JPS5842956A - 平板条片傷検査装置における傷弁別方法および装置 - Google Patents
平板条片傷検査装置における傷弁別方法および装置Info
- Publication number
- JPS5842956A JPS5842956A JP14069881A JP14069881A JPS5842956A JP S5842956 A JPS5842956 A JP S5842956A JP 14069881 A JP14069881 A JP 14069881A JP 14069881 A JP14069881 A JP 14069881A JP S5842956 A JPS5842956 A JP S5842956A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw
- signal
- pulses
- pulse
- polarity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/8921—Streaks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は銅条や部分的に帯状メッキを施された平板条の
傷検査装置における傷の弁別方法および装置に関する。
傷検査装置における傷の弁別方法および装置に関する。
銅条や部分的帯状メッキ付き平板条の傷の有無を検出す
る方法としては、被検査物に光を照射し。
る方法としては、被検査物に光を照射し。
その反射光をイメージセンナにより受光してビデオ信号
に変換し、このビデオ信号を電気的にアナログ遅延また
は微分処理してビデオ信号の急使な変化に対応しかつそ
の変化方向に応じた極性を有する走査パルス信号を発生
し、この走査パルス信号をスレッシホルトレベル変換処
理することにより傷信号を取出す方法が用いられてきた
。
に変換し、このビデオ信号を電気的にアナログ遅延また
は微分処理してビデオ信号の急使な変化に対応しかつそ
の変化方向に応じた極性を有する走査パルス信号を発生
し、この走査パルス信号をスレッシホルトレベル変換処
理することにより傷信号を取出す方法が用いられてきた
。
このような検出方法においては、ビデオ信号の急使な変
化は必ずしも傷がある場合のみに発生するものではなく
、銅条または平板条の両端部位やメッキ境界部位におけ
る必然的な寸法的変化に対応して傷信号と同様な信号が
発生される。それ故。
化は必ずしも傷がある場合のみに発生するものではなく
、銅条または平板条の両端部位やメッキ境界部位におけ
る必然的な寸法的変化に対応して傷信号と同様な信号が
発生される。それ故。
この必然的な寸法的変化信号と検出されるべき傷信号と
を弁別するをめに、ディジタルスイッチ、カウンタ手段
により傷信号以外の信号をカットするためのゲート信号
を作り、このゲート信号と走査時のパルス信号とをＡＮ
Ｄゲートに人力させて傷信号のみを検出するよう用いら
れてきた。このような傷信号のみを検出するための方法
は、被検査物の寸法関係が異なった場合にディジタルス
イッチの設定値の変更や寸法の誤差または変動による傷
信号の弁別ミ、予等の５ように繁雑な手数を必要としか
つ弁別ミスを生ずる恐れのあるものであった。
１こ− また、傷信号の別の弁苅方法にして、平板条を１回走査
する毎に現出される全ての傷信号と着像されうる信号の
数をカウントし、平板条の形体により発生される傷信号
に類似する信号の数を予め設定し、前記走査による信号
数からこの設定信号数をマイナスして求められた数値が
プラスの値であるとすには傷が検出されたと弁別する方
法も用いられてきた。しかしながら、この信号数の差に
より傷の有無を弁別する方法では、平板条や帯状メッキ
の面レベルの変動をカウントしてしまったり、あるいは
メッキ層が薄い場合、ビデオ信号から変換された走査パ
ルス信号のレベルがスレツシホルドレはルに達せずにカ
ウントされない場合が生じえ、それ故、走査による信号
数が必ずし□も設定信号数を正確に包含しているもので
はなく、傷の有無を完全に検出するには不満足なもので
あった。
を弁別するをめに、ディジタルスイッチ、カウンタ手段
により傷信号以外の信号をカットするためのゲート信号
を作り、このゲート信号と走査時のパルス信号とをＡＮ
Ｄゲートに人力させて傷信号のみを検出するよう用いら
れてきた。このような傷信号のみを検出するための方法
は、被検査物の寸法関係が異なった場合にディジタルス
イッチの設定値の変更や寸法の誤差または変動による傷
