JPS5818798A - Sensor checking apparatus - Google Patents

Sensor checking apparatus

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JPS5818798A
JPS5818798A JP11505581A JP11505581A JPS5818798A JP S5818798 A JPS5818798 A JP S5818798A JP 11505581 A JP11505581 A JP 11505581A JP 11505581 A JP11505581 A JP 11505581A JP S5818798 A JPS5818798 A JP S5818798A
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JP
Japan
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sensor
output
sensors
state
outputs
Prior art date
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Pending
Application number
JP11505581A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
大川 省造
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5818798A publication Critical patent/JPS5818798A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、種々の機器C二搭載されているセンナ類の動
作チェックを行なうためのセンサチェック装[(:関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a sensor check device for checking the operation of sensors mounted on various devices C2.

発券機、カード読取装置などでは、用紙やカードの位置
検出などのためにマイクロスイッチ、リードスイッチ、
フォトセンサなどのセンサを多数使用している。このよ
うなセンサに故障が起きると、機器全体の機能が損なわ
れたり、誤動作を招く。したがって、機器の製造段階は
勿論のこと、保守点検の際にもセンナのチェックが不可
欠である。そこでセンサを搭載している機器には、セン
ナをチェックするための装置が内蔵されることが多い。
Ticket issuing machines, card reading devices, etc. use microswitches, reed switches, etc. to detect the position of paper and cards.
Many sensors such as photo sensors are used. If a failure occurs in such a sensor, the functionality of the entire device may be impaired or malfunction may occur. Therefore, it is essential to check the senna not only during the manufacturing stage of the equipment but also during maintenance and inspection. Therefore, devices equipped with sensors often have a built-in device to check the sensor.

その従来例を第1図および第2図(:よって説明する。A conventional example thereof is shown in FIGS. 1 and 2 (hereinafter explained).

第1−に示すセンサチェック装置は、センナが比較的少
数の機器(二用いられることの多いものである。これは
、センサ(ここでは4121)1〜4に1対1で対応付
けた表示ランプ201〜204を、機器の操作パネルな
ど(二装置するもので、各センサの出力で対応する表示
ランプを点滅させる。この装置構成は、センナと同数の
表示ランプが必景となるため、センナの個数が多くなる
とコスト上、ならびに妖示ランプの配置スペース等の面
で問題が生じる。
The sensor check device shown in No. 1 is a device with a relatively small number of sensors. 201 to 204 are two devices such as the operation panel of the equipment, and each sensor's output blinks the corresponding display lamp.This device configuration requires the same number of display lamps as Senna, so Senna's If the number of lamps increases, problems arise in terms of cost and space for arranging the display lamps.

第2図の例は、センサ101〜104の出力を切替スイ
ッチ205(:よって1つの表示ランプ2001’ニ一
選択的に接続する構成である。この装置も、センナの個
数が多くなると、切替スイッチ205として接点数の多
い高価なものが必要となるという問題のほか、センサと
切替スイッチのポジションとの対応の確認が容易でなく
チェック作業の能率が悪くなり、また誤りも起りゃすく
なるという問題が生じる。
The example in FIG. 2 has a configuration in which the outputs of the sensors 101 to 104 are selectively connected to a changeover switch 205 (therefore, one indicator lamp 2001'). In addition to the problem of requiring an expensive 205 with a large number of contacts, it is also difficult to confirm the correspondence between the sensor and the changeover switch position, which reduces the efficiency of checking work and increases the possibility of errors. occurs.

本発明は叙上の諸点に鑑みなされたもので、多数のセン
サをチェックする場合C=特に有利なセンサチェック装
置を提供することを目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and it is an object of the present invention to provide a sensor checking device that is particularly advantageous when checking a large number of sensors.

一般シー、機器)二組み込まれたセンサの機能チェック
は、各センサの出力状態が正常4ニオン、オフするか否
か、つまりセンナの状態切替えが正常(こ行なわれるか
を調べることに上限がある。本発明はこのような点に着
目したものである。
There is an upper limit to the function check of the built-in sensors (general sea, equipment), to check whether the output state of each sensor is normal or off, that is, whether the sensor state switching is normal (this is done). The present invention focuses on this point.

