JPS5830124A - 気相成長装置用ウエハ−立替装置 - Google Patents

気相成長装置用ウエハ−立替装置

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Publication number
JPS5830124A
JPS5830124A JP12791081A JP12791081A JPS5830124A JP S5830124 A JPS5830124 A JP S5830124A JP 12791081 A JP12791081 A JP 12791081A JP 12791081 A JP12791081 A JP 12791081A JP S5830124 A JPS5830124 A JP S5830124A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
carrier
semiconductor
semiconductor wafer
semiconductor wafers
Prior art date
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Pending
Application number
JP12791081A
Other languages
English (en)
Inventor
Sueo Tsumura
津村 末朗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP12791081A priority Critical patent/JPS5830124A/ja
Publication of JPS5830124A publication Critical patent/JPS5830124A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/54Apparatus specially adapted for continuous coating

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は気相成長装置用ウェハー立替装置に関するもの
である。
半導体集積回路の製造工程のうちの気相成長工程(以下
、CVD工程という)においては、石英製の治具に設け
た溝に半導体ウェハースを嵌め込んでこれを立てて高温
の炉中に入れて半導体ウェハースの処理を行なっている
ところで、第1図ピ)(ロ)に示すように1石英製の治
具1に半導体ウェハースを立てる場合には、処理枚数を
多くし且つ半導体ウェハース裏面に成長させないために
、2枚の半導体ウェハース2,2′を各々の処理面が外
向きになるように重ね合せてこれを治具1の1つの溝1
aごとに立てている。
CVD工程の前後工程では、キャリアに半導体ウェハー
スを支持させてこれを搬送させているから、CVD工程
においては、作業者がキャリアから半導体ウェハース2
.lをピンセットを使用して一枚ずつ取出し、その半導
体ウニ・・−ス2,2′を処理面が外向きになるように
治具1の溝1a内に嵌め込ん、でおり、またCVD処理
後、再び治具1から半導体ウェハース2,2′を1枚ず
つ取出してキャリアに戻していた。
そこでこの作業が厄介であるため、キャリアから半導体
ウェハースを治具に移し替える方法が考見出された。キ
ャリアから半導体ウエノ・−スを治具に移し替える方法
を゛第2図、第3図に示す。
すなわち、第2図に示すように、半導体ウエノ・−スを
1枚ずつ隔離して支持した2つのキャリア5・gを、半
導体ウニ・・−スの処理面が互いに逆向きになるように
上下逆に、しかも2つのキャリア3゜3′を1枚の半導
体ウニ・・−ス分だけ上下方向にずらして支持台5上に
載置し、支持台5の取手イを上方に引き上げて支持台3
を傾斜させ、キャリア3′の半導体ウェハースをキャリ
ア3の半導体ウェハースとその処理面を逆向きにして重
ね合せ、2枚の半導体ウニ・・−ス2,2′をキャリア
3の溝内に嵌め込み、次に、第3図に示すように、立替
治具4に取付けた治具1を、キャリア3内をその下方か
ら上方に通過させ、その途中でキャリア3から治具1に
半導体ウエノ・−スを移し替えてこれを治具1に立てる
そして処理の終った半導体ウエノ・−スをキャリア5に
戻すには上述した操作を逆に行なうことにより移し替え
るものである。したがって、キャリアにより搬送された
半導体ウエノ・−スをCVD工程の治具に移し替え、処
理された半導体ウエノ・−スを1つのキャリアに移し替
えるまでの作業は、ピンセット操作を排除できるが、キ
ャリア内に重ね合されて治具から移し替えられた2枚の
半導体ウェハースを一枚ずつ分離させて同じ向きにして
キャリアに戻す作業はやはり人手によるピンセット操作
で行なわなければならなかった。
本発明はピンセットを用いずに自動的に重ね合された2
枚の半導体ウェハースを分離してキャリア内に収納する
ようにしたことを特徴とするものである。
以下、本発明の一実施例を第4図によって説明する。
第4図ビ)において、半導体ウエノ・−スを収納した供
給キャリア5及び空の収納キャリア10を所定のピッチ
で送る送り機構は支持台gと支持台6′に螺合し垂直に
取付けられた送りねじ6とから構成され、送シねじ6を
回動させて支持台gを所定のピッチで下方又は上方に送
シ駆動を与えるものである。
7は処理面を互°いに外側に向けて重ね合された2枚の
半導体ウェハース2,2′をキャリア5から取出す引出
し機構を構成するステーションで、該ステーション7F
i支持台6′上のキャリア3内にその開口部から進み出
て、半導体ウェハース2,2を下方から支持して取出す
。ステーション7の上面には2枚のうち下方の半導体ウ
ニ・・−ス2′の処理面との接触を避ける座ぐりが設け
られており、ステーション7は下方の半導体ウニ/−−
、x、io周辺と接触して2枚の半導体ウニ・・−ス2
.iを支持する。
第4図(ロ)において%9は空の収納キャリア10に半
導体ウェハースを運ぶ搬送機構としてのOリングベルト
