CN104965166A - Usb芯片的测试方法及系统 - Google Patents
Usb芯片的测试方法及系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104965166A CN104965166A CN201510420484.XA CN201510420484A CN104965166A CN 104965166 A CN104965166 A CN 104965166A CN 201510420484 A CN201510420484 A CN 201510420484A CN 104965166 A CN104965166 A CN 104965166A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- data
- chip
- test
- usb
- test packet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Information Transfer Systems (AREA)
Abstract
本发明公开了一种USB芯片的测试方法,用于对USB3.0芯片进行多通道测试,其包括如下步骤:数据发生器随机产生测试数据包,对产生的测试数据包进行标记;将测试数据包随机传送至USB3.0芯片;串行接口单元将收到的测试数据包发送至USB3.0芯片的各个数据端点;各个数据端点对测试数据包进行并行处理;根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式。同时,本发明还公开了一种USB芯片的测试系统。本发明的USB芯片的测试方法及系统在USB3.0芯片的测试过程中不受USB协议的限制,对USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制,可以在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位。
Description
技术领域
本发明涉及电子测试领域,更具体地涉及一种用于对USB3.0芯片进行多通道测试的USB芯片的测试方法及系统。
背景技术
在USB协议下,通常需要对USB芯片的各端点进行大量数据包的传输检测和定位。现有的测试方案多是在传统的USB数据协议下,利用标准的主机驱动构建不同的测试流程,模仿正常通信在各个USB芯片的数据端点建立数据通路,对各个数据端点依次进行USB数据协议的建立、传输、完成和测试。这种方案测试简单容易构建,但是不容易对USB芯片设计的错误进行覆盖检测和快速定位。
上述现有技术中主要是按照USB芯片实际工作的标准流程进行,没有考虑USB芯片在工作中各种错误极端情况的出现,但是实际USB芯片工作中可能在各个无法预想的极端条件下会出现的各种问题。因为上述现有技术对USB芯片的检测是建立在理想使用的环境中的,所以上述现有技术的检测方式无法完全对USB芯片的潜在错误进行检测和定位。
因此,有必要提供一种改进的USB芯片的测试方法及系统来克服上述缺陷。
发明内容
本发明的目的是提供一种USB芯片的测试方法及系统,用于对USB3.0芯片进行多通道测试。本发明的USB芯片的测试方法及系统在USB3.0芯片的测试过程中不受USB协议的限制,USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制,可以在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位,使USB3.0芯片能够避免在实际运行中当遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
为实现上述目的,本发明提供一种USB芯片的测试方法,用于对USB3.0芯片进行多通道测试,其包括如下步骤:a.USB主机的数据发生器随机产生测试数据包,并对产生的测试数据包进行标记;b.将标记后的测试数据包随机传送至USB3.0芯片;c.USB3.0芯片的串行接口单元将收到的测试数据包发送至USB3.0芯片的各个数据端点;d.各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行处理;e.数据检测器根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式。
较佳地,在所述USB主机内预设有各种测试函数及USB3.0协议的所有数据协议,且所述USB主机根据USB3.0协议对USB3.0芯片各个端点同时建立传输通道。
较佳地,所述步骤a具体为:所述数据发生器按照主机内存储的数据协议将测试数据包在USB3.0芯片内部的处理方式信息和位置信息写到测试数据包的固定位置处。
较佳地,所述测试数据包的固定位置为测试数据包的非协议位置。
较佳地,所述非协议位置为测试数据包的前四个字节。
较佳地,同时本发明还提供一种USB芯片的测试系统.
