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Tester,
wie z. B. der 93000 System-on-Chip (SOC; SOC = Systemchip) von Agilent
Technologies, stellen ein Testen eines komplexen Schaltungsaufbaus
und komplexer Bauelemente bereit. Ein Test ist eine Serie von Befehlen,
bei denen Reize an ein zu testenden Bauelement (DUT; DUT = Device
Under Test) geliefert und Testergebnisse beobachtet werden. Die
Testergebnisse könnten
beobachtungsmäßig (z.
B. Spannung an Anschlussstift 10 = 4,8 V) oder deterministisch (z.
B. Prüfsummenfehler)
sein. Während
der Ausführung
eines Tests könnten
Teile der Testergebnisse für
Benutzer und automatisierte Prozesse verfügbar werden, während die
Ausführung
des Testens fortfährt.
Ein Benutzer oder ein automatisierter Prozess könnte den Test aussetzen, um ein
Ad-hoc-Testen auszuführen.
Das Aussetzen des Tests könnte
durch einen bestimmten Wert eines Zwischentestergebnisses oder durch
ein Ereignis außerhalb
der Testumgebung ausgelöst
werden. Diese Ad-hoc-Tests könnten
durchgeführt
werden, um ein bestimmtes Testergebnis zu bestätigen, ein Problem zu isolieren,
als eine Sache, die durch das Ermessen eines Benutzers bestimmt
wird, oder als ein Ergebnis dessen, dass der Test einer Aufgabe
mit höherer
Priorität
weichen muss. Wenn der Tester läuft,
wird ein Strom von Testergebnissen erzeugt. Die Testergebnisse werden
dann verarbeitet und/oder zur zukünftigen Verwendung gespeichert.
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Es
ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren, ein System
oder eine Anzahl maschinenlesbarer Medien mit verbesserten Charakteristika
zu schaffen.
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Diese
Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1, ein System gemäß Anspruch
8 oder maschinenlesbare Medien gemäß Anspruch 14 gelöst.
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
ist ein Verfahren zum Verarbeiten von Testergebnissen offenbart.
Das Verfahren weist ein A) Empfangen eines Stroms von Testergebnissen,
wobei die Testergebnisse 1) einen Tester, der einen Test an zumindest
einem zu testenden Bauelement (DUT) durchführt, und 2) einen Testmodus,
der zu Beginn auf einen ersten Testmodus gesetzt ist, betreffen;
B) bei Vorliegen des ersten Testmodus, Bestücken einer ersten Datenstruktur
mit den Testergebnissen, wobei die Testergebnisse gemäß Beziehungen
zwischen den Testergebnissen in die erste Datenstruktur organisiert
werden; C) bei Vorliegen eines zweiten Testmodus, Bestücken einer
zweiten Datenstruktur mit den Testergebnisse, wobei die Testergebnisse
gemäß Beziehungen
zwischen den Testergebnissen in die zweite Datenstruktur organisiert
werden; und D) auf ein Bestimmen hin, dass der Testmodus zu dem
zweiten Testmodus umgeschaltet wurde, Erhalten bzw. Bewahren des
Zustands der ersten Datenstruktur durch Erhalten einer Anzahl von
Indexen, die auf eine Anzahl von Einfügungspunkten von Testergebnissen
in die erste Datenstruktur verweisen, auf.
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Bei
einem weiteren Ausführungsbeispiel
ist ein System zum Verarbeiten von Testergebnissen offenbart. Das
System weist A) einen Empfänger,
der wirksam ist, um einen Strom von Testergebnissen zu empfangen,
wobei die Testergebnisse 1) einen Tester, der einen Test an zumindest
einem zu testenden Bauelement (DUT) durchführt, und 2) einen Testmodus,
der zu Beginn auf einen ersten Testmodus eines ersten und eines
zweiten Testmodus gesetzt ist, betreffen; B) einen Datenprotokollierer,
der wirksam ist, um selektiv eine einer ersten Datenstruktur und
einer zweiten Datenstruktur mit den empfangenen Testergebnissen
zu bestücken,
wobei die Auswahl zur Bestückung
der einen der ersten und der zweiten Datenstruktur in Übereinstimmung
mit dem Testmodus ist; und C) einen Testmodushandhaber, der wirksam ist,
um ansprechend auf eine Bestimmung, dass der Testmodus in den zweiten
Testmodus verändert
wurde, zu bewirken, dass der Zu stand der ersten Datenstruktur erhalten
bleibt, indem eine Anzahl von Indexen erhalten wird, die auf eine
Anzahl von Einfügungspunkten
von Testergebnissen in die erste Datenstruktur verweist, auf.
