JPS584456A - 被試験体の布線系列障害解析方式 - Google Patents

被試験体の布線系列障害解析方式

Info

Publication number
JPS584456A
JPS584456A JP56102863A JP10286381A JPS584456A JP S584456 A JPS584456 A JP S584456A JP 56102863 A JP56102863 A JP 56102863A JP 10286381 A JP10286381 A JP 10286381A JP S584456 A JPS584456 A JP S584456A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
test
series
wiring
bin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP56102863A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JPH0531174B2 (enExample
Inventor
Norio Sugano
菅野　紀男
Yoshinori Suzuki
鈴木　善則
Naruaki Teraoka
寺岡　成晃
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP56102863A priority Critical patent/JPS584456A/ja
Publication of JPS584456A publication Critical patent/JPS584456A/ja
Publication of JPH0531174B2 publication Critical patent/JPH0531174B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
JP56102863A 1981-06-30 1981-06-30 被試験体の布線系列障害解析方式 Granted JPS584456A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56102863A JPS584456A (ja) 1981-06-30 1981-06-30 被試験体の布線系列障害解析方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56102863A JPS584456A (ja) 1981-06-30 1981-06-30 被試験体の布線系列障害解析方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS584456A true JPS584456A (ja) 1983-01-11
JPH0531174B2 JPH0531174B2 (enExample) 1993-05-11

Family

ID=14338744

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56102863A Granted JPS584456A (ja) 1981-06-30 1981-06-30 被試験体の布線系列障害解析方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS584456A (enExample)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4921972A (enExample) * 1972-06-20 1974-02-26

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4921972A (enExample) * 1972-06-20 1974-02-26

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0531174B2 (enExample) 1993-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69408282T2 (de) Mit einem Reparatursystem für halbleiter-integrierte Schaltung verbundenes automatisches Reparaturdateneditiersystem
DE19758077B4 (de) Einrichtung zum Steuern des Prüfens integrierter Schaltkreise und Verfahren zum Steuern des Prüfens integrierter Schaltkreise
DE69229389T2 (de) Testsystem für Schaltkreise
DE19536203A1 (de) Fehlerdiagnoseverfahren für eine sequentielle Schaltung
DE60018468T2 (de) Verbrauch von redundanzdaten für das anzeigen der bitfehlerkarten für halbleiterelemente
DE102016117029A1 (de) System und Verfahren zum Diagnostizieren einer integrierten Schaltung
DE60002518T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum adaptiven Lernen von Testfehlern zur Verminderung der Gesamtzahl von Testmessungen erforderlich in Echtzeit
DE102014008750A1 (de) Verbindungsprüfverfahren und verbindungsprüfvorrichtung
JPS584456A (ja) 被試験体の布線系列障害解析方式
DE102011101467A1 (de) Verfahren zum prüfen und herstellen einer elektrischen schaltung
JPH04503105A (ja) 電気回路の試験
JPS59132378A (ja) ロジツク回路試験装置
DE2441486C2 (de) Verfahren zur automatischen Fehlerprüfung eines elektrischen Schaltkreises und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
JP4551582B2 (ja) 不良解析方法及び不良解析装置
DE69825078T2 (de) Speicherprüfsystem mit einer Einrichtung für eine Prüffolgenoptimierung und Verfahren für diesen Vorgang
JPH02208949A (ja) 半導体製造装置
DE102007004846A1 (de) Handhaben eines Mischmodus-Inhalts in einem Strom von Testergebnissen
JP3047115B2 (ja) 回路基板検査装置における実装基板のインピーダンス関連データ作成方法
JP4723124B2 (ja) ポジションデータの生成方法
JPH0915290A (ja) 導通検査方法及び導通検査装置
JP3771074B2 (ja) 半導体不良解析システムおよび方法
JPH06149577A (ja) 障害診断方法および装置
CN109309748A (zh) 云手机硬件质量批量测试方法与系统
JP2525078B2 (ja) 論理回路試験装置
JPS6363068B2 (enExample)