信号の弁別ミ、予等の５ように繁雑な手数を必要としか
つ弁別ミスを生ずる恐れのあるものであった。
１こ− また、傷信号の別の弁苅方法にして、平板条を１回走査
する毎に現出される全ての傷信号と着像されうる信号の
数をカウントし、平板条の形体により発生される傷信号
に類似する信号の数を予め設定し、前記走査による信号
数からこの設定信号数をマイナスして求められた数値が
プラスの値であるとすには傷が検出されたと弁別する方
法も用いられてきた。しかしながら、この信号数の差に
より傷の有無を弁別する方法では、平板条や帯状メッキ
の面レベルの変動をカウントしてしまったり、あるいは
メッキ層が薄い場合、ビデオ信号から変換された走査パ
ルス信号のレベルがスレツシホルドレはルに達せずにカ
ウントされない場合が生じえ、それ故、走査による信号
数が必ずし□も設定信号数を正確に包含しているもので
はなく、傷の有無を完全に検出するには不満足なもので
あった。
従って１本発明の目的は、上述の如き従来技術における
欠点を除去し、どのような形体の銅条あるいは部分的に
帯状めっきを複数本節こされた平板条であっても、傷信
号のみを確実に検出および弁別できる方法および装置を
提供することにある。
欠点を除去し、どのような形体の銅条あるいは部分的に
帯状めっきを複数本節こされた平板条であっても、傷信
号のみを確実に検出および弁別できる方法および装置を
提供することにある。
本発明による平板条傷検査装置のための傷検出方法は、
平板条の走査方向に対して立上る端部位やメッキ境界部
位等における走査・ξルス信号カニ一方の極性を有し、
立下り部にお（・てレマ他方の極性を有するのに対し、
傷がある場合＆（＆！ 、相互に対向する極性を有する
２つの走査〕ξルス信号力１連続して生起されることに
漫眼して考え出されたものであり、以下、図面と共に本
発明による実施ψりに９いて説明する。
平板条の走査方向に対して立上る端部位やメッキ境界部
位等における走査・ξルス信号カニ一方の極性を有し、
立下り部にお（・てレマ他方の極性を有するのに対し、
傷がある場合＆（＆！ 、相互に対向する極性を有する
２つの走査〕ξルス信号力１連続して生起されることに
漫眼して考え出されたものであり、以下、図面と共に本
発明による実施ψりに９いて説明する。
第１図に誇張された形体で示されるような帯状メッキ１
を部蒜的に施され力ζつ凸状および凹状形傷の弁別を説
明する。
を部蒜的に施され力ζつ凸状および凹状形傷の弁別を説
明する。
この平板条４をＧＯＤセンサ等の光電子的センサ１０に
より走査を行うと、平板条４の面の凹凸に応じた信号レ
ベルを有するビデオ信号ａ（第２図）が得られる。この
ビデオ信号ａ＆家電気的にアナログ遅延または微分処理
を行う処理装置１１に送られて、ビデ芽信号αの立上り
にお−〜て一方の極性（例廠ば、プラス極性）を有し力
・つ立下りにおいて対向する極性（この場合、マイナス
極性）を有するパルス信号すに変換される。この７モル
ス信号すの％には、パルスＸおよびｙ４力１平板条４の
走査開始および終了側端部、ノξルスＸおよびキーの走
査開始および終了側境界部、そしてノξルスｙ３および
Ｘが凹状傷６にそれぞれ対応して発生されるパルス信号
である。
より走査を行うと、平板条４の面の凹凸に応じた信号レ
ベルを有するビデオ信号ａ（第２図）が得られる。この
ビデオ信号ａ＆家電気的にアナログ遅延または微分処理
を行う処理装置１１に送られて、ビデ芽信号αの立上り
にお−〜て一方の極性（例廠ば、プラス極性）を有し力
・つ立下りにおいて対向する極性（この場合、マイナス
極性）を有するパルス信号すに変換される。この７モル
ス信号すの％には、パルスＸおよびｙ４力１平板条４の
走査開始および終了側端部、ノξルスＸおよびキーの走
査開始および終了側境界部、そしてノξルスｙ３および
Ｘが凹状傷６にそれぞれ対応して発生されるパルス信号
である。
平板条の凹凸に対応したノモルス信号り＆末、プラスお
よびマイナスレベルを有するスレッシホルト９装置１２
に加えられそれぞれ、ＴＴＬレベルのノξルス信号Ｃお
よびｄを得る。このＴＴＬレヘル、１！ルス信号Ｃおｉ
びｄの各々は、その・ξルスの立下りによりトリガーさ
れかつ子板条端部、帯状メッキ境界部の信号の間隔より
狭（Ｓ）々シス１隅のワンショットパルスを発生するマ
ルチノくイブレータ１６および１４に夫々加えられゲー
ト信号ｅおよびｆをそれぞれ発生させる。
よびマイナスレベルを有するスレッシホルト９装置１２
に加えられそれぞれ、ＴＴＬレベルのノξルス信号Ｃお
よびｄを得る。このＴＴＬレヘル、１！ルス信号Ｃおｉ
