JPS58205870A - 論理回路シミユレ−シヨン装置 - Google Patents
論理回路シミユレ−シヨン装置Info
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- JPS58205870A JPS58205870A JP57089315A JP8931582A JPS58205870A JP S58205870 A JPS58205870 A JP S58205870A JP 57089315 A JP57089315 A JP 57089315A JP 8931582 A JP8931582 A JP 8931582A JP S58205870 A JPS58205870 A JP S58205870A
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- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 16
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 7
- 238000013461 design Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
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- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は種々の論理回路を、主としてハードウェアを用
いてシミュレーションすることを可能とした汎用的な論
理回路シミュレーション装置に関するものである。
□ 論理装置やLsI4どを設計・製造する場合、まず論理
装置やLSIの仕様に基づいて、論理設計を行う。この
場合、プリント回路基板やLSIのレイアウト設計に入
る前に、論理バグをできるだけ削除しておく必要がある
。とくに、LSIの場合には、あとの工程バグが発見さ
れると手戻りが大きいため、この論理設計段階でのバグ
吸収が強く望まれている。また、論理設計が完了すると
、その論理設計データを用いて、製造後の論理装置やL
SIが正常に動作しているかどうかを検査するためのテ
ストパターンを作成する必要がある。
いてシミュレーションすることを可能とした汎用的な論
理回路シミュレーション装置に関するものである。
□ 論理装置やLsI4どを設計・製造する場合、まず論理
装置やLSIの仕様に基づいて、論理設計を行う。この
場合、プリント回路基板やLSIのレイアウト設計に入
る前に、論理バグをできるだけ削除しておく必要がある
。とくに、LSIの場合には、あとの工程バグが発見さ
れると手戻りが大きいため、この論理設計段階でのバグ
吸収が強く望まれている。また、論理設計が完了すると
、その論理設計データを用いて、製造後の論理装置やL
SIが正常に動作しているかどうかを検査するためのテ
ストパターンを作成する必要がある。
従来、これらの論理設計の正常性の検証やテストパター
ン生成の手段として、ハードウェアシミュレータあるい
はソフトウェアシミュレータによる方法が用いられてい
る。
ン生成の手段として、ハードウェアシミュレータあるい
はソフトウェアシミュレータによる方法が用いられてい
る。
ハードウェアシミュレータは、論理設計したデータに基
づいて実際に製造すべき装置あるいはLSIを模擬した
装置を製造して、同装置が与えられた仕様を満足するか
否かを調べることによって、論理設計の正常性を検証す
るものである。併せて、そこで用いた入出カバターンの
セットをテストパターンとして使用することができる。
づいて実際に製造すべき装置あるいはLSIを模擬した
装置を製造して、同装置が与えられた仕様を満足するか
否かを調べることによって、論理設計の正常性を検証す
るものである。併せて、そこで用いた入出カバターンの
セットをテストパターンとして使用することができる。
このようなハードウェアシミュレータは、実際にハード
ウェアを用いて構成するため、はぼ本番の装置に近い速
度で動作させることができるため、多量のデータを用い
てう/させることが可能であり、それがソフトウェアシ
ミュレータに比べて大きな長所となっている。しかし、
ハードウェアシミュレータは、一般に本番の装置とは異
なった部品を用いたり、より簡易的な作り方をするため
に、遅延などの電気的性能は本番の装置と大幅に異なる
のが普通であり、本方法によるシミュレーションでは、
論理的な機能の正常性の検証しか期待できない。
ウェアを用いて構成するため、はぼ本番の装置に近い速
度で動作させることができるため、多量のデータを用い
てう/させることが可能であり、それがソフトウェアシ
ミュレータに比べて大きな長所となっている。しかし、
ハードウェアシミュレータは、一般に本番の装置とは異
なった部品を用いたり、より簡易的な作り方をするため
に、遅延などの電気的性能は本番の装置と大幅に異なる
のが普通であり、本方法によるシミュレーションでは、
論理的な機能の正常性の検証しか期待できない。
また、ハードウェアシミュレータは簡易的にしろ、本番
と同様の規模のハードウェア装置を設計・製造しなけれ
はならないために、設計・製造のデータのターンアラン
ド時間1とコストがかかるのが大きな欠点である。
と同様の規模のハードウェア装置を設計・製造しなけれ
はならないために、設計・製造のデータのターンアラン
ド時間1とコストがかかるのが大きな欠点である。
一方、ソフトウェアシミュレータは、汎用計算機を用い
て、与えられた論理装置やLSI回路の論理接続情報を