较佳地,测试数据包的处理方式信息记录于测试数据包的第3字节与第4字节。
较佳地,所述处理方式包括数据被丢弃、数据被送到驱动单元处理、数据被送到存储单元及数据被返回USB主机。
较佳地,在所述步骤b中,USB主机将所述标记后的测试数据包以最大负荷随机传送给USB3.0芯片。
相应地,本发明还提供一种USB芯片的测试系统,用于对USB3.0芯片进行多通道测试,其包括数据发生器、串行接口单元、数据检测器及多个数据端点;所述数据发生器随机产生测试数据包,并对产生的测试数据包进行标记,USB主机将标记后的测试数据包随机传送至所述串行接口单元,串行接口单元将收到的测试数据包进行串并转换,并将转换后的并行测试数据包发送至各个数据端点,各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行处理,所述数据检测器根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式。
较佳地,所述USB芯片的测试系统还包括驱动单元及存储单元,各数据端点对测试数据包的处理方式包括数据被丢弃、数据被送到驱动单元处理、数据被送到存储单元存储及数据被返回USB主机;且所述数据检测器包括第一数据检测器与第二数据检测器,所述第一数据检测器检测数据端点是否正确将数据返回至USB主机,所述第二数据检测器检测所述数据端点是否正确将数据送到驱动单元处理及是否正确将数据存储于存储单元中。
与现有技术相比,本发明的USB芯片的测试方法及系统,通过各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行测试处理,让USB3.0芯片的测试不受USB协议的限制,USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制;另外,测试数据包是随机传送至USB3.0芯片的,使得在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位,减少了USB3.0芯片在实际运行中遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
通过以下的描述并结合附图,本发明将变得更加清晰,这些附图用于解释本发明的实施例。
附图说明
图1为本发明USB芯片的测试系统的结构框图。
图2为本发明USB芯片的测试方法的流程图。
具体实施方式
现在参考附图描述本发明的实施例,附图中类似的元件标号代表类似的元件。如上所述,本发明提供了一种USB芯片的测试方法及系统,用于对USB3.0芯片进行多通道测试。本发明的USB芯片的测试方法及系统在USB3.0芯片的测试过程中不受USB协议的限制,USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制,可以在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位,使USB3.0芯片能够避免在实际运行中当遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
请参考图1,图1为本发明USB芯片的测试系统的结构框图。如图所示,本发明的USB芯片的测试系统,用于对USB3.0芯片进行多通道测试,其包括数据发生器、串行接口单元、数据检测器及多个数据端点。所述数据发生器置于USB主机内部,且随机产生测试数据包,并根据主机内存储的数据协议对产生的测试数据包进行标记,从而通过测试数据包的标记使得在USB3.0芯片的测试过程中可对USB3.0芯片的错误进行准确的跟踪与定位。USB主机将标记后的测试数据包通过高速串行总线随机传送至USB3.0芯片的串行接口单元,串行接口单元将收到的测试数据包进行串并转换,并将转换后的并行测试数据包发送至各个数据端点。各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行处理。所述数据检测器根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式。另外,如图1所示,在本发明的优选实施方式中,本发明的USB芯片的测试系统还包括驱动单元及存储单元,各数据端点对测试数据包的处理方式包括数据被丢弃、数据被送到驱动单元处理、数据被送到存储单元存储及数据被返回USB主机;且所述数据检测器包括第一数据检测器与第二数据检测器,所述第一数据检测器检测数据端点是否正确将数据返回至USB主机,所述第二数据检测器检测所述数据端点是否正确将数据送到驱动单元处理及是否正确将数据存储于存储单元中,从而通过所述第一数据检测器与第二数据检测器对测试数据包的处理方式的检测而实现对所述USB3.0芯片的测试,且在测试过程中不受USB协议的限制,USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制,可以在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位,使USB3.0芯片能够避免在实际运行中当遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
请再结合参考图2,图2为本发明USB芯片的测试方法的流程图,本发明的USB芯片的测试方法用于对USB3.0芯片进行多通道测试。如图所示,本发明USB芯片的测试方法包括如下步骤:
步骤S101,USB主机的数据发生器随机产生测试数据包,并对产生的测试数据包进行标记;作为本发明的优选实施方式,在本步骤开始前,在所述USB主机内预设有各种测试函数及USB3.0协议的所有数据协议,从而在后续各步骤中可直接匹配需要用到的测试函数或数据协议,且所述USB主机根据USB3.0协议对USB3.0芯片各个端点同时建立传输通道,以使所述USB主机可正常与USB3.0芯片的各数据端点进行通讯;另外,在本步骤中,所述数据发生器按照主机内存储的数据协议将测试数据包在USB3.0芯片内部的处理方式信息和位置信息写到测试数据包的固定位置处,再进一步地,所述测试数据包的固定位置为测试数据包的非协议位置,从而使得在本发明的USB芯片的测试过程中,不受USB协议的限制,使得整个测试更灵活;另外通过对所述测试数据包进行标记,使得在后续步骤中可更准确地对错误进行跟踪与定位。
