JPS5826664B2 - 自動ワイヤボンデイング方法 - Google Patents
自動ワイヤボンデイング方法Info
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- JPS5826664B2 JPS5826664B2 JP52116357A JP11635777A JPS5826664B2 JP S5826664 B2 JPS5826664 B2 JP S5826664B2 JP 52116357 A JP52116357 A JP 52116357A JP 11635777 A JP11635777 A JP 11635777A JP S5826664 B2 JPS5826664 B2 JP S5826664B2
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- JP
- Japan
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- chip
- wire bonding
- bonding
- spot
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えば混成集積回路の如く同一基板上に載置
された多数個のチップ部品とダイスボンディング清談基
板上のパターンを適切な位置検出方式を採用し自動ワイ
ヤボンディングを施して接続することを目的とする自動
ワイヤボンディング方法に関する。
された多数個のチップ部品とダイスボンディング清談基
板上のパターンを適切な位置検出方式を採用し自動ワイ
ヤボンディングを施して接続することを目的とする自動
ワイヤボンディング方法に関する。
ここで、チップ部品とは半導体集積回路
(SCIC)、トランジスタ(Tr ) 、ダイオード
(Di)、サイリスク、その他の半導体チップ部品及び
チップコンデンサ、チップ抵抗、その他のワイヤボンデ
ィング可能なチップ部品を言う。
(Di)、サイリスク、その他の半導体チップ部品及び
チップコンデンサ、チップ抵抗、その他のワイヤボンデ
ィング可能なチップ部品を言う。
従来、同一基板上に1個以上の同種あるいは異種の上記
チップ部品から構成されている、例えば混成集積回路等
のダイスボンデイング工程後ワイヤボンディングを実施
する場合、ダイスボンディング位置精度が悪い、半導体
チップ品種及び基板上パターンの反復性等がなく、種々
雑多である。
チップ部品から構成されている、例えば混成集積回路等
のダイスボンデイング工程後ワイヤボンディングを実施
する場合、ダイスボンディング位置精度が悪い、半導体
チップ品種及び基板上パターンの反復性等がなく、種々
雑多である。
このためボンディング位置を精度良く把握することがで
きず、自動ワイヤボンディングが非常に困難であり実現
してはいなかった。
きず、自動ワイヤボンディングが非常に困難であり実現
してはいなかった。
即ち、ワイヤボンディングは熟練したオペレータを養成
する必要があることから多大の労務時間を要し、全て作
業は手動で行なわれ製品単価を引上げる大きな要因とな
っている。
する必要があることから多大の労務時間を要し、全て作
業は手動で行なわれ製品単価を引上げる大きな要因とな
っている。
本発明はこのような問題を解決するものであり、ワイヤ
ボンディング位置を精度良く検出し、自動ワイヤボンデ
ィング可能とする方法を提供しようとするものである。
ボンディング位置を精度良く検出し、自動ワイヤボンデ
ィング可能とする方法を提供しようとするものである。
以下、本発明について図面とともに説明する。
第1図において、1はダイスボンディングが終了した基
板であり、合図中6,7.8はそれぞれS CI Cy
Tr y D itサイリスク、その他の半導体チッ
プ部品をあられす。
板であり、合図中6,7.8はそれぞれS CI Cy
Tr y D itサイリスク、その他の半導体チッ
プ部品をあられす。
3,9は例えばチップコンデンサ、チップ抵抗等ワイヤ
ボンディング可能なその他のチップ部品とする。
ボンディング可能なその他のチップ部品とする。
2はダイスボンディング済基板1上に形成されたパター
ン、4は端子部、5はダイスボンディングランドである
。
ン、4は端子部、5はダイスボンディングランドである
。
これらのチップ部品6,7,8,3.9にワイヤボンデ
ィングを施し接続する場合、ボンディング位置回合せを
定められた方式を採用することにより間欠なく自動ワイ
ヤボンディングをする。
ィングを施し接続する場合、ボンディング位置回合せを
定められた方式を採用することにより間欠なく自動ワイ
ヤボンディングをする。
即ち、今チップ部品6の周辺拡大図を示す第2図におい
て、ボンディング0合せライン(以下ラインと記す)1
0あるいはボンディング0合せスポットライト(以下ス
ポットと記す)11はいずれも工業用テレビ(ITV)
あるいは顕微鏡を通してオペレータは認識しライン、ス
ポット共移動操作することが可能である。
て、ボンディング0合せライン(以下ラインと記す)1
0あるいはボンディング0合せスポットライト(以下ス
ポットと記す)11はいずれも工業用テレビ(ITV)
あるいは顕微鏡を通してオペレータは認識しライン、ス
ポット共移動操作することが可能である。
図で12〜21はパターン側ボンディングランド、22
〜31は半導体チップボンディングランドである。
〜31は半導体チップボンディングランドである。
そして、あらかじめマイクロコンピュータ、ミニコンピ
ユータ等の記憶演算命令装置(以後マイクロコンピュー
