SU767512A1 - Устройство дл измерени линейных микроперемещений поверхностей - Google Patents

Устройство дл измерени линейных микроперемещений поверхностей Download PDF

Info

Publication number
SU767512A1
SU767512A1 SU782648352A SU2648352A SU767512A1 SU 767512 A1 SU767512 A1 SU 767512A1 SU 782648352 A SU782648352 A SU 782648352A SU 2648352 A SU2648352 A SU 2648352A SU 767512 A1 SU767512 A1 SU 767512A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
input
microdisplacements
integrator
comparator
Prior art date
Application number
SU782648352A
Other languages
English (en)
Inventor
Изя Яковлевич Хаймзон
Владимир Михайлович Дубовой
Елена Ивановна Галицына
Original Assignee
Винницкий политехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Винницкий политехнический институт filed Critical Винницкий политехнический институт
Priority to SU782648352A priority Critical patent/SU767512A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU767512A1 publication Critical patent/SU767512A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к области измерительной техники и может быть использовано дл  измерени  линейных микроперемещений поверхностей.
Известно устройство дл  измерени  амплитудывибраций, содержащее монохроматический источник света, интерферометр с экраном и окул ром и механический прибор с задающим генератором 1 .
Недостатком устройства  вл ютс  низка  точность и малое быстродействие , обусловленное наличием в устройстве перемещающихс  узлов.
Наиболее близким к изобретению  вл етс  устройство дл  измерени  линейных микроперемещений поверхностей , содержащее источник монохроматического света, фокусирующую линзу, СООСНУЮ источнику
хроматического света, фотомикрбскоп , расположенный под заданным углом к оптической оси источника М онохроматического света, регистратор и блок формировани  сигналу обратной св зи, соединенный входом с выходом фотомикроскопа, а выходами - с фокусирующей линзой и регистратором 2.
Это устройство также не обеспечивает точности, быстродействи  и надежности измерений из-зи наличи  в устройстве перемацающихс  узлов.
Цель изобретени  - повышение точности, быстродействи  и надежности измерений.
Дл  этого в устройстве блок фор0 мировани  сигнала обратной св зи выполнен в виде линии задержки, соединенной входом с выходом фотомнкроскопа , компаратора, соединенного пр мым входом с выходом фотомикрос15 копа, а инверсным входом с выходом линии задержки, счетного тригге-ра , соединенного входом с выходом компаратора, узла вычитани , соединенного входами с выходами счетного триггера, и интегратора, соединенного входом с выходом узла .вычитани , а выходом - с входом регистратора , а фокусирующа  линза выполнена в виде цилиндрического электросп25 тического кристалла,размещенного в заземленном цилиндрическом электроде , внутри которого коаксиально расположен управл ющий электрод , соединенный с выходом интегратора.
На чертеже изображена схема предложенного устройства.
Устройство содержит источник 1 монохроматического света, фоку-. сирующую линзу 2, соосную источнику 1, фотомикроскоп 3, расположенный под заданным углом к оптической оси источника 1 монохроматичесг кого света, регистратор 4 и блок 5 формировани - сигнала обратной св зи , соединенный входом с выходом фотомикроскопа 3, авыходами - с фокусирующей линзой 2 и регистратором 4.
Блок 5 выполнен в виде линии .6 задержки, соединенной входом с выходом фотомикроскопа 3, компаратора 7/ соединенного пр мым входом с выходом фотомикроскопа 3, а инверсным входом - с выходом линии б задержки , счетного триггера 8, соединенного входом с выходом компаратора 7, узла 9 вычитани , соединенного входами с выходами счетного триггера 8, и интегратора 10, соединенного входом с выходом узла 9 вычитани , а выходом - со входом регистратора 4,
Фокусирующа  линза 2 выполнена в видецилиндрического электрооптического кристалла 11, размещенного в зaзё /Lггeннoм цилиндрическом эле . Ктроде 12, внутри которого коакси ально расположен управл ющий электрод 13, соединенный с выходом интегратора 10.
Устройство работает следующим образом.
В процессе измерени  световой пучок от источника 1 монохроматического света с помощью фокусирующей линзы 2 фокусируетс  на контролируемую поверхность 14. При ;этом  ркость точки Падени  светового пучка нв контролируемую поверхност максимальна. При перемещении контролируемой поверхности 14 из на алЬНото положени   ркость точки падени  лучей уменьшаетс , что приводит к уменьшению сигнала на выходе фотомикроскопа 3.
В результате вычитани  предыдущего -значени  сигнала фотомикроскопа 3 из текущего значени  на выходе компаратора 7 формируетс  отрицательный импульс, измен ющий состо ние триггера 8. При этом пол рность выходного напр жени  узла Э вычитани  измен етс  на про тивоположную , что приводот к уменьшению выходного напр жение интеграт ра 10. Уменьшение ййходнЬго найр жени  интегратора 10 приводит к
уменьшений электриЧе ского пол  между электродами, 13 и 12, приложен ТГбгб к злектрооптическому кристаллу 11, а следовательно, к уменьшений его показател  Преломлени ,
что приводит к увеличению- фокусного рассто ни .
Если ко1нтролируема  поверхность удалилась от фокусирующей линйь 2, то увеличение фокусного рассто ни  приведет к росту  ркости точки паднни  света. На выходе компаратора 7 формируетс  положительной импульс, не вли ющий на состо ние триггера 3, и выходное напр жение интегратора 10 будет уменьшатьс  до тех пор, пока фокусное рассто ние не привысит рассто ние от контролируемой повархнрсти 14 до фокусирукщей линзы 2. При этом на выходе компрататора 7 вновь сформируетс  импульс отрицательной пол рности. Состо ние триггера 8 изменитс , выходное напр жение интегратора 10 начнет увеличиватьс , фокусное рассто ние - уменьшаетс , и т.д. Таким образом фокус фокусирующей линзы 2 будет колебатьс  -около некоторого положени , совпадающего с положением контролируемой поверхности 14. Амплитуда колебаний тем меньше, чем больще коэффициент передачи .компрататора 7 и узла 9 вычитани , и может быть пренебрежимо малой.
По выходному напр жению интегратора 10, пропорциональному фокусному рассто нию фокусирующей линзы 2, можно судить о положении контролируемой поверхности 14, а следовательно и о ее перемещении.
Преимуществами устройства  вл ютс  высокое быстродействие и надежность , обусловленные отсутствием механически перемещающихс  узлов, а также высока  точность измерени , обусловленна  компенсационной структурой измерительного устройства и высокой чувствительностью компаратора . .

