JPH08190421A - 試験作業支援方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】基板上の試験ポイントの把握を容易にし、試験
作業の効率化を図る。 【構成】回路図及び実装図の図面データ、試験対象に対
する試験仕様書の図書データ、各試験項目の試験条件及
び試験結果からなる試験データをワークステーション１
上で管理する。測定器５との間で信号の授受を行い試験
作業の行れる試験用端末２をワークステーション１に接
続して当該ワークステーション１から前記試験用端末２
に試験対象の図書データ及び図面データを伝送して試験
仕様書、回路図及び実装図を表示させる。試験仕様書上
で試験ポイントとして指定された素子の回路図及び実装
図上での位置を図書データから認識して試験用端末２で
表示している回路図及び実装図上の該当素子を強調表示
する。測定器５から試験用端末２に伝送されてくる試験
結果を試験条件と共にワークステーション１へ伝送して
試験データとして管理する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、各種プラントに装備さ
れているモニタ等の機器に実装された回路基板等の試験
作業を支援するための試験作業支援システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】各種のプラント設備では、プラント内に
装備された計測機器の回路基板を、定期的に検査するこ
とにより、各計測機器が常に所定の性能を維持するよう
にしている。回路基板の試験には、試験対象となる回路
基板の回路図、同基板上での部品の実装図、及び試験仕
様書の３つの書類を使用する。実際の試験作業は、次の
よう手順にて行われている。 ａ）試験仕様書により試験条件（印加電圧，入力信号レ
ベル，信号波形等）を確認する。 ｂ）回路図、実装図を参照して、入力信号の設定、基板
上での回路定数等の試験条件をセットアップする。 ｃ）試験仕様書で試験内容（チェックポイント，確認す
べき出力信号等）を確認する。 ｄ）回路図、実装図を参照しながら基板上の該当端子，
回路素子を探してそこにオシロスコープ等の測定器を接
続する。測定器にて信号波形，レベル等を確認する。 ｅ）上記試験結果を試験成績書にまとめる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た回路基板の試験作業には次のような問題があった。試
験仕様書に記述されたチェックピン，回路素子が、試験
仕様書，回路図，実装図の相互間で関連付けられていな
いため、個々の試験項目毎に回路素子等を図面を元に基
板上で探さなければならず作業能率が悪い。特に、ハイ
ブリット化された基板では構造の複雑化に伴う工数の増
加によりその問題が顕著に現れる。

【０００４】オシロスコープ等に表示された信号波形等
の試験結果のエビデンスを残すためオシロスコープ画面
を写真撮影していたので、そのためのセッティングに時
間を要していた。また、信号波形の写真を切り貼りして
試験成績書を作成していたため試験成績書の作成にも大
きな労力を必要としていた。

【０００５】本発明は、回路基板上における試験ポイン
トの確認を容易にすることにより回路基板等の各種機器
の試験の作業性を改善する試験作業支援方法及び装置を
提供することを目的とする。

【０００６】本発明は、信号波形等の試験結果から試験
成績書を自動作成することができると共に回路変更等に
伴う試験データの変更履歴を管理可能な試験作業支援方
法及び装置を提供することを目的とする。本発明は、試
験手順を試験項目ごとに記憶しておき試験実行時に利用
でき試験の作業性を改善した試験作業支援方法及び装置
を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために以下のような手段を講じた。請求項１に対
応する本発明は、試験対象の回路図及び実装図の図面デ
ータと、試験対象に対する試験仕様書の図書データと、
各試験項目の試験条件及び試験結果からなる試験データ
とをワークステーション上で管理し、測定器との間で信
号の授受を行い試験作業の行れる試験用端末をワークス
テーションに接続して当該ワークステーションから前記
試験用端末に試験対象の図書データ及び図面データを伝
送して試験仕様書、回路図及び実装図を表示し、試験仕
様書上で試験ポイントとして指定された素子の回路図及
び実装図上での位置を前記図書データから認識して前記
試験用端末で表示している回路図及び実装図上の該当素
子を強調表示し、前記測定器から前記試験用端末に伝送
されてくる試験結果を試験条件と共に前記ワークステー
ションへ伝送して前記試験データとして管理することと
した。