步骤S102,将标记后的测试数据包随机传送至USB3.0芯片;在本步骤中所述USB主机将所述数据发生器标记后的测试数据包通过高速串行总线随机传送至USB3.0芯片,从而用标记后的测试数据包对所述USB3.0芯片进行测试。在本发明的优选实施方式中,所述USB主机将所述标记后的测试数据包以最大负荷随机传送给USB3.0芯片,从而在测试过程中可充分考虑USB3.0芯片工作中可能在各个无法预想的极端条件下会出现的各种问题,因此,通过本发明测试后的USB3.0芯片能够避免在实际运行中当遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
步骤S103,USB3.0芯片的串行接口单元将收到的测试数据包发送至USB3.0芯片的各个数据端点;在本步骤中,USB3.0芯片的串行接口单元将接收到的测试数据包进行串并转换,将转换后的并行测试数据包发送至USB3.0芯片的各个数据端点,以便于对测试数据包进行下一步处理。
步骤S104,各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行处理;在本步骤中,各个数据端点对接收到的测试数据包同时进行并行处理,从而加快了对测试数据包的处理进程,进而加快了整个测试过程。
步骤S105,数据检测器根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式;在本步骤中,各数据端点的处理方式包括数据被丢弃、数据被送到驱动单元处理、数据被送到存储单元及数据被返回USB主机;其中,所述数据检测器包括第一数据检测器与第二数据检测器,所述第一数据检测器检测数据端点是否正确将数据返回至USB主机,所述第二数据检测器检测所述数据端点是否正确将数据送到驱动单元处理及是否正确将数据存储于存储单元中;具体地,所述第二数据检测器能够对数据通路经过的数据包进行缓存,能够对接收到的各种数据包进行实时检测,分析该数据包是否正确的被传送到指定的位置或者是否正确的进行了处理;所述第一数据检测器负责对USB主机发送的经过USB3.0芯片回传给USB主机的数据包进行检测,以确定该数据包是否是应该回传和是否数据正确。所述第一数据检测器与第二数据检测器在对测试数据包进行实时分析后,当发现数据包的处理方式与数据包中的标记不符合的时候,所述第一数据检测器与第二数据检测器便发出指令给测试人员并且自动中止测试,且把生成的测试报告放在指定的文件夹下面供测试人员检查。
作为本发明的一个优选实施方式,所述非协议位置为测试数据包的前四个字节,且测试数据包的处理方式信息记录于测试数据包的第3字节与第4字节。例如:在测试数据包的第3和第4字节,按照规律编码成0x1000、0x1001、0x1002、0x1003、0x1004,其中,高位的1代表是第一个数据端点的数据包,低位的0、1、2、3、4分别代表测试数据包的处理方式,数据被丢弃、被送到驱动程序处理、被送到下级存储、被返回主机;从而所述第一数据检测器与第二数据检测器通过检测各数据端点对测试数据包的处理方式与测试数据包中的标记是否一致,而确定所述数据端点是否有对测试数据包进行正常的处理,进而检测该USB3.0芯片是否出错。
如上所述,本发明的USB芯片的测试方法由于在所述USB主机内预设有各种测试函数及USB3.0协议的所有数据协议,使得USB3.0芯片的测试过程中不受USB协议的限制,USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制;另外,测试数据包是随机传送至USB3.0芯片的,使得在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位,使USB3.0芯片能够避免在实际运行中当遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
以上结合最佳实施例对本发明进行了描述,但本发明并不局限于以上揭示的实施例,而应当涵盖各种根据本发明的本质进行的修改、等效组合。
Claims (10)
1.一种USB芯片的测试方法,用于对USB3.0芯片进行多通道测试,其特征在于,包括如下步骤:
a.USB主机的数据发生器随机产生测试数据包,并对产生的测试数据包进行标记;
b.将标记后的测试数据包随机传送至USB3.0芯片;
c.USB3.0芯片的串行接口单元将收到的测试数据包发送至USB3.0芯片的各个数据端点;
d.各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行处理;
e.数据检测器根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式。
2.如权利要求1所述的USB芯片的测试方法,其特征在于,在所述USB主机内预设有各种测试函数及USB3.0协议的所有数据协议,且所述USB主机根据USB3.0协议对USB3.0芯片各个端点同时建立传输通道。
3.如权利要求2所述的USB芯片的测试方法,其特征在于,所述步骤a具体为:所述数据发生器按照主机内存储的数据协议将测试数据包在USB3.0芯片内部的处理方式信息和位置信息写到测试数据包的固定位置处。
4.如权利要求3所述的USB芯片的测试方法,其特征在于,所述测试数据包的固定位置为测试数据包的非协议位置。
5.如权利要求4所述的USB芯片的测试方法,其特征在于,所述非协议位置为测试数据包的前四个字节。
6.如权利要求5所述的USB芯片的测试方法,其特征在于,测试数据包的处理方式信息记录于测试数据包的第3字节与第4字节。
7.如权利要求6所述的USB芯片的测试方法,其特征在于,所述处理方式包括数据被丢弃、数据被送到驱动单元处理、数据被送到存储单元及数据被返回USB主机。
