JPS5842967B2 - レベル検出回路 - Google Patents

レベル検出回路

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JPS5842967B2
JPS5842967B2 JP14400478A JP14400478A JPS5842967B2 JP S5842967 B2 JPS5842967 B2 JP S5842967B2 JP 14400478 A JP14400478 A JP 14400478A JP 14400478 A JP14400478 A JP 14400478A JP S5842967 B2 JPS5842967 B2 JP S5842967B2
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JP
Japan
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transistor
level
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detection circuit
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JP14400478A
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JPS5570129A (en
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寛 江川
忠昭 増森
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16504Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the components employed
    • G01R19/16519Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the components employed using FET's

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は高インピーダンス素子である電界効果トラン
ジスタをもって権威されるレベル検出回路に関する。
電界効果トランジスタ(以下トランジスタと称する)を
用いたレベル検出回路は、電位の高、低を2進情報の”
1”、”0″に対応させた2値情報信号を検出する情報
検出回路として、MO8記憶素子、MO8論理素子など
に使用されている。
このようなレベル検出回路は、入力信号の電位をあらか
じめ定められた基準電位と比較し、入力信号の電位がこ
の基準電位より高い電位にある場合は入力信号の電位を
高電位のレベルとななし、逆に基準電位より低い電位に
ある場合は入力信号の電位を低電位のレベルとみなし、
この入力信号の電位レベルに応じた信号を出力する機能
をもっている。
従来、この種のレベル検出回路として第1図に示すフリ
ップフロップ形式の回路が周知である。
即ちトランジスタT1及びT2はそのソースがトランジ
スタT3を通じて接地され、ドレインはそれぞれ互に相
手のゲートに接続されると共にトランジスタT4及びT
、を通じて電圧VDの電源端子11に接続され、ゲート
はそれぞれ入力端子12及び基準電圧端子13に接続さ
れる。
基準電圧端子13の基準電位VB、は基準電圧発生回路
(図示せず)で生成され、その基準電圧発生回路の等価
出力インピーダンスZB、は端子13及び接地間に素子
14として接続される。
端子12に入力信号の電位Viが与えられ、その入力信
号系の等価インピーダンスZiは端子12及び接地間に
素子15として表わされる。
この第1図に示したレベル検出回路の動作については周
知であるので、その詳細な説明は省略し、この発明に係
る問題点について説明する。
その説明に当り、適用されるトランジスタT1〜T、は
工ンハンスメント形nチャンネルMO8)ランジスタと
し、電源電圧VDは現状におけるMO8LSIで一般的
である12Vとして説明する。
トランジスタT4及びT5の各ゲートが与えられる制御
信号φ1及びトランジスタT3のゲートに与えられる制
御信号φ2はそれぞれMO8信号レベルでの高電位レベ
ル(以下Hレベルと記す)と低電位レベル(以下Lレベ
ルと記す)の2値的な状態をとる。
MO8信号レベルでのHレベルはIOV〜12Vの電位
レベルで、またLレベルはしきい値電圧vt以下の電位
レベルである。
この条件下においてレベル検出回路が待機期間、すなわ
ち入力信号が有意な電位レベルとなって、レベル検出回
路が検出動作を開始するまでの期間では制御信号φ1は
Hレベルにあり、トランジスタT4.T、は共にオン状
態にある。
−力制御信号φ2はLレベルにあり、トランジスタT3
はオフ状態にある。
したがって待機期間にはトランジスタT2及びT5の接
続点17、すなわち入力信号端子12はトランジスタT
5を介して高い電位にクランプされる。
この電位は制御信号φ1のHレベルの電位を■φHとす
ると、(■φHet)で表わされる。
このように入力端子12はレベル検出回路によって高電
位にクランプされるために、この検出回路を素子のイン
タフェース回路として使用し、他の素子と接続すること
が不可能な場合が生じる。
例えば、5■の電源電圧で動作するTTL論理素子をこ
のレベル検出回路に接続する場合、TTL論理素子の耐
圧を越えるIOV近傍の高い電位がTTL論理素子に印
加されることとなる。
またフリップフロップ形式のレベル検出回路では、その
検出感度はトランジスタT1.T4の接続点16また接