【０００８】請求項２に対応する本発明は、試験対象の
回路図及び実装図の図面データ、試験対象に対する試験
仕様書の図書データ、並びに各試験項目の試験条件及び
試験結果からなる試験データが保管されるデータベース
を有するワークステーションと、このワークステーショ
ンに通信回線を介して接続されると共に試験作業を行う
ため測定器との間で信号の授受を行う試験用端末とを備
え、前記ワークステーションに、前記データベースから
試験対象の図書データ及び図面データを取り出して前記
試験用端末へ伝送する機能、前記試験用端末から当該ワ
ークステーションへ伝送されてくる試験結果及び試験条
件を前記データベースに前記試験データとして試験項目
毎に保存する機能を備えた。また、前記試験用端末に、
前記ワークステーションから伝送されてきた図書データ
及び図面データに基づいて試験対象の試験仕様書、回路
図及び実装図を表示する機能、試験仕様書上で試験ポイ
ントとして指定された素子の回路図及び実装図上での位
置を前記図書データから認識して当該試験用端末で表示
している回路図及び実装図上の該当素子を強調表示する
機能、前記測定器から当該試験用端末に伝送されてくる
試験結果を試験条件と共に前記ワークステーションへ伝
送する機能を備えた。

【０００９】請求項３に対応する本発明は、前記データ
ベースに、試験仕様書に定められた複数の試験項目をそ
の従属関係に応じてツリー状に配列した試験進捗データ
を保存し、前記ワークステーションに、前記試験進捗デ
ータに対して試験の終了した試験項目の表示形態を変更
する機能、試験進捗表示要求に応じて前記データベース
から試験進捗データを取り出して要求元へ伝送する機能
を備えた。

【００１０】請求項４に対応する本発明は、前記ワーク
ステーションに、前記データベースから試験データを取
り出して設計用端末へ伝送する機能を備え、前記設計用
端末が試験データを開発基板の入出力特性のシミュレー
ションデータとして使用するものとした。

【００１１】請求項５に対応する本発明は、前記データ
ベースに、事前に試験仕様書に従い試験のシミュレーシ
ョンを行うことにより取得したシミュレーション結果及
び試験手順からなる試験手順データを保存し、前記ワー
クステーションに、試験実行時に前記データベースから
試験手順データを取り出して前記試験用端末へ伝送する
機能を備え、前記試験用端末に、前記ワークステーショ
ンから伝送されてきた試験手順データに基づいて試験手
順をガイダンスする機能を備えた。

【００１２】請求項６に対応する本発明は、前記データ
ベースに、前記試験用端末において実行した試験の試験
手順データを保存し、前記ワークステーションに、同一
構造を有する試験対象の試験を実施するとき前記データ
ベースから試験手順データを取り出して前記試験用端末
へ伝送する機能を備え、前記試験用端末に、前記ワーク
ステーションから伝送されてきた試験手順データに基づ
いて試験を実行する機能を備えた。

【００１３】

【作用】本発明は、以上のような手段を講じたことによ
り次のような作用を奏する。請求項１に対応する本発明
によれば、試験対象の回路図及び実装図の図面データ、
試験対象に対する試験仕様書の図書データ、各試験項目
の試験条件及び試験結果からなる試験データがワークス
テーション上で管理されていて、ワークステーションか
ら試験用端末に試験対象の図書データ及び図面データが
伝送される。試験用端末では試験仕様書、回路図及び実
装図が表示されると共に、試験仕様書上で試験ポイント
として指定された素子の回路図及び実装図上での位置が
図書データから認識した回路図及び実装図上の該当素子
が強調表示される。一方、測定器から試験用端末に伝送
されてくる試験結果は試験条件と共にワークステーショ
ンへ伝送され試験データとして保存される。