8.如权利要求1所述的USB芯片的测试方法,其特征在于,在所述步骤b中,USB主机将所述标记后的测试数据包以最大负荷随机传送给USB3.0芯片。
9.如权利要求1所述的USB芯片的测试系统,用于对USB3.0芯片进行多通道测试,其特征在于,包括数据发生器、串行接口单元、数据检测器及多个数据端点;所述数据发生器随机产生测试数据包,并对产生的测试数据包进行标记,USB主机将标记后的测试数据包随机传送至所述串行接口单元,串行接口单元将收到的测试数据包进行串并转换,并将转换后的并行测试数据包发送至各个数据端点,各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行处理,所述数据检测器根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式。
10.如权利要求9所述的USB芯片的测试系统,其特征在于,还包括驱动单元及存储单元,各数据端点对测试数据包的处理方式包括数据被丢弃、数据被送到驱动单元处理、数据被送到存储单元存储及数据被返回USB主机;且所述数据检测器包括第一数据检测器与第二数据检测器,所述第一数据检测器检测数据端点是否正确将数据返回至USB主机,所述第二数据检测器检测所述数据端点是否正确将数据送到驱动单元处理及是否正确将数据存储于存储单元中。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510420484.XA CN104965166A (zh) | 2015-07-16 | 2015-07-16 | Usb芯片的测试方法及系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510420484.XA CN104965166A (zh) | 2015-07-16 | 2015-07-16 | Usb芯片的测试方法及系统 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104965166A true CN104965166A (zh) | 2015-10-07 |
Family
ID=54219209
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201510420484.XA Pending CN104965166A (zh) | 2015-07-16 | 2015-07-16 | Usb芯片的测试方法及系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN104965166A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110868321A (zh) * | 2019-11-14 | 2020-03-06 | 成都银河思亩特数字技术有限公司 | 一种基于边缘计算算法验证的故障定位方法及系统 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW200500843A (en) * | 2003-06-25 | 2005-01-01 | Genesys Logic Inc | Method using low-speed test machine to test high-speed USB transmission chip and test circuit for same |
JP2007026196A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Fuji Xerox Co Ltd | Usbテストモニタ回路 |
CN1987808A (zh) * | 2005-12-23 | 2007-06-27 | 英业达股份有限公司 | 通用串行总线端口的连接测试装置及其测试方法 |
DE102007004846A1 (de) * | 2006-01-31 | 2007-08-09 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Handhaben eines Mischmodus-Inhalts in einem Strom von Testergebnissen |
CN101021807A (zh) * | 2007-02-01 | 2007-08-22 | 炬力集成电路设计有限公司 | Usb装置测试模块、usb装置及其测试方法 |
CN102087624A (zh) * | 2009-12-02 | 2011-06-08 | 上海摩波彼克半导体有限公司 | 基于fpga模块实现usb接口功能验证测试的电路结构及其方法 |
CN202256601U (zh) * | 2011-06-15 | 2012-05-30 | 深圳安博电子有限公司 | 一种hid类usb设备测试系统 |
CN102981085A (zh) * | 2012-12-08 | 2013-03-20 | 江苏泰斯特电子设备制造有限公司 | 通用串行总线接口动态信号测试分析系统 |
CN104123212A (zh) * | 2014-07-21 | 2014-10-29 | 四川和芯微电子股份有限公司 | Usb芯片的系统测试方法 |
CN104267331A (zh) * | 2014-09-16 | 2015-01-07 | 四川和芯微电子股份有限公司 | Usb芯片的测试方法 |
CN204330784U (zh) * | 2014-08-07 | 2015-05-13 | 力合科技(湖南)股份有限公司 | 一种多通道分析仪 |
-
2015
- 2015-07-16 CN CN201510420484.XA patent/CN104965166A/zh active Pending