びｄの各々は、その・ξルスの立下りによりトリガーさ
れかつ子板条端部、帯状メッキ境界部の信号の間隔より
狭（Ｓ）々シス１隅のワンショットパルスを発生するマ
ルチノくイブレータ１６および１４に夫々加えられゲー
ト信号ｅおよびｆをそれぞれ発生させる。
か（の如く発生される、ＴＴＬレベルノ＄ルス信号Ｃは
、パルス信号性により発生されるゲート信号ｆと共にＡ
ＮＩ）ゲート１６に人力される。これにより凹状傷６に
対応するパルスのみが傷信号ｙ１として出力され、一方
、ＴＴＬレベルパルス信号ｄは、パルス信号Ｃにより発
生されるゲート信号ｅと共に同様にＡＮＤゲート１５に
人力されて凸状傷２に対応するパルスのみが傷信号Ｉ２
として弁別されることとなる。このようにして２個の
傷信号を含むダが得られる。
、パルス信号性により発生されるゲート信号ｆと共にＡ
ＮＩ）ゲート１６に人力される。これにより凹状傷６に
対応するパルスのみが傷信号ｙ１として出力され、一方
、ＴＴＬレベルパルス信号ｄは、パルス信号Ｃにより発
生されるゲート信号ｅと共に同様にＡＮＤゲート１５に
人力されて凸状傷２に対応するパルスのみが傷信号Ｉ２
として弁別されることとなる。このようにして２個の
傷信号を含むダが得られる。
以上述べた如く、本発明によれば、走査−検出された必
然的信号と傷信号とを包含した信号から傷信号のみを弁
別するのにワンショットパルス発生器とＡＮＤゲート回
路のみで処理できるために、従来のディジタルスイッチ
やカウンタ等の複雑な回路構成を回避できかつ、被検査
物の寸法形体によって設定値の変更や機器の調整を行う
必要を完全に不要とするものであり、また、銅面やメッ
キ面のレベル変動に対して全く影響されることなしに、
常に、傷の有無を正確に検出できる。更に。
然的信号と傷信号とを包含した信号から傷信号のみを弁
別するのにワンショットパルス発生器とＡＮＤゲート回
路のみで処理できるために、従来のディジタルスイッチ
やカウンタ等の複雑な回路構成を回避できかつ、被検査
物の寸法形体によって設定値の変更や機器の調整を行う
必要を完全に不要とするものであり、また、銅面やメッ
キ面のレベル変動に対して全く影響されることなしに、
常に、傷の有無を正確に検出できる。更に。
帯状メッキの本数が変化された場合にあっても何らの調
整を行うことなく傷の検出を確実に遂行できるものであ
る。
整を行うことなく傷の検出を確実に遂行できるものであ
る。
第１図は傷を有する平板条の例を示す断面図。
第２図は第１図に示す平板条から傷を検出する方１・・
・帯状メッキ ２・・・凸状傷 ６・・・凹状傷 ４・・・平板条 １０・・・光学的センナ １１・・・信号処理回路 １２・・・スレシホルト装置
・帯状メッキ ２・・・凸状傷 ６・・・凹状傷 ４・・・平板条 １０・・・光学的センナ １１・・・信号処理回路 １２・・・スレシホルト装置
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、部分的帯状メッキを有する平板条片を走査してビデ
オ信号を発生させ、ビデオ信号をアナログ遅延または微
分によりノルス信号に変換し。 このパルス信号の内の一方の極性をもつパルスを抽出す
ると共にその立下りをトリガーパルスとして適当な幅を
有するワンショットパルスを発生し、上記パルス信号の
内の他方の極性をもつパルスト上記ワンショットパルス
との論理積をとる、上記パルス信号から傷信号を検出す
ることを特徴とする平板条片傷検査装置における傷弁別
方法。 ２、部分的帯状メッキを有する平板条片を走査してビデ
オ信号を発生する装置と、上記ビデオ信号をその立上り
部と立下り部において異る極性を有するパルスに変換す
る装置と、一方の極性を有する上記パルスの立下り部に
よりトリガーされるワンショットパルス発生器と、上記
ワンショットパルス発生器に接続する一方の入力および
他方の極性を有する上記パルスを他方の入力とするＡＮ
Ｄ回路と、からなる平板条片傷検査装置における傷信号
弁別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14069881A JPS5842956A (ja) | 1981-09-07 | 1981-09-07 | 平板条片傷検査装置における傷弁別方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14069881A JPS5842956A (ja) | 1981-09-07 | 1981-09-07 | 平板条片傷検査装置における傷弁別方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5842956A true JPS5842956A (ja) | 1983-03-12 |