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Weitere
Ausführungsbeispiele
sind ebenso offenbart.
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Bevorzugte
Ausführungsbeispiele
der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf
die beigefügten
Zeichnungen näher
erläutert.
Es zeigen:
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1 ein
exemplarisches Verfahren zum Verarbeiten von Testergebnissen; und
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2 ein
exemplarisches System, das wirksam zur Durchführung des Verfahrens aus 1 ist.
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Ein
Tester führt
eine Anzahl gespeicherter Testbefehle (einen Test) zur Bewertung
eines oder mehrerer zu testender Bauelemente (DUTs) aus. Unter Idealbedingungen
wird ein Test ohne Unterbrechung von Anfang bis Ende ausgeführt. Ein
Test könnte
an unterschiedlichen Punkten in einem Test enden, wie z. B. bei
Fertigstellung des gesamten Tests oder nach Antreffen eines schwerwiegenden Fehlers,
jedoch nur die Ergebnisse eines Test, von Anfang bis Ende, würden zu
einer Zeit erzeugt werden.
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Ein
Betreiben eines Testers unter Idealbedingungen ist nicht immer möglich oder
auch wünschenswert.
Wenn ein erster Test durchgeführt
wird, könnten
bestimmte Ereignisse auftreten, um das Aussetzen eines ersten Tests
und die Ausführung
eines zweiten Tests zu autorisieren. Ein Antreffen bestimmter Fehler,
Unterbrechungen durch Testaufgaben mit höherer Priorität, beobachtet
Trends, die eine fragwürdige
Testergebniszuverlässigkeit
anzeigen, und Ausführung
im Ermessen eines Bedieners sind einige der Ereignisse, die ein
Aussetzen eines ersten Tests für
die Ausführung
eines zweiten Tests wünschenswert
machen. Ein bestimmtes Beispiel eines Ereignisses, das das Aussetzen
eines ersten Tests, um einen zweiten Test durchzuführen, autorisiert,
ist, wenn der erste Test die Ausführung eines Produktionsmodustest
ist und der zweite Test ein Fehlersuchemodustest ist. Ein Bediener
könnte
gerade einen Produktionsmodustest durchführen und auf ein Ereignis,
wie z. B. einen Fehler, treffen, das eine weitere Untersuchung außerhalb
des Bereichs des Produktionsmodustest autorisiert. Der Bediener
setzt dann die Produktionsmodustests aus und führt ein zusätzliches Fehlersuchemodustesten
durch. Die Fehlersuchemodustests könnten andere Testschritte als
diejenigen des Produktionsmodustests ausführen, weitschweifige Testdetails
berichten oder die gleichen Testschritte wie bei den Produktionsmodustests
ausführen,
jedoch in einer unterschiedlichen Reihenfolge, Anzahl von Wiederholungen
oder mit anderen Eingangswerten. Nachdem eine Untersuchung des Bedieners
beendet ist, wird der Produktionsmodustest wiederaufgenommen.
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Tester
erzeugen einen einzelnen Strom von Testergebnissen sogar dann, wenn
ein Betrieb des Testers in zwei oder mehr Modi aufgeteilt ist. Ein
Aussetzen der Erzeugung von Testergebnissen beim Umschalten von
dem ersten Testmodus in einen zweiten Testmodus würde verhindern,
dass Testergebnisse des ersten Testmodus durch Testergebnisse des
zweiten Testmodus befleckt werden, jedoch würde dies auch die Auswertung
von Testergebnissen des zweiten Testmodus ausschließen.
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Ein
manuelles Beenden der Verarbeitung von Testergebnissen auf ein Umschalten
von Testmodi hin bewirkt, dass die Beziehung zwischen den Testergebnissen
verloren geht. Ein Wiederaufnehmen des ersten Tests nach einer Ausführung des zweiten
Tests wäre
tatsächlich
die Ausführung
eines dritten Tests, da die Testergebnisse dem anfänglichen
ersten Satz von Testergebnissen nicht weiter zugeordnet sind. Zusätzlich könnte eine
Verarbeitung von Testergebnissen an Sekundärressourcen durchgeführt werden,
die nicht im Verriege lungsschritt mit der Erzeugung von Testergebnissen
arbeiten. Als ein Ergebnis könnte
ein Umschalten des Testers von dem ersten in den zweiten Testmodus
oder umgekehrt schwierig mit dem Modus der Prozessoren, die die
Testergebnisse analysieren, zu synchronisieren sein. Alternativ
könnte
der Strom von Testergebnissen ohne Betrachtung des Testmodus verarbeitet werden
und heterogene Testmodusergebnisse erzeugen, die zu einer verschobenen
oder fehlerbehafteten Auswertung des DUT führen könnten. Die folgenden Ausführungsbeispiele
lösen diese
und andere Probleme und verbessern die Technik von Testeroperationen.
