) har öppningar (21, 22; 28, 29), tili vilka källan (S) och detektorn (D) är kopplade.
4. Anordning enligt patentkravet 3, kännetecknad därav, att arkmaterialet (14, 14’) är sammanhängande över ätminstone en av ytorna och täcker ätminstone en av öppningarna (21, 22; 28, 29).
5. Anordning enligt patentkravet 4, kännetecknad därav, att källan (S) och detektorn (D) är kopplade tili öppningar (21, 22) pä motsatta sidor om arkmaterialets (14, 14') bana.
6. Anordning enligt patentkravet 5, kännetecknad därav, att källans (S) öppning (22) relativt banan är förskjuten i sidled frän detektorns (D) öppning (21).
7. Anordning enligt patentkravet 5, kännetecknad därav, att källans (S) och detektorns (D) öppningar (21, 22) är inriktade mot varandra.
FI2738/73A 1972-09-05 1973-09-03 Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial FI56903C (fi)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US28605372A 1972-09-05 1972-09-05
US28605372 1972-09-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FI56903B FI56903B (fi) 1979-12-31
FI56903C true FI56903C (fi) 1980-04-10

Family

ID=23096856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI2738/73A FI56903C (fi) 1972-09-05 1973-09-03 Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial

Country Status (9)

Country Link
US (1) US3793524A (sv)
JP (1) JPS5749854B2 (sv)
CA (1) CA958915A (sv)
CH (1) CH570618A5 (sv)
DE (1) DE2343869C3 (sv)
FI (1) FI56903C (sv)
GB (1) GB1420854A (sv)
NO (1) NO146517C (sv)
SE (1) SE388485B (sv)

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2295419A1 (fr) * 1974-12-21 1976-07-16 Kyoto Daiichi Kagaku Kk Dispositif de mesure de reflectance et structure de papier de test composite faisant l'objet d'une telle mesure
US4027161A (en) * 1976-04-05 1977-05-31 Industrial Nucleonics Corporation Minimizing wave interference effects on the measurement of thin films having specular surfaces using infrared radiation
US4052615A (en) * 1976-07-30 1977-10-04 Industrial Nucleonics Corporation Spherical cavity method and apparatus for measuring a sheet material property using infrared radiation
US4306151A (en) * 1978-02-03 1981-12-15 Measurex Corporation Method of measuring the amount of substance associated with a material in the presence of a contaminant
US4224513A (en) * 1978-04-06 1980-09-23 Measurex Corporation Apparatus for the on-line measurement of the opacity of a paper sheet
GB2046432B (en) * 1979-04-09 1983-05-11 Infrared Eng Ltd Apparatus for determining the thickness moisture content or other parameter of a film or coating
US4323311A (en) * 1979-05-11 1982-04-06 Sira Institute Limited Apparatus and method for detecting holes in sheet material
US4319847A (en) * 1979-12-05 1982-03-16 Measurex Corporation Apparatus to measure select properties of a moving sheet with improved standardization means
US4277177A (en) * 1979-12-05 1981-07-07 Measurex Corporation Apparatus to measure select properties of a moving sheet
JPS6042359Y2 (ja) * 1980-07-04 1985-12-26 横河電機株式会社 赤外線分析装置
US4406545A (en) * 1981-05-07 1983-09-27 Western Electric Company, Inc. Methods of and apparatus for measuring surface areas
JPS57186156A (en) * 1981-05-13 1982-11-16 Yokogawa Hokushin Electric Corp Characteristic measuring device for sheet of body
JPS5838036A (ja) * 1981-08-29 1983-03-05 Fujitsu Ltd レベル検出方式
JPS5842657U (ja) * 1981-09-12 1983-03-22 加茂　栄一 製紙における光学式坪量検出装置
DE3370181D1 (en) * 1982-05-17 1987-04-16 Measurex Corp Gauge for measuring a sheet of material
GB2127541B (en) * 1982-09-27 1986-08-20 Imp Group Plc Monitoring sheet material
US4577104A (en) * 1984-01-20 1986-03-18 Accuray Corporation Measuring the percentage or fractional moisture content of paper having a variable infrared radiation scattering characteristic and containing a variable amount of a broadband infrared radiation absorber
US4769544A (en) * 1984-06-01 1988-09-06 Measurex Corporation System and process for measuring fiberglass
US4766315A (en) * 1986-07-14 1988-08-23 Accuray Corporation Apparatus and process for measuring physical parameters of sheet material
US4733078A (en) * 1986-08-25 1988-03-22 Accuray Corporation Measurement of moisture-stratified sheet material
US4928013A (en) * 1987-02-17 1990-05-22 Measurex Corporation Temperature insensitive moisture sensor
US4823008A (en) * 1987-11-05 1989-04-18 Process Automation Business, Inc. Apparatus and methods employing infrared absorption means to measure the moisture content of heavy grades of paper
US4957770A (en) * 1989-01-27 1990-09-18 Measurex Corporation Coating weight measuring and control apparatus and method
US5049216A (en) * 1989-05-31 1991-09-17 Measurex Corporation Warp control apparatus and method for sheet material
US5166747A (en) * 1990-06-01 1992-11-24 Schlumberger Technology Corporation Apparatus and method for analyzing the composition of formation fluids
US5124552A (en) * 1991-01-28 1992-06-23 Measurex Corporation Sensor and method for measuring web moisture with optimal temperature insensitivity over a wide basis weight range
US5338361A (en) * 1991-11-04 1994-08-16 Measurex Corporation Multiple coat measurement and control apparatus and method
US5276327A (en) * 1991-12-09 1994-01-04 Measurex Corporation Sensor and method for mesaurement of select components of a material
DE69232697T2 (de) * 1991-12-09 2003-02-06 Measurex Corp., Cupertino Sensor und methode zur messung ausgewählter bestandteile eines materials
US5250811A (en) * 1991-12-20 1993-10-05 Eastman Kodak Company Method for determining compositional information of a multilayer web
US5821536A (en) * 1995-06-07 1998-10-13 Pettit; John W. Solid state infrared gauge
FI110638B (sv) * 1998-10-06 2003-02-28 Metso Paper Automation Oy Förfarande och anordning för mätning av mängden av silikonbestrykning på rörligt underlag
US6253604B1 (en) * 2000-01-19 2001-07-03 Impact Systems, Inc. Scanner with interior gauging head and combined dust and drive belt
EP1271130A1 (en) * 2001-06-20 2003-01-02 Voith Paper Patent GmbH Scanner
US6960769B2 (en) * 2002-10-03 2005-11-01 Abb Inc. Infrared measuring apparatus and method for on-line application in manufacturing processes
US8345254B2 (en) * 2004-02-13 2013-01-01 David Prystupa Multiple pass imaging spectroscopy
JP5614633B2 (ja) * 2010-07-29 2014-10-29 国立大学法人九州工業大学 回転工具と被加工物間の間隙長さ測定方法及びシステム
US8314388B2 (en) * 2010-12-20 2012-11-20 Honeywell Asca Inc. Single-sided infrared sensor for thickness or weight measurement of products containing a reflective layer
US8975586B2 (en) * 2011-06-06 2015-03-10 Honeywell Asca Inc. Diffusing measurement window for near and mid IR multichannel sensor
US20130148107A1 (en) * 2011-12-07 2013-06-13 Honeywell Asca Inc. Multi-source sensor for online characterization of web products and related system and method
FR2986519B1 (fr) 2012-02-07 2014-08-29 Solystic Machine de tri d'objets plats sur chant de niveau sonore reduit
DE102015102997A1 (de) 2015-03-02 2016-09-08 BST ProControl GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Messen von im Wesentlichen in zwei Dimensionen ausgedehntem Messgut
US9927366B2 (en) 2015-03-24 2018-03-27 Honeywell Limited Spectroscopic sensor for thickness or weight measurement of thin plastic films
FI130248B (sv) 2019-09-23 2023-05-08 Valmet Automation Oy Mätanordning och -förfarande för en pappersbana

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1848874A (en) * 1929-09-25 1932-03-08 fitz gerald
US2474828A (en) * 1946-05-16 1949-07-05 John R Connelly Optical method and apparatus for measuring the accuracy of firearms
US3080789A (en) * 1960-07-01 1963-03-12 Technicon Instr Flow cells
US3414354A (en) * 1964-10-28 1968-12-03 Perkin Elmer Corp Raman spectrometers
US3319071A (en) * 1964-11-27 1967-05-09 Gen Motors Corp Infrared gas analysis absorption chamber having a highly reflective specular internal surface
US3518001A (en) * 1965-03-01 1970-06-30 Beckman Instruments Inc Radiant energy analyzer
US3281597A (en) * 1965-09-23 1966-10-25 Greenberg Melvin Infrared device for measuring steam quality
US3524066A (en) * 1966-08-22 1970-08-11 Monsanto Co Fluid measurement system having sample chamber with opposed reflecting members for causing multiple reflections
FR1509107A (fr) * 1966-11-29 1968-01-12 Optique Soc Gen Procédé et appareil de détection des défauts d'une matière transparente
US3551678A (en) * 1967-02-13 1970-12-29 Sybron Corp Paper parameter measurement using infrared radiation
US3478210A (en) * 1967-08-23 1969-11-11 Gen Electric Extended range infrared moisture gage standards
US3641349A (en) * 1969-09-29 1972-02-08 Measurex Corp Method for measuring the amount of substance associated with a base material
GB1325753A (en) * 1969-11-06 1973-08-08 Baxter Laboratories Inc Testing radiation absorption characteristics
US3594087A (en) * 1969-11-06 1971-07-20 Baxter Laboratories Inc Optical densitometer with retroreflective means
US3675019A (en) * 1971-03-19 1972-07-04 Measurex Corp Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material

Also Published As

Publication number Publication date
FI56903B (fi) 1979-12-31
DE2343869C3 (de) 1979-03-08
JPS5749854B2 (sv) 1982-10-25
NO146517B (no) 1982-07-05
US3793524A (en) 1974-02-19
NO146517C (no) 1982-10-13
SE388485B (sv) 1976-10-04
JPS4966194A (sv) 1974-06-26
GB1420854A (en) 1976-01-14
CA958915A (en) 1974-12-10
DE2343869B2 (de) 1978-07-13
DE2343869A1 (de) 1974-03-28
CH570618A5 (sv) 1975-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI56903C (fi) Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial
US4733078A (en) Measurement of moisture-stratified sheet material
US9927366B2 (en) Spectroscopic sensor for thickness or weight measurement of thin plastic films
US4052615A (en) Spherical cavity method and apparatus for measuring a sheet material property using infrared radiation
KR880010326A (ko) 온도 보상된 습도 감지기
FI78356B (fi) Metod foer maetning av fuktighet.
JP2014504366A (ja) 反射層を含む生成物の厚さおよび重量の測定のための片面型赤外線センサ
KR880006525A (ko) 표면품질, 특히 반도체 슬라이스의 표면품질을 측정하는 방법 및 장치
US6717675B1 (en) System and method for determining fiber orientation in fibrous material webs
US6111651A (en) Method and apparatus for measuring properties of a moving web
FI57845B (fi) Foerfarande och anordning foer detektering av spetor i massa
EP0321836A2 (en) Improved reflectance photometer
JPH11237377A (ja) 紙やシートの品質測定装置
US4785185A (en) Submillimeter laser measurement of water or filler content of sheets and bands of dielectric material
FI110638B (sv) Förfarande och anordning för mätning av mängden av silikonbestrykning på rörligt underlag
FI57846C (fi) Foerfarande och anordning foer detektering av spetor i massa
US5543924A (en) Method and apparatus for evaluating pummeled glass
US5982498A (en) Method for determining the structure of a body surface
FI108811B (sv) Förfarande och anordning för att mäta beläggningsmängden på ett rörligt underlag
US6229612B1 (en) Paper area density measurement from forward transmitted scattered light
JP3383666B2 (ja) 素材の特定成分測定センサおよびその測定方法
Tsuchikawa et al. Directional characteristics model and light-path model for biological material having cellular structure
Tsuchikawa et al. Nondestructive measurement of wood properties by using near-infrared laser radiation
JPS63225147A (ja) 湿度を測定する方法
NO146451B (no) Apparat for maaling av fuktighetsinnhodet i en bevegelig papirbane