JPS58221181A - 試料管検知装置 - Google Patents
試料管検知装置Info
- Publication number
- JPS58221181A JPS58221181A JP57103874A JP10387482A JPS58221181A JP S58221181 A JPS58221181 A JP S58221181A JP 57103874 A JP57103874 A JP 57103874A JP 10387482 A JP10387482 A JP 10387482A JP S58221181 A JPS58221181 A JP S58221181A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample tube
- output
- section
- voltage
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V8/00—Prospecting or detecting by optical means
- G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
- G01V8/12—Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光を用いて試料管の有無を検知する分析装置の
試料管検知装置に関する。
試料管検知装置に関する。
光を用いて試料管の有無を検知する装置として従来、試
料管表面の光の反射を利用する装置が考えられていたが
、試料管表面の汚れや試料管の洞質の影智を受ける欠点
があった。
料管表面の光の反射を利用する装置が考えられていたが
、試料管表面の汚れや試料管の洞質の影智を受ける欠点
があった。
また試料管を透過した光を利用する装置では、発光素子
や受光素子の取付位置精度、素子相互の％性の差、周囲
ン昌度の影響によって受光ス：子出力が装置ごとにｌ！
なるので、透過光量変化の小さい透明が試ＩＩ Ｗを検
知する場合には、受光素子出力から透過光量変化に対応
する信号を検知するのが困ＩＡｉＲであった。
や受光素子の取付位置精度、素子相互の％性の差、周囲
ン昌度の影響によって受光ス：子出力が装置ごとにｌ！
なるので、透過光量変化の小さい透明が試ＩＩ Ｗを検
知する場合には、受光素子出力から透過光量変化に対応
する信号を検知するのが困ＩＡｉＲであった。
つ捷り第１図に示すごとく、発光ψ子と受光叱子とが一
本の光軸上に対向して配置されて成る光路を試料管が通
過すると、受光素子の出力は装置ごとにＶ、、Ｖ、等の
ように異ったイｉｌｆとり、検知誤シが生ずることにな
る。
本の光軸上に対向して配置されて成る光路を試料管が通
過すると、受光素子の出力は装置ごとにＶ、、Ｖ、等の
ように異ったイｉｌｆとり、検知誤シが生ずることにな
る。
本発明は上記問題点を解決すべく、透溝光量の微小な変
化による試料管の検知を実現することを目的とする。
化による試料管の検知を実現することを目的とする。
この目的を達成するために本発明は、受光素子の出力が
一定となるよう、発光業子出力を制御するものであるが
、直流を含む借周波を帰還する手段を制御系に単に設け
ただけでは、発光素子及び受光１子から成る光路を試料
管が通過した際に、ｔｌｉ制御オミが低周波で発振して
し１う。
一定となるよう、発光業子出力を制御するものであるが
、直流を含む借周波を帰還する手段を制御系に単に設け
ただけでは、発光素子及び受光１子から成る光路を試料
管が通過した際に、ｔｌｉ制御オミが低周波で発振して
し１う。
本発明は光路を試料管が通過する際の透過率変化（受光
素子出力の減少）に対し７ては、ゆつくシ応答し、他の
要因による受光素子出力の増加に対しては匂速に応答す
るような帰蕪手段を有することを特徴とする。
素子出力の減少）に対し７ては、ゆつくシ応答し、他の
要因による受光素子出力の増加に対しては匂速に応答す
るような帰蕪手段を有することを特徴とする。
以下、本発明の一実施例を図面を用いて説、明する。
第２図（は本発明の全体構成を示す図である。こ（Ｄ
実Ｍｌｊ例は発光Ｍ（１２，１４）、受光１１２２゜２
４）、差動増幅部及び比較部（３２，３４，３６゜５２
．５４）、極値保持部（４２，４４，４６３の５部分か
ら成る。
実Ｍｌｊ例は発光Ｍ（１２，１４）、受光１１２２゜２
４）、差動増幅部及び比較部（３２，３４，３６゜５２
．５４）、極値保持部（４２，４４，４６３の５部分か
ら成る。
バッファ増幅器１４により駆動される発光素子１２から
光路上に送出された光は、受光素子２２により電流に変
換され、抵抗２４によ多出力電圧Ｖ２として差動増幅器
３２及び比較器５２に入力される。
光路上に送出された光は、受光素子２２により電流に変
換され、抵抗２４によ多出力電圧Ｖ２として差動増幅器
３２及び比較器５２に入力される。
差動増幅器３２及び比較器５２は、抵抗３４゜３６．５
４で定まる基準電位ｖＩＬ及び５６を参照して受光素子
２２の出力電圧ｖ８を、それぞれ差動増幅１〜、比較す
る。
４で定まる基準電位ｖＩＬ及び５６を参照して受光素子
２２の出力電圧ｖ８を、それぞれ差動増幅１〜、比較す
る。
基準電位Ｖ よりＸｌ が大きい場合は差動増幅ＲＥ
器３２の出力は負電圧となるため、コンデンサ４６の電
荷はダイオード４２をつＬｌじて数箱され、電位４８が
但下しバッファ増幅器１４の出力が低下して発光素子１
２０発光光Ｂ： ｆ：ｉ＜少させる。
荷はダイオード４２をつＬｌじて数箱され、電位４８が
但下しバッファ増幅器１４の出力が低下して発光素子１
２０発光光Ｂ： ｆ：ｉ＜少させる。
−また基準電位■ よりＶ が小さい場合は、差Ｅ
動増幅器３２の出力は正直圧となるもののダイオード４
２によ−ｂ電荷の移動は起こらず、コンデンサ４６は抵
抗４４からの電流のみによシ、ゆるやかに充電される。
２によ−ｂ電荷の移動は起こらず、コンデンサ４６は抵
抗４４からの電流のみによシ、ゆるやかに充電される。
このため発光光ｉ″はゆるやかに増加し、受光素子２２
の出力ｖＦ、が基準電位ｖＲに等しくなるまでコンデン
サ４６の充電が続けられる。
の出力ｖＦ、が基準電位ｖＲに等しくなるまでコンデン
サ４６の充電が続けられる。
辺土の様に、受光素子２２の出力Ｖ は発光素子１２や
受光素子２２の状態に依存せず、基準電位Ｖ に尋しく
なるよう制御されている。
受光素子２２の状態に依存せず、基準電位Ｖ に尋しく
