JPH0145107B2 - - Google Patents
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- JPH0145107B2 JPH0145107B2 JP11141780A JP11141780A JPH0145107B2 JP H0145107 B2 JPH0145107 B2 JP H0145107B2 JP 11141780 A JP11141780 A JP 11141780A JP 11141780 A JP11141780 A JP 11141780A JP H0145107 B2 JPH0145107 B2 JP H0145107B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- light
- circuit
- changes
- light emitting
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Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 26
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 4
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 3
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
- G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
- G06K7/10544—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum
- G06K7/10821—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum further details of bar or optical code scanning devices
- G06K7/10851—Circuits for pulse shaping, amplifying, eliminating noise signals, checking the function of the sensing device
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Artificial Intelligence (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は発光素子と受光素子との対からなる光
信号出力回路に関するものである。
信号出力回路に関するものである。
発光素子から放射された光出力を、直接或いは
反射物体を介して間接的に受光素子に入射させる
ことにより、光路間を通過する物体の反射面状態
や、記録面に記載された各種情報の読取り等が行
われている。
反射物体を介して間接的に受光素子に入射させる
ことにより、光路間を通過する物体の反射面状態
や、記録面に記載された各種情報の読取り等が行
われている。
従来から一般に用いられている発光素子及び受
光素子対からなる光信号検出回路の概要を第１図
に示す。
光素子対からなる光信号検出回路の概要を第１図
に示す。
発光素子Ｄ側は、定電圧電源Vccから抵抗R1を
介して動作電流が与えられて発光し、光出力は例
えば反射面Ｐで反射されて受光素子PTに入射さ
れる。該受光素子PTは電源Vccに抵抗R2を介し
て接続され、上記入射光量に対応した光出力が読
み取られて抵抗R2に現われる電圧降下として電
位V2が導出される。取り出された該電位V2は必
要に応じて比較器Compに入力され、予め設定さ
れた基準電圧VSとの間でレベルが比較され、両
入力電圧の大小に応じて“高”或いは“低”の判
別出力信号V0が出力される。
介して動作電流が与えられて発光し、光出力は例
えば反射面Ｐで反射されて受光素子PTに入射さ
れる。該受光素子PTは電源Vccに抵抗R2を介し
て接続され、上記入射光量に対応した光出力が読
み取られて抵抗R2に現われる電圧降下として電
位V2が導出される。取り出された該電位V2は必
要に応じて比較器Compに入力され、予め設定さ
れた基準電圧VSとの間でレベルが比較され、両
入力電圧の大小に応じて“高”或いは“低”の判
別出力信号V0が出力される。
上記光信号出力回路において、反射面Ｐの反射
係数がA1からA2に変つたとすると、即ち反射面
を他の記録紙等が通過するような場合、反射係数
の変化に伴つて受光素子PTへの入射光量も変化
することから電位V2もまたV2（A1）からV2（A2）
に変化する。ここで比較器Compの一方の入力端
に与えられた基準電圧Vsのレベルが、反射係数
の変化を検出させるために上記V2（A1）とV2
（A2）の間のレベルを選んで予め設定されている
とすると、比較器Compの出力レベルによつて反
射面の変化を検出することができ、例えば記録紙