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1 stellt
ein exemplarisches Verfahren 100 zum Verarbeiten von Testergebnissen
dar. Das Verfahren 100 beinhaltet Schritte 102, 104, 106, 108 zum
A) Empfangen eines Stroms von Testergebnissen, wobei die Testergebnisse
1) einen Tester, der einen Test an zumindest einem zu testenden
Bauelement (DUT) durchführt,
und 2) einen Testmodus, der zu Beginn auf einen ersten Testmodus
gesetzt ist, betreffen; B) bei Vorliegen des ersten Testmodus, Bestücken einer
ersten Datenstruktur mit den Testergebnissen, wobei die Testergebnisse
gemäß Beziehungen
zwischen den Testergebnissen in die erste Datenstruktur organisiert
sind; C) bei Vorliegen eines zweiten Testmodus, Bestücken einer
zweiten Datenstruktur mit den Testergebnissen, wobei die Testergebnisse
gemäß Beziehungen
zwischen den Testergebnissen in die zweite Datenstruktur organisiert sind;
und D) auf ein Bestimmen hin, dass der Testmodus zu dem zweiten
Testmodus umgeschaltet wurde, Erhalten des Zustands der erste Datenstruktur
durch Erhalten einer Anzahl von Indexen, die auf eine Anzahl von
Einfügungspunkten
von Testergebnissen in die erste Datenstruktur verweisen.
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
ist der Testmodus einer von zwei Modi. Bei weiteren Ausführungsbeispielen
sind mehr als zwei Testmodi vorgesehen, wobei der Tester zu Beginn
in einen ersten vieler Testmodi gesetzt ist.
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Das
Empfangen 102 des Stroms von Testdaten erfordert ein Empfangen
der Ausgabe des Testers. Bei einem Ausführungsbeispiel wird der Strom direkt
von dem Tester empfangen 102, während bei einem weiteren Ausführungsbeispiel
der Strom durch ein Lesen eines Depots (z. B. Zwischenspeicher,
Datei), das die Ausgabe des Testers empfängt, empfangen wird 102.
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Die
Charakteristika, die einen Modus definieren, sind Gegenstand einer
Entwurfsauswahl, wobei zwei oder mehr Tests Testergebnisse erzeugen,
die separat auszuwerten sind. Jede beliebige Testoperation, wobei
der Tester gerade einen Test ausführt und der eine Test ausgesetzt
wird, um einen zweiten Test auszuführen, wobei die beiden Tests
Testergebnisse erzeugen, die für
eine unabhängige
Auswertung erzeugt werden sollen, autorisiert mehrere Testmodi. Eine üblichere
Bezeichnung zwischen einem ersten und einem zweiten Testmodus sind
Produktions-/Fehlersuchetestmodus. Ein Austauschen von DUTs könnte außerdem ein
Umschalten von einem ersten in einen zweiten Testmodus autorisieren.
Ein weiteres Beispiel eines ersten und eines zweiten Testmodus tritt
auf, wenn ein Teil eines ersten Testmodustests wiederholt ausgeführt wird,
wobei die erhöhte
Anzahl von Ausführungen
die Ergebnisse des ersten Tests beflecken würde.
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Das
Bestücken 104 der
ersten Datenstruktur bei Vorliegen des ersten Testmodus und das
Bestücken 106 einer
zweiten Datenstruktur bei Vorliegen eines zweiten Testmodus führen dazu,
dass die erste und die zweite Datenstruktur jeweils Testergebnisse beinhalten,
die jedem entsprechenden Testmodus zugeordnet sind. Bei anderen
Ausführungsbeispielen werden
mehr als zwei Datenstrukturen mit Testergebnissen bestückt, die
jedem entsprechenden Testmodus zugeordnet sind. Die Daten in der
ersten und der zweiten Datenstruktur könnten dann verarbeitet und/oder
gespeichert werden.
