JPS5830124A - 気相成長装置用ウエハ−立替装置 - Google Patents
気相成長装置用ウエハ−立替装置Info
- Publication number
- JPS5830124A JPS5830124A JP12791081A JP12791081A JPS5830124A JP S5830124 A JPS5830124 A JP S5830124A JP 12791081 A JP12791081 A JP 12791081A JP 12791081 A JP12791081 A JP 12791081A JP S5830124 A JPS5830124 A JP S5830124A
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- JP
- Japan
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- wafer
- carrier
- semiconductor
- semiconductor wafer
- semiconductor wafers
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- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/54—Apparatus specially adapted for continuous coating
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は気相成長装置用ウェハー立替装置に関するもの
である。
である。
半導体集積回路の製造工程のうちの気相成長工程(以下
、CVD工程という)においては、石英製の治具に設け
た溝に半導体ウェハースを嵌め込んでこれを立てて高温
の炉中に入れて半導体ウェハースの処理を行なっている
。
、CVD工程という)においては、石英製の治具に設け
た溝に半導体ウェハースを嵌め込んでこれを立てて高温
の炉中に入れて半導体ウェハースの処理を行なっている
。
ところで、第1図ピ)(ロ)に示すように1石英製の治
具1に半導体ウェハースを立てる場合には、処理枚数を
多くし且つ半導体ウェハース裏面に成長させないために
、2枚の半導体ウェハース2,2′を各々の処理面が外
向きになるように重ね合せてこれを治具1の1つの溝1
aごとに立てている。
具1に半導体ウェハースを立てる場合には、処理枚数を
多くし且つ半導体ウェハース裏面に成長させないために
、2枚の半導体ウェハース2,2′を各々の処理面が外
向きになるように重ね合せてこれを治具1の1つの溝1
aごとに立てている。
CVD工程の前後工程では、キャリアに半導体ウェハー
スを支持させてこれを搬送させているから、CVD工程
においては、作業者がキャリアから半導体ウェハース2
.lをピンセットを使用して一枚ずつ取出し、その半導
体ウニ・・−ス2,2′を処理面が外向きになるように
治具1の溝1a内に嵌め込ん、でおり、またCVD処理
後、再び治具1から半導体ウェハース2,2′を1枚ず
つ取出してキャリアに戻していた。
スを支持させてこれを搬送させているから、CVD工程
においては、作業者がキャリアから半導体ウェハース2
.lをピンセットを使用して一枚ずつ取出し、その半導
体ウニ・・−ス2,2′を処理面が外向きになるように
治具1の溝1a内に嵌め込ん、でおり、またCVD処理
後、再び治具1から半導体ウェハース2,2′を1枚ず
つ取出してキャリアに戻していた。
そこでこの作業が厄介であるため、キャリアから半導体
ウェハースを治具に移し替える方法が考見出された。キ
ャリアから半導体ウエノ・−スを治具に移し替える方法
を゛第2図、第3図に示す。
ウェハースを治具に移し替える方法が考見出された。キ
ャリアから半導体ウエノ・−スを治具に移し替える方法
を゛第2図、第3図に示す。
すなわち、第2図に示すように、半導体ウエノ・−スを
1枚ずつ隔離して支持した2つのキャリア5・gを、半
導体ウニ・・−スの処理面が互いに逆向きになるように
上下逆に、しかも2つのキャリア3゜3′を1枚の半導
体ウニ・・−ス分だけ上下方向にずらして支持台5上に
載置し、支持台5の取手イを上方に引き上げて支持台3
を傾斜させ、キャリア3′の半導体ウェハースをキャリ
ア3の半導体ウェハースとその処理面を逆向きにして重
ね合せ、2枚の半導体ウニ・・−ス2,2′をキャリア
3の溝内に嵌め込み、次に、第3図に示すように、立替
治具4に取付けた治具1を、キャリア3内をその下方か
