JPH02257076A - ディジタルスクイド制御方式 - Google Patents

ディジタルスクイド制御方式

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JPH02257076A
JPH02257076A JP1079299A JP7929989A JPH02257076A JP H02257076 A JPH02257076 A JP H02257076A JP 1079299 A JP1079299 A JP 1079299A JP 7929989 A JP7929989 A JP 7929989A JP H02257076 A JPH02257076 A JP H02257076A
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bias current
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JP1079299A
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Osamu Hayashi
治 林
Hiroshi Igarashi
寛 五十嵐
Takehiko Hayashi
武彦 林
Takao Goto
隆男 後藤
Shinichi Amamiya
慎一 雨宮
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/035Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using superconductive devices
    • G01R33/0354SQUIDS
    • G01R33/0356SQUIDS with flux feedback
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S505/00Superconductor technology: apparatus, material, process
    • Y10S505/825Apparatus per se, device per se, or process of making or operating same
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    • Y10S505/843Electrical
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 被測定物体から放射される磁界強度をディジタルスクイ
ドを用いて測定するディジタルスクイ1制御方式に関し
、 ジョセフソン接合によって生成される注入端子Bにお番
ノる単位時間当りの正パルス数、負パルス数、あるいは
両者の和のパルス数が一定になるように当該ジョセフソ
ン接合に供給する交流バイアス電流■□をフィードバッ
ク制御し、高感度、高精度、かつ低コストで被測定物体
の磁界を測定することを目的とし、 被測定物体から放射される磁界を超伝導のピックアンプ
コイルL4によって検出し、これと共にループを形成す
るインプットコイルL、に対して、超伝導コイルL2に
よって磁界結合するループにジョセフソンtl−を配置
してこのジョセフソン接合に外部から交流バイアス電流
1nを重畳する態様で供給し、この時に検出される単位
時間当りの正パルス数および負パルス数の和を一定値に
するように上記交流バイアス電流IBの振幅をフィード
バックすると共に、単位時間当りの正パルス数および負
パルス数の差が零になるように、上記超伝導コイルL2
に対して磁界結合でフィードバックし、この時のフィー
ドバック量を被測定物体の磁界として測定するように構
成する。また、」1記交流バイアス電流を重畳する態様
で供給し、この時に検出される単位時間当りの正パルス
数、負パルス数、あるいは両者の和を計数して保持し、
この保持したパルス数のもとで交流バイアス電流I、を
制御すると共に、単位時間当りの正パルス数および負パ
ルス数の差が零になるように、上記超伝導コイルL2に
対して磁界結合でフィーI・ハックし、この時のフィー
ドハ・ツク量を被測定物体の磁界として測定するように
構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、被測定物体から放射される磁界強度をディジ
タルスクイドを用いて測定するディジタルスクイド制御
方式に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、例えば第5図に示すように、被測定物体から放射
される磁束Φ。を超伝導のピックアップコイル■、4で
検出してこれによって超伝導のインプットコイルL、に
電流を流す。このインプットコイルL、に磁気結合した
超伝導コイルL2およびジョセフソン接合J+ 、J2
を持つジョセフソン素子からなるループを配置し、更に
