JPS5833555Y2 - オンドホシヨウツキジユアツカプセル - Google Patents

オンドホシヨウツキジユアツカプセル

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Publication number
JPS5833555Y2
JPS5833555Y2 JP1975161387U JP16138775U JPS5833555Y2 JP S5833555 Y2 JPS5833555 Y2 JP S5833555Y2 JP 1975161387 U JP1975161387 U JP 1975161387U JP 16138775 U JP16138775 U JP 16138775U JP S5833555 Y2 JPS5833555 Y2 JP S5833555Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk
temperature compensation
pressure
membrane
center
Prior art date
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Expired
Application number
JP1975161387U
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English (en)
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JPS5273787U (ja
Inventor
佐一郎 森田
Original Assignee
横河電機株式会社
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、流体の圧力を測定膜で受けて圧力を検出する
受圧カプセルに関するもので、その目的は温度補償され
た低圧検出用受圧カプセルを得ることである。
従来、差圧伝送器の受圧カプセル部分に対して温度補償
した例として、第1図に示すように(実開昭49−35
286号差圧伝送器参照)、ディスクの前面に波形をし
た温度補償膜6を取付け、ディスク4の前面をその波形
に合わせたものがある。
即ち、本体1の室2の後方壁中央部に第1貫通孔1aを
設けると共に室2内にディスク4を設けて、本体1とデ
ィスク4との間に測定膜5を取付け、室2内に密封した
封液1の圧力により測定膜5が受ける圧力を検出する受
圧カプセルにおいて、ディスク4の前面に波形をした温
度補償膜6を取付けてディスク4の前面を温度補償膜6
の波形に合せ、室2内の封液1が温度変化により膨張・
収縮すると、封液1がディスク4に設けた貫通孔41を
通って出入りし、ディスク4の前面に取付けた温度補償
膜6が伸縮する結果、温度変化により封液1が膨張・収
縮しても封液Iの圧力が変化しない構造にしたものがあ
る。
この場合、過大な圧力が温度補償膜6にかかつても、デ
ィスク4の前面が温度補償膜6と同じ波形をしているの
で、膜6がディスク4の前面に接触するのみで、膜6が
破損することがない。
一方、低圧を検出するには、受圧面積を大きくする必要
があり、ディスクの直径も大きくなる。
従って、ディスクの重量が大きくなり姿勢誤差等も生じ
て来るので、ディスクを薄くして軽くする必要がある。
ところで、低圧検出用受圧カプセルでは測定膜5の受圧
面積が大きく、温度補償膜6の直径も充分大きくするこ
とが出来る。
この為、温度補償膜6に波形がなくても、膜の収縮が可
能となり温度補償が行える。
温度補償膜6に波形が要らなくなれば、ディスク4の前
面に波形を設ける必要がなく、その分ディスク4の厚み
を薄くすることが出来る。
第2図は本考案に至る過程において検討された、温度補
償膜、ディスク共に波形のない受圧力プセルを用いた差
圧伝送器の縦断面図である。
本図において第1図に示した要素と同じものには同一符
号を付して、これらについては説明は省略されている。
図において、8は本体1の室2内に設けたディスクで、
前面は波形がなく平面を形成し、その周辺が測定膜5の
内側周辺が測定膜5の内側周辺に固定され、測定膜5の
外側周辺が本体1の開口部3周辺に固定されている。
そして、本体1とディスク8との間が外圧を受ける測定
膜5により気密になっている。
又、ディスク8は半径方向中央部に1個以上の貫通孔8
1を有し、その前面に周辺を固定して波形のない温度補
償膜9が取付けられ、貫通孔81を通して本体1と測定
膜5及びディスク9との間に密封された封液7により、
ディスク8と温度補償膜9との間が充たされた構造にな
っている。
このような受圧カプセルは高圧側にも設けられ、高圧側
のディスク12と低圧側のディスク8とを連結棒10で
連結し、高圧側における圧力P□と低圧側における圧力
P2との間の差圧を検出する。
このような構造により、温度が変化して封液Tが膨張・
収縮すると、ディスク8の貫通孔81を通ってディスク