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Das
Erhalten 108 des Zustands der ersten Datenstruktur durch
Erhalten einer Anzahl von Indexen, die auf eine Anzahl von Einfügungspunkten
von Testergebnissen in die erste Datenstruktur verweisen, stellt
ein Mittel zur Lokalisierung von Einfügungspunkten von Testergebnissen
bereit. Ein Index, wie z. B. ein Zeiger, Arrayindex, eine Aufzeichnungszahl
oder andere Positionsindizien, lokalisiert den Punkt einer Einfügung von
Testergebnissen und ermöglicht
ein Lokalisieren eines nächsten
Einfügungspunktes
für ein
noch zu empfangendes Testergebnis. Bei einem Ausführungsbeispiel
ist die erste oder zweite Datenstruktur linear organisiert (z. B.
Einheitsdatei), wobei alle Testaufzeichnungen nacheinander geschrieben
werden, wie diese empfangen werden. Bei einem derartigen Ausführungsbeispiel
könnte
ein einzelner Index verwendet werden. Bei weiteren Ausführungsbeispielen
empfangen komplexere Datenstrukturen (z.B. Datenbank, Mehrfach-Attribut-„struct"-Struktur, Softwareobjekte,
Array, Mehrzahl von Einzel-Attribut-Elementen) Daten und werden
für mehrere
Orte in der Datenstruktur indexiert. Bei einem hypothetischen Beispiel
könnte
eine erste Datenstruktur separate Sätze von Indexen für Testergebnisse
beibehalten, die separat Testergebnisse zuweisen, die Testergebnisse
anzeigen, die 1) ein Spannungstestergebnis und 2) ein Stromstärketestergebnis
sind.
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Das
Verfahren 100 führt
nach einer Ausführung
der Schritte 102 bis 108 wahlweise Schritte 110, 116 und 118 aus.
Nach einer Ausführung
von Schritt 110 werden ein optionaler Schritt 112 und/oder
ein optionaler Schritt 114 ausgeführt. Nach einer Ausführung von
Schritt 118 wird ein optionaler Schritt 120 ausgeführt.
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Das
Verfahren 100 beinhaltet einen Schritt 110 zum,
auf ein Bestimmen hin, dass der Testmodus zurück in den ersten Testmodus
umgeschaltet wurde, Wiederaufnehmen des Bestückens der ersten Datenstruktur
mit den Testergebnissen gemäß der erhaltenen
Anzahl von Indexen. Der Teilschritt des Bestimmens, dass der Testmodus
umgeschaltet hat, könnte bewirken,
dass eine Komponente (z. B. ein Testmodusüberwacher 256) oder
ein Prozess (z. B. Schritt 114, 116 und 118–120)
die Bestimmung des Modusumschaltens zurück in den ersten Testmodus
unterstützt.
Bei einem Ausführungsbeispiel
ist das Umschalten das Hin- und Herschalten zwischen zwei Modi und
bei weiteren Ausführungsbeispielen
ist das Umschalten die Auswahl eines einer Anzahl von Modi als aktueller
Testmodus.
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Das
Verfahren 100 beinhaltet einen Schritt 112 zum
Erhalten des Zustandes der zweiten Datenstruktur. Das Erhalten 112 weist
ferner ein Erhalten der zweiten Datenstruktur durch Erhalten einer
Anzahl von Indexen, die auf eine Anzahl von Einfügungspunkten von Testergebnissen
in die zweite Datenstruktur verweisen, auf.
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Das
Verfahren 100 beinhaltet einen Schritt 114 zum
Bestimmen, dass der Testmodus zurück in den ersten Testmodus
umgeschaltet hat, durch ein Bestimmen, dass der zweite Testmodus
beendet wurde.
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Das
Verfahren 100 beinhaltet einen Schritt 116 zum
Bestimmen des Testmodus durch Auswerten des Stroms von Testergebnissen,
um gemäß einem
eines Produktionstestmodus und eines Fehlersuchetestmodus zu sein.
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Das
Verfahren 100 beinhaltet einen Schritt 118 zum
Empfangen eines Testmodusereignisses und, auf ein Empfangen des
Testmodusereignisses hin, Bestimmen, dass der Testmodus aus 1) einem des
ersten Testmodus und des zweiten Testmodus in 2) den anderen des
ersten Testmodus und des zweiten Testmodus umgeschaltet hat. Bei
einem Ausführungsbeispiel
ist das Testmodusereignis ein Token, das in den Strom von Testergebnissen
eingeführt wird.
Bei einem weiteren Ausführungsbeispiel
ist das Testmodusereignis eine Veränderung an dem Inhalt eines
Speicherorts, der ein Flag, Semaphor, einen Zähler oder andere Indizien des
Testmodus hält.
