JPS5850380B2 - 制御システムの試験装置 - Google Patents

制御システムの試験装置

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JPS5850380B2
JPS5850380B2 JP53038952A JP3895278A JPS5850380B2 JP S5850380 B2 JPS5850380 B2 JP S5850380B2 JP 53038952 A JP53038952 A JP 53038952A JP 3895278 A JP3895278 A JP 3895278A JP S5850380 B2 JPS5850380 B2 JP S5850380B2
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JP
Japan
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JP53038952A
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JPS55902A (en
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雅男 清水
浩司 石川
脩 大口
孝 得能
直明 鳴海
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Advantest Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Takeda Riken Industries Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS55902A publication Critical patent/JPS55902A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は制御装置からのデータを被制御装置に与えて
少なくともそのデータを一時的に蓄え、その蓄えたデー
タに基いて被制御装置が制御される制御システムにおい
て、制御装置から被制御装置に対し、データが正しく与
えられているか否かを試験する試験装置に関する。
従来のこの種の試験装置は例えば制御装置である電子計
算機を試験プログラムにより動作させ、その書込サイク
ルによってデータを被試験装置のレジスタに書込み、次
に読出しサイクルとしてその書込まれたレジスタ内のデ
ータを読出し、これが正しく読出されたか否かを試験し
ていた。
このように特に読出しサイクルを必要とし、また特別の
試験プログラムによって転送データがレジスタに正しく
セットされたか否かを試験する必要があった。
従来のこの種の装置においては第1図に示すように計算
機等の制御装置11からデータバス12を通じて第2図
Aに示すように書込みサイクルtaにデータD1が供給
される。
これと共に転送されるべきレジスタに対するアドレスA
1が第2図Bに示すようにアドレスバス13に与えられ
る。
アドレスバス13上のアドレスAIは被制御装置14内
のアドレスセレクタ15において解読され、その出力が
第2図Cに示すように生じている間に制御装置11の端
子16より第2図りに示すように書込み指令が与えられ
る。
これとアドレスセレクタ15の出力との一致がゲート1
1で採られて、第2図Eに示すケート17の出力により
データバス12上のデータD1がレジスタ18に第2図
Fに示すように書込まれる。
そのレジスタ18に書込まれたデータを読出すに次の読
出しサイクルtbにおいて制御装置11の端子19から
第2図Gに示すように読出し信号が読出し回路21に与
えられ、その信号の期間tcにレジスタ18内のデータ
がデータバス12に供給される。
この時レジスタ18からのデータを得るためにはアドレ
スバス13にはアドレスA1を与えておき、アドレスセ
レクタ15の出力は読出し回路21にも与えられ、レジ
スタ18の内容が読出されるようにされる。
図に示してないがこのようなレジスタ18及び読出し回
路21の組合わせはデータバス12及びアドレスバス1
3に複数組が接続されており、これ等レジスタに蓄えら
れたデータに基き図に示してない被制御装置内の器機が
動作される。
このような試験システムにおいてその被制御装置14内
のレジスタ18にデータを正しく書込むことができるか
否かを試験するには制御装置11を試験プログラムで動
作させ、そのデータ転送(書込み)サイクルtaと読出
しサイクルtbとを交互に繰返し、レジスタ18内のデ
ータが正しく書込まれたか否かをその読出しサイ゛クル
において調べていた。
このように従来の試験においては特に試験プログラムに
よって試験を行なう必要があり、かつ転送サイクルta
を実行した後、次に読出しサイクルとしているため、一
つのレジスタ18を試験するのに二つの装置サイクルを
必要としていた。
又、いちいち試験プログラムによって動作させなければ
ならず、被制御装置14が通常に動作している状態にお
いてそのレジスタが正しく動作しているかどうかは確認
することはできなかった。
この発明の目的は被試験装置が通常に動作している状態
においてそのレジスタ内に正しくデータが格納されたか
どうかを自動的に常時試験することができ、かつ特に読
出しサイクルを設けることなく、転送サイクル中におい
て試験をも行なうことができる試験装置を提供すること
にある。
この発明によればデータバスに分離回路が挿入され、デ
ータ転送サイクル中においてそのレジスタに対するデー
タ転送が終了した後に上記データバス中の分離回路を制
御してその両側のデータバスを分離状態とし、令書込ん
だレジスタの内容をデータバスに読出し、この時まだ転
送サイクルであるため制御装置からは先のレジスタに与
えたデータが送出されており、分離回路の入出力側、即
ち両側のデータバス上の各データ、つまり制御装置より
のデータ及びレジスタよりのデータを比較回路で比較す
ることによって正しいデータがレジスタに格納されたか
否かが試、験される。
例えば第3図に第1図と対応する部分に同一符号を付け
て示すが、この発明においてはデータバス12に分離回
路23が挿入される。
分離回路23はその入出力側、つまり分離回路23の制
御装置11側のデータバス12aと被制御装置14側の
データバス12bとを分離することかできるものであり
、その端子24から指令によりその分離動作が制御され
る。
端子24の信号が低レベルの場合は制御装置11側のデ
ータバス12aは被制御装置14側のデータバス12b
と接続される。
この例においては分離回路23はデータ転送時において
は制御装置11からのデータを被制御装置14に転送す
るが、端子19からの読出し信号が分離回路23に与え
られている場合は、被制御装置14のデータバス12b
のデータを制御装置11側に送出する動作を行なう双方
向噂とした場合であるが、制御装置11から被制御装置
14へのみデータを転送するものでもよい。
分離回路23が分離状態にされている時にその両側のデ
ータバス12a及び12bの各データを比較回路26で