受けて、シミュレーション処理に適した形に編集したの
ちに、メモリ上に格納する。
て、与えられた論理装置やLSI回路の論理接続情報を
受けて、シミュレーション処理に適した形に編集したの
ちに、メモリ上に格納する。
従って、ユーザに対しては、計算機中にあたかも論理装
置あるいはLSI回路が存在しているようにみえる。計
算機中に構成された回路の外部入力端子に、0,1など
の信号情報のシーケンスを入力すると、これらの外部入
力信号値と、すでに与えられている回路のゲート論理機
能とゲート間の接続関係等を用いて、回路内の各ゲート
や外部出力端子の信号値の変化を求めることができる。
置あるいはLSI回路が存在しているようにみえる。計
算機中に構成された回路の外部入力端子に、0,1など
の信号情報のシーケンスを入力すると、これらの外部入
力信号値と、すでに与えられている回路のゲート論理機
能とゲート間の接続関係等を用いて、回路内の各ゲート
や外部出力端子の信号値の変化を求めることができる。
このため、ある入力信号パターンを与えたとき、シミュ
レーションで得られた各ゲートや外部出力端子の信号値
と、あらかじめ予想された対応する信号値を比較するこ
とによって論理回路が正常か否かを調べることができる
。
レーションで得られた各ゲートや外部出力端子の信号値
と、あらかじめ予想された対応する信号値を比較するこ
とによって論理回路が正常か否かを調べることができる
。
このソフトウェアシミュレータの方法によれば、ゲート
や配線の遅延値も実際に製造する回路に近い形で指定で
きるため、論理機能の検証のみではなく、タイミング条
件まで含めて検証できる利点がある。また、ハードウェ
アシミュレータ設計・製造のターンアラウンド時間とコ
ストに比べて、かなり短かい期間とコストでシミュレー
ション環境が設定できるのが大きな利点である。しかし
、この方法においては、一般にシーケンシャル処理を行
う汎用計算機を用いて処理するため、一度に1ゲートあ
るいは、たかだが、■ワードで同時に処理可能なゲート
数しか並列処理できず、本質的にシーケンシャル処理と
なる。
や配線の遅延値も実際に製造する回路に近い形で指定で
きるため、論理機能の検証のみではなく、タイミング条
件まで含めて検証できる利点がある。また、ハードウェ
アシミュレータ設計・製造のターンアラウンド時間とコ
ストに比べて、かなり短かい期間とコストでシミュレー
ション環境が設定できるのが大きな利点である。しかし
、この方法においては、一般にシーケンシャル処理を行
う汎用計算機を用いて処理するため、一度に1ゲートあ
るいは、たかだが、■ワードで同時に処理可能なゲート
数しか並列処理できず、本質的にシーケンシャル処理と
なる。
このように、ソフトウェアによるシミュレーションでは
、本来、並列的に動作する論理回路を直列的な動作にお
きかえて、処理せざるを得ないことや、シミュレーショ
ン処理の大半の部分でメモリと演算装置との間のデータ
授受が必要となることに起因して、実際のハードウェア
が動作する場合に比べ、105〜106倍程度の時間が
ががり、これがソフトウェアシミュレーションの最大の
欠点である。
、本来、並列的に動作する論理回路を直列的な動作にお
きかえて、処理せざるを得ないことや、シミュレーショ
ン処理の大半の部分でメモリと演算装置との間のデータ
授受が必要となることに起因して、実際のハードウェア
が動作する場合に比べ、105〜106倍程度の時間が
ががり、これがソフトウェアシミュレーションの最大の
欠点である。
以上、ハードウェアシミュレータおよびソフトウェアシ
ミュレータともに、それぞれ大きな問題点を有しており
、これらの問題点を解決する手段が強く望まれている。
ミュレータともに、それぞれ大きな問題点を有しており
、これらの問題点を解決する手段が強く望まれている。
本発明の目的は、与えられた論理回路の接続情報に応じ
て容易に回路を構成でき、しかもハードウェアによって
高速にシミュレーション処理を行うことを可能とした汎
用的な論理回路シミュレーション装置を提供することに
ある。
て容易に回路を構成でき、しかもハードウェアによって
高速にシミュレーション処理を行うことを可能とした汎
用的な論理回路シミュレーション装置を提供することに
ある。
しかして、本発明は任意の入力を任意の出力に接続する
構成のスイッチ回路と、該スイッチ回路の入力および出
力の一部に接続された単一あるいは複数の正常および/
または故障機能をもつ機能回路とを具備してなるユニッ
トセルをアレイ状態構成すると共に、各ユニットセル内
のスイッチ回路の接続状態の設定および機能回路の状態
の選択を制御する制御回路を設け、ユニットセル間の接
続及び各ユニットセル内の状態を電気的に変更すること
によって、種々の論理回路の実現を可能にするものであ
る。
構成のスイッチ回路と、該スイッチ回路の入力および出
力の一部に接続された単一あるいは複数の正常および/
または故障機能をもつ機能回路とを具備してなるユニッ
トセルをアレイ状態構成すると共に、各ユニットセル内
のスイッチ回路の接続状態の設定および機能回路の状態
の選択を制御する制御回路を設け、ユニットセル間の接
続及び各ユニットセル内の状態を電気的に変更すること
によって、種々の論理回路の実現を可能にするものであ
る。
以下、図面にもとづいて本発明の内容を詳細に説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例にあって、■はユニットセル
、2は制御回路、ILIl、、 lL12.・・・IL
lkはユニットセル左側入力、IUII、 IU12.
