JPS5857757A - 非晶質シリコン太陽電池の製造方法 - Google Patents
非晶質シリコン太陽電池の製造方法Info
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- JPS5857757A JPS5857757A JP56157036A JP15703681A JPS5857757A JP S5857757 A JPS5857757 A JP S5857757A JP 56157036 A JP56157036 A JP 56157036A JP 15703681 A JP15703681 A JP 15703681A JP S5857757 A JPS5857757 A JP S5857757A
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- H01L31/20—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はグロー放電分解法により作製される非晶質シリ
コン太陽電池に関する。
コン太陽電池に関する。
本発明の目的は光電特性が優れ変換効率の高い非晶質シ
リコン太陽電池を得ることである。
リコン太陽電池を得ることである。
モノシラン(81H4)、あるいは四フッ化硅素(sl
y、)をグロー放電分解して得られる非晶質シリコンは
置換型不純物のドーピングによってps制御ができる上
、単結晶と比べてすぐれた光電特性をもつことから太陽
電池材料として大きな注目を集めている。
y、)をグロー放電分解して得られる非晶質シリコンは
置換型不純物のドーピングによってps制御ができる上
、単結晶と比べてすぐれた光電特性をもつことから太陽
電池材料として大きな注目を集めている。
その代表的な製造方法はモノシラン(S i H。
)と水素(Hl)を適当な混合比で数百Pet程度の圧
力となる様真空槽内に導入し、これに高周波電場(通常
1五56MHs)を印加してプラズマ分解するグロー放
電分解法によるものである。
力となる様真空槽内に導入し、これに高周波電場(通常
1五56MHs)を印加してプラズマ分解するグロー放
電分解法によるものである。
価電子制御を行なうにはn形としてホスフィン(Pas
)tアルシン(AsH3)からPやA8をドナーとして
ドープし、P形としてジボラン(Bm Hl )から
Bをアクセプターとしてドープする。
)tアルシン(AsH3)からPやA8をドナーとして
ドープし、P形としてジボラン(Bm Hl )から
Bをアクセプターとしてドープする。
第1図及び第2図に非晶質シリコン太陽電池の基本構造
を示す。
を示す。
1及び11はガラス基板、2及び12は透明電極、3及
び13はP形弁晶質シリコン層、4及び14はノンドー
プ非晶質シリコン層、5及び15は語形非晶質シリコン
層、6及び16はアルミニウム電極である。
び13はP形弁晶質シリコン層、4及び14はノンドー
プ非晶質シリコン層、5及び15は語形非晶質シリコン
層、6及び16はアルミニウム電極である。
第2図の構造ではガラス基板11とアルミニウム電極1
6とのかわりに金属基板(ステンレス。
6とのかわりに金属基板(ステンレス。
ニッケル等)を使用しても良い。
従来、かかるPi%構造の非晶質シリコン太陽電池の製
造において、は、所定のガス雰囲気中において、基板を
200〜400℃の所定温度に設定した後、P層、i層
、界層を順次成膜していた。
造において、は、所定のガス雰囲気中において、基板を
200〜400℃の所定温度に設定した後、P層、i層
、界層を順次成膜していた。
この場合通常基板加熱ヒーターからの熱の他にプラズマ
による熱も加わり、基板湿度は初期の設定値から数度〜
数十度上昇する。
による熱も加わり、基板湿度は初期の設定値から数度〜
数十度上昇する。
この為成膜中には膜形成と同時に熱アニールも同時に進
行し、膜中にとり込まれる水素濃度が変化することによ
り特性の低下、再現性の悪化を引き起こしていた。
行し、膜中にとり込まれる水素濃度が変化することによ
り特性の低下、再現性の悪化を引き起こしていた。
本発明はかかる欠点を除失するもので、P層。
iN、s層形成時に基板温度を順次低下させることによ
り光電特性が優れ変換効率の高い非晶質シリコン太陽電
池が得られた。
り光電特性が優れ変換効率の高い非晶質シリコン太陽電
池が得られた。
以下実施例により本発明について具体的に詳述する。
製造装置は第3図に示す装置を使用した。
21は原料ガスで、流量計22を通じて石英反応管25
に導入される。導入されたガスは電極25に印加される
高周波電界によりプラズマ分解され基板ホルダー24上
に載置された基板26上に成膜される。なお基板ホルダ
ー24は膜質を均一にする為回転され基板加熱ヒーター
により加熱される。導入されたガス及びプラズマ分解さ
れた余剰ガスは真空ポンプ系によりPから排気される。
に導入される。導入されたガスは電極25に印加される
高周波電界によりプラズマ分解され基板ホルダー24上
に載置された基板26上に成膜される。なお基板ホルダ
ー24は膜質を均一にする為回転され基板加熱ヒーター
により加熱される。導入されたガス及びプラズマ分解さ
れた余剰ガスは真空ポンプ系によりPから排気される。
実施例1
(1)使用ガス
(1)P層 sooppmジボラン/水素10%モノシ
ラン/水素 (2)1層 10%モノシラン/水素 (3)n層 11000PPホスフィン/水素10%モ
ノシラン/水票 (Ii)ガス流量 (1)P層 ジボラン 30oo/分 モノシランt200ao/分 (2)i層 モノシラン 200aa/分(8) n層
ホスフィン toooo/分モノシラン 1000a
/酬 (1)高周波パワー(IA56MHz)0W (IV)M厚 (1) P層 50〜701 (2)i層 4500〜5000X (s) n層 600〜800X (V)ガラス基板 (1) S n O、透明電極付コーニング7059’
(2)工TO透明電極付コーニング7059(+5)
B !l O1透明電極付ソーダ(4)工TO透明電極
付ソーダ 以上の条件において第1図の構造の太陽電池を作成した
。
ラン/水素 (2)1層 10%モノシラン/水素 (3)n層 11000PPホスフィン/水素10%モ
ノシラン/水票 (Ii)ガス流量 (1)P層 ジボラン 30oo/分 モノシランt200ao/分 (2)i層 モノシラン 200aa/分(8) n層
ホスフィン toooo/分モノシラン 1000a
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(2)工TO透明電極付コーニング7059(+5)
B !l O1透明電極付ソーダ(4)工TO透明電極
付ソーダ 以上の条件において第1図の構造の太陽電池を作成した
。
まず従来例として基板温度を280℃に固定し順次2層