タとする)に全てのボンディング位置規準座標(チップ
部品6の場合、第2図での22と12゜23と13.2
4と14.25と15.26と16.27と17,28
と18.29と19゜30と20.31と21)及び各
々のチップ部品のボンディング順序に基づく各々のチッ
プ部品規準点から次のチップ部品規準点までの規準距離
(例えば第1図においてチップ部品6の次にチップ部品
1をワイヤボンディングしようとする場合、チップ部品
6の配線基板パターン上ボンディング最終パッドからチ
ップ部品1上ボンデイング開始パツドまでの距離。
ユータ等の記憶演算命令装置(以後マイクロコンピュー
タとする)に全てのボンディング位置規準座標(チップ
部品6の場合、第2図での22と12゜23と13.2
4と14.25と15.26と16.27と17,28
と18.29と19゜30と20.31と21)及び各
々のチップ部品のボンディング順序に基づく各々のチッ
プ部品規準点から次のチップ部品規準点までの規準距離
(例えば第1図においてチップ部品6の次にチップ部品
1をワイヤボンディングしようとする場合、チップ部品
6の配線基板パターン上ボンディング最終パッドからチ
ップ部品1上ボンデイング開始パツドまでの距離。
図中の破線であられす)等をプログラムしておく。
チップ部品6よりワイヤボンディング開始時、それぞれ
のボンディング位置を把握するためにオペレータは上記
プログラム済ボンディング位置規準座標からのそれぞれ
の補正量をスポットもしくはライン(以後スポットとし
て統一する)とワイヤボンディング治具制御XYテーブ
ルのパルス数により縦横のずれのX、Y補正値、及び角
度のずれのθ補正値をマイクロコンピュータに記憶させ
る。
のボンディング位置を把握するためにオペレータは上記
プログラム済ボンディング位置規準座標からのそれぞれ
の補正量をスポットもしくはライン(以後スポットとし
て統一する)とワイヤボンディング治具制御XYテーブ
ルのパルス数により縦横のずれのX、Y補正値、及び角
度のずれのθ補正値をマイクロコンピュータに記憶させ
る。
例えば第2図においてオペレータはスポットによりチッ
プポンディングパッド31,26、パターン側ボンディ
ングランド21.16に目合せ作業を行い、補正値をマ
イクロコンピュータに記憶させる。
プポンディングパッド31,26、パターン側ボンディ
ングランド21.16に目合せ作業を行い、補正値をマ
イクロコンピュータに記憶させる。
また、目合せを行うパターン側ボンディングランド21
.16は、第1図のパターン2上の任意の2点、例えば
32.33とし、基板1上の全てのチップ部品の目合せ
にすることも可能である。
.16は、第1図のパターン2上の任意の2点、例えば
32.33とし、基板1上の全てのチップ部品の目合せ
にすることも可能である。
次に第1図のチップ部品6よりチップ部品7へITVあ
るいは顕微鏡を介してオペレータがスポットを移動させ
る。
るいは顕微鏡を介してオペレータがスポットを移動させ
る。
次にチップ部品6で施した目合せ作業と同じ作業をチッ
プ部品7にも行い、チップ部品7のボンディング位置規
準座標からのX、Y補正値、θ補正値をマイクロコンピ
ュータに記憶させる。
プ部品7にも行い、チップ部品7のボンディング位置規
準座標からのX、Y補正値、θ補正値をマイクロコンピ
ュータに記憶させる。
このように順次6,7.8の半導体チップ部品、3のチ
ップコンデンサ、9のチップ抵抗等全てのチップ部品の
ボンディング位置規準座標からのX。
ップコンデンサ、9のチップ抵抗等全てのチップ部品の
ボンディング位置規準座標からのX。
Y補正値、θ補正値をマイクロコンピュータに記憶させ
る。
る。
この時各々のチップ部品の数は任意に選択可能である。
上記のすべての補正値と先にプログラムされていたチッ
プ部品規準点間距離との記憶によりスポット目金せ作業
の最後にワイヤボンディング開始位置にスポットを合せ
、ボンディング治具制御装置をスタートさせれば基板上
の全てのワイヤボンディングを間欠なく高速に実施でき
る。
プ部品規準点間距離との記憶によりスポット目金せ作業
の最後にワイヤボンディング開始位置にスポットを合せ
、ボンディング治具制御装置をスタートさせれば基板上
の全てのワイヤボンディングを間欠なく高速に実施でき
る。
本発明は以上のように構成されているものであり、従来
1基板上に載置された多数個のチップ部品をワイヤボン
ディングする際チップ部品のダイスボンディング精度あ
るいは別品種のチップ部品が多数塔載されている等の理
由により自動ワイヤボンディング化が困難とされていた
が、本方法により大幅なワイヤボンディング労務費の削
減が可能になり、従来量産効果によるコストダウンが期
待できず製品単価を引上げていた問題が解決できる。
1基板上に載置された多数個のチップ部品をワイヤボン
ディングする際チップ部品のダイスボンディング精度あ
るいは別品種のチップ部品が多数塔載されている等の理
由により自動ワイヤボンディング化が困難とされていた
が、本方法により大幅なワイヤボンディング労務費の削
減が可能になり、従来量産効果によるコストダウンが期
待できず製品単価を引上げていた問題が解決できる。
即ち、従来比労務費i以下が可能となる。また、従来ワ
イヤボンディングは若年女子労働力のうち特殊な適性を
持つオペレータを多く必要としたが、このような労働力
を容易に得られないのが実情である。
イヤボンディングは若年女子労働力のうち特殊な適性を
持つオペレータを多く必要としたが、このような労働力
を容易に得られないのが実情である。
しかし、当方法を用いることによりワイヤボンディング
のオペレータは特殊な適性を必要としなくなり、またオ
ペレータは女子のみならず男子も可能となり、労働力が
得られ易く大幅な労働力アンプが可能となる。
のオペレータは特殊な適性を必要としなくなり、またオ
ペレータは女子のみならず男子も可能となり、労働力が
得られ易く大幅な労働力アンプが可能となる。
さらに、当方法の場合オペレータは複数台のワイヤボン
ダーを稼動することが可能となる。
ダーを稼動することが可能となる。
即ち、1台のボンダーでスポット目金せ作業を行う間、
他のボンダーでは自動ワイヤボンディングが可能となる
。
他のボンダーでは自動ワイヤボンディングが可能となる
。
この複数台でボンディングしている製品の品種はかなら
ずしも同品種を行う必要はなく、別品種でもオペレータ
がスポット目金せさえ行えばワイヤボンディングは可能
となる。
ずしも同品種を行う必要はなく、別品種でもオペレータ
がスポット目金せさえ行えばワイヤボンディングは可能
となる。
この様に多品種少量生産にも適した方法である。
第1図は本発明方法を説明するためのダイスボンデイン
グが終了した基板の上面図、 第1図の部分拡大上面図である。 1・・・・・・ダイスボンディング済基板、第2図は同 2・・・・・・パタ ーン、3・・・・・・チップコンデンサ、5・・・・・
・ダイスボンディングランド(基板)、6〜8・・・・
・・半導体チップ部品、9・・・・・・チップ抵抗。
グが終了した基板の上面図、 第1図の部分拡大上面図である。 1・・・・・・ダイスボンディング済基板、第2図は同 2・・・・・・パタ ーン、3・・・・・・チップコンデンサ、5・・・・・
・ダイスボンディングランド(基板)、6〜8・・・・
・・半導体チップ部品、9・・・・・・チップ抵抗。
Claims (1)
- 11基板上に載置された多数個の半導体チップ部品・チ
ップコンデンサ・チップ抵抗・その他のチップ部品と該
基板上の回路を自動ワイヤボンディングにて接続を施す
際、あらかじめ全てのチップ部品と基板上パターンのボ
ンディング位置規準座標及びチップ部品量規準距離をマ
イクロコンピュータ等の記憶演算命令装置にプログラム
し、多数個のチップ部品を順次位置検出目金せ作業を行
うとともに目合せ作業に基づき上記記憶演算命令装置で
規準座標、規準距離とのずれ補正値を演算し、全てのワ
イヤボンディング必要な個所に順次自動ワイヤボンディ
ングすることを特徴とした自動ワイヤボンディング方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52116357A JPS5826664B2 (ja) | 1977-09-27 | 1977-09-27 | 自動ワイヤボンデイング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52116357A JPS5826664B2 (ja) | 1977-09-27 | 1977-09-27 | 自動ワイヤボンデイング方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5450267A JPS5450267A (en) | 1979-04-20 |
JPS5826664B2 true JPS5826664B2 (ja) | 1983-06-04 |
Family
ID=14684950
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52116357A Expired JPS5826664B2 (ja) | 1977-09-27 | 1977-09-27 | 自動ワイヤボンデイング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5826664B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6059942U (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | 株式会社島津製作所 | 液体試料自動採取装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56110244A (en) * | 1980-02-06 | 1981-09-01 | Hitachi Ltd | Printed circuit board for semiconductor device and wire bonding method thereof |
JPS59105330A (ja) * | 1982-12-08 | 1984-06-18 | Hitachi Ltd | 自動ワイヤボンダ |
JP3106345B2 (ja) * | 1995-10-23 | 2000-11-06 | 株式会社新川 | ワイヤボンディング装置 |
-
1977
- 1977-09-27 JP JP52116357A patent/JPS5826664B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6059942U (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | 株式会社島津製作所 | 液体試料自動採取装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5450267A (en) | 1979-04-20 |
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