の通過を検出することができる。
係数がA1からA2に変つたとすると、即ち反射面
を他の記録紙等が通過するような場合、反射係数
の変化に伴つて受光素子PTへの入射光量も変化
することから電位V2もまたV2（A1）からV2（A2）
に変化する。ここで比較器Compの一方の入力端
に与えられた基準電圧Vsのレベルが、反射係数
の変化を検出させるために上記V2（A1）とV2
（A2）の間のレベルを選んで予め設定されている
とすると、比較器Compの出力レベルによつて反
射面の変化を検出することができ、例えば記録紙
の通過を検出することができる。
処で上記光信号出力回路に用いられている発光
素子は周囲温度によつて光出力が変化し、また長
期に亘る使用によつて経年変化して光出力が劣化
する。このような光出力の変化は、受光素子側の
温度変化や経年変化と必ずしも一致せず、発光素
子の光出力の変化によつて上述のような反射面の
反射係数の変化を検出し得ない事態が生じ、回路
動作の信頼性を損う原因になつていた。このよう
な不都合を解決するために基準電圧VSを温度に
従つて変動させる方法も開発されているが、この
ような改良型においても発光素子の出力劣化に対
しては何等効果的ではなかつた。
素子は周囲温度によつて光出力が変化し、また長
期に亘る使用によつて経年変化して光出力が劣化
する。このような光出力の変化は、受光素子側の
温度変化や経年変化と必ずしも一致せず、発光素
子の光出力の変化によつて上述のような反射面の
反射係数の変化を検出し得ない事態が生じ、回路
動作の信頼性を損う原因になつていた。このよう
な不都合を解決するために基準電圧VSを温度に
従つて変動させる方法も開発されているが、この
ような改良型においても発光素子の出力劣化に対
しては何等効果的ではなかつた。
本発明は上記従来の光信号出力回路の欠点を除
去し、フイードバツク回路を設けることにより安
定した出力信号を形成することができる回路を提
供するもので、次に実施例を挙げて本発明を詳細
に説明する。
去し、フイードバツク回路を設けることにより安
定した出力信号を形成することができる回路を提
供するもので、次に実施例を挙げて本発明を詳細
に説明する。
第２図において発光ダイオードＤのアノード側
は動作電流を制御するためのトランジスタTrを
介して定電圧電源＋Vccに、カソード側は抵抗R3
を介して接地されている。一方ホトトランジスタ
PTは抵抗R4を介して電源＋Vccに接続され、抵
抗R4とホトトランジスタPTとの接続点Ｑの電位
V3が光出力として導出され、従来回路と同様に
予め設定された基準電圧Vsoが一方の入力端に与
えられた比較器Compの他方の入力端に与えら
れ、両入力信号間のレベルが比較されて光信号出
力V0が形成される。
は動作電流を制御するためのトランジスタTrを
介して定電圧電源＋Vccに、カソード側は抵抗R3
を介して接地されている。一方ホトトランジスタ
PTは抵抗R4を介して電源＋Vccに接続され、抵
抗R4とホトトランジスタPTとの接続点Ｑの電位
V3が光出力として導出され、従来回路と同様に
予め設定された基準電圧Vsoが一方の入力端に与
えられた比較器Compの他方の入力端に与えら
れ、両入力信号間のレベルが比較されて光信号出
力V0が形成される。
上記接続点ＱとトランジスタTrのベース電極
間に、光学的及び電気的に発光ダイオードＤの発
光出力を制御するフイードバツク回路が接続され
ている。即ち、ホトトランジスタPTが検出され
た光出力は抵抗R5を介して演算増幅器OPの＋側
入力に、該演算増幅器の一側入力には基準電圧
Vs1が入力され、両入力信号は比較増幅されてト
ランジスタTrのベース電流を与え、該ベース電
極に与えられた演算増幅器出力によつて発光ダイ
オードＤの動作電流は規制される。演算増幅器
OPの両入力抵抗R5及びR6が等しい抵抗値をもつ
ように設計されているとすると、ホトトランジス
タの光出力電位V3はV3＝Vs1となつて基準電圧
と等しくなつている。
間に、光学的及び電気的に発光ダイオードＤの発
光出力を制御するフイードバツク回路が接続され
ている。即ち、ホトトランジスタPTが検出され
た光出力は抵抗R5を介して演算増幅器OPの＋側
入力に、該演算増幅器の一側入力には基準電圧
Vs1が入力され、両入力信号は比較増幅されてト
ランジスタTrのベース電流を与え、該ベース電
極に与えられた演算増幅器出力によつて発光ダイ
オードＤの動作電流は規制される。演算増幅器
OPの両入力抵抗R5及びR6が等しい抵抗値をもつ
ように設計されているとすると、ホトトランジス
タの光出力電位V3はV3＝Vs1となつて基準電圧
と等しくなつている。
上記フイードバツク回路には、更に演算増幅器
OPの一側入力端子と出力端子間に容量Ｃが接続
され、時定数τ＝Ｃ×R6の回路を構成している。
OPの一側入力端子と出力端子間に容量Ｃが接続
され、時定数τ＝Ｃ×R6の回路を構成している。
第３図に、第２図の接続点Ｑより得られる光出
力V3の信号波形イと、比較器Compより得られる
光信号出力V0の信号波形ロのそれぞれを示す。