Family
ID=15274654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14069881A Pending JPS5842956A (ja) | 1981-09-07 | 1981-09-07 | 平板条片傷検査装置における傷弁別方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5842956A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51150379A (en) * | 1975-06-19 | 1976-12-23 | Nippon Steel Corp | Surface defects detecting device for picking steel plate |
| JPS55125439A (en) * | 1979-03-22 | 1980-09-27 | Hajime Sangyo Kk | Defect inspection device |
-
1981
- 1981-09-07 JP JP14069881A patent/JPS5842956A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51150379A (en) * | 1975-06-19 | 1976-12-23 | Nippon Steel Corp | Surface defects detecting device for picking steel plate |
| JPS55125439A (en) * | 1979-03-22 | 1980-09-27 | Hajime Sangyo Kk | Defect inspection device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR850000855B1 (ko) | 흠(hurt)검사 장치 | |
| US3812373A (en) | Method and apparatus for identifying the periodicity of surface defects of strip materials | |
| US3509349A (en) | Surface finish inspection device utilizing a plurality of light sources | |
| JPS5842956A (ja) | 平板条片傷検査装置における傷弁別方法および装置 | |
| EP0423794B1 (en) | Surface inspecting apparatus | |
| JPS61176839A (ja) | 透明または半透明の板状体の欠点検査装置 | |
| JPS647549B2 (ja) | ||
| JPS61205811A (ja) | 欠陥検出方法 | |
| JP2633673B2 (ja) | 表面検査装置 | |
| JPH01253641A (ja) | 筋状欠陥弁別処理回路 | |
| JPS54118296A (en) | Automatic detecting device | |
| JPH0718814B2 (ja) | 表面検査装置 | |
| JPH0266446A (ja) | 表面欠陥検査方法 | |
| JPS5918409A (ja) | 赤熱物体表面検査装置 | |
| JPH07294451A (ja) | 塗布欠陥検出方法 | |
| JPH0342554A (ja) | レチクル異物検査装置 | |
| JPS6216372B2 (ja) | ||
| JPS6365581A (ja) | 画像センシング方法 | |
| JPS63215953A (ja) | 欠陥検査装置 | |
| JPH0128539B2 (ja) | ||
| JPH08193960A (ja) | 表面疵検査方法 | |
| JP2583563B2 (ja) | きず検査装置 | |
| JPS5920972B2 (ja) | 欠点検出装置 | |
| JPH06308049A (ja) | 表面疵判別装置 | |
| JPH0469331B2 (ja) |