ら上方に通過させ、その途中でキャリア3から治具1に
半導体ウエノ・−スを移し替えてこれを治具1に立てる
。
1枚ずつ隔離して支持した2つのキャリア5・gを、半
導体ウニ・・−スの処理面が互いに逆向きになるように
上下逆に、しかも2つのキャリア3゜3′を1枚の半導
体ウニ・・−ス分だけ上下方向にずらして支持台5上に
載置し、支持台5の取手イを上方に引き上げて支持台3
を傾斜させ、キャリア3′の半導体ウェハースをキャリ
ア3の半導体ウェハースとその処理面を逆向きにして重
ね合せ、2枚の半導体ウニ・・−ス2,2′をキャリア
3の溝内に嵌め込み、次に、第3図に示すように、立替
治具4に取付けた治具1を、キャリア3内をその下方か
ら上方に通過させ、その途中でキャリア3から治具1に
半導体ウエノ・−スを移し替えてこれを治具1に立てる
。
そして処理の終った半導体ウエノ・−スをキャリア5に
戻すには上述した操作を逆に行なうことにより移し替え
るものである。したがって、キャリアにより搬送された
半導体ウエノ・−スをCVD工程の治具に移し替え、処
理された半導体ウエノ・−スを1つのキャリアに移し替
えるまでの作業は、ピンセット操作を排除できるが、キ
ャリア内に重ね合されて治具から移し替えられた2枚の
半導体ウェハースを一枚ずつ分離させて同じ向きにして
キャリアに戻す作業はやはり人手によるピンセット操作
で行なわなければならなかった。
戻すには上述した操作を逆に行なうことにより移し替え
るものである。したがって、キャリアにより搬送された
半導体ウエノ・−スをCVD工程の治具に移し替え、処
理された半導体ウエノ・−スを1つのキャリアに移し替
えるまでの作業は、ピンセット操作を排除できるが、キ
ャリア内に重ね合されて治具から移し替えられた2枚の
半導体ウェハースを一枚ずつ分離させて同じ向きにして
キャリアに戻す作業はやはり人手によるピンセット操作
で行なわなければならなかった。
本発明はピンセットを用いずに自動的に重ね合された2
枚の半導体ウェハースを分離してキャリア内に収納する
ようにしたことを特徴とするものである。
枚の半導体ウェハースを分離してキャリア内に収納する
ようにしたことを特徴とするものである。
以下、本発明の一実施例を第4図によって説明する。
第4図ビ)において、半導体ウエノ・−スを収納した供
給キャリア5及び空の収納キャリア10を所定のピッチ
で送る送り機構は支持台gと支持台6′に螺合し垂直に
取付けられた送りねじ6とから構成され、送シねじ6を
回動させて支持台gを所定のピッチで下方又は上方に送
シ駆動を与えるものである。
給キャリア5及び空の収納キャリア10を所定のピッチ
で送る送り機構は支持台gと支持台6′に螺合し垂直に
取付けられた送りねじ6とから構成され、送シねじ6を
回動させて支持台gを所定のピッチで下方又は上方に送
シ駆動を与えるものである。
7は処理面を互°いに外側に向けて重ね合された2枚の
半導体ウェハース2,2′をキャリア5から取出す引出
し機構を構成するステーションで、該ステーション7F
i支持台6′上のキャリア3内にその開口部から進み出
て、半導体ウェハース2,2を下方から支持して取出す
。ステーション7の上面には2枚のうち下方の半導体ウ
ニ・・−ス2′の処理面との接触を避ける座ぐりが設け
られており、ステーション7は下方の半導体ウニ/−−
、x、io周辺と接触して2枚の半導体ウニ・・−ス2
.iを支持する。
半導体ウェハース2,2′をキャリア5から取出す引出
し機構を構成するステーションで、該ステーション7F
i支持台6′上のキャリア3内にその開口部から進み出
て、半導体ウェハース2,2を下方から支持して取出す
。ステーション7の上面には2枚のうち下方の半導体ウ
ニ・・−ス2′の処理面との接触を避ける座ぐりが設け
られており、ステーション7は下方の半導体ウニ/−−
、x、io周辺と接触して2枚の半導体ウニ・・−ス2
.iを支持する。
第4図(ロ)において%9は空の収納キャリア10に半
導体ウェハースを運ぶ搬送機構としてのOリングベルト
であって、該0リングベルト9は送り機構の横方向に配
置されて水平方向に張設され、その終端はキャリア10
の開口部からその内部まで延びている。
導体ウェハースを運ぶ搬送機構としてのOリングベルト
であって、該0リングベルト9は送り機構の横方向に配
置されて水平方向に張設され、その終端はキャリア10
の開口部からその内部まで延びている。
8はステーション7と0リングベルト9との間を上下及
び左右動して往復するチャック機構で、該チャック機構
8はその支持部8. aにより半導体ウェハースをその
処理面を避けた周辺を真空力で吸着、支持する。さらに