【００１４】請求項２に対応する本発明によれば、ワー
クステーションでデータベースから取り出された試験対
象の図書データ及び図面データが試験用端末へ伝送され
る。試験用端末では、ワークステーションからの図書デ
ータ及び図面データに基づいて試験対象の試験仕様書、
回路図及び実装図が表示され、試験仕様書上で試験ポイ
ントとして指定された素子の回路図及び実装図上での位
置が回路図及び実装図上で強調表示される。一方、測定
器から当該試験用端末に伝送されてくる試験結果が試験
条件と共にワークステーションへ伝送される。ワークス
テーションでは試験用端末から伝送されてきた試験結果
及び試験条件がデータベースに試験データとして試験項
目毎に保存される。

【００１５】請求項３に対応する本発明によれば、デー
タベースに試験仕様書に定められた複数の試験項目をそ
の従属関係に応じてツリー状に配列した試験進捗データ
が保存され、ワークステーションが試験進捗データに対
して試験の終了した試験項目の表示形態を変更する。そ
して、試験進捗表示要求があれば、データベースから試
験進捗データが取り出され、ツリー状に配列した試験項
目のうち試験の終了した試験項目の表示形態を変えて全
体が表示される。

【００１６】請求項４に対応する本発明によれば、ワー
クステーションがデータベースから試験データを取り出
して設計用端末へ伝送する。設計用端末では試験データ
を開発基板の入出力特性のシミュレーションデータとし
て使用する。

【００１７】請求項５に対応する本発明によれば、デー
タベースに事前のシミュレーションで取得したシミュレ
ーション結果及び試験手順からなる試験手順データが保
存される。ワークステーションが験実行時にデータベー
スから試験手順データを取り出して試験用端末へ伝送す
るので、試験用端末では試験手順データに基づいて試験
手順をガイダンスする。

【００１８】請求項６に対応する本発明によれば、デー
タベースに試験用端末において実行した試験の試験手順
データが保存される。ワークステーションが同一試験対
象の試験を実施するときはデータベースから試験手順デ
ータを取り出して試験用端末へ伝送されるので、試験用
端末では試験手順データに基づいて試験を実行すること
ができる。

【００１９】

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
１には、本発明の一実施例に係る試験作業支援システム
の全体構成が示されている。本実施例は、試験仕様書，
回路図，実装図などのデータが保存されたデータベース
を有すると共に試験作業支援プログラムを搭載したエン
ジニアリング・ワークステーション（ＥＷＳ）１を備え
ている。プラント内の試験作業エリアに持ち込まれた試
験用端末２を通信ネットワーク３を介してＥＷＳ１に接
続し、その試験用端末２に回路基板４の試験を行うデジ
タルオシロスコープやデジタルボルトメータ等の測定器
５を接続する。また、設計用端末６を通信ネットワーク
３を介してＥＷＳ１に接続可能に構成している。

【００２０】ＥＷＳ１のデータベースには、試験仕様デ
ータファイル１１、回路図データファイル１２、実装図
データファイル１３、試験手順ファイル１４、試験デー
タファイル１５、進捗管理データファイル１６が設けら
れている。

【００２１】試験仕様データファイル１１は、試験仕様
書の記載内容をイメージスキャナ７で読取ることにより
試験仕様書を電子データ化したものである。具体的に
は、基板製造番号に対応して試験仕様書番号、回路図番
号及び実装図番号が定められ、試験仕様書番号に対応し
て試験項目が定められている。さらに、各試験項目に対
応して回路図及び実装図上における試験位置を示すポイ
ントデータ、試験結果の良否判定に使用する判定基準等
が定められている。

【００２２】回路図データファイル１２は、基板製造番
号に対応して該当する回路基板の回路図データが設定さ
れている。回路図データファイル１２には、回路図をイ
メージスキャナ７で読み取った回路図データが保存され
ている。