・・・TIJkはユニットセル上側入力、I R11,
、I R]2.・・・IR,lkはユニットセル右側入
力、ID1.1. ID]2.・・・ID7にはユニッ
トセル下側入力、0LII、 0L12.・・・01J
kはユニットセル左側出力、0UII、 0U12.・
・・0Ulkはユニットセル上側出力、0R11,0F
t12.・・・OJkはユニットセル右側出力、0DI
I、 0D12.・・・0Dlkはユニットセル下側出
力、CT1はレジスタ制御線、RDlはユニットセル状
態読出し線である。
、2は制御回路、ILIl、、 lL12.・・・IL
lkはユニットセル左側入力、IUII、 IU12.
・・・TIJkはユニットセル上側入力、I R11,
、I R]2.・・・IR,lkはユニットセル右側入
力、ID1.1. ID]2.・・・ID7にはユニッ
トセル下側入力、0LII、 0L12.・・・01J
kはユニットセル左側出力、0UII、 0U12.・
・・0Ulkはユニットセル上側出力、0R11,0F
t12.・・・OJkはユニットセル右側出力、0DI
I、 0D12.・・・0Dlkはユニットセル下側出
力、CT1はレジスタ制御線、RDlはユニットセル状
態読出し線である。
ユニットセル1は2次元アレイ状に配置され、隣接ユニ
ットセル同志が入出力線で結合されている。後述するよ
うに、各ユニットセル1はスイッチ回路と機能回路、該
機能回路の機能を選択するだめのレジスタ、および機能
回路の出力状態を保持するためのレジスタを含んでいる
。制御回路2ハユニツトセル1内のレジスタの値を設定
したり、ユニットセル1の内容を読出したりする機能を
司どる。この場合、ユニットセル1のスイッチ回路およ
び機能回路を制御するレジスタへの内容の設定はレジス
タ制御線CTlを通して行い、ユニットセル1の状態の
読出しはユニットセル状態読出し線RDIにより行う。
ットセル同志が入出力線で結合されている。後述するよ
うに、各ユニットセル1はスイッチ回路と機能回路、該
機能回路の機能を選択するだめのレジスタ、および機能
回路の出力状態を保持するためのレジスタを含んでいる
。制御回路2ハユニツトセル1内のレジスタの値を設定
したり、ユニットセル1の内容を読出したりする機能を
司どる。この場合、ユニットセル1のスイッチ回路およ
び機能回路を制御するレジスタへの内容の設定はレジス
タ制御線CTlを通して行い、ユニットセル1の状態の
読出しはユニットセル状態読出し線RDIにより行う。
なお、実施例では、CTlおよびRDl線は全ユニット
セルを縦続に接続されているとする。
セルを縦続に接続されているとする。
第2図はユニットセル1の詳細図である。第2図におい
て、21はスイッチ回路、22は機能回路、詔は機能選
択用レジスタ、24は機能回路出力表示用レジスタ、O
Fはスイッチ回路出力、IP・はスイッチ回路入力であ
る。
て、21はスイッチ回路、22は機能回路、詔は機能選
択用レジスタ、24は機能回路出力表示用レジスタ、O
Fはスイッチ回路出力、IP・はスイッチ回路入力であ
る。
スイッチ回路21は上下左右の隣接ユニットセルおよび
/または同一ユニットセル内の機能回路から入力を受け
、また上下左右の任意の隣接ユニットセルおよび/また
は同一ユニットセル内の機能回路に出力することができ
る。機能回路22は単一または複数の正常および/また
は故障機能をもつ回路で、機能選択用レジスタ乙にセッ
トされた値によって、どの正常または故障機能を選択す
るかが決まる。機能回路22の出力値は機能回路出力表
示用レジスタ24にセットされ、ユニットセル1の外部
(第1図の制御回路2)からユニットセル状態読出し線
FtDlを介して読出される。
/または同一ユニットセル内の機能回路から入力を受け
、また上下左右の任意の隣接ユニットセルおよび/また
は同一ユニットセル内の機能回路に出力することができ
る。機能回路22は単一または複数の正常および/また
は故障機能をもつ回路で、機能選択用レジスタ乙にセッ
トされた値によって、どの正常または故障機能を選択す
るかが決まる。機能回路22の出力値は機能回路出力表
示用レジスタ24にセットされ、ユニットセル1の外部
(第1図の制御回路2)からユニットセル状態読出し線
FtDlを介して読出される。
第8図はスイッチ回路21の詳細を示したもので、5y
iANDゲ−)、32.ハデコーダ、′38はレジスタ
である。ANDゲート31はデコーダ32のデコード出
力(二よってオンとなり、該ANI)ゲートを通して、
