JPS5855665Y2 - 加工用レ−ザ装置 - Google Patents

加工用レ−ザ装置

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JPS5855665Y2
JPS5855665Y2 JP1980078585U JP7858580U JPS5855665Y2 JP S5855665 Y2 JPS5855665 Y2 JP S5855665Y2 JP 1980078585 U JP1980078585 U JP 1980078585U JP 7858580 U JP7858580 U JP 7858580U JP S5855665 Y2 JPS5855665 Y2 JP S5855665Y2
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JP
Japan
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capacitor
thyristor
laser
circuit
processing laser
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JP1980078585U
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JPS573483U (ja
Inventor
憲 石川
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株式会社東芝
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は溶接特性の改善を図った加工用レーザ装置に関
する。
従来パルスレーザを利用して金属を溶接する際に、溶接
部に照射されるパレスレーザ光のパルス波形によって溶
接状態が変わることが知られている。
そのため、特にスポット溶接においてはレーザ光のパル
スの波高値、パルス幅、パルスの立上り。
パルスの立下りの制御を行なうことが必要である。
このレーザ光のパルス波形の制御は、固体レーザのノー
マルパルスレーザを用いた場合、レーザロッド励起用の
フラッシュランプの放電電流波形を制御することにより
行なっている。
この放電電流波形の制御回路として、コンテ゛ンサC1
とコイルLとを用いてLC波形制御回路を多段に設け、
順次放電させる構成のものや、スイッチング回路を設は
前記フラッシュランプへ流入する電流をオン・オフする
構成のものなどがある。
しかし、前記LC波形制御回路はLC回路の充電に時間
を要すること、また放電中には充電を停止することが必
要であることなどの理由により、高速繰り返しパルス動
作ができないという欠点があった。
また、前記した電流をオン・オフする波形制御回路は、
パルスレーザ光の立下がりが急なので、溶接の場合溶融
金属が急激に冷却し溶融金属池の中心部に穴(キーホー
ル)を形成するという欠点がある。
特に深情は込みの溶接の場合は、キーホールに周囲の溶
融金属が流入し、この流入溶融金属の熱の周囲に放散す
ることにより急激に冷却凝固し、キーホール部に空胴が
形成されたり、溶接表面に凹凸が形成されたままの状態
で溶接が終了する。
溶接金属の材料、形状によって程度の差はあるが、溶接
部内部に欠陥を有すると共に、溶接部表面の平坦さを欠
いているので、機械的な強度を低下させるという欠点が
あった。
本考案は以上のような欠点を除去するためになされたも
のであり、溶接特性を改善した加工用レーザ装置を提供
することを目的とする。
以下、本考案の一実施例を図面を参照しながら説明する
第1図は本考案の一実施例の回路図である。
交流電源1の一方の出力端がチョークコイル2を介して
整流回路3の一方の入力端に接続されている。
また、前記交流電源1の他出刃端は位相制御整流回路4
を介して前記整流回路3の他入力端に接続されている。
なお、前記位相制御整流回路4はサイリスタ4aのアノ
ードがサイリスタ4bのカソードに接続され、このサイ
リスタ4bのアノードに前記サイリスタ4aのカソード
が接続された構成である。
前記整流回路3のプラス側出力端はダイオード5のアノ
ードに接続され、このダイオード5のカソードはコンデ
ンサ6を介して前記整流回路3のマイナス側出力端に接
続されている。
また、前記ダイオード5のアノードにはダイオード7の
アノードが接続されており、このダイオード7のカソー
ドは可変容量コンデンサ8を介して前記コンデンサ6の
マイナス側端に接続されている。
前記可変容量コンデンサ8の両端には電圧検出用抵抗9
,10が直列接続されている。
これら検出用抵抗9,10の接続点Pは比較増幅回路1
1の一方の入力端に接続されており、この比較増幅回路
11の他方の入力端には基準電圧回路12が接続されて
いる。
同比較回路11の出力信号はゲートパルス回路13 a
へ送出される。
このゲートパルス回路13aは前記比較回路11から送
出された信号により前記位相制御整流回路4のサイリス
タ4a、4bのゲートパルス信号を送出し、前記コンデ
ンサ8の充電電圧を安定に保つ。
ゲートパルス回路13bは後述する複数のサイリスタの
ゲートに所定のタイミングでゲートパルス信号を送出す
るものである。
前記ダイオード7のカソードには、サイリスタ14のア
ノードが接続されており、このサイリスタ14のカソー
ドはコイル15、コンテ゛ンサ16を介して前記コンデ
ンサ8のマイナス端に接続されている。
なお、前記コイル15とコンデンサ16とは共振充電回
路を形成している。
前記コンデンサ6のプラス端にサイリスタ17のアノー
ドが接続され、このサイリスタ17のカソードはコイル
18を介してフラッシュランプ19のアノードに接続さ
れている。
なお、同サイリスタ17の両端にはダイオード20が逆
導通形に接続されている。
前記フラッシュランプ19のカソードは前記コンテ゛ン
サ16のマイナス端に接続されている。
前記コンデンサ8のプラス端はサイリスタ21のアノー
ドに接続されており、このサイリスタ21のカソードは
コイル22を介して前記サイリスタ17のカソードに接
続されている。
なお、同サイリスタ21の両端にはダイオード23が逆
導通形に接続されている。
前記コンデンサ16のプラス端はサイリスタ24のアノ
ードに接続されており、このサイリスタ24のカソード
はコイル25を介して前記サイリスタ21のカソードに
接続されている。
なお、前記サイリスク17,21.24のゲートには前
記ゲートパルス回路13bからゲートパルス信号が送出
される。
前記フラッシュランプ19と平行にレーザロッド26が
設けられており、このレーザロッド26とフラッシュラ
ンプ19とは集光鏡27の中に配設されている。
この集光鏡27にはトリガ回路28からパルス電圧が印
加されるものとなっている。
前記レーザロッド26の軸上にはレーザ共振器を構成す
る反射鏡29.30が対向して設けられている。
一方の反射鏡30を透過したレーザ光は、集光レンズ3
1により集束され集束ビームを形成して被加工物32へ
照射されるように構成されている。
以上のような構成の本実施例の動作を説明する。
第2図aに示したタイムチャートの時刻t。までにすで
にコンデンサ6は第2図すに示したように電圧レベルV
clに充電され、またコンデンサ8は同図Cに示したよ
うに電圧レベル■。
2に充電されている。
このような状態において、時刻t。にゲートパルス回路
13bからサイリスタ14のゲートにゲートパルス信号
が印加される。
そうするとこのサイリスタ14が導通し、共振充電回路
を形成しているコイル15とコンテ゛ンサ16とにコン
テ゛ンサ8から充電電流が供給され、第2図dに示した
ようにこのコンテ゛ンサ8の充電電圧レベルVc2より
高い充電電圧レベルVC3にコンテ゛ンサ16が充電さ
れる。
このコンデンサ16の充電電圧レベルVC3が前記コン
デンサ8の充電電圧レベルVC2より大きくなると、前
記サイリスタ14は逆バイアスされるので、しゃ断状態
となり充電は完了する。
第2図c、dの時間t。
−11におけるVCI 、 VC2の特性の変化はこの
過程を示している。
このようにして、時刻tlにはコンデンサ6.8.16
の充電電圧はそれぞれVCI 、 V C2、V 3に
充電される。
時刻t2において前記ゲートパルス回路13bからサイ
リスタ17のゲートへゲートパルス信号が送出される。
そうするとこのサイリスタ17は導通し、コンテ゛ンサ
6の充電電圧が同サイリスタ17を介して放電する。
また、前記サイリスタ17の導通と同期して、トリガ回
路38から集光鏡27にパルス電圧が印加される。
その結果、フラッシュランプ19は放電状態になり、前
記コンテ゛ンサ6からの放電電流りはサイリスタ17、
コイル18を介して同フラッシュランプ19を流れる。
第2図eはランプ放電電接Hの特性を図示したものであ
り、時刻t2において急峻に立上がる。
この放電によって、前記コンデンサ6の電圧は第2図す
に図示したようにゆるやかに低下すると共に、ランプ放
電電流■1もゆるやかに低下する。
このようにフラッシュランプブ19が励起されることに
より、レーザ出力は第2図fに図示したようにランプ放
電電流りより遅れて立上がる。
時刻t3において、前記ゲートパルス回路13bからサ
イリスタ21のゲートへゲートパルス信号が送出される
この時点において、コンテ゛ンサ8の充電電圧の方が、
すてに12〜43間の放電によって低下した前記コンデ
ンサ6の充電電圧よりも高いので、・前記サイリスタ2
1には順方向にバイアス電圧が印加される。
その結果、このサイリスタ21は導通し、前記コンテ゛
ンサ8の充電電圧が放電し、コイル22とコイル18と
の接続点に放電電流が流入する。
この放電電流の一部は前記コイル18を介してフラッシ
ュランプ19に流れ、残りの電流はダイオード20を介
して残留電圧レベルにあるコンテ゛ンサ6に流入する。
一方、この時点において前記サイリスタ17は逆バイア
スされるので、しゃ断状態になる。
そうして、このような放電の結果、コンデンサ8の充電
電圧が低下し、コイル22.18の接合点の電圧がコン
デンサ6の電圧まで低下すると、ダイオード20が逆バ
イアスになるので、このダイオード20を介しての電流
の流出は停止する。
その結果、コンテ゛ンサ8からの放電電流は全てコイル
22.18を介してフラッシュランプ19へ流入する。
しかし、コンテ゛ンサ8の容量はコンテ゛ンサ6の容量
より小さく設定されているので、小さな時定数で放電し
、41〜14間のランプ放電電流の低下スロープは前記
12〜43間のスロープより急なものとなる。
第2図ceの時間t3〜t4の特性は以上の経過を示し
ている。
そしてレーザ出力は第2図fの43〜14間に図示した
ように降下する。
時刻t4において、前記ゲートパルス回路13bからサ
イリスタ24のゲーI〜へゲートパルス信号が送出され
る。
その結果、同サイリスタ24は導通し、コンデンサ16
の充電電圧が放電し、コイル25とコイル22との接続
点に放電電流が流入する。
この放電電流の一部は前記コイル22.18を介してフ
ラッシュランプ19へ流入し、残りの電流はダイオード
20 、23を介して残留電圧レベルにあるコンテ゛ン
サ6,8に流入する。
一方、この時点において前記サイリスタ21は逆バイア
スされるので、しゃ断状態になる。
そうして、このような放電の結果、コンデンサ16の充
電電圧が低下し、コイル25.22の接合点の電圧がコ
ンデンサ8の電圧まで低下すると、ダイオード23が逆
バイアスになるので、このダイオード23を介しての電
流の流出は停止する。
その結果、コンデンサ16からの放電電流は全てコイル
25,22.18を介してフラッシュランプ19へ流入
する。
しかし、コンデンサ16の容量はコンデンサ8の容量よ
り小さく設定されているので、14〜15間のランプ放
電電流の低下スロープは前記43〜14間のスロープよ
り急なものとなる。
レーザ出力は第2図fに図示したように時刻t4以前に
おいて、すなわちランプ放電電流が零レベルに達する前
に停止する。
第2図d、e、fの時間t4〜t5の特性は以上の経過
を図示している。
このようにして、コンデンサ16からの放電終了によっ
て放電波形制御サイクルが完了する。
以上のように信号処理が行なわれる一方、時刻t3以後
はコンデンサ8の電圧は基準電圧回路12から供給され
る基準電圧より低くなるので、この基準電圧との電圧差
に応じて位相制御整流回路4のサイリスタ4 a 、4
bの導通角を増大させるゲートパルス信号がゲートパ
ルス回路13aから送出される。
し力化、レーザ発振制御のゲート信号のパルス幅(t2
〜t4)は数mS〜20m5程度である一方、位相制御
のための応答速度が20 mSより大きいので、ゲート
信号の1パルス発生中は前記コンテ゛ンサ6,8は放電
によって電圧の低下を続け、このパルスの動作後に充電
動作が開始される。
第2図において、時刻t6からコンデンサ6.8の充電
が始まり、時刻t7において両コンテ゛ンサ6,8の電
圧レベルはそれぞれV。
l、VC2に回復する。また、コンテ゛ンサ16の放電
中にはサイリスタ14により充電がなされないように設
定されており、フラッシュランプ19は連続放電するこ
とはない。
また、レーザ出力P +−は第2図e、fから明らかな
ように、ランプ放電電流11、より遅れて立上がり、早
く立下がるのでパルス発振を行なう。
このように本実施例は、容量の異なるコンテ゛ンンサを
3段設け、時間t2〜t3において先ず一番大きい容量
を有するコンデンサ6を放電させてし・−ザロツド26
を強く励起して強いレーザ光により充分溶接部を溶融し
、次に時間t3〜t4において二番目に大きい容量を有
するコンテ゛ンサ8を放電させて弱いレーザ光により前
記溶接部を周囲から除々に凝固させ、時刻t4において
一番小さい容量を有するコンデンサ16を放電させて、
凝固後には余分な熱が前記溶接部に流入するのを防止し
ている。
そのため、本実施例によれば前記溶接部の欠陥、熱影響
層を減少させることができる。
また、本実施例は、ランプ放電電流の波形制御を、大容
量コンデンサ6.8が充電電圧を残したまま放電が停止
し、容量の一番小さい最終のコンデンサ16のみが放電
を完了し、再充電が短時間で行なえる構成であるので、
パルス放電の繰返し率を大きく保ち、かつパルス幅の長
い大出力放電を安定に維持できる。
そのため、本実施例によれば、溶接スピードを向上させ
ることができる。
また、本実施例は、溶融形成期間t2〜t3の時間間隔
はゲートパルス回路13bによるサイリスタ17.21
の点弧タイミングで制御でき、レーザ出力は基準電圧回
路12を任意設定することでコンデンサ8,16の充電
電圧を変えて制御でき、また溶融部分の除冷冷却期間t
3〜t4の時間間隔はゲートパルス回路13bによるサ
イリスタ21.24の点弧タイミング制御できる。
また、レーザ出力の減少スロープはコンテ゛ンサ8の容
量の増減、およびこのコンデンサ8からフラッシュラン
プ19への放電時定数を変えることにより制御できるの
で、被加工物32の構造、熱的性質などに応じて最適設
定することができる。
なお、本考案は前述した一実施例に限られるものではな
い。
たとえば、前記実施例では、コンデンサを3段設はレー
ザ出力の波形制御を行なう構成であったが、3段以上の
段数のコンデンサを設けてレーザ出力の波形制御を行な
ってもよい。
また、前記実施例を立上がり特性の改善された加工用レ
ーザ装置に適用することにより、さらに溶接特性の改善
が図れる。
その他本考案の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施で
きることは勿論である。
以上説明したように、本考案は容量の異なった3個以上
のコンデンサを充電し、この複数のコンデンサを容量の
大きいものから順次部分放電されることにより、パルス
レーザ光の立下がりに溶接加工に応じた特性を与えると
共に、前記コンテ゛ンサの充電時間を短縮することによ
り高速繰り返しのパルスレーザ光を得られるようにした
ものである。
したがって本考案によれば、溶接特性を改善した加工用
レーザ装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の回路図、第2図aは同実施
例の各部の動作を説明するためのタイムチャート、同図
b−dはそれぞれコンテ゛ンサの充電電圧の波形図、同
図eはランプ放電電流の波形図、同図fはレーザ出力の
波形図である。 1・・・・・・交流電源、3・・・・・・整流回路、4
・・・・・・位相制御整流回路、6・・・・・・コンテ
゛ンサ、8・・・・・・可変容量コンテ゛ンサ、9,1
0・・・・・・電圧検出用抵抗、11・・・・・・比較
増幅回路、12・・・・・・基準電圧回路、13a、b
・・・・・・ゲートパルス回路、14.17・・・・・
・サイリスタ、19・・・・・・フラッシュランプ、2
7・・・・・・集光鏡、26・・・・・・レーザロッド
、32・・・・・・被加工物。

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. (1)レーザ材料励起用ランプの放電電流波形を制御す
    ることにより被加工物に照射されるパルスレーザ光の波
    形制御を行なう加工用レーザ装置において、直流電源と
    、この直流電源により充電される3個以上の容量の異な
    るコンデンサと、これらのコンデンサを容量の大きい順
    に予め定められた時間間隔で順次部分放電させかつ一番
    中さい容量のコンデンサのみ零電圧レベルまで放電させ
    る制御回路と、前記コンデンサの放電により励起の強度
    を変化する励起ランプと、この励起ランプから出力され
    る励起光によりパルスレーザ光を得被加工物にレーザビ
    ームを照射するレーザ発振器とを具備したことを特徴と
    する加工用レーザ装置。
  2. (2)制御回路は、各コンテ゛ンサのプラス側端にサイ
    リスタを設け、容量の大きいコンテ゛ンサに接続された
    サイリスタの導通が、より容量の小さいコンデンサに接
    続されているサイリスクの点弧に伴ないしゃ断される構
    成であることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第(
    1)項記載の加工用レーザ装置。
  3. (3)直流電源はコンデンサの充電電圧と予め定められ
    た電圧レベルとを比較し、その電圧差に応じて電流供給
    量を制御するようにしたことを特徴とする実用新案登録
    請求の範囲第(1)項記載の加工用レーザ装置。
JP1980078585U 1980-06-05 1980-06-05 加工用レ−ザ装置 Expired JPS5855665Y2 (ja)

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JPS573483U JPS573483U (ja) 1982-01-08
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