このジョセフソン素子に外部から振幅変調波形発生器1
1によって交流バイアス電流IBを重畳する。この重畳
した注入端子Bにおける正パルス数および負パルス数を
アンプダウンカウンタエ2を用いて計数(正パスルの時
に+1、負パルスの時に−1して計数)し、その計数結
果をD/A変換器13、ローパスフィルタ14、電流変
換器15、およびコイルL3を介して超伝導コイルL2
に磁気結合によってフィードバックする。このフィード
バック量■、によって、被測定物体から放射される磁束
Φ。を測定するようにしている。
具体的に説明すると、ジョセフソン接合J1、J2を持
つジョセフソン素子の闇値特性は、第6図に示すように
、被測定電流■。が零状態のもとて、交流バイアス電流
1gの振幅が閾値I。ないし−1oの範囲内にあるLl
sL3の近辺ではジョセフソン接合J、 、J2が零電
圧状態、それよりも大きいt2近辺では電圧状態となる
。これにより、被測定電流■。が零の時には、第6図(
ロ)に示すように、正パルスおよび負パルス数か等しく
なる。被測定電流■。が正(負)の時には、第6図(ハ
)(第6図(ニ))に示すように、正パルス数(負パル
ス数)が多くなる。そして、実際の測定の際に、交流バ
イアス電流IBの振幅を図示1oの近傍に位置づり、正
パルス数と負パルス数との差に対応する電流を第5図フ
ィードバンクコイルL3に供給して超伝導コイルL1に
磁気結合によってフィードバックし、結果として第6図
(ロ)に示すように単位時間当りの正パルス数および負
パルス数を等しくした時のフィードバックit ■tを
、被測定物体から放射される磁束〔f〕cとして測定す
るようにしていた。
〔発明が解決しようとする課題〕 従来は、第6図に示すように、ジョセフソン接合J、 
、J2に供給する交流バイアス電流Illの振幅を図示
のように低周波の小振幅の三角波で変調しており、これ
の振幅を小さくしたり、更に交流バイアス電流IBの周
波数を増大して注入端子Bで検出される単位時間当りの
正パルス数および負パルス数を増大し、測定精度を向上
させることが考えられる。しかし、三角波の振幅を小さ
くしたのでは、経時変化によって交流バイアス電流I8
の振幅が変化した場合、例えば振幅が小さくなった場合
、微小な被測定電流が入力しても、全く正パルス、負パ
ルスが発生しなくなってしまう問題がある。逆にIBの
振幅が大きくなった場合、正パルス、負パルス共にパル
ス数に変化を生じなくなってしまう問題がある。また、
交流バイアス電流IBの周波数を増大したのでは、計数
回路などに使用する部品が高価となってしまうなどの問
題があった。
本発明は、ジョセフソン接合によって生成される注入端
子Bにおける単位時間当りの正パルス数、負パルス数、
あるいは両者の和のパルス数が一定になるように当該ジ
ョセフソン接合に供給する交流バイアス電流IBをフィ
ードバンク制御し、高感度、高精度、かつ低コストで被
測定物体の磁界を測定することを目的としている。
〔課題を解決する手段〕
第1図を参照して課題を解決する手段を説明する。
第1図において、ジョセフソン素子ば、超低雁体−絶縁
体−超伝導体から構成され、流れる電流によって零電圧
状態と電圧状態とを遷移(スイッチング)するものであ
る。図中のJ、 、J2は、ジョセフソン素子の接合面
を表す。
超伝導イルL2は、被測定物体から放射されて検出され
た被測定電流1cを磁界結合によって取り込み、ジョセ
フソン素子に供給するものである。
パルスレート測定器2は、ジョセフソン素子によってス
イッチングされた後の注入端子Bにおりる単位時間当り
の正パルス数および負パルス数の和を測定するものであ
る。
交流電流発生器3ば、交流バイアス電流IRを発生して
ジョセフソン素子に供給するものである。
フィードバックコイルL3は、磁界結合によって電流を
超伝導コイルL2にフィードバックするものである。
第4図において、カウンタ8−1は、注入端子Bにおり
るある一定時間内の正パルス数、負パルス数、あるいは
両者の和を計数するものである。
レジスタ8−2は、カウンタ8−1によって計数された
パルス数を保持するものである。
〔作用〕
本発明は、第1図に示すように、被測定対象から放射さ
れた磁界に対応する被測定電流1cを超伝導コイルL1
を介して、および外部の交流電流発生器3から交流バイ
アス電流Illを重畳する態様でジョセフソン接合に供
給したことに対応して、当該ジョセフソン接合が闇値以
下の時に零電圧状態、闇値以上の時に電圧状態となり、
これによって生成された注入端子Bにおける単位時間当
りの正パルス数および負パルス数の和をパルスレー1・
測定器2によって測定し、この和をもとに交流バイアス
電流TBの振幅をフィートハック制御するようにしてい
る。また、第4図に示すように、注入端子Bにおける正
パルス数、負パルス数、あるいは両者の和のパルス数の
いずれかをカウンタ81で計数してレジスタ8−2で保
持し、このレジスタ8−2で保持した状態で交流バイア
ス電流IHの振幅をフィードバック制御するよ・うにし
ている。そして、これらフィードバック制御した状態の