【００２３】実装図データファイル１３は、基板製造番
号に対応して該当する回路基板の実装図データが設定さ
れている。実装図データファイル１３には、実装図をイ
メージスキャナ７で読み取った実装図データが保存され
ている。なお、試験仕様書，回路図，実装図等の試験用
図書がＣＡＤシステムで作成されている場合には、その
データファイルをそのままの形でデータベースに格納し
て利用する。

【００２４】試験手順ファイル１４は、過去に回路基板
の試験において実施された試験の手順からなるシーケン
ス用試験手順データと、試験仕様書に従ったシミュレー
ションで予め決定した試験手順からなるガイダンス用試
験手順データとを格納している。

【００２５】試験データファイル１５は、図３に示すデ
ータ構造を有している。すなわち、基板製造番号に対応
して試験仕様書番号、回路図番号、実装図番号が設定さ
れていて、試験仕様書番号に対応して試験項目が設定さ
れている。各試験項目に対応して試験回数と試験条件，
試験結果が保存できるようになっている。

【００２６】進捗管理データファイル１６は、図４に示
すように、試験仕様書における試験項目をその従属関係
に応じて大項目から小項目にツリー状に分類したデータ
であり、既に実施された試験項目番号は表示形態が異な
るようなデータに変更している。

【００２７】試験用端末２は、パーソナルコンピュータ
で構成されており通信ネットワーク３を介してＥＷＳ１
との間でデータの授受を行う通信機能を備えている。Ｅ
ＷＳ１と試験用端末２とが通信ネットワーク３を介して
連携することにより、試験用端末２がクライアント側と
なりＥＷＳ１がサーバとして機能する。また、試験用端
末２は測定器５とＲＳ２３２Ｃ等の汎用インターフェー
スを介して接続されており測定器５から試験結果を取り
込むことができる。このような試験用端末２が試験作業
エリアに複数台設置されておりそれぞれ通信回線３を介
してＥＷＳ１に接続可能になっている。

【００２８】測定器５は、回路基板４の試験箇所に接続
され信号波形や出力レベルの収集を行うと共に、試験用
端末２へ信号波形，測定値を伝送する。設計用端末６
は、設計者が回路基板の開発時に使用する端末である。
ＥＷＳ１と接続してＥＷＳ１の試験データファイルから
試験データを取り出して開発中の回路の入出力特性をシ
ミュレーションする機能を備えている。

【００２９】次に、以上のように構成された本実施例の
動作について説明する。予め、試験仕様書，回路図，実
装図をイメージスキャナ７で読取り、又はＣＡＤシステ
ム等から受け取って、ＥＷＳ１のデータベースに設けら
れた各データファイル１１〜１３へ格納する。以下、試
験員に対して試験作業支援環境を提供する試験作業支援
プログラムの処理内容について図５のフローチャートを
参照して説明する。

【００３０】試験員は、試験用端末２からＥＷＳ１にロ
グインして試験作業支援プログラムを起動させる（ステ
ップＳ１）。試験作業支援プログラムが起動されると、
試験用端末２上において試験に必要な試験仕様書，回路
図，実装図の番号を受け付ける（ステップＳ２）。仕様
書番号，図面番号等が入力されると、該当する試験仕様
書，回路図，実装図のデータをＥＷＳ１のデータベース
から取り出して試験用端末２へロードする（ステップＳ
３）。

【００３１】試験員は、試験用端末２が持ち込まれた試
験作業エリア内のある回路基板の試験を実施する場合、
試験用端末２から試験条件入力モードを指示する。ま
た、試験結果を確認する場合は、試験用端末２から確認
モードを指示する。さらに、試験結果をＥＷＳ１のデー
タベース内の試験データファイル１５に格納する場合、
試験用端末２から保存モードを指示する。

【００３２】次に、現在指示されている動作モードを判
定する（ステップＳ４）。ここでは試験員から試験条件
入力モードが指定されているので試験条件入力モードで
あると判定される（ステップＳ５）。