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW200500843A (en) * | 2003-06-25 | 2005-01-01 | Genesys Logic Inc | Method using low-speed test machine to test high-speed USB transmission chip and test circuit for same |
JP2007026196A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Fuji Xerox Co Ltd | Usbテストモニタ回路 |
CN1987808A (zh) * | 2005-12-23 | 2007-06-27 | 英业达股份有限公司 | 通用串行总线端口的连接测试装置及其测试方法 |
DE102007004846A1 (de) * | 2006-01-31 | 2007-08-09 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Handhaben eines Mischmodus-Inhalts in einem Strom von Testergebnissen |
CN101021807A (zh) * | 2007-02-01 | 2007-08-22 | 炬力集成电路设计有限公司 | Usb装置测试模块、usb装置及其测试方法 |
CN102087624A (zh) * | 2009-12-02 | 2011-06-08 | 上海摩波彼克半导体有限公司 | 基于fpga模块实现usb接口功能验证测试的电路结构及其方法 |
CN202256601U (zh) * | 2011-06-15 | 2012-05-30 | 深圳安博电子有限公司 | 一种hid类usb设备测试系统 |
CN102981085A (zh) * | 2012-12-08 | 2013-03-20 | 江苏泰斯特电子设备制造有限公司 | 通用串行总线接口动态信号测试分析系统 |
CN104123212A (zh) * | 2014-07-21 | 2014-10-29 | 四川和芯微电子股份有限公司 | Usb芯片的系统测试方法 |
CN204330784U (zh) * | 2014-08-07 | 2015-05-13 | 力合科技(湖南)股份有限公司 | 一种多通道分析仪 |
CN104267331A (zh) * | 2014-09-16 | 2015-01-07 | 四川和芯微电子股份有限公司 | Usb芯片的测试方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110868321A (zh) * | 2019-11-14 | 2020-03-06 | 成都银河思亩特数字技术有限公司 | 一种基于边缘计算算法验证的故障定位方法及系统 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105015565B (zh) | 一种列车故障信息自动显示方法 | |
CN104618054B (zh) | 参数调整方法及装置 | |
CN109714221B (zh) | 网络数据包的确定方法、装置及系统 | |
CN106201892B (zh) | 用于嵌入式软件的异常中断源定位检测方法 | |
US20100218043A1 (en) | System and method for testing a serial attached small computer system interface | |
CN106357477A (zh) | 配网测试方法及装置 | |
US9218259B2 (en) | Computing device and method for testing SOL function of a motherboard of the computing device | |
CN109634258A (zh) | 一种用于硬件在环测试的总线报文校验方法、装置及系统 | |
CN104184543B (zh) | 一种数据传输的方法、装置和系统 | |
CN103353858A (zh) | 一种基于动作触摸模拟的自动化测试方法和装置 | |
CN104699617A (zh) | 一种游戏用自动化测试方法 | |
CN104780123B (zh) | 一种网络包收发处理装置及其设计方法 | |
CN101923494B (zh) | 一种存储器控制器验证系统、方法及记分板 | |
WO2017012460A1 (zh) | 检测随机存储器故障的方法及装置、处理器 | |
CN106372026A (zh) | 一种链路检测方法和接收设备 | |
CN104123212A (zh) | Usb芯片的系统测试方法 | |
CN104965166A (zh) | Usb芯片的测试方法及系统 | |
CN107548053A (zh) | 移动终端sim卡兼容性测试方法及系统 | |
WO2015131697A1 (zh) | 多路帧随机数据验证处理方法及装置 | |
CN104993976A (zh) | 一种plc安全防护设备测评方法及系统 | |
CN111190786A (zh) | 基于uvm的测试构架、测试平台及测试方法 | |
CN106257257A (zh) | 一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪 | |
CN103294837A (zh) | 一种集成电路的验证调试方法及系统 | |
CN106487421A (zh) | 电力线载波通信测试系统及其测试方法 | |
CN105897494A (zh) | 网络传输速率的测试方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20151007 |
|
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |