JPS5818798A

JPS5818798A - センサチエツク装置

Info

Publication number: JPS5818798A
Application number: JP11505581A
Authority: JP
Inventors: 大川　省造
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1981-07-24
Filing date: 1981-07-24
Publication date: 1983-02-03

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、種々の機器Ｃ二搭載されているセンナ類の動
作チェックを行なうためのセンサチェック装［（：関す
る。

発券機、カード読取装置などでは、用紙やカードの位置
検出などのためにマイクロスイッチ、リードスイッチ、
フォトセンサなどのセンサを多数使用している。このよ
うなセンサに故障が起きると、機器全体の機能が損なわ
れたり、誤動作を招く。したがって、機器の製造段階は
勿論のこと、保守点検の際にもセンナのチェックが不可
欠である。そこでセンサを搭載している機器には、セン
ナをチェックするための装置が内蔵されることが多い。

その従来例を第１図および第２図（：よって説明する。

第１−に示すセンサチェック装置は、センナが比較的少
数の機器（二用いられることの多いものである。これは
、センサ（ここでは４１２１）１〜４に１対１で対応付
けた表示ランプ２０１〜２０４を、機器の操作パネルな
ど（二装置するもので、各センサの出力で対応する表示
ランプを点滅させる。この装置構成は、センナと同数の
表示ランプが必景となるため、センナの個数が多くなる
とコスト上、ならびに妖示ランプの配置スペース等の面
で問題が生じる。

第２図の例は、センサ１０１〜１０４の出力を切替スイ
ッチ２０５（：よって１つの表示ランプ２００１’ニ一
選択的に接続する構成である。この装置も、センナの個
数が多くなると、切替スイッチ２０５として接点数の多
い高価なものが必要となるという問題のほか、センサと
切替スイッチのポジションとの対応の確認が容易でなく
チェック作業の能率が悪くなり、また誤りも起りゃすく
なるという問題が生じる。

本発明は叙上の諸点に鑑みなされたもので、多数のセン
サをチェックする場合Ｃ＝特に有利なセンサチェック装
置を提供することを目的とするものである。

一般シー、機器）二組み込まれたセンサの機能チェック
は、各センサの出力状態が正常４ニオン、オフするか否
か、つまりセンナの状態切替えが正常（こ行なわれるか
を調べることに上限がある。本発明はこのような点に着
目したものである。

しかして本発明！−よるセンサチェック装置は、複数の
センナのそれぞれの出力の状態を一時記憶する記憶手段
と、各センサの出力の状態と該記憶手段番ニ一時記憶さ
れている状態とを比較し、不一致のセンサを１つでも検
出すると信号を出力する比較手段と、該比較手段の出力
信号（＝応動する報知手段とを具備することを特徴とす
るものである。

以下、本発明の一実施例Ｃ二ついて第３図によって説明
する。

第３図において、１〜４はセンサである。これらセンサ
は、フォトセンサ、マイクロスイッチ、リードスイッチ
等のオン、オフの２つの出力伏ルを持つ素子である。な
お、説明を簡単にするためにセンサを４個としたが、こ
の個数は任意である。

１８は一時記憶回路であり、センサ１〜４のそれぞれに
対応付けられたり、型フリップフロップ９〜１２より成
る。センサ１〜４の出力５〜Ｂはフリップフロップ９〜
１２の対応するもののＤ（データ）入力）；結合され、
各フリップフロップのＴ（）りが）入力には共通のクロ
ックパルス３１が供給すれる。クロックパルス３１の立
上り（または立下り）の度に、フリップフロップ９〜１
２はそのＤ入力：二与えられているセンナ出力５〜８を
ラッチし、次のクロックパルスの立上り（または立下り
）まで一時的に保持する。

センナ１〜４の出力５〜８は比較回路６にも入力される
。比較回路すは、センサｌ−４ζ二対応するＸ０Ｒ（排
他的論理和）ゲート１３〜１６と、これらｘＯＢゲート
の出力の論理和出力届を得るＯａ（＠理和）ゲート１７
から成る。ＸＯＲゲート１３は、センサｌの出力５と、
とのセンサ１の１クロツク前の出力状態に対応するフリ
ップフロップ９の出力２１との排他的論理和をとる。つ
まり、センナ出力５と７リツプ７Ｃ１ツブ出力２１とが
不一致のときのみ″１”を出力する。他のＸＯＲゲート
１４〜１６も同様に、センサ２〜４の出力６〜８と７リ
ツプフロツプ１０〜１２の出力２２−２４の比較を行な
い、不一致のときのみ＠１ｍを出力する。Ｘ０ｆＬゲー
ト１３〜１６のうちの１つでも１”を出力すると、ＯＲ
ゲート１７の出・カルが＠ｌ＃になる。