力V3の信号波形イと、比較器Compより得られる
光信号出力V0の信号波形ロのそれぞれを示す。
上記構成のフイードバツク回路を備えた光信号
出力回路において、反射面の反射係数がA1から
A2に、上記時定数でより短かい時間で変化する
と、第３図の信号波形イに示す如くホトトランジ
スタの光出力V3はそれまで保たれていたV3（A1）
＝Vs1の状態から直ちにV3（A2）を変化する。V3
（A2）に変化したホトトランジスタの光出力は、
上記比較器Compの他方の入力端に入力されて、
V3（A1）とV3（A2）の間のレベルに予め設定され
た基準電圧Vsoとの間で比較動作が実行され、第
３図の信号波形ロに示す出力信号V0が形成され
る。
出力回路において、反射面の反射係数がA1から
A2に、上記時定数でより短かい時間で変化する
と、第３図の信号波形イに示す如くホトトランジ
スタの光出力V3はそれまで保たれていたV3（A1）
＝Vs1の状態から直ちにV3（A2）を変化する。V3
（A2）に変化したホトトランジスタの光出力は、
上記比較器Compの他方の入力端に入力されて、
V3（A1）とV3（A2）の間のレベルに予め設定され
た基準電圧Vsoとの間で比較動作が実行され、第
３図の信号波形ロに示す出力信号V0が形成され
る。
処で変化したホトトランジスタの光出力V3
（A2）はフイードバツク回路にも入力されてい
る。しかしフイードバツク回路は容量Ｃが接続さ
れているため光出力V3（A2）の変化が遅れて現わ
れることになり、従つて発光ダイオードＤに供給
される動作電流の変化も遅くなり、この遅れの期
間に反射係数の変化を出力V0に読み出すことが
できる。
（A2）はフイードバツク回路にも入力されてい
る。しかしフイードバツク回路は容量Ｃが接続さ
れているため光出力V3（A2）の変化が遅れて現わ
れることになり、従つて発光ダイオードＤに供給
される動作電流の変化も遅くなり、この遅れの期
間に反射係数の変化を出力V0に読み出すことが
できる。
一方温度変化による発光ダイオードの出力変
化、ホトトランジスタの受光感度変化及び発光ダ
イオードの経年変化による出力劣化等は、上記反
射係数の変化のように瞬間的に現われるものは少
なく、比較的緩やかに変化する。即ちフイードバ
ツク回路の時定数τ＝Ｃ×R6よりも遅い速度で
変化する。従つてこのようなゆるやかな変化に対
してはフイードバツク回路が働き、常にホトトラ
ンジスタの光出力V3が基準電圧Vs1に等しくなる
ように発光ダイオードＤの動作電流が制御され、
光電出力信号を形成するための比較器Compに、
発光ダイオード等の回路素子の状態に拘わらず安
定した受光素子光出力を供給する。
化、ホトトランジスタの受光感度変化及び発光ダ
イオードの経年変化による出力劣化等は、上記反
射係数の変化のように瞬間的に現われるものは少
なく、比較的緩やかに変化する。即ちフイードバ
ツク回路の時定数τ＝Ｃ×R6よりも遅い速度で
変化する。従つてこのようなゆるやかな変化に対
してはフイードバツク回路が働き、常にホトトラ
ンジスタの光出力V3が基準電圧Vs1に等しくなる
ように発光ダイオードＤの動作電流が制御され、
光電出力信号を形成するための比較器Compに、
発光ダイオード等の回路素子の状態に拘わらず安
定した受光素子光出力を供給する。
上記実施例は反射光を受光する構造を挙げて説
明したが、発光ダイオードから放射された光を各
種の物体に透過させた透過光を受光する構造にし
ても同様に実施することができる。また受光素子
は１個に限られるものではなく、複数個設けて回
路を構成することができ、発光ダイオードを除い
た他の回路を同一チツプに集積化することがで
き、発光ダイオードと一体構造に組み立てること
もできる。
明したが、発光ダイオードから放射された光を各
種の物体に透過させた透過光を受光する構造にし
ても同様に実施することができる。また受光素子
は１個に限られるものではなく、複数個設けて回
路を構成することができ、発光ダイオードを除い
た他の回路を同一チツプに集積化することがで
き、発光ダイオードと一体構造に組み立てること
もできる。
以上本発明によれば、簡単なフイードバツク回
路を付加することにより、回路動作時の温度変化
による受光素子の発光出力変化、反射面のくも
り、汚れ等による反射係数のゆるやかな変化、周
囲光の影響、光学系のくるい等に対して受光素子
の光出力を一定させることができ、発光素子・受
光素子対による高信頼性の光電出力信号の形成を
行わせることができる。一方、反射係数等が急激
に変化する正規の光電出力信号に対しては、フイ
ードバツク回路の演算増幅器の基準電圧を入力す
る入力端と出力端間に接続した容量で、出力端に
直ちに光電出力信号の変化が表われないように動
作するので、変化する各光電出力信号毎の検出が
初期状態から安定かつ正確に行える。また受光素
子は出力用とフイードバツク用を別体に設ける必
要がなく簡単な回路構成で光出力信号を得る。
路を付加することにより、回路動作時の温度変化
による受光素子の発光出力変化、反射面のくも
り、汚れ等による反射係数のゆるやかな変化、周