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Das
Verfahren 100 beinhaltet einen Schritt 120 zum
Bestimmen, dass der Testmodus umgeschaltet hat, durch Bestimmen,
dass ein Testmoduswert, der dem empfangenen Testmodusereignis zugeordnet
ist, anzeigt, dass der Testmodus umgeschaltet hat. Bei einem Ausführungsbeispiel
wird eine Mehrzahl von Testmodusereignissen empfangen, wie z. B.
wenn eine Mehrzahl von Testbauelementen jeweils dem Tester zugeordnet
ist und jedes Bauelement aus einem ersten Produktionsmodus in einen
zweiten Fehlersuchemodus umgeschaltet hat und jedes Bauelement bewirkt,
dass ein Testmodusereignis erzeugt wird, das anzeigt, dass der zweite Fehlersuchemodus
nun der aktuelle Modus ist. Ein Auswerten eines Testmoduswerts bestimmt
den Testmodus, derart, dass eine empfangene Mehrzahl von Testmodusereignissen,
die jeweils „Fehlersuchemodus" anzeigen, ordnungsgemäß verarbeitet
(z. B. ignoriert) wird, sobald der Testmodus bereits auf das erste
Testergebnis, das „Fehlersuchemodus" anzeigt, angesprochen
hat. Bei einem weiteren Ausführungsbeispiel
zeigt der Testmoduswert an, welcher einer Anzahl von Testmodi der
aktuelle Testmodus ist.
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Bei
einem weiteren Ausführungsbeispiel
sind auf einer Anzahl maschinenlesbarer Medien Sequenzen von Befehlen
gespeichert, die, wenn sie durch eine Maschine ausgeführt werden,
bewirken, dass die Maschine die Handlungen des Verfahrens 100 durchführt.
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2 stellt
ein exemplarisches System 200 dar, das wirksam zur Durchführung des
Verfahrens aus 1 ist. Bei einem Ausführungsbeispiel
ist ein Strom von Testergebnissen 202 die direkte Ausgabe eines
Testers, der einen Test auf zumindest einem DUT ausführt. Bei
einem weiteren Ausführungsbeispiel
wird ein Strom von Testergebnissen 202 über einen Puffer (z. B. Datei,
Speicherort, Speichervorrichtung) von einem Tester empfangen. Der
Strom von Testergebnissen 202 beinhaltet Testergebnisse 204–216.
Zur Darstellung des Umschaltens des Testmodus 234 aus einem
ersten Testmodus in einen zweiten Testmodus und dann zurück in den ersten Testmodus
stellt das Ausführungsbeispiel
aus 2 dar, dass der Strom von Testergebnissen 202 in
folgender Reihenfolge empfangen wird: Erster-Modus-Testergebnisse
(1) 204A, 206A, Zweiter-Modus-Testergebnisse (2) 210A, 212A, 214A, 216A und dann
zurück
zu Erster-Modus-Testergebnissen (1) 208A. So stellt das
Ausführungsbeispiel
ein Betreiben eines Testers in einem ersten Testmodus, ein Umschalten
in einen zweiten Testmodus und dann ein Zurückumschalten in den ersten
Testmodus dar.
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Als
ein Ergebnis einer Implementierung des Systems 200 werden
Testergebnisse 204–216 aus dem
Strom von Testergebnissen 202 zu entweder der ersten Datenstruktur 232 oder
zweiten Datenstruktur 246 bewegt, so dass Erster-Modus-Testergebnisse (1) 204A, 206A, 208A als
Erster-Modus-Testergebnisse
(1) 204B, 206B, 208B zu der ersten Datenstruktur 232 bewegt
werden und Zweiter-Modus-Testergebnisse (2) 210A, 212A, 214A, 216A als
Zweiter-Modus-Testergebnisse (2) 210B, 212B, 214B, 216B zu
der zweiten Datenstruktur 232 bewegt werden. Die Beziehung
zwischen einigen der Testergebnisse 204–216, die dem gleichen
Testmodus zugeordnet sind, wird dann in der ersten Datenstruktur 232 und
der zweiten Datenstruktur 246 erhalten. Die Reihenfolge
z. B., in der einzelne der Testergebnisse 204–216 durch
einen Empfänger 222 empfangen werden,
wird in der ersten Datenstruktur 232 erhalten und für Zweiter-Modus-Testergebnisse
(2) 210, 212, 214, 216 für Erster-Modus-Testergebnisse
(1) 204, 206, 208 in der zweiten Datenstruktur 246.