入力IU、、 IL ・・・IFの任意のいずれか
一つのものIJI IJI が出力OD、、、 OL、、、・・・OFの任意のもの
(=接続される。デコーダ32の入力はレジスタ33か
ら与えられ、レジスタ33の値はレジスタ制御線CTI
を介して制御回路2から設定される。
iANDゲ−)、32.ハデコーダ、′38はレジスタ
である。ANDゲート31はデコーダ32のデコード出
力(二よってオンとなり、該ANI)ゲートを通して、
入力IU、、 IL ・・・IFの任意のいずれか
一つのものIJI IJI が出力OD、、、 OL、、、・・・OFの任意のもの
(=接続される。デコーダ32の入力はレジスタ33か
ら与えられ、レジスタ33の値はレジスタ制御線CTI
を介して制御回路2から設定される。
第4図は機能回路22の詳細である。第4図において、
41は正常および/または故障などの機能をもつ機能部
、42はトライステート・バッファ、43はデコーダで
ある。トライステート・バッファ42はデコーダ43に
よって選ばれたものだけが、対応する機能部iの信号値
を出力する。選ばれなかったトライステート・バッファ
の出カイ直はハイインピーダンス値をとる。したがって
、デコーダ43によって機能部1〜nの一つを選択する
ことができ、し7スタ24に設定される。デコーダ43
の入力は機能選択用レジスタ乙から与えられ、レジスタ
乙の値はレジスタ制御線CTlを介して制御回路2から
設定される。
41は正常および/または故障などの機能をもつ機能部
、42はトライステート・バッファ、43はデコーダで
ある。トライステート・バッファ42はデコーダ43に
よって選ばれたものだけが、対応する機能部iの信号値
を出力する。選ばれなかったトライステート・バッファ
の出カイ直はハイインピーダンス値をとる。したがって
、デコーダ43によって機能部1〜nの一つを選択する
ことができ、し7スタ24に設定される。デコーダ43
の入力は機能選択用レジスタ乙から与えられ、レジスタ
乙の値はレジスタ制御線CTlを介して制御回路2から
設定される。
いま、第5図に示すような簡単な論理回路を考えてみる
。ここで、A〜Iは論理機能を表わしている。この第5
図の論理回路は、第1図乃至第4図の回路を用いること
により第6図のよう(二実現される。なお、第6図の例
では■ユニットセルに1ゲートを対応させて割当てたが
、複数個のゲートを割当てることも当然可能である。
。ここで、A〜Iは論理機能を表わしている。この第5
図の論理回路は、第1図乃至第4図の回路を用いること
により第6図のよう(二実現される。なお、第6図の例
では■ユニットセルに1ゲートを対応させて割当てたが
、複数個のゲートを割当てることも当然可能である。
以上、実施例では、隣接ユニットセル間のデータ転送線
は2本パラレルとして構成した場合を示したが、一般に
n本パラレルとして構成することは当然可能である。ま
た、同じ〈実施例では、レジスタ制御線およびユニット
セル状態読出し線は全ユニットセルを縦続に接続してい
るが、データ転送を高速化するために、例えばユニット
セルの行あるいは列毎にパラレルにレジスタ制御線やユ
ニット状態読出し線を設けることも当然可能である。
は2本パラレルとして構成した場合を示したが、一般に
n本パラレルとして構成することは当然可能である。ま
た、同じ〈実施例では、レジスタ制御線およびユニット
セル状態読出し線は全ユニットセルを縦続に接続してい
るが、データ転送を高速化するために、例えばユニット
セルの行あるいは列毎にパラレルにレジスタ制御線やユ
ニット状態読出し線を設けることも当然可能である。
以上説明したように、本発明の回路構成によれば、各種
の論理回路を、回路の一部の状態を電気的に書き替える
ことによって実現でき右ので、従来のハードウェアシミ
ュレータを設計・製造するのに比べ、極めて短時間でシ
ミュレータを実現することができる。また、同一のハー
ドウェアを繰返し使用することができるため、従来、各
品種毎に必要とされたハードウェアシミュレータ製造の
コストを大幅に削減することが期待できる。一方、シミ
ュレーション処理速度は従来のノ・−ドウエアシミュレ
ータとボンパラプルなオーダーが達成される。
の論理回路を、回路の一部の状態を電気的に書き替える
ことによって実現でき右ので、従来のハードウェアシミ
ュレータを設計・製造するのに比べ、極めて短時間でシ
ミュレータを実現することができる。また、同一のハー
ドウェアを繰返し使用することができるため、従来、各