であって、該0リングベルト9は送り機構の横方向に配
置されて水平方向に張設され、その終端はキャリア10
の開口部からその内部まで延びている。
8はステーション7と0リングベルト9との間を上下及
び左右動して往復するチャック機構で、該チャック機構
8はその支持部8. aにより半導体ウェハースをその
処理面を避けた周辺を真空力で吸着、支持する。さらに
、第4図e→に示すように、チャック機構8は支え軸ぎ
を中心にして180°反転する。
次に本発明の動作について説明する。
その処理mlを互いに外側に向けて重ね合された2枚の
半導体ウエノ・−ス2.iを組として多数支持したキャ
リア3を支持台6′に載置し、送りねじ6により1ピツ
チずつ送シを与えてこれを下降させる。また、ステーシ
ョン7社第4図ビ)中圧に動いて鼻ヤリジ5内に延び、
半導体ウエノ・−ス2・ 2′の下降を待つ。キャリア
3は1ピツチ下降し、これによりステーション7上に半
導体ウエノ1−ス2゜lが重ね合された状態で乗せられ
る。次にステーション7は一右に動く。ステーション7
上方に待機していたチャック機構8が下降し、先ずその
支持部8aによシ上方の半導体ウニI・−ス2をチャッ
クする。この場合上方の半導体ウエノ・−ス2はその処
理面が上を向いている。
チャック機構8は上昇し1次いでQ IJソングルト9
に向けて横方向に移動しく第4図(ロ))、その支持部
8aを下向きにして下降してOリングベルト9上に半導
体ウェハース2を乗せる。0リングベルト9は半導体ウ
ェハース2を空の収納キャリア10に運びキャリア10
に半導体ウェハース2を支持させる。次にチャック機構
8は上昇し、次いテステーション7に向けて横方向に移
動し、再び下降し下方の二枚口の半導体ウェハース2′
をチャックする。この半導体ウェハースiはその処理面
が下向きであるので、チャック機構8は上昇後第41i
+Hに示すように1800反転してその支持部8aを上
向きにして半導体ウェハースiの処理面を上向きにする
。チャック機構8はそのま10リングベルト9に向けて
横方向に移動し、oリングベルト9間を抜けて下まで下
降し、0リングベルト?上に半導体ウェハースlを乗せ
る。半導体ウェハース2′はOリングベルト9でキャリ
ア1oに送り込まれる。なおキャリア1oは半導体ウェ
ハースが1枚送り込まれる毎に送りねじにより1ピツチ
ずつ上昇し、キャリア3は2枚ずつ半導体ウェハースが
取出される毎に1ピツチ下降する。
・以上のように本発明は半導体ウェハースを収納したキ
ャリアから半導体ウェハースを引き出し、チャック機構
により2枚のうち上方の半導体ウェハースをそのままの
姿勢で、下方の半導体ウェハースを180反転させて順
次運び搬送機構によりそれらの半導体ウェハースを空の
キャリア内に収納するようにしたので、CVD工程で処
理された組をなす2枚の半導体ウェハースを分離してキ
ャリア内に自動的に収納でき1人手によるピンセット操
作を省くことができ、これにより、半導体ウェハースの
ワレ、欠け、フレークゴミの問題を排除でき且つ自動装
置によシ省力及び作業能率を上げる事ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図03は治具に半導体ウェハースを立てた状態の正
面図、第1図0は第1図(へ)の部分拡大図、第2図は
キャリアに半導体ウェハースを入れる状態を示す斜視図
、第5図はキャリアと治具との間における半導体ウェハ
ースの移し替えを示す斜視図、第4閉りは本発明の一実
施例を示す側面図、第4図(2))は平面図、第4図e
→はチャック機構の側面図、第4図に)はチャック機構
と0リングベルトとの関係を示す側面図である。 2、′1・・・半導体ウェハース 3、!・・・キャリア 6・・・送りねじ 7・・・艮チージョン 8・・・チャック機構 9・・・0リングベルト 10・・・キャリア

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)処理面を外側に向けて重ね合された2枚の半導体
    ウェハースを組として支持した供給キャリア及びウェハ
    ースの供給をうける空の収納キャリアを所定のピッチで
    上下動させる機構と1重ね合された2枚の半導体ウェハ
    ースを前記供給キャリアから取り出す引出し機構と、空
    の収納キャリアに半導体ウェハースを運ぶ搬送機構と、
    引出し機構と搬送機構との間を上下及び左右動して往復
    し、且つ半導体ウェハースを支持して180反転するチ
    ャック機構と、からなる気相成長装置用ウェハー立替装
    置。
JP12791081A 1981-08-15 1981-08-15 気相成長装置用ウエハ−立替装置 Pending JPS5830124A (ja)

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JPS5830124A true JPS5830124A (ja) 1983-02-22

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ID=14971671

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JP12791081A Pending JPS5830124A (ja) 1981-08-15 1981-08-15 気相成長装置用ウエハ−立替装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61192787U (ja) * 1985-05-25 1986-12-01

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61192787U (ja) * 1985-05-25 1986-12-01
JPH0337477Y2 (ja) * 1985-05-25 1991-08-08

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