【００３３】試験条件入力モードでは、試験用端末２の
画面上に先に取り込んだ試験仕様書データを可視化した
図２に示す試験仕様書画像Ｍ１を表示して試験対象基板
の製造番号を受け付ける（ステップＳ６）。試験基板の
製造番号が入力されると、試験仕様書上の試験項目記載
頁を呼び出して試験項目の一覧表を画面上に表示し（ス
テップＳ７）、その試験項目一覧表で試験項目番号、及
び試験チェックポイント番号を受け付ける（ステップＳ
８）。試験チェックポイント番号は試験項目の一覧表上
において各試験項目単位で定められている。試験項目番
号、及び試験チェックポイント番号が入力されると、先
に入力された回路図番号，実装図番号の回路図データ及
び実装図データを可視化した図２に示す回路図Ｍ２，実
装図Ｍ３を試験用端末２の画面上に表示させる。そし
て、回路図Ｍ２，実装図Ｍ３上における試験チェックポ
イントを、ステップＳ８で入力された試験チェックポイ
ント番号に基づいて反転表示する（ステップＳ９）。

【００３４】図６は、試験仕様書画像Ｍ１，回路図Ｍ
２，実装図Ｍ３及びデジタルオシロ信号波形からなる試
験結果画像Ｍ４の具体的な表示例を示している。同図に
示すように、試験仕様書画像Ｍ１において試験項目の選
択が行なわれる。回路図Ｍ２では試験ポイントの素子が
反転表示されていて、実装図Ｍ３では試験ポイントの素
子が反転表示されている。

【００３５】試験員は、図６に示す表示内容の画面を見
ることにより、自分で選択した試験項目、回路上での試
験ポイントの素子、実装図上での試験素子の位置を容易
に把握できる。図６に示す表示内容が正しければ試験員
が確認キーを押し下げる。

【００３６】ステップＳ９の処理において図６に示す表
示内容の確認を促し、確認キーが押し下げられたならば
実際の試験に移行する（ステップＳ１０）。表示内容が
正しくない場合、又は試験内容を変更する場合には試験
員が変更キーを押し下げる。変更キーが押し下げられた
ならば、ステップＳ４に戻ると共に改めて基板製造番号
の受け付けから開始する。

【００３７】ここで、ステップＳ１０の試験では、試験
員が図６に示す表示内容の端末画面で確認しながら測定
器５を回路基板４の試験ポイントに接続する。しかる
後、測定器５にて試験ポイントでの信号波形や出力信号
レベルを測定する。信号波形や出力信号レベルは測定器
５でデジタルデータに変換された後、汎用インターフェ
ースを介して試験用端末２へ伝送される。試験用端末２
は測定器５から伝送されてくる試験結果データを逐次保
存する。

【００３８】試験員は、ある試験項目の試験が終了する
と試験ポイントの素子の良否を判定するため試験用端末
２から確認モードの指示を行う。試験終了後に、試験用
端末２から確認モードが指示されると、ステップＳ１１
の処理において確認モードへ処理が移行される。確認モ
ードになると、測定器５から試験用端末２へ伝送され保
存されていた信号波形等のデータを図６に示すように表
示する（ステップＳ１２）。

【００３９】次に、先に読み込んだ試験仕様書上に当該
試験項目に対応して設定されていた判定基準を参照して
信号波形等の試験結果から試験ポイントの素子性能の良
否を判定する（ステップＳ１３）。その判定結果を表示
する（ステップＳ１４）。

【００４０】試験員は、試験終了後に素子の良否判定結
果を確認したならば、保存モードを指示する。保存モー
ドが指示されると（ステップＳ１５）、試験用端末２に
保存している信号波形，信号レベル，周波数等の試験結
果、試験対象となった基板の製造番号、試験項目番号、
試験条件等の試験データをＥＷＳ１へ伝送する（ステッ
プＳ１６）。ＥＷＳ１では試験データを基板の製造番号
別に試験項目毎に試験データを試験データファイル１５
に格納する。なお、特定の基板に対して同一の試験を複
数回に亙り実施した場合、図３に示すように試験回数ご
とにレビジョン番号がとられて全てのデータを保管す
る。

