JPS5823399A - 主記憶装置 - Google Patents

主記憶装置

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JPS5823399A
JPS5823399A JP56122279A JP12227981A JPS5823399A JP S5823399 A JPS5823399 A JP S5823399A JP 56122279 A JP56122279 A JP 56122279A JP 12227981 A JP12227981 A JP 12227981A JP S5823399 A JPS5823399 A JP S5823399A
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JP
Japan
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error
main memory
bit
bit error
address
Prior art date
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Pending
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JP56122279A
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English (en)
Inventor
Akira Jitsupou
実宝 昭
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5823399A publication Critical patent/JPS5823399A/ja
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発@鉱、主記憶装置c !It L 、特c 、主起
1m*fc於ける高集積度半導体メ毫り素子のン7トエ
ラーの障書処瀾clIfするものである。
従来1〆イナミツタl[Malメ篭り素子は、IKビッ
ト、4にビットのスケールでは、メモリ素子の一ルが充
分人動かったが、辺部、高集積化が進み、16にビット
あるい社641ビットの大容量メ苓シ素子になると、メ
4す素子が小さくなったために、メ4す素子の微細化に
伴−天然に存在する放射線などの影響を受けて誤動作を
起しやすくなる。
メ49素子をIILIFするの&ニーわれるパッケージ
に、慟う建ツIでめれ、ガラスで番れ、12Mオーダの
微量なウラン参るいはナトリウムなどの質量の大tlな
究素を不純物として含んでおplこれらの覚素祉それぞ
れの半減期に応じてα線を出しながら原子崩壊を続けて
いく。
一方、ダイナミック形のメモリセルに情報として蓄II
Iされている電子の数は、0.5−4xlO8度で1e
11メ毫り−kkの直下に電子が存在しない状態で情報
管保持して−るとヒろにα線が入射したとすれば、それ
によって発生した電子−正孔対の電子がメモリセルに吸
i集められ、その数はメ篭すの情報を書替えるのに十分
な量とな9%このメモリーkkの内容を読出すと間違っ
た情報が得られるという誤動作を起こすこ&Cなる。
α線による誤動作は、α線が入射した箇所のメ篭り一*
kc@定して発生する4のでToり、入射した後&−*
!#f諷動作する電動作ある。又、メモリの情報を書替
えれげそO動作は正常&:なるし、永久的な欠陥として
そのζん跡を残すわけでもないために、遍雷轄ソフトエ
ラーという言葉で表現される。
しかしながら、ソフトエラーによる1ビツトエラーは、
固定的な障害による1ビツトエラーと比べて起るsnが
10〜100倍と非常に大きいので、2ビツトエラーに
なる確率も大きく、1ビツトエラー検出時には再書込み
を実行し、ソフトエラーによる1ビツトエラーを生じた
メ毫りの情報を修正しておく必要がある。
従来上の種の情報処理システムは、第1図に示すように
、中央処理装置1−1、主記憶装置1−2、主記憶制御
111−5.主記憶111−4、入出力制御ブロセッ+
1−5,1−6から構成され、主記憶部1−4へのアタ
七スビジー制御社、主記憶制御部1−3で與施していた
。91つて、主配憶部1−4への読め命令で1ビツトエ
ラーがなければ、サイタルタイム1(例えばgoosa
)で実行し、1ビツトエラーがめれば遅%Aナイタルタ
イム2(例えばyoosa)に延して1ビツトエラーの
訂正と再書込を実行することができた。
しかし竜から、最近半導体の高集化が進み、更に高性能
大規模なシステムが構成されるようになると、例えば、
嬉2図に示すように、中央l16m111置2−1.2
−4、演算部層装置2.−5.2−4.2−5.2−6
、システム制御装置2−7.2−8、主記憶装置2−!
、2−10、主記憶部2−11.2−12、主記憶制御
部2−115゜2−14、入出力制御プロセツナ2−1
5.2−16.2−17.2−18かb構成されるよう
な情報処理システムにお−ては、主記憶装置2−9ζ2
−10へのアク4ス轄高遮!1!が要求され、このため
に、主記憶装置2−9、!−10へのアタ慟スビジー制
御轄システム1Illll装置2−7.2−IIで與膣
畜れるようcyiつた。
この結果、従来のように、主記憶装置2−9、)10で
メ49ナイタルを制御で自なくなり、主記憶装置自身で
1ビツトエラーの訂正と再書込の制御かで會mV%、I
!りて、大規模碌情報4611システムにシーて紘、ソ
フトエラーによる1ビツトエラ轄旭Illれず、ンフF
エラー鋼斃から次&:おとる2ビツトエラーを防止する
ことがで自取いと−う欠点があった。