8と温度補償膜9との間に封液Tが出入し、温度補償膜
9が伸縮する。
ところで、温度変化による内圧の変化を補償する為に必
要な、温度補償膜9の容積変化量は高圧側と低圧側に設
けられた測定膜5の□スマツチング量、内圧等に関連し
て決昔る。
この補償すべき容積変化量に対して、温度補償膜9の容
積変化率が大きく、容積変化量が大き過き゛る場合には
、ディスク8と温度補償膜9との間に封入される封入液
Iの量が多くなる。
この部分の封入液Iの量が多くなると、ステップ応答特
性が悪くなり(ステップ入力に対し1次応答形でない応
答特性を示すようになる)、圧力の検出に望1しくない
影響を及ぼす。
第2図に示す低圧検出用受圧カプセルでは、温度補償膜
9の直径が大きく、温度補償膜9の容積変化率、最大容
積変化量が補償すべき容積変化に対し必要以上に大きく
なる場合がある。
このような場合には前記した応答特性の問題が生ずる。
そこで本考案では上記した欠点を除く為、温度補償膜9
の容積変化を制限する手段を設け、封入液Iの入り過ぎ
による応答特性の劣化を低減しようとするものである。
第3図は本考案実施例の要部断面図である。
温度補償膜9の中心がネジ13でディスク8の中心に止
められている。
このような構造により、直径が大きく、容積変化量の大
きな温度補償膜9であっても、その容積変化量を必要最
小制限することが出来、ディスク8と温度補償膜9との
間に封入する封入液1の量を少なく出来る為、前記した
応答特性の劣化が低減できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、差圧伝送器における受圧部の従来例を示す縦
断面図、第2図は本考案に至る過程で検討された差圧伝
送器の受圧部の縦断面図、第3図は本考案の実施例を示
す要部縦断面図である。 1:本体、1a:第1貫通、2:室、3:開口部、4,
8,12:ディスク、41.81 :第2貫通孔、5:
測定膜、6,9:温度補償膜、7=封液、13:ネジ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (A) 前方に開口部を有する室を設けると共に前記
    室の後方壁中央部に第1貫通孔を設けた本体と、(B)
    前記本体の室内に設け、半径方向中央部に第2貫通
    孔を有し且つ前面に波形がなく薄い形状としたディスク
    と、 0 外側周辺を前記本体の開口部周辺に固定し、内側周
    辺を前記ディスクの周辺に固定した測定膜と、 0 外側周辺を前記ディスクの周辺に固定すると共に、
    中心を前記ディスクの中心に止めた波形のない温度補償
    膜と、 0 前記本体と前記ディスク及び前記測定膜0間、前記
    温度補償膜と前記ディスクの間及び前記第1、第2貫通
    孔内に充填した封液と、 を備えた温度補償付き低圧検出用受圧カプセル。
JP1975161387U 1975-11-29 1975-11-29 オンドホシヨウツキジユアツカプセル Expired JPS5833555Y2 (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1975161387U JPS5833555Y2 (ja) 1975-11-29 1975-11-29 オンドホシヨウツキジユアツカプセル

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1975161387U JPS5833555Y2 (ja) 1975-11-29 1975-11-29 オンドホシヨウツキジユアツカプセル

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5273787U JPS5273787U (ja) 1977-06-02
JPS5833555Y2 true JPS5833555Y2 (ja) 1983-07-27

Family

ID=28640253

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1975161387U Expired JPS5833555Y2 (ja) 1975-11-29 1975-11-29 オンドホシヨウツキジユアツカプセル

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JP (1) JPS5833555Y2 (ja)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS563643Y2 (ja) * 1973-08-30 1981-01-27

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Publication number Publication date
JPS5273787U (ja) 1977-06-02

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