なるよう制御されている。
このため光路を試料管が横切る時のような弁速な光景減
少には制御が働かず、第３図に示したように、試料管が
光路−ヒに無い場合は一定値■ に几 保たれ、試料管の通過に伴う光量の変化は確実に検知さ
れるのである。
少には制御が働かず、第３図に示したように、試料管が
光路−ヒに無い場合は一定値■ に几 保たれ、試料管の通過に伴う光量の変化は確実に検知さ
れるのである。
従って第３図の■ と■ の間に基準電５位５６ｆｌ
ｒｎｌｎ を設定すれば、受光素子２２の出力ＶＢと基準電位５６
を比較器５２で比較することによ多安定に試料管の有無
を検知できる。
ｒｎｌｎ を設定すれば、受光素子２２の出力ＶＢと基準電位５６
を比較器５２で比較することによ多安定に試料管の有無
を検知できる。
また抵抗４４とコンデンサ４６で定まる時定数を試料管
が光路を横切る時間に比べて十分大きく設定すれば、受
光素子２２の出力を次の（１）式のように近似できる。
が光路を横切る時間に比べて十分大きく設定すれば、受
光素子２２の出力を次の（１）式のように近似できる。
Ｖ ＝Ｖ ＸＴ ・・・（］
）Ｂ１’Ｌ 但し、Ｔ＝透透過光量７光光光 量まシ比較器５２の代わシに第３図■８の極値を測定す
る手段を設ければ、透過率Ｔを検知できることを（１）
式は示唆するものである。
）Ｂ１’Ｌ 但し、Ｔ＝透透過光量７光光光 量まシ比較器５２の代わシに第３図■８の極値を測定す
る手段を設ければ、透過率Ｔを検知できることを（１）
式は示唆するものである。
さらにまた発光素子１２及び受光素子２２は試料管の移
動路をはさんで一本の光軸上に対向して配置されてもよ
いし、鏡等と各素子を対向させることによシ試料管１本
の通過に伴い複数回、光路を通過するように配置されて
もよい。この場合、検知信号は試料管の複数倍になるの
で計数の信頼性が上がることになる。
動路をはさんで一本の光軸上に対向して配置されてもよ
いし、鏡等と各素子を対向させることによシ試料管１本
の通過に伴い複数回、光路を通過するように配置されて
もよい。この場合、検知信号は試料管の複数倍になるの
で計数の信頼性が上がることになる。
以上、本発明によれば発光素子や受光素子の取付位置の
調整が不要で、素子相互の特性の差及び周囲温度の影響
を補償し試料管を無接触で安定確実に検知し得る試料管
検知装置を提供できる。
調整が不要で、素子相互の特性の差及び周囲温度の影響
を補償し試料管を無接触で安定確実に検知し得る試料管
検知装置を提供できる。
第１図は発光素子、受光素子の取付位置精度、素子相互
の特性差、周囲温度の影響による受光素子出力の差と、
試料管の移動に伴う出力変化を示す図、第２図は本発明
の一実施例の全体構成図、第３図は第２図の受光素子の
出力であって第１図に対応する出力変化を示す図。
の特性差、周囲温度の影響による受光素子出力の差と、
試料管の移動に伴う出力変化を示す図、第２図は本発明
の一実施例の全体構成図、第３図は第２図の受光素子の
出力であって第１図に対応する出力変化を示す図。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 】、試料管の移動路上に光を送出する発光部と、該発光
部からの光を受ける受光部と、 該受光部の出力と第１の基準信号とを入力する差動増幅
部と、 該差動増幅部の出力の極値を保持し前記発光部の入力端
に帰還する極値保持部と、 前ｉｈ受光部出力と第２の基準信号とを比較し試料管検
知信号を出力する比較部 とから成ることを特徴とする試料管検知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57103874A JPS58221181A (ja) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | 試料管検知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57103874A JPS58221181A (ja) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | 試料管検知装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58221181A true JPS58221181A (ja) | 1983-12-22 |
Family
ID=14365576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57103874A Pending JPS58221181A (ja) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | 試料管検知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58221181A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0418989A2 (de) * | 1989-09-16 | 1991-03-27 | Bernd Ottleben | Lichtschranke |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5344048A (en) * | 1977-05-16 | 1978-04-20 | Omron Tateisi Electronics Co | Photoelectric detector |
-
1982
- 1982-06-18 JP JP57103874A patent/JPS58221181A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5344048A (en) * | 1977-05-16 | 1978-04-20 | Omron Tateisi Electronics Co | Photoelectric detector |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0418989A2 (de) * | 1989-09-16 | 1991-03-27 | Bernd Ottleben | Lichtschranke |
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