、第4図e→に示すように、チャック機構8は支え軸ぎ
を中心にして180°反転する。
び左右動して往復するチャック機構で、該チャック機構
8はその支持部8. aにより半導体ウェハースをその
処理面を避けた周辺を真空力で吸着、支持する。さらに
、第4図e→に示すように、チャック機構8は支え軸ぎ
を中心にして180°反転する。
次に本発明の動作について説明する。
その処理mlを互いに外側に向けて重ね合された2枚の
半導体ウエノ・−ス2.iを組として多数支持したキャ
リア3を支持台6′に載置し、送りねじ6により1ピツ
チずつ送シを与えてこれを下降させる。また、ステーシ
ョン7社第4図ビ)中圧に動いて鼻ヤリジ5内に延び、
半導体ウエノ・−ス2・ 2′の下降を待つ。キャリア
3は1ピツチ下降し、これによりステーション7上に半
導体ウエノ1−ス2゜lが重ね合された状態で乗せられ
る。次にステーション7は一右に動く。ステーション7
上方に待機していたチャック機構8が下降し、先ずその
支持部8aによシ上方の半導体ウニI・−ス2をチャッ
クする。この場合上方の半導体ウエノ・−ス2はその処
理面が上を向いている。
半導体ウエノ・−ス2.iを組として多数支持したキャ
リア3を支持台6′に載置し、送りねじ6により1ピツ
チずつ送シを与えてこれを下降させる。また、ステーシ
ョン7社第4図ビ)中圧に動いて鼻ヤリジ5内に延び、
半導体ウエノ・−ス2・ 2′の下降を待つ。キャリア
3は1ピツチ下降し、これによりステーション7上に半
導体ウエノ1−ス2゜lが重ね合された状態で乗せられ
る。次にステーション7は一右に動く。ステーション7
上方に待機していたチャック機構8が下降し、先ずその
支持部8aによシ上方の半導体ウニI・−ス2をチャッ
クする。この場合上方の半導体ウエノ・−ス2はその処
理面が上を向いている。
チャック機構8は上昇し1次いでQ IJソングルト9
に向けて横方向に移動しく第4図(ロ))、その支持部
8aを下向きにして下降してOリングベルト9上に半導
体ウェハース2を乗せる。0リングベルト9は半導体ウ
ェハース2を空の収納キャリア10に運びキャリア10
に半導体ウェハース2を支持させる。次にチャック機構
8は上昇し、次いテステーション7に向けて横方向に移
動し、再び下降し下方の二枚口の半導体ウェハース2′
をチャックする。この半導体ウェハースiはその処理面
が下向きであるので、チャック機構8は上昇後第41i
+Hに示すように1800反転してその支持部8aを上
向きにして半導体ウェハースiの処理面を上向きにする
。チャック機構8はそのま10リングベルト9に向けて
横方向に移動し、oリングベルト9間を抜けて下まで下
降し、0リングベルト?上に半導体ウェハースlを乗せ
る。半導体ウェハース2′はOリングベルト9でキャリ
ア1oに送り込まれる。なおキャリア1oは半導体ウェ
ハースが1枚送り込まれる毎に送りねじにより1ピツチ
ずつ上昇し、キャリア3は2枚ずつ半導体ウェハースが
取出される毎に1ピツチ下降する。
に向けて横方向に移動しく第4図(ロ))、その支持部
8aを下向きにして下降してOリングベルト9上に半導
体ウェハース2を乗せる。0リングベルト9は半導体ウ
ェハース2を空の収納キャリア10に運びキャリア10
に半導体ウェハース2を支持させる。次にチャック機構
8は上昇し、次いテステーション7に向けて横方向に移
動し、再び下降し下方の二枚口の半導体ウェハース2′
をチャックする。この半導体ウェハースiはその処理面
が下向きであるので、チャック機構8は上昇後第41i
+Hに示すように1800反転してその支持部8aを上
向きにして半導体ウェハースiの処理面を上向きにする
。チャック機構8はそのま10リングベルト9に向けて
横方向に移動し、oリングベルト9間を抜けて下まで下
降し、0リングベルト?上に半導体ウェハースlを乗せ
る。半導体ウェハース2′はOリングベルト9でキャリ
ア1oに送り込まれる。なおキャリア1oは半導体ウェ
ハースが1枚送り込まれる毎に送りねじにより1ピツチ
ずつ上昇し、キャリア3は2枚ずつ半導体ウェハースが
取出される毎に1ピツチ下降する。
・以上のように本発明は半導体ウェハースを収納したキ
ャリアから半導体ウェハースを引き出し、チャック機構
により2枚のうち上方の半導体ウェハースをそのままの
姿勢で、下方の半導体ウェハースを180反転させて順
次運び搬送機構によりそれらの半導体ウェハースを空の
キャリア内に収納するようにしたので、CVD工程で処
理された組をなす2枚の半導体ウェハースを分離してキ
ャリア内に自動的に収納でき1人手によるピンセット操