本斃@は従来の技llに内在する上記欠点を克服する為
ct畜れたもので61、従って本−明の1的社、大蜆模
取情塾miiシステムにお−て、島運されていなかった
ソフトエラーに対してこれを正しく訂正し再書込みする
ことによp1ソフトエラー顛尭から次に起ζゐ2ビツト
エラーを防止することを可能とした信頼性の高い新規な
主記憶装置を提供するtと&−ある。
本弗明の上記H釣は、中央処理装置と主記憶制御部から
71にり、前記主記憶装置が主記憶制御部と主記憶部か
ら構成畜れかっ前記主記憶制御部に2ビツトエラー検出
機能と1ビツトエラー訂正機能を有するデータ鵡扇シス
テムにおいて、前記主記憶部からの読出しデータの1ビ
ツトエラーを検出して修正するエラー検出修正回路と、
前記主記憶部への書込みデータにエラー検出修正コード
を付加すゐコード発生回路と、1ビットニラ−検出のア
ドレス情報を保持するエラーアドレスレジスタと、前記
中央部層装置にメモリサイタル要求信号を発生ずるメ噌
すサイタル要求回路と、前記中央処理装置からのメモリ
サイタル許可信号に応答して前記エラーアドレスレジス
タの保持する書込へ書込みバイト指定なしの部分書込゛
みコマンドを発生ずるコマンド発生1路とを具備する志
記憶装置、によって達成される。
次に本発明をその良好な−jl!麹例(ついて図面を参
照して詳細に説明する。
始めに、本発明の一1!麹例を示すlFfg図の構成、
結IIm等を明確にする6本発明の一実施例を示す第s
[I&:おいて、情報処理システム轄中央廼運装置3−
1と主記憶装置8−2とかbai!され、本発明に係る
主記憶装置3−2は、主起ms御部3−3と主記憶ll
1l!I−4かb構成される。主記憶制御部s−sは、
主記憶IIB−4からの読出しデータ50001ビツト
エラーを検出して修正するエラー検出修正回路3−5と
、主記憶部S−4への書込みデータ501&:エラー修
正コードを付加するブード尭生■路3−4と、1ビツト
エラー検出のアドレス情報を保持するエラーアドレスレ
ジスタ3−7と、中央処理装置3−1にメモリサイタル
要求信号302を発生するメモリ゛ディタル要京關路ト
8と、中央処理装置ト1からのメー%リサイクル許可I
I奇303に応答してエラーアドレスレジスタ3−7の
保持する番地へ書込みバイト指定なしの部分書込みコマ
ンドを発生するコード発生回路3−9と、主記憶11s
−4へ7クセスア)−L/スを保持するアドレスレジメ
タ3−10トから構成されている。lI、参照書号50
4.305.306.307社アドレス線、308.5
09.510.311はデータ線、312.313.3
14 B :ffw > )−41415,516,5
1乙518.51!、J520は制御線、B−11,5
−12,3−15は切替回路をそれぞれ示している。
次に箇swに示した構Il!勢の作用、動作を順を追っ
て説明する。
中央処理装置5−1か6+主記憶部5−4に対して、ア
ドレス線506で指示されるアドレスに対してコマンド
線814によ夕読出し命令が指示されると、主記憶部5
−4かb読出データ300が読出される。
むの時のIl!出しアドレスは、アドレスレジスタ3−
10&:保持される。
エラー検出修正四路3−5で読出しデータ30001ビ
ツトエラーが検出畜れると“、1ビツトエラー轄修正さ
れ、正しいデータがデータl530Bで中央処理装置s
−1へ送られる。この時、同時に1ビツトエラー検出線
墨15により1ビツトエラー検出のアドレス情報がアド
レスレジスタ5−10から訳出され、エラーアドレスレ
ジスタ5−7c保持される。
1ビツトエラーが検出されたととが1ビツトエラー検出
m51$により、メモリディクル要求關路11に:通知
されると、メ毫すサイタに!!求回路3−8は、メモリ
サイクル要求禦号302により、中央J&lI装置S−
1に、1ビツトエラーを訂正し再書込みするためのメモ
リサイクルを要求する。
中央J611装置′5−1でアク竜スビジー制御が行わ
れ、メモリサイタル許可信号605によりメモリサイク
ルの使用許可が主記憶制御部3−3c通知されると、コ
マンド発生回路3−91j、再書込み制御l1lls!
i17、s18、墨19により切替回路5−11.5−
12、!1−13を各々1儒に切替えて、エラーアドレ
スレジスタN−7の保持するIIrjIi+へ書込みバ
イト指定を全バイト無効にして、部分書込みコマンドを
amする。
本コマンドによpエラーアドレスレジスタ3−7で11
tFされたアドレスからデータを読出し、エラー検出修
正回路!i−5で1ビツトエラーを修正した後に、切替
−185−12を経由してコード発生回路3−6でエラ
ー修正コードを付加してそのデータをエラーアドレスレ
ジスタ3−7で指定されたアドレスに書戻ゝ1作を行う
、このときの1ビツトヱラー検出は、再書込み制御線5
20 Cより、エラー検出修正回路墨−5に指示がTo
jl、 1ビットエ予−は通知されない。
これにより、指定アドレスに祉ノフトエラーによる1ビ
ツトエラーが訂正された正しいデータが書込壇れたのて
、ンフトエラーにょる障Wは処置されたことCな−p1
記懐装璽の高信頼性が保証される。
以上説明した本実施例では、中央処理装置3−1からの
メ49ヤイタル許可匍号SO5c応答してエラーアドレ
スレジスタ3−7の保持する番地へ書込みバイト指定な
しの部分書込みOffンドを発生すルコマンド尭!kn
m&−9及び1ビフトエラー検出のアドレス情報を保持
するエラーアドレスレジスタS−7蝶、主記憶制御部に
あるが、中7央lAl1装置H−ICToってもさしつ
かえない。
本発明には、以上説明したように、ンフトエラー検崗時
に主記憶装置のメモ・リサイタル要求回路によ1メ毫リ
ナイタルを要求し、中央処理装置からの許可に応じて部