続点17にそれぞれ接続されるインピーダンス素子14
及び15に依存し、これ等インピーダンス素子のインピ
ーダンスZR2Z工がアンバランスになるに従って検出
感度は劣下する。
このことはインタフェース部での寄生容量は一般に大き
くなることを考慮すると、このレベル検出回路をインタ
フェース回路としてそのま\使用することは不可能であ
ることを示している。
この発明は上記欠点を除去し、レベル検出回路の入力信
号系回路への結合条件を緩和し、例えばTTL論理素子
と結合できる回路を提供することを目的としている。
この発明の他の目的は負荷のアンバランスを軽減し、高
感度のレベル検出回路を提供することにある。
さらに入力信号の電位に合せて自動的に基準電圧を可変
することができるレベル検出回路を提供することを更に
目的とする。
第2図はこの発明によるレベル検出回路の実施例を示す
入力端子12はゲート回路部18を構成するゲートトラ
ンジスタT6を通じてレベル検出回路部19に接続され
る。
レベル検出回路部19は入力信号をもとに自ずから基準
電位を発生し、入力信号の電位変化を検出する。
検出回路部19ではフリップフロップを構成するトラン
ジスタT7.T8はそのソースが互に接続されてトラン
ジスタT3を通じて接地され、ドレインは互に相手のゲ
ートに接続されると共に基準電位を発生するためのトラ
ンジスタT9のゲート及びソースにそれぞれ接続され、
トランジスタT9のドレインは電源端子11に接続され
、トランジスタT8のゲートはトランジスタT6に接続
される。
トランジスタT7.T8及びトランジスタT9の接続点
21.22は出力回路部23のトランジスタT10 t
T11にそれぞれ接続され、トランジスタTIOj
T’ttの各ソースはトランジスタT3を通じて接地さ
れ、各ドレインはそれぞれトランジスタT4P T5を
通じて電源端子11に接続される。
この出力回路部23は検出回路部19の出力をMO8信
号レベルに変換するものである。
トランジスタT3のゲートには制御信号φ2が与えられ
、このトランジスタT3は検出回路部19及び出力回路
部23に兼用されている。
トランジスタT4. T5の各ゲートに制御信号φ1が
与゛えられ、トランジスタT6のゲートに制御信号φ3
が印加される。
入力端子12はTTL論理素子24の出力側に接続され
ると共に抵抗素子25を通じて電源端子26に接続され
る。
この実施例において入力端子12に印加される入力信号
はTTL信号レベルからMO8信号レベルまで任意の信
号レベルをとることができるが、こ\では説明の便宜上
、Hレベルが5■でLレベルがトランジスタのしきい値
電圧■tより小さい0.3■程度のTTL信号レベルの
場合について説明する。
待機期間において、入力端子12に接続されるTTL論
理素子24の出力はHレベルにあり、プルアップ抵抗素
子25を介して入力端子12は5■のHレベルに設定さ
れている。
また制御信号φ1.φ3はともにMO8信号レベルのH
レベル、すなわち10Vを越える高い電位に設定され、
トランジスタT4.T5.T6はオン状態にある。
−力制御信号φ2はMO8信号レベルのLレベルにあり
、トランジスタT3はオフ状態にある。
接続点21はトランジスタT6を介して入力端子12と
等しい電位の5■にある。
トランジスタT9は入力信号の電位に従って基準電位を
発生する機能をもつ。
すなわち接続点21の電位v6をトランジスタT9のゲ
ートに印加することによってトランジスタT9のソース
、即ち接続点22は(Va−Vt)の電位に固定される
この接続点22の電位(Va Vl)が基準電位であ
る。
こ\で■6は接続点21の電位で入力信号Hレベルの5
■と等しく、vtはトランジスタT。
のしきい値電圧で、一般に1v程度である。
こ\でvt=1vとすると基準電位は4vとなる。
したがってフリップフロップを形成するトランジスタT
7.T8において、そのT7のゲートには基準電位4v
が印加され、T8のゲートには入力信号Hレベルの5■
が印加されることになる。
以上の説明から明らかなようにこの発明に係わるレベル
検出回路では基準電位は入力信号のHレベルの電位から
しきい値電圧■tだけ低い電位に自動的に設定される。
またこの待機期間において、トランジスタT7 t ’
r3の接続点27はトランジスタT3あるいは’rto
を′介して(Ve Vt )の電位に固定され、接続
点22の電位と等しくなる。
トランジスタ’I’ttのゲート及びソースの電位は等
しく、このためトランジスタ’I”ttはオフ状態にあ
り、トランジスタT’toのソース電位及びゲート電位
の差はしきい値電圧■tと等しく、トランジスタ’I”
t。
のソース−ドレイン間抵抗は犬となる。
このため接続点16.17の電位は制御信号φ1のHレ
ベルの電位VφHによって定まる(Vφnet)の電位
に固定される。
次に起動期間における動作について説明する。
入力信号は待機期間における5■のHレベルの状態から
2進情報”1”、′0”に従って、”1”の場合は5■
のHレベルの状態を持続し、0”の場合はある時刻t、
よりLレベルへ変化を開始する。
このLレベルへの変化がある場合において入力端子12
の電位が基準電位4■よりも下がる時刻t2で制御信号
φ3をHレベルからLレベルへ変化させ、トランジスタ
T6をオフ状態としてレベル検出回路部19と入力端子
12とを切離し、入力端子12?こ寄生する比較的大き
い寄生容量をレベル検出回路部19から分離する。
また時刻t2に制御信号φ1をHレベルからLレベルへ
変化させ、トランジスタT4.T、をオフ状態とする。
時刻t2における各接続点の電位は、以下に説明するレ
ベル検出時刻t3まで、時刻t2における電位が各接続
点に寄生する寄生容量に蓄積された電荷によって保存さ
れる。
すなわち、接続点21は時刻t2における入力端子12