作を省くことができ、これにより、半導体ウェハースの
ワレ、欠け、フレークゴミの問題を排除でき且つ自動装
置によシ省力及び作業能率を上げる事ができる。
ャリアから半導体ウェハースを引き出し、チャック機構
により2枚のうち上方の半導体ウェハースをそのままの
姿勢で、下方の半導体ウェハースを180反転させて順
次運び搬送機構によりそれらの半導体ウェハースを空の
キャリア内に収納するようにしたので、CVD工程で処
理された組をなす2枚の半導体ウェハースを分離してキ
ャリア内に自動的に収納でき1人手によるピンセット操
作を省くことができ、これにより、半導体ウェハースの
ワレ、欠け、フレークゴミの問題を排除でき且つ自動装
置によシ省力及び作業能率を上げる事ができる。
第1図03は治具に半導体ウェハースを立てた状態の正
面図、第1図0は第1図(へ)の部分拡大図、第2図は
キャリアに半導体ウェハースを入れる状態を示す斜視図
、第5図はキャリアと治具との間における半導体ウェハ
ースの移し替えを示す斜視図、第4閉りは本発明の一実
施例を示す側面図、第4図(2))は平面図、第4図e
→はチャック機構の側面図、第4図に)はチャック機構
と0リングベルトとの関係を示す側面図である。 2、′1・・・半導体ウェハース 3、!・・・キャリア 6・・・送りねじ 7・・・艮チージョン 8・・・チャック機構 9・・・0リングベルト 10・・・キャリア
面図、第1図0は第1図(へ)の部分拡大図、第2図は
キャリアに半導体ウェハースを入れる状態を示す斜視図
、第5図はキャリアと治具との間における半導体ウェハ
ースの移し替えを示す斜視図、第4閉りは本発明の一実
施例を示す側面図、第4図(2))は平面図、第4図e
→はチャック機構の側面図、第4図に)はチャック機構
と0リングベルトとの関係を示す側面図である。 2、′1・・・半導体ウェハース 3、!・・・キャリア 6・・・送りねじ 7・・・艮チージョン 8・・・チャック機構 9・・・0リングベルト 10・・・キャリア
Claims (1)
- (1)処理面を外側に向けて重ね合された2枚の半導体
ウェハースを組として支持した供給キャリア及びウェハ
ースの供給をうける空の収納キャリアを所定のピッチで
上下動させる機構と1重ね合された2枚の半導体ウェハ
ースを前記供給キャリアから取り出す引出し機構と、空
の収納キャリアに半導体ウェハースを運ぶ搬送機構と、
引出し機構と搬送機構との間を上下及び左右動して往復
し、且つ半導体ウェハースを支持して180反転するチ
ャック機構と、からなる気相成長装置用ウェハー立替装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12791081A JPS5830124A (ja) | 1981-08-15 | 1981-08-15 | 気相成長装置用ウエハ−立替装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12791081A JPS5830124A (ja) | 1981-08-15 | 1981-08-15 | 気相成長装置用ウエハ−立替装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5830124A true JPS5830124A (ja) | 1983-02-22 |
Family
ID=14971671
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12791081A Pending JPS5830124A (ja) | 1981-08-15 | 1981-08-15 | 気相成長装置用ウエハ−立替装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5830124A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61192787U (ja) * | 1985-05-25 | 1986-12-01 |
-
1981
- 1981-08-15 JP JP12791081A patent/JPS5830124A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61192787U (ja) * | 1985-05-25 | 1986-12-01 | ||
JPH0337477Y2 (ja) * | 1985-05-25 | 1991-08-08 |
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