もとで、注入端子Bにおげろ単位時間当りの正パルス数
および負パルス数の差が零になるようにフィードバック
コイルL3を介して超伝導コイルL2に磁気結合によっ
てフィードバック制御し、この時のフィードバック量I
、を被測定対象の磁界として測定するようにしている。
従って、ジョセフソン接合によってスイッチングされた
後の注入端子Bにおける単イ立時間当りの正パルス数、
負パルス数、あるいは両者の和のパルス数によって交流
バイアス電流IBの振幅をフイードハック制i11シた
状態のもとで、零点法によって被測定物体の磁界を測定
することにより、常に最大感度が得られる交流バイアス
電流T、の値に保持することが可能となり、高感度、高
精度、かつ安価に微小磁場を測定する装置を提供するこ
とができる。
〔実施例〕
次に、第1図から第4図を用いて本発明の1実施例の構
成および動作を順次詳細に説明する。
第1図において、スクイド1は、超伝導コイルであるピ
ックアップコイルL4によって被測定物体から放射され
た微小磁界を検出した被測定電流■、を、零点法によっ
て測定するものである。このピックアップコイルL4お
よびインプットコイルL 、によって構成されるループ
に流れる被測定電流I、によって発生ずる磁界が、スク
イド1を構成する超伝導コイルL2を含むループと鎖交
して電流を発生させる。この発生された電流値が所定の
闇値よりも大きくなるとスクイドを構成するジョセフソ
ン素子が零電圧状態から電圧状態にスイッチングする。
この際、外部の注入端子Bから交流電流発生器3によっ
て発生された交流バイアス電流Inを重畳する態様で入
力すると、正パルスおよび負パルスが注入端子Bに表れ
る。こごで、J+ 、Jzは、超伝導体−絶縁物(トン
ネル電流が流れる程度に薄い絶縁物)−超伝導体によっ
て構成されるジョセフソン接合面を表す。Φ。は、被測
定物体からの磁束を表す。
パルスレート測定器′2は、注入端子Bにおりる単位時
間当りの正パルス数および負パルス数の和N、Nを測定
するものである。VPNは、この和N18を電圧に変換
したものである。
交流電流発生器3は、パルスレー1・測定器2から入力
されたパルス数の和NPHに対応する電圧■Iをもとに
、注入端子Bに対して、最大感度が得られる交流バイア
ス電流■おの振幅をフィート′ハックする態様で制御す
るものである。
増幅器3−1は、パルスレート測定器2から入力端子す
に入力された電圧VPNと、入力端子aに入力された固
定的な電圧−Vlとの和を反転増幅した電圧■3を生成
するものである。
乗算器3−3は、交流信号発生器3−2によって生成さ
れた交流バイアス電圧に対して、増幅器3−′1から入
力された電圧■8を乗算し、その結果を電流に変換する
高抵抗R4を介して注入端子Bに交流バイアス電流I[
lとして供給するものである。これにより、注入端子B
には、単位時間当りの正パルス数と負パルス数との和が
常に一定になるようにフィートハック市II?卸される
こととなる。
パルス計測器4は、注入端子Bの正パルス数と、負パル
ス数との差を求めるアップダウンカウンタ4−1、この
差をアナログ電圧に変換するD/A変換器4−2、変換
されたアナログ電圧を電流に変換してフィードバックコ
イルL3に供給する電流変換器4−3から構成されてい
る。フィートノ八ツクコイルL3に供給された電流によ
って発生した磁束がスクイド1を構成する超伝導コイル
L2と鎖交して当該スクイド1に対してフィードバック
制御されることとなる。そして、このフィードバック量
が被測定物体の磁束Φ。とじて測定される。
次に、第2図を用いて第1図構成の動作を説明する。
第2図(イ)は、スクイド↓の動作特性例を示す。横軸
は被測定電流■6を表し、縦軸は交流バイアス電流I、
を表す。
第2図(イ)において、被測定電流ICが零の状態で、
交流バイアス電流I11の振幅を徐々に大きくしていく
と、スクイド1から発生ずる雑音のため(例えば第2図
(ロ)に示す雑音のため)に、第2図(ハ)に示すよう
に、出力パルスの単位時間当りの正パルス数NP、負パ
ルス数N7ともほぼ同じ値で徐々に上昇する。更に交流
バイアス電流raを大きくすると、両者ともに飽和し、
当該交流バイアス電流IRの周波数f、に等しくなる。
この際、正パルス数NF、負パルス数N、がともに交流
バイアス電流IBの周波数f1の1/2付近の振幅I。
の時に、当該正パルス数NP、負パルス数N7の変化率
が最大となり、検出感度が最高となる。従って、本実施
例は、正パルス数N。
と負パルス数N。との和が交流バイアス電流IBの周波
数f、にほぼ等しくなるように当該交流バイアス電流I
Bの振幅をフィードバンク制御するようにしている。
第2図(ニ)は、第1図パルスレート測定器2によって
測定された交流バイアス電流IEの単位時間当りの正パ
ルス数と負パルス数との和N、Nを電圧VPNに変換す
る様子を示す。
第2図(ホ)は、第2図(ニ)を第1図増幅器3−1に
入力した時に、出力端子から送出される反転増幅された
電圧V3の様子を示す。ここで、交流バイアス電流IB
の周波数f、に対応する電圧■1を送出し、感度を最良