【００４１】また、本実施例では、ステップＳ１０にお
ける試験作業の間に実行された試験手順を試験用端末２
で収集している。試験作業の間に収集された試験手順デ
ータはステップＳ１６の処理で試験データと共にＥＷＳ
１へ伝送される。この試験手順データはデータベースの
試験手順データファイル１４に試験項目別に保存され
る。

【００４２】図５のフローチャートには図示されていな
いが、試験対象となっている同一構造の基板が複数枚あ
る場合には、ステップＳ１８の処理で保存した試験手順
をシーケンス化して同一構造の各基板の試験を実行する
度に同じシーケンスを繰り返し実行することができる。

【００４３】具体的には、最初の試験によって試験手順
データファイル１４に保存された試験手順データを試験
用端末２にロードする。試験員が測定器５を新たな試験
対象基板に接続し直す度に試験用端末２に試験開始トリ
ガを与える。試験用端末２は試験開始トリガが与えられ
ることにより、予め設定された上記シーケンスを実行す
る。このシーケンス処理には、試験用端末２から測定器
５へ動作を制御する信号の送信を含む。

【００４４】また、試験用端末２に試験シミュレータ６
を接続することができる。実際の試験を実行する前に、
事前に試験シミュレータ６を対象にしてある試験仕様書
に基づいて試験のシミュレーションを行う。このシミュ
レーション結果及び試験手順データをＥＷＳ１に保存す
る。そして、実際の試験を実施する際に、シミュレーシ
ョン結果及び試験手順を参照できるように試験用端末２
に表示して試験員に試験手順をガイダンスする。

【００４５】また、回路基板等の試験項目は、図３及び
図４に示すように、ある大項目にはさらに複数の小項目
が連なるツリー構造をなしている。大項目はそこに属す
るすべての小項目が終了したときに初めて終了したこと
になる。ＥＷＳ１は、ある試験項目の試験が終了する
と、基板製造番号、試験仕様書番号及び試験項目番号で
進捗管理データファイル１６に検索をかけて該当する試
験項目に試験終了データを登録して当該試験項目の表示
形態を異ならせるデータに変換する。ＥＷＳ１に対して
進捗情報の表示要求があれば、進捗管理データファイル
１６から進捗管理データを読み出して図４に示すような
試験項目の構造を表した進捗管理ツリーを表示すると共
に試験の終了した試験項目番号を反転表示させる。

【００４６】このように本実施例によれば、試験に必要
な試験仕様書，回路図及び実装図を同一画面上に表示す
ると共に、回路基板の試験ポイントを回路図及び実装図
の双方に強調表示させるようにしたので、回路基板上に
おける試験ポイントの把握を容易化でき、試験作業の効
率化を図ることができる。

【００４７】本実施例によれば、試験結果を自動的にＥ
ＷＳ１上に取り込んで試験データファイル１５に試験項
目番号別に保存するようにしたので、ＥＷＳ１の編集機
能を使うことにより試験成績書の作編集が可能となり試
験成績書の作成作業の効率化を図ることができる。ま
た、試験員が測定値を試験成績書へ転記する作業を削除
できることからデータの転記ミスを防止することもでき
る。

【００４８】本実施例によれば、試験仕様書，回路図，
実装図及び試験結果をＥＷＳ１上でデータベース化した
ことにより、試験仕様書，回路図及び実装図を相互に対
応付けることができ、上記したように仕様書上に登録さ
れている試験ポイントを回路図及び実装図内において対
応付けできる。また回路パラメータと回路特性（試験デ
ータ）をデータベース化したことにより、回路変更時の
影響箇所をシミュレーションでき、また試験データの変
更履歴を管理することもできる。