分書込命令によp再書込みを行い、ソフトエラーを正し
く書戻して、ソフトエラ−mmから*に起むる2ビツト
エラーを防止する伽額性の高い記憶装置を提供できると
いう効果がある。
以上本発明をその良好な一実謔例について説明したが、
それ社単なる例示的なものでToj!、ここで説嘴畜れ
た実施例によっての拳本願発@が限定される亀のτ攻い
ことは勿論でめる。
4 8!i!wem単tsui 11111!従来の情報部層システムの構成図、第2閣
は最近の情IIII&濁システムの構成図、第3図は本
発明の一1I論例を示すブロック構成図である。
1−1・・・中央地層装置、1−2・・・主記憶装置、
1−s・・・主記憶制御部、1−4・−一主記健部、1
−5,1−6・・・入出力制御ブロセツt、2−1.2
−2−−6中央処ms置、2−L2−4.2−5.2−
6・・・演算処理装置、2−7.2−8  ・・・クス
テム制御装置、2−9.2−10・・・主記憶装置、2
−11.2−12・・・主記憶部、2−13 、2−1
4・・・主記憶制御部、2−15.2−14.2−17
.2−18・・・入出力制御プロ竜ツナ、5−111・
拳中央処理装置、3−2Φ・・主記憶装置、s−5・―
・主記憶、制御部、3−4・・・主記憶部、3−5・−
・エラー検出修正回路、l5−6・・−コード発IJ!
回路、5−7・・・エラーアドレスレジスタ、3−8・
・・メモリサイタル要求回路、5−9・・・コマンド尭
生回路、!−10・・・アドレスレジスタ、5−11.
3−12.3−15・・・切替回路、墨02・嗜・メモ
リサイクル要求信号、30s・・・メモリサイクル許可
信号、304、!$115.306、s07・・・アド
レス線、500 % 501.308、!09.310
.511−−− f −#曽、312.313、!14
0@ I ’:3 ”@f Iド線、515% 316
、s17.518.519.320・・・制−一   
、、 特許出願人   日本電気株式会社 代 通 人   弁理士 熊谷雄太部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 中央Jl11ml置と主記憶装置とから’k j %前
    記主記憶−置tIK!!記憶制御部と主記憶部門ら構威
    畜れか0#II記友配憶制御部に2ビツト工ラー検綱機
    飽−と1.ビットエラー町):IIIA鉋を有する情報
    #&層システム&:かいて、鍵Ie主記憶郁からの読出
    しデータの1ビツトエラーを験肯して修正するエラー検
    出修正sg+mと、#IjI!!主1!!II部への書
    込みデータに工予−検出修正冨−ドを付加する;−rl
    ll回生と、1ビツトエラー検出のアドレス情軸を保持
    するエラーアドレスレジスタと、曽記中央II&履装置
    にメ4リナイタkI!京儒奇を侮生ずるメ%リナイタル
    要京−路と、鍵記中央J6m1装置からのメモリサイタ
    ル許可儒奇に応答して鍾記エラーアドレスレジスタの保
    持す為tIIhへ書込みパイ)mjLFなしの部分書込
    みコマンドを**する:Iマント斃生−膝とを軟妙、1
    ビツトエラー検出時に、鍵記中央鵡層装置へ要求して許
    可のあったメJ@ッナイクル中に前記力マンド発生回路
    からの部分書込みコマンドによ1前記工ラー検出修正a
    mと前記=−ド発生回路とを動作させ1ビツトエラーを
    した替地のデータを修正して書き戻す仁とを轡徽とする
    ′主記憶装置。
JP56122279A 1981-08-03 1981-08-03 主記憶装置 Pending JPS5823399A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008173802A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Central Glass Co Ltd 遮音性積層構造体及びその製法
JP2016197183A (ja) * 2015-04-03 2016-11-24 旭ファイバーグラス株式会社 ガラス繊維断熱吸音体及びその使用方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52129334A (en) * 1976-04-23 1977-10-29 Nec Corp Memor
JPS5622291A (en) * 1979-07-31 1981-03-02 Fujitsu Ltd Bit error correction method for memory

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52129334A (en) * 1976-04-23 1977-10-29 Nec Corp Memor
JPS5622291A (en) * 1979-07-31 1981-03-02 Fujitsu Ltd Bit error correction method for memory

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008173802A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Central Glass Co Ltd 遮音性積層構造体及びその製法
JP2016197183A (ja) * 2015-04-03 2016-11-24 旭ファイバーグラス株式会社 ガラス繊維断熱吸音体及びその使用方法

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