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР 428199, кл. G 01 В9/00, 1972.
2.Воронцов Л.Н. Фотоэлектрические системы контрол  линейных величин . М.,Машиностроение, 1965,
с. 194-196 (прототип).
SU782648352A 1978-07-12 1978-07-12 Устройство дл измерени линейных микроперемещений поверхностей SU767512A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782648352A SU767512A1 (ru) 1978-07-12 1978-07-12 Устройство дл измерени линейных микроперемещений поверхностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782648352A SU767512A1 (ru) 1978-07-12 1978-07-12 Устройство дл измерени линейных микроперемещений поверхностей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU767512A1 true SU767512A1 (ru) 1980-09-30

Family

ID=20778642

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782648352A SU767512A1 (ru) 1978-07-12 1978-07-12 Устройство дл измерени линейных микроперемещений поверхностей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU767512A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3715165A (en) Investigating the topography of reflecting surfaces
JP2571385B2 (ja) 電圧検出装置
US3744916A (en) Optical film thickness monitor
JPH0194270A (ja) 表面電位検出装置
JPS63241336A (ja) 粒径測定装置
EP0388929A1 (en) Fiber optic gyro
US4758065A (en) Fiber optic sensor probe
SU767512A1 (ru) Устройство дл измерени линейных микроперемещений поверхностей
JPS63305259A (ja) 電圧検出装置
JPH0695112B2 (ja) 電圧検出装置
KR950006224B1 (ko) 광학을 이용한 온도측정장치
US3397607A (en) Single faraday cell polarimeter
SU1626230A1 (ru) Волоконно-оптический датчик электрических напр жений
JPH08285875A (ja) 周波数シフター及びそれを用いた光学式変位計測装置
SU449235A1 (ru) Оптический измеритель перемещений
JP2655647B2 (ja) 光集積回路型干渉計
Lewis et al. An optical pulse modulation system for laser interference studies in the analytical ultracentrifuge
SU1696894A1 (ru) Фотометр
SU132332A1 (ru) Вибрационный гальванометр
JPS54128770A (en) Voltmeter
JPH09251036A (ja) 光電界センサ及びこれを用いた光計器用変圧器
SU1103092A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл измерени температуры
SU853545A1 (ru) Датчик скорости движени изображени Об'ЕКТА
SU636491A1 (ru) Чувствительный элемент пьезооптического преобразовател
SU1681168A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений объекта