囲光の影響、光学系のくるい等に対して受光素子
の光出力を一定させることができ、発光素子・受
光素子対による高信頼性の光電出力信号の形成を
行わせることができる。一方、反射係数等が急激
に変化する正規の光電出力信号に対しては、フイ
ードバツク回路の演算増幅器の基準電圧を入力す
る入力端と出力端間に接続した容量で、出力端に
直ちに光電出力信号の変化が表われないように動
作するので、変化する各光電出力信号毎の検出が
初期状態から安定かつ正確に行える。また受光素
子は出力用とフイードバツク用を別体に設ける必
要がなく簡単な回路構成で光出力信号を得る。
第１図は従来の光信号出力回路を示す図、第２
図は本発明による実施例を示す回路図、第３図は
同実施例の動作を説明する信号波形図である。 Ｄ：発光ダイオード、PT：ホトトランジスタ、
OP：演算増幅器、R4，R5，R6：抵抗、Ｃ：容
量、V0：光電出力。
図は本発明による実施例を示す回路図、第３図は
同実施例の動作を説明する信号波形図である。 Ｄ：発光ダイオード、PT：ホトトランジスタ、
OP：演算増幅器、R4，R5，R6：抵抗、Ｃ：容
量、V0：光電出力。
Claims (1)
- １ 発光素子の光出力を受光素子に入力して、入
射光量に対応した光電出力信号を形成する回路に
おいて、上記光電出力信号を形成するための受光
素子と発光素子との間に、一方の入力端に抵抗を
介し上記光電出力電圧を入力するとともに、他方
の入力端に抵抗を介して基準電圧を入力する演算
増幅器を含み、上記演算増幅器の出力端と他方の
入力端との間に、他方の入力端に接続された抵抗
と組合せて時定数回路を構成する容量を接続した
フイードバツク回路を設けてなることを特徴とす
る光信号出力回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11141780A JPS5736366A (en) | 1980-08-12 | 1980-08-12 | Optical signal output circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11141780A JPS5736366A (en) | 1980-08-12 | 1980-08-12 | Optical signal output circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5736366A JPS5736366A (en) | 1982-02-27 |
| JPH0145107B2 true JPH0145107B2 (ja) | 1989-10-02 |
Family
ID=14560639
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11141780A Granted JPS5736366A (en) | 1980-08-12 | 1980-08-12 | Optical signal output circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5736366A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6020664U (ja) * | 1983-07-19 | 1985-02-13 | 関西日本電気株式会社 | バ−コ−ドリ−ダ |
| DE3543666A1 (de) * | 1985-12-11 | 1987-06-19 | Thomson Brandt Gmbh | Verfahren und schaltungsanordnung zur kompensation von aenderungen der parameter eines optischen senders und eines optischen empfaengers in einem optischen abtaster |
| JP2501405Y2 (ja) * | 1986-11-04 | 1996-06-19 | ロ−ム株式会社 | 光デイスク再生装置のレ−ザ−駆動回路 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5178929A (ja) * | 1974-12-30 | 1976-07-09 | Fujitsu Ltd |
-
1980
- 1980-08-12 JP JP11141780A patent/JPS5736366A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5178929A (ja) * | 1974-12-30 | 1976-07-09 | Fujitsu Ltd |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5736366A (en) | 1982-02-27 |
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