ＯＲゲート１７の出力加はＤ型フリップフロップ釘のＴ
入力に供給される。このフリップフロップτは、その′
″Ｏ＃側出力がＤ入力）二接続されているので、ＯＲゲ
ート出力がか“Ｏ″から”ｌ″に変化するたびＣ二状態
を反転する、いわゆるトグル動作を行なう。

四は例えば発光ダイオードなどの表示素子であり、フリ
ップフロップγの出力３２１＝よって駆動される。なお
、茨示素子四は、ブザーなどの音響素子などと置き替え
てもよい。

本実施例の動作を以下（二説明する。

まずセンサ１〜４のすべての状態が固定している場合（
オン状態かオフ状態かは問わない）、センナ１〜４の出
力５〜８の現時点の状態と、フリップフロップ９〜１２
（ニラツチされている状態（ある時間だけ前の状態）と
は同一であり、センサ出力５〜８とフリップフロップ出
力２１〜２４の対応するもの同士は同一レベル″″１ｍ
または＠Ｏｍ）である。

したがって、ＸＯＲゲート１３〜１６の出力はすべて″
０ｍであり、ＯＲゲート１７の出力は′″０”である。

ゆえに、７リツプ７０ツブ４の状態は不変であり、表示
素子四は点灯したま＼か、あるいは消灯したままである
。

ここで、例えばセンサｌの機能をチェックするには、セ
ンサ１の状態を反転させて表示素子の状態を観察する。

例えば、センサ１がもしマイクロスイッチだとすると、
その作動部を適当な方法で作動させる。センサｌが正常
ならその出力５の状態が変化し、クロック゛パルス３１
のあるタイミングでフリップフロップ出力２１とセンサ
出力５の状態が不一致になり、その［にＯＲゲート１７
の出カ漢が＠１”になる。ＯＲゲート出力漢が″１”ｌ
：なる度に７リツプフロツプ４の状態つまりその出力３
２の状態が反転し、衣示素子四が点滅する。

つまり、表示素＋９が点滅すれば、センサ１が正常Ｃ＝
動作しているとｈうことである。センサ１を作動操作を
行なっても表示素＋９が点灯したままか消灯したままな
らは、センサｌが正常１；働いていないということであ
る。これは、以上の説明から容易に理解できよう。

他のセンナ２〜４についても、同様の手順（：よって機
能チェックを行なうことができる。

ここまでの説明から明らかなように、本発明のセンサチ
ェック装置は、センナの状態そのものを調べるのではな
く、センサの状態変化を検出し、表示素子などの報告手
段で検出結果を報知するものである。

以上、一実施例（一ついて説明したが、本発明はこの実
施例：二限定されるものではない。

まず、センナの個数は任意である。例えは繭記実Ｍ例で
は、センサのＳ＋数ζ二合せて記憶回路１８の７リツプ
フロツプおよび比較回路δのＸＯＲゲートの個数を増減
するだけで、任意の個数のセンナのチェックを行なうこ
とができる。

また、記憶回路１８や比較回路５などの具体的構成は棉
々変形が可能であり、さら（二マイクロコンピュータの
機能で区き換えることも可能である。

本発明のセンサチェック装置は以上（二述べた如くであ
り、次のような利点を有する。

（１）センサの個数（二ｌ係なく、チェック結果を報告
するための表示素子などは１つでよく、第１図の従来構
成のような問題が生じない。

（２）第２図の従来技術のような切管スイッチが不要で
あり、切替スイッチの切替操作や、切替スイッチのポジ
ションとセンナとの対応を確認する必要がないため、チ
ェック作業が極めて簡単かり迅速（二なる。

（３）センサの個数が多くなった場合に、従来構成より
も一般１ニコスト的に有利である。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２因はそれぞれ従来のセンサチェック装
置の構成を示すブロック図、＄　３１：Ｑｌは本発明に
よるセンサチェック装置の−＆ｌＪを示すブロック図で
ある。１〜４・・・センサ、　９〜１２．２７・・・７リツプ
プロツプ、　１３〜１６・・・ＸＯＲゲート、　１７・
・・ＯＲゲート、　１８・・・記憶回路、　５・・・比
較１１１路、　四・・・表示素子。第１図　　　第２図第３図

Claims

【特許請求の範囲】

１、複数のセンサのそれぞれの出力状態を一時記憶する
記憶手段と、該各センサの出力状態と該記憶手段に一時
記憶されている対応の出力状態とを比較し、該複数のセ
ンサのうちの１つでも不一致を検出すると信号を出力す
る比較手段と、該比較手段の出力信号Ｃ：応動する報知
手段とを具備することを特徴とするセンサチェック装置
。