品種毎に必要とされたハードウェアシミュレータ製造の
コストを大幅に削減することが期待できる。一方、シミ
ュレーション処理速度は従来のノ・−ドウエアシミュレ
ータとボンパラプルなオーダーが達成される。
また、ユニットセル内の機能を正常回路または故障回路
に任意に設定できるので、正常回路の論理シミュレーシ
ョンはもちろん、故障回路を含む論理シミュレーション
も容易に実行でき、テストパターン生成の目的にも利用
できる。
に任意に設定できるので、正常回路の論理シミュレーシ
ョンはもちろん、故障回路を含む論理シミュレーション
も容易に実行でき、テストパターン生成の目的にも利用
できる。
このように、本発明によれば、従来のハードウェアシミ
ュレータとソフトウェアシミュレータの長所を併わせも
つようなシミュレータが実現可能となる。
ュレータとソフトウェアシミュレータの長所を併わせも
つようなシミュレータが実現可能となる。
第1図は本発明による論理回路シミュレーション装置の
一実施例の全体構成図、第2図は第1図におけるユニッ
トセルの一実施例を示す図、第3図は第2図におけるス
イッチ回路部分の詳細図、第4図は第2図における機能
回路部分の詳細図、第5図は論理回路の一例を示す図、
第6図は第5図の論理回路を本発明装置で実現した回路
構成を示す図である。 ■・・・ユニットセル、2・・・制御回路、21・・・
スイッチ回路、22・・・機能回路、n・・・機能選択
用レジスタ、24・・・機能回路出力表示用レジスタ。
一実施例の全体構成図、第2図は第1図におけるユニッ
トセルの一実施例を示す図、第3図は第2図におけるス
イッチ回路部分の詳細図、第4図は第2図における機能
回路部分の詳細図、第5図は論理回路の一例を示す図、
第6図は第5図の論理回路を本発明装置で実現した回路
構成を示す図である。 ■・・・ユニットセル、2・・・制御回路、21・・・
スイッチ回路、22・・・機能回路、n・・・機能選択
用レジスタ、24・・・機能回路出力表示用レジスタ。
Claims (1)
- fll 任意の入力を任意の出力に接続する構成のス
イッチ回路と、該スイッチ回路の入力および出力の一部
に接続された単一あるいは複数の正常および/または故
障機能をもつ機能回路とを具備してなるユニットセルを
アレイ状に構成すると共に、各ユニットセル内のスイッ
チ回路の接続状態の設定および機能回路の状態の選択を
制御する制御回路を有し、種々の論理回路を構成できる
ようにしたことを特徴とする論理回路シミュレーション
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57089315A JPS58205870A (ja) | 1982-05-26 | 1982-05-26 | 論理回路シミユレ−シヨン装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57089315A JPS58205870A (ja) | 1982-05-26 | 1982-05-26 | 論理回路シミユレ−シヨン装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58205870A true JPS58205870A (ja) | 1983-11-30 |
JPH0432348B2 JPH0432348B2 (ja) | 1992-05-29 |
Family
ID=13967229
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57089315A Granted JPS58205870A (ja) | 1982-05-26 | 1982-05-26 | 論理回路シミユレ−シヨン装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58205870A (ja) |
Cited By (13)
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---|---|---|---|---|
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-
1982
- 1982-05-26 JP JP57089315A patent/JPS58205870A/ja active Granted
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