e ’ I’l e%層を形成した。
e ’ I’l e%層を形成した。
この時の基板温度は当初280℃、1層形成後282℃
、i層形成後291℃9%層形成後294℃であった。
、i層形成後291℃9%層形成後294℃であった。
温度測定は各層形成後高周波電界を一時停止して温度測
定を行ない直ちにガス導入を停止して真空とした後、次
のガス導入を行なった。
定を行ない直ちにガス導入を停止して真空とした後、次
のガス導入を行なった。
次いで本発明の方法として各層形成時に基板加熱ヒータ
ーのパワーをコントロールし基板温度を次の様に制御し
た。
ーのパワーをコントロールし基板温度を次の様に制御し
た。
当初2″80℃、P層形tE後282℃、i層形成前2
73℃、IN形成後280℃、4層形成前り76℃、路
層形成後279℃。
73℃、IN形成後280℃、4層形成前り76℃、路
層形成後279℃。
以上の如く各層形成時にはプラズマによる基板温度の自
然増加があるが、P層形成時の温度を越えない機制御し
た。
然増加があるが、P層形成時の温度を越えない機制御し
た。
この時の太陽電池特性を第4図a −tiに示す。
a4isno1透明電極付コーニング7o59の場合で
あり、bはSnO,透明電極付ソーダの場合、Cは工T
o透明電極付コーニング7059の場合であり、dは工
TO透明電極付ソーダの場合を示す。図中横軸は開放電
圧、縦軸は短絡電流を示し螢光灯200tx照射時の特
性を示した。又図中Aは本発明法により、Bは従来法に
より作成した場合である。
あり、bはSnO,透明電極付ソーダの場合、Cは工T
o透明電極付コーニング7059の場合であり、dは工
TO透明電極付ソーダの場合を示す。図中横軸は開放電
圧、縦軸は短絡電流を示し螢光灯200tx照射時の特
性を示した。又図中Aは本発明法により、Bは従来法に
より作成した場合である。
図より本発明による製造方法では曲線因子が大巾に向上
し、その結果変換効率も大巾に向上している。
し、その結果変換効率も大巾に向上している。
更に同種の実験を300℃、320℃、340℃におい
ても行なったがすべて同様の結果を示した。
ても行なったがすべて同様の結果を示した。
なお実施例では各層形f4t!にの湿度がP層形成後の
温度と近似した場合を示したが、15℃以内の範囲であ
ればi層及びへ層形成時の温度を低下させてもrHJ題
はなかった。
温度と近似した場合を示したが、15℃以内の範囲であ
ればi層及びへ層形成時の温度を低下させてもrHJ題
はなかった。
以上詳述した如く本発明によれば光電特性が優れ変換効
率の高い非晶質シリコン太陽電池が得られ、腕時計、電
4.各種計測器等非常に人混な用途を有する。
率の高い非晶質シリコン太陽電池が得られ、腕時計、電
4.各種計測器等非常に人混な用途を有する。
#11図は非晶質シリコン太陽電池の基本構造を示す。
第2図は非晶質シリコン太陽電池の他の基本構造を示す
。 第3図は本発明に用いた製造装置のブロック図を示す。 第4図は従来法と本発明法による試作太陽電池の特性を
示す図である。 以 上 出願人 株式会社諏訪精工舎 代理人 弁理士 最上 務 ユl 第3図 (ρ)
(b)第4図
。 第3図は本発明に用いた製造装置のブロック図を示す。 第4図は従来法と本発明法による試作太陽電池の特性を
示す図である。 以 上 出願人 株式会社諏訪精工舎 代理人 弁理士 最上 務 ユl 第3図 (ρ)
(b)第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 グロー放電分解法により形成される非晶質シリコン太陽
電池において、該太陽電池を構成するざロンドープ層(
P層)、ノンドープ層(1層)。 リンドープ層(%層)形成時に基板温度を前動P層形成
時の温度以下に制御することを特徴とする非晶質シリコ
ン太陽電池の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56157036A JPS5857757A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 非晶質シリコン太陽電池の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56157036A JPS5857757A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 非晶質シリコン太陽電池の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5857757A true JPS5857757A (ja) | 1983-04-06 |
Family
ID=15640785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56157036A Pending JPS5857757A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 非晶質シリコン太陽電池の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5857757A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60209792A (ja) * | 1984-03-19 | 1985-10-22 | 株式会社河合楽器製作所 | 鍵盤電子楽器における楽音発生器の割当装置 |
US5476798A (en) * | 1992-06-29 | 1995-12-19 | United Solar Systems Corporation | Plasma deposition process with substrate temperature control |
-
1981
- 1981-10-01 JP JP56157036A patent/JPS5857757A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60209792A (ja) * | 1984-03-19 | 1985-10-22 | 株式会社河合楽器製作所 | 鍵盤電子楽器における楽音発生器の割当装置 |
JPH058838B2 (ja) * | 1985-03-18 | 1993-02-03 | Kawai Musical Instr Mfg Co | |
US5476798A (en) * | 1992-06-29 | 1995-12-19 | United Solar Systems Corporation | Plasma deposition process with substrate temperature control |
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