【００４９】本実施例によれば、ＥＷＳ１のデータベー
スに試験結果データを保存しているので、設計用端末６
に試験結果データを取り込むことができ設計段階で回路
特性をシミュレーションして回路パラメータを最適化す
ることができる。すなわち、基板開発ツールとして利用
できる。

【００５０】本実施例によれば、試験仕様書の試験項目
の進捗状況を試験項目の相互間の関連を表すツリー構造
にして進捗管理データファイル１６に保存し、画面上に
表示する際には試験の完了した試験項目番号を強調して
表示させるようにしたので、試験の進捗状況を極めて容
易に把握することができる。

【００５１】本実施例によれば、試験手順を試験手順デ
ータファイル１４に保存して同一構造の基板を試験する
際にその試験手順を取り出してシーケンス処理とするよ
うにしたので、同一構造の基板であれば試験作業を大幅
に軽減できる。

【００５２】図７は上記実施例の変形例を示している。
本変形例では、試験対象基板に対する試験条件設定を試
験治具２０で行う。試験治具２０を試験用端末２から動
作制御することにより試験条件の設定を行う。この変形
例によれば、試験用端末２にＥＷＳ１からロードされた
試験手順に従い基板４の自動試験を行うことができる。

【００５３】なお、これまで基板の試験について説明し
てきたが、基板に限らずＲＳ２３２Ｃ，ＧＰ−ＩＢのよ
うなインターフェースを介して接続される装置の試験に
も適用できる。本発明は上記実施例に限定されるもので
はなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々変形実
施可能である。

【００５４】

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、試
験に必要な試験仕様書，回路図及び実装図を表示すると
共に、回路基板の試験ポイントを回路図及び実装図の双
方に強調表示させるようにしたので、回路基板上におけ
る試験ポイントの把握を容易化でき、試験作業の効率化
を図ることができる。

【００５５】本発明によれば、試験結果を自動的にワー
クステーション上に取り込んで試験項目番号別に保存す
るようにしたので、その後に試験成績書の作編集を容易
に行うことができ、試験成績書の作成作業の効率化を図
ることができる。

【００５６】本発明によれば、試験データをデータベー
ス化したことにより、回路変更時の影響箇所をシミュレ
ーションでき、また試験データの変更履歴を管理するこ
ともできる。

【００５７】本発明によれば、ワークステーションで試
験結果データを管理しているので、設計用端末に試験結
果データを取り込むことができ、設計段階で回路特性を
シミュレーションして回路パラメータを最適化すること
ができる。

【００５８】本発明によれば、試験仕様書の試験項目の
進捗状況を試験項目の相互間の関連を表すツリー構造に
して保存するので、試験の進捗状況を極めて容易に把握
することができる。

【００５９】本実施例によれば、試験手順をワークステ
ーション上に保存して同一構造の基板を試験する際にそ
の試験手順を取り出して使用できるようにしたので、試
験のシーケンス化が可能で同一構造の基板であれば試験
作業を大幅に軽減できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係る試験作業支援システム
の全体構成図である。

【図２】図１の試験作業支援システムの機能ブロック図
である。

【図３】図１の試験作業支援システムに備えた試験デー
タファイルにおけるデータ構成図である。

【図４】進捗管理データの表示例を示す図である。

【図５】図１の試験作業支援システムの動作を示すフフ
ローチャートである。

【図６】図１の試験作業支援システムに備えた試験用端
末の表示画面の表示例を示す図である。

【図７】本発明の変形例の構成図である。

【符号の説明】

１…エンジニアリング・ワークステーション、２…試験
用端末、３…通信ネットワーク、４…回路基板、５…測
定器、６…設計用端末、７…試験シミュレータ、１１…
試験仕様データファイル、１２…回路図データファイ
ル、１３…実装図データファイル、１４…試験手順ファ
イル、１５…試験データファイル、１６…進捗管理デー
タファイル。