にするようにフィードバックする。
以上のように、スクイド1の注入端子Bに対して、当該
注入端子Bにおける単位時間当りの正パルス数および負
パルス数の和N、Nをほぼ交流バイアス電流■6の周波
数fIに等しくなるように当該交流バイアス電流TBの
振幅をフィードバック制御することにより、常に最高感
度状態のもとて被測定電流I。を高精度に測定すること
が可能となる。
第3図は、本発明の他の実施例構成図を示す。
これは、注入端子Bにおりる単位時間当りの正パルス数
および負パルス数の和NP)Iにより発生する電圧■p
ゎと、交流バイアス電流Inの周波数11に対応する設
定電圧Vflとを差分積分器6に入力し、これら両者の
差電圧V、を交流電流発生器7に供給し、NpHがf、
となるような交流バイアス電流■おの振幅をフィードバ
ンク制御するようにしている。
第4図は、本発明の他の実施例構成図を示す。
これは、被測定電流I、を零にした状態のもとで、注入
端子Bにおけるある一定時間内の正パルス数、負パルス
数、あるいは両者の和のパルス数のいずれかをカウンタ
8−1て計数し、第4図(ロ)シフ1〜パルスてこのカ
ウンタ8−1で計数したパルス数をレジスタ8−2に設
定し、D/A変換器83および交流電流発生器7によっ
て交流バイアスミ流IRを注入端子Bに供給することを
繰り返し、注入端子Bに出力されるパルス数が所望の値
に安定した時に、図示S W +を開放状態にし、レジ
スタ8−2に保持したパルス数をもとに、注入端子Bに
供給する交流バイアス電流IBの振幅を制御するように
したものである。このように、測定開始当初に自動的に
校正を行い、その後に被測定電流■。を測定することに
より、最高感度状態のもとて高精度に被測定電流1cを
測定することが可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、ジョセフソン接
合によってスイッチングされた後の注入端子Bにおける
単位時間当りの正パルス数、負パルス数、あるいは両者
の和のパルス数によって交流バイアス電流工8の振幅を
フィードバック制御した状態のもとで、被測定物体の磁
界を零点法によって測定する構成を採用しているため、
交流バイアス電流を常に最大感度が得られる交流バイア
ス電流値の極く近傍に保持し、高感度、高精度、かつ安
価な回路構成によって被測定物体の磁界を測定すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例構成図、第2図は本発明の動
作説明図、第3図、第4図は本発明の他の実施例構成図
、第5図は従来技術の説明図、第6図は従来技術の動作
説明図を示す。 図中、1はスクイド、2.8はパルスレート測定器、3
.7交流電流発生器、3−2は交流信号発生器、4はパ
ルス計測器、8−1はカウンタ、8−2はレジスタ、L
Iはインプソ1−コイル、L2は超伝導コイル、L3は
フィードバックコイル、L4はピックアップコイル、J
l、Jzはジョセフソン接合を表す。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定物体から放射される磁界をディジタルスク
    イドを用いて測定するディジタルスクイド制御方式にお
    いて、 被測定物体から放射される磁界を超伝導のピックアップ
    コイルL_4によって検出し、これと共にループを形成
    するインプットコイルL_1に対して、超伝導コイルL
    _2によって磁界結合するループにジョセフソン接合を
    配置してこのジョセフソン接合に外部から交流バイアス
    電流I_Bを重畳する態様で供給し、この時に検出され
    る単位時間当りの正パルス数および負パルス数の和を一
    定値にするように上記交流バイアス電流I_Bの振幅を
    フィードバックすると共に、単位時間当りの正パルス数
    および負パルス数の差が零になるように、上記超伝導コ
    イルL_2に対して磁界結合でフィードバックし、この
    時のフィードバック量を被測定物体の磁界として測定す
    るように構成したことを特徴とするディジタルスクイド
    制御方式。
  2. (2)上記交流バイアス電流を重畳する態様で供給し、
    この時に検出される単位時間当りの正パルス数、負パル
    ス数、あるいは両者の和を計数して保持し、この保持し
    たパルス数のもとで交流バイアス電流I_Bを制御する
    と共に、単位時間当りの正パルス数および負パルス数の
    差が零になるように、上記超伝導コイルL_2に対して
    磁界結合でフィードバックし、この時のフィードバック
    量を被測定物体の磁界として測定するように構成したこ
    とを特徴とするディジタルスクイド制御方式。
JP1079299A 1989-03-30 1989-03-30 ディジタルスクイド制御方式 Pending JPH02257076A (ja)

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