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Der
Empfänger 222 empfängt Testergebnisse 204–216.
Bei einem Ausführungsbeispiel
empfängt
der Empfänger 222 Testergebnisse 204–216 durch
ein Lesen des Stroms von Testergebnissen 202 (z. B. „Ziehen"). Bei einem weiteren
Ausführungsbeispiel
empfängt
der Empfänger 222 Testergebnisse 204–216 durch
ein Empfangen (z. B. „Drücken") von Testergebnissen 206–216,
z. B. könnte der
Empfänger 222 mit
Parametern (z. B. Referenzzeiger, Werte), die einigen der Testergebnisse 204–216 zugeordnet
sind, gerufen werden.
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Der
Empfänger 222 leitet
die Testergebnisse 204–216 an
einen Datenprotokollierer 226 weiter. Der Datenprotokollierer 226 ist
wirksam, um selektiv gemäß dem Testmodus 234 die
Testergebnisse 204–216 zu
entweder der ersten Datenstruktur 232 oder der zweiten
Datenstruktur 246 zu leiten. Bei weiteren Ausführungsbeispielen
ist der Datenprotokollierer 226 wirksam, um selektiv Testergebnisse 204–216 zu
einer Anzahl von Datenstrukturen, zusätzlich zu der ersten Datenstruktur 232 und
der zweiten Datenstruktur 246, zu leiten. Der Testmodus 234 ist
bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel entweder
ein erster Testmodus oder ein zweiter Testmodus und ist gesetzt,
wie z. B. durch den Empfänger 222.
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Während zu
Beginn der erste Testmodus vorliegt, leitet der Datenprotokollierer 226 zu
Beginn Testergebnisse 204, 206, an die erste Datenstruktur 232.
Nach einem Lesen des Testergebnisses 204 schaltet der Testmodus 234 in
den zweiten Testmodus um. Auf ein Bestimmen hin, dass der Testmodus 234 sich
verändert
hat, findet Folgendes statt: 1) der Datenprotokollierer 226 beginnt,
die zweite Datenstruktur 246 mit Testergebnissen 210, 212, 214, 216 zu
bestücken,
und 2) der Testmodushandhaber 238 bewirkt, dass der Zustand
der ersten Datenstruktur 232 in dem Datenspeicher 244 erhalten
bleibt.
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Bei
einem Ausführungsbeispiel
wird der Testmodus 234 durch den Empfänger 222 bestimmt. Bei
einem ersten weiteren Ausführungsbeispiel
liest der Empfänger 222 ein
Token (nicht gezeigt), das eine diskrete Aufzeichnung in dem Strom
von Testergebnissen 202 ist, wie z. B. zwischen dem Testergebnis 206 und
dem Testergebnis 210 eingeführt wäre, um ein Umschalten aus dem
ersten in den zweiten Testmodus anzuzeigen, und wieder zwischen
dem Testergebnis 216 und 218, um ein Zurückumschalten in
den ersten Testmodus anzuzeigen. Bei einem zweiten weiteren Ausführungsbeispiel
ist der Testmodus in einige der Testergebnisse 204–216 codiert.
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Bei
einem weiteren Ausführungsbeispiel
wird der Wert des Testmodus 234 von einer anderen Quelle
als dem Strom von Testergebnissen 202 gelesen. Ein Semaphor,
ein Hin- und Herschalten oder ein weiterer Speicherwert wird z.
B. durch den Tester gesetzt. Bei einem weiteren Beispiel wird der
Wert des Testmodus 234 in einem zugänglichen Speicher durch zumindest
ein Element des Testers, des Empfängers 222 und des
Testmodusüberwachers 256 gesetzt.
Bei Ausführungsbeispielen,
bei denen der Testmodus 234 abgefragt wird, bestimmt der
Testmodusüberwacher 256,
wann sich der Testmodus verändert hat,
und benachrichtigt den Testmodushandhaber 238. Der Testmodushandhaber
wiederum benachrichtigt den Datenprotokollierer 226 über den
Wert des Testmodus 234.
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Wenn
nach einem Empfangen des Testergebnisses 216 der Testmodus 234 zurück in den
ersten Testmodus umschaltet, geschieht folgendes: 1) der Datenprotokollierer 226 nimmt
ein Bestücken
der ersten Datenstruktur 232 mit dem Testergebnis 208 wieder
auf und 2) der Testmodushandhaber 238 bewirkt, dass der
Zustand der zweiten Datenstruktur 246 in dem Datenspeicher 244 erhalten
bleibt.