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｒ 31/28

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 試験対象の回路図及び実装図の図面デー
   タと、試験対象に対する試験仕様書の図書データと、各
   試験項目の試験条件及び試験結果からなる試験データと
   をワークステーション上で管理し、 測定器との間で信号の授受を行い試験作業の行れる試験
   用端末をワークステーションに接続して当該ワークステ
   ーションから前記試験用端末に試験対象の図書データ及
   び図面データを伝送して試験仕様書、回路図及び実装図
   を表示し、 試験仕様書上で試験ポイントとして指定された素子の回
   路図及び実装図上での位置を前記図書データから認識し
   て前記試験用端末で表示している回路図及び実装図上の
   該当素子を強調表示し、 前記測定器から前記試験用端末に伝送されてくる試験結
   果を試験条件と共に前記ワークステーションへ伝送して
   前記試験データとして管理することを特徴とする試験作
   業支援方法。
2. 【請求項２】 試験対象の回路図及び実装図の図面デー
   タ、試験対象に対する試験仕様書の図書データ、並びに
   各試験項目の試験条件及び試験結果からなる試験データ
   が保管されるデータベースを有するワークステーション
   と、このワークステーションに通信回線を介して接続さ
   れると共に試験作業を行うため測定器との間で信号の授
   受を行う試験用端末とを備え、 前記ワークステーションは、前記データベースから試験
   対象の図書データ及び図面データを取り出して前記試験
   用端末へ伝送する機能、前記試験用端末から当該ワーク
   ステーションへ伝送されてくる試験結果及び試験条件を
   前記データベースに前記試験データとして試験項目毎に
   保存する機能を備え、 前記試験用端末は、前記ワークステーションから伝送さ
   れてきた図書データ及び図面データに基づいて試験対象
   の試験仕様書、回路図及び実装図を表示する機能、試験
   仕様書上で試験ポイントとして指定された素子の回路図
   及び実装図上での位置を前記図書データから認識して当
   該試験用端末で表示している回路図及び実装図上の該当
   素子を強調表示する機能、前記測定器から当該試験用端
   末に伝送されてくる試験結果を試験条件と共に前記ワー
   クステーションへ伝送する機能を備えたことを特徴とす
   る試験作業支援装置。
3. 【請求項３】 前記データベースに、試験仕様書に定め
   られた複数の試験項目をその従属関係に応じてツリー状
   に配列した試験進捗データを保存し、 前記ワークステーションに、前記試験進捗データに対し
   て試験の終了した試験項目の表示形態を変更する機能、
   試験進捗表示要求に応じて前記データベースから試験進
   捗データを取り出して要求元へ伝送する機能を備えたこ
   とを特徴とする請求項２記載の試験作業支援装置。
4. 【請求項４】 前記ワークステーションに、前記データ
   ベースから試験データを取り出して設計用端末へ伝送す
   る機能を備え、 前記設計用端末が試験データを開発基板の入出力特性の
   シミュレーションデータとして使用することを特徴とす
   る請求項２記載の試験作業支援装置。
5. 【請求項５】 前記データベースに、事前に試験仕様書
   に従い試験のシミュレーションを行うことにより取得し
   たシミュレーション結果及び試験手順からなる試験手順
   データを保存し、 前記ワークステーションに、試験実行時に前記データベ
   ースから試験手順データを取り出して前記試験用端末へ
   伝送する機能を備え、 前記試験用端末に、前記ワークステーションから伝送さ
   れてきた試験手順データに基づいて試験手順をガイダン
   スする機能を備えたことを特徴とする請求項２に記載の
   試験作業支援装置。
6. 【請求項６】 前記データベースに、前記試験用端末に
   おいて実行した試験の試験手順データを保存し、 前記ワークステーションに、同一構造を有する試験対象
   の試験を実施するとき前記データベースから試験手順デ
   ータを取り出して前記試験用端末へ伝送する機能を備
   え、 前記試験用端末に、前記ワークステーションから伝送さ
   れてきた試験手順データに基づいて試験を実行する機能
   を備えたことを特徴とする請求項２に記載の試験作業支
   援装置。