比較し、その比較結果を制御装置11に供給することが
できるようにされる。
データ転送サイクル中において、読出し信号を発生させ
ると共に分離回路23を分離状態とするためのタイミン
グ、その後比較回路26に対する比較結果が制御装置1
1に対し有効なものであるとするためのタイミングをそ
れぞれ発生するタイミング発生回路27が設けられる。
つまり書込み信号端子16からの書込み信号を発生する
と、タイミング発生回路2γより所定時間遅れてその出
力端子28に読出し信号を発生し、これは分離回路23
に分離信号として与えられると共にオアゲート29を通
じて被制御装置14内の読出し信号線31に与えられ、
これを通じて読出し回路21が読出し制御される。
その後タイミング発生回路27の端子32からの信号が
比較回路26に与えられ、その信号の間、その比較出力
は有効なものとして制御回路11に供給される。
制御回路11の端子19からの読出し信号はオアゲート
29を通じて読出し信号線31に供給される。
例えば第4図Aに示すように転送サイクルtaにおいて
データバス12にデータD1が与えられると共にアドレ
スバス13にアドレスA、が第4図Bに示すように与え
られる。
これによりアドレスセレクタ15によってレジスタ18
が選択される。
制御装置11の端子16から第4図りに示すように書込
み信号が送出され、これに基いてレジスタ18にデータ
D1が第4図Fに示すように書込まれる。
この書込み信号はタイミング回路2γにも供給されてお
り、その書込み信号より遅れてタイミング回路27の端
子28に読出し信号が第4図Hに示すように発生する。
この信号により分離回路23は分離状態となり、その制
御装置11側のデータバス12aと被制御装置14側の
データバス12bとが分離される。
これと共に読出し信号線31が高レベルとなって読出し
回路21よりレジスタ18の内容が被制御装置14側の
データバス12bに、第4図にのD2として示すように
供給される。
端子28の読出し信号の期間tcの間においてタイミン
グ回路21の端子32に第4図■に示すようなサンプリ
ング信号が発生し、比較回路26において制御装置11
より発生しているデータバス12a上のデータD1とレ
ジスタ18から読出されたデータバス12b上のデータ
D2とが比較される。
第4図Jに示すようにその比較が一致している場合は高
レベルが不一致の場合は低レベルが制御装置11に供給
される。
このようにこの発明の試験装置によれば転送サイクルt
aの間においてレジスタ18にセントされたデータが正
しいかどうかが自動的に試験される。
従って制御装置が通常に動作してC)る間においても被
制御装置14の各レジスタが正常に動作しているか否か
が自動的にテストされ、わざわざ試験プログラムによっ
てテストする必要はない。
そのテストは転送サイクル中に行なわれ、読出しサイク
ルを特に設けないため高速度に試験することができる。
尚制御装置11としてはプログラムより動作するものに
限らず、記憶されているデータを順次読出して被制御装
置に自動的に与える場合でも良く、又転送すべきデータ
が周期的に発生するようなものでなくても良い。
比較回路26としては端子32からのタイミングが与え
られた時たけ比較動作するように構成してもよく、或い
は常時比較動作を行なっており、タイミングが与えられ
た時だけ出力を出すように構成しても良い。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の制御システムを示すブロック図、第2図
はその動作の説明に供するためのタイムチャート、第3
図はこの発明による制御システムの試験装置の一例を示
すブロック図、第4図はその動作の説明に供するための
ブロック図である。 11:被制御装置、12:データバス、13ニアドレス
バス、14:被制御装置、15ニアドレスセレクタ、1
8:レジスタ、21:読出し回路、23:分離回路、2
6:比較回路、27:タイミング回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 制御装置からデータが被制御装置に与えられ、その
    データが少なくとも一時的に蓄えられ、そのデータに基
    き、その被制御装置が制御される制御システムにおいて
    、上記制御装置及び被制御装置間のデータバスに挿入さ
    れた分離回路と、その分離回路の入出力側のデータを比
    較する比較回路と、上記制御装置からのデータ転送指令
    に基き、そのデータが上記データバスへ与えられている
    間に上記分離回路を分離状態にするタイミングと、上記
    被制御装置に与えられたデータを上記データバスに読出
    すタイミングと、上記比較回路から有効な比較出力を取
    出すタイミングとをそれぞれ発生するタイミング発生回
    路とを具備する制御システムの試験装置。
JP53038952A 1978-04-03 1978-04-03 制御システムの試験装置 Expired JPS5850380B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP53038952A JPS5850380B2 (ja) 1978-04-03 1978-04-03 制御システムの試験装置
US06/026,246 US4293950A (en) 1978-04-03 1979-04-02 Test pattern generating apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP53038952A JPS5850380B2 (ja) 1978-04-03 1978-04-03 制御システムの試験装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS55902A JPS55902A (en) 1980-01-07
JPS5850380B2 true JPS5850380B2 (ja) 1983-11-10

Family

ID=12539526

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53038952A Expired JPS5850380B2 (ja) 1978-04-03 1978-04-03 制御システムの試験装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61188602A (ja) * 1985-02-16 1986-08-22 Omron Tateisi Electronics Co 入出力バスの監視回路
JPS6313802A (ja) * 1986-07-04 1988-01-21 Yokohama Rubber Co Ltd:The ラジアルタイヤ

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JPS55902A (en) 1980-01-07

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