の電位を、接続点16.17.27に待機状態における
電位を保存する。
また接続点22は入力信号の変化のいかんにかかわらず
、入力信号がLレベルに変化した場合でもトランジスタ
T9がオフ状態となるために、待期状態で発生した基準
電位を保存する。
かかる状態における時刻t3に制御信号φ3をLレベル
からHレベルへ変化させ、トランジスタT3をオン状態
にすると、接続点27における寄生容量に蓄積されてい
る電荷が放電され、接続点27の電位は低下する。
これに応じて接続点21.22の電位条件により、接続
点21の電位が接続点22の電位より高い場合はトラン
ジスタT8はオン状態となり、接続点22の寄生容量に
蓄積されていた電荷がトランジスタT8.T3を介して
放電し、低い電位にあった接続点22の電位をさらに低
い電位にする。
このためトランジスタT7はオフ状態を持続し、接続点
21の電位は時刻t2の電位をそのまS接続する。
逆に接続点21の電位が接続点22の電位より低い場合
は、接続点22の高い電位がそのま\持続され、接続点
21の低い電位はさらに低い電位となる。
このようにして時刻t2において接続点21.22の微
小な電位差は時刻t3における制御信号φ2のLレベル
からHレベルへの変化によって増幅拡大され、2進情報
”1”0”の検出を確固たるものにする。
以上の動作に応じて接続点21の電位が接続点22の電
位より高い場合はトランジスタT’toがオン状態、ト
ランジスタT’ttはオフ状態となり、接続点16はM
O8信号レベルのLレベルに、接続点11はMO8信号
レベノ3のHレベルとなる。
接続点22の電位が接続点21の電位より高い場合は接
続点16はMO8信号レベルのHレベルに、接続点17
はMO8信号レベルのLレベルとなる。
以上説明したように、2進情報”1”に対応して入力信
号がTTL信号レベルのHレベルを持続する場合、入力
信号”1”を検出して接続点16をMO8信号レベルの
Lレベルに、また接続点17をMO8信号レベルのHレ
ベルに増幅して出力する。
また入力信号が2進情報″″0”に対応してTTL信号
レベルのHレベルからLレベルへ変化した場合は、入力
信号“0”を検出して接続点16をMO8信号レベルの
Hレベルに、接続点17をMO8信号レベルのLレベル
に増幅して出力する。
なお上述では基準電位発生部として1個のトランジスタ
T9を用いたが、複数個のトランジスタを用いてしきい
値■tの複数倍だけ、時期中の高電位レベルより低い基
準電位とすることもできる。
或いはトランジスタT7.T8などの異なるしきい値の
トランジスタをT、として用いて、基準電位を任意に設
定することもできる。
以上の説明から明らかなように、この発明に係わるレベ
ル検出回路では、待機期間に入力信号のHレベルの電位
を入力端子に印加し、この電位からトランジスタのしき
い値電圧だけ低い電位に基準電位を設定するために、入
力信号の電位レベルはTTL信号レベルからMO8信号
レベルまでの任意の信号レベルに対して適用でき、かつ
単一のトランジスタによって基準電位を発生できる利点
がある。
またレベル検出時刻においてはレベル検出回路部はゲー
トトランジスタT6によって入力端子と分離する場合は
、入力端子の比較的大きい寄生容量がレベル検出回路か
ら切離される結果、フリップフロップ回路の接続点21
.22の等価寄生容量をはゾ等しくすることができ、レ
ベル検出回路の検出感度を高めることができる。
さらにゲートトランジスタT6をオフ状態とする時刻t
2以降は、レベル検出動作が完了していない時刻以前に
入力信号は次のサイクルのための待機期間に移行し、入
力端子を変化することができ、高速動作が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のレベル検出回路を示す接続図、第2図は
この発明によるレベル検出回路の一実施例を示す接続図
である。 11・・・・・・電源電圧端子、12・・・・・・入力
端子、18・・・・・・ゲート回路部、19・・・・・
・レベル検出回路部、23・・・・・・出力回路部、T
7.T8・・・・・・フリップフロップ回路用電界効果
トランジスタ、T、・・・・・・基準電位発生用電界効
果トランジスタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 第1トランジスタ及び第2トランジスタの各ソース
    が互いに接続され、その接続点は第3トランジスタのド
    レインに接続され、上記第3トランジスタのソースは電
    源の一端に接続され、上記第1トランジスタのドレイン
    は上記第2トランジスタのゲートに接続されると共に第
    4トランジスタのゲートに接続され、上記第2トランジ
    スタのドレインは上記第1トランジスタのゲートに接続
    されると共に上記第4トランジスタのソースに接続され
    、上記第4トランジスタのドレインは上記電源の他端に
    接続され、上記第2トランジスタのゲートに、待機期間
    中に高電位レベルを出力する被検出レベル信号源が接続
    され、上記第3トランジスタのゲートに、上記待機期間
    中にその第3トランジスタをオフとし、検出期間中にオ
    ンにする制御信号を与える制御信号源が接続され、上記
    待機期間中に上記高電位レベルが上記第4トランジスタ
    のゲートに入力され、そのレベルに応じたソース電位が
    上記第1トランジスタのゲートに基準電位として与えら
    れてなるレベル検出回路。
JP14400478A 1978-11-20 1978-11-20 レベル検出回路 Expired JPS5842967B2 (ja)

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