しかして本発明!−よるセンサチェック装置は、複数の
センナのそれぞれの出力の状態を一時記憶する記憶手段
と、各センサの出力の状態と該記憶手段番ニ一時記憶さ
れている状態とを比較し、不一致のセンサを1つでも検
出すると信号を出力する比較手段と、該比較手段の出力
信号(=応動する報知手段とを具備することを特徴とす
るものである。
However, this invention! - A sensor check device according to the present invention includes a storage means for temporarily storing the output state of each of a plurality of sensors, and compares the output state of each sensor with the state temporarily stored in the storage means number, and detects a mismatched sensor. The present invention is characterized by comprising a comparison means that outputs a signal when even one is detected, and a notification means that responds to the output signal of the comparison means.

以下、本発明の一実施例C二ついて第3図によって説明
する。
Hereinafter, two embodiments of the present invention will be explained with reference to FIG.

第3図において、1〜4はセンサである。これらセンサ
は、フォトセンサ、マイクロスイッチ、リードスイッチ
等のオン、オフの2つの出力伏ルを持つ素子である。な
お、説明を簡単にするためにセンサを4個としたが、こ
の個数は任意である。
In FIG. 3, 1 to 4 are sensors. These sensors are elements such as photo sensors, microswitches, reed switches, etc., which have two output states: on and off. Although the number of sensors is set to four to simplify the explanation, this number is arbitrary.

18は一時記憶回路であり、センサ1〜4のそれぞれに
対応付けられたり、型フリップフロップ9〜12より成
る。センサ1〜4の出力5〜Bはフリップフロップ9〜
12の対応するもののD(データ)入力);結合され、
各フリップフロップのT()りが)入力には共通のクロ
ックパルス31が供給すれる。クロックパルス31の立
上り(または立下り)の度に、フリップフロップ9〜1
2はそのD入力:二与えられているセンナ出力5〜8を
ラッチし、次のクロックパルスの立上り(または立下り
)まで一時的に保持する。
Reference numeral 18 denotes a temporary memory circuit, which is associated with each of the sensors 1 to 4 and is composed of type flip-flops 9 to 12. Outputs 5-B of sensors 1-4 are output from flip-flops 9-
12 corresponding D (data) inputs); combined;
A common clock pulse 31 is supplied to the T() input of each flip-flop. Each time the clock pulse 31 rises (or falls), the flip-flops 9-1
2 latches the senna outputs 5 to 8 given to its D input: 2 and temporarily holds them until the rise (or fall) of the next clock pulse.

センナ1〜4の出力5〜8は比較回路6にも入力される
。比較回路すは、センサl−4ζ二対応するX0R(排
他的論理和)ゲート13〜16と、これらxOBゲート
の出力の論理和出力届を得るOa(@理和)ゲート17
から成る。XORゲート13は、センサlの出力5と、
とのセンサ1の1クロツク前の出力状態に対応するフリ
ップフロップ9の出力21との排他的論理和をとる。つ
まり、センナ出力5と7リツプ7C1ツブ出力21とが
不一致のときのみ″1”を出力する。他のXORゲート
14〜16も同様に、センサ2〜4の出力6〜8と7リ
ツプフロツプ10〜12の出力22−24の比較を行な
い、不一致のときのみ@1mを出力する。X0fLゲー
ト13〜16のうちの1つでも1”を出力すると、OR
ゲート17の出・カルが@l#になる。
Outputs 5 to 8 of the sensors 1 to 4 are also input to a comparator circuit 6. The comparison circuit includes X0R (exclusive OR) gates 13 to 16 corresponding to sensors l-4ζ2, and an Oa (@RIWA) gate 17 that obtains the OR output of the outputs of these xOB gates.
Consists of. The XOR gate 13 outputs the output 5 of the sensor l,
and the output 21 of the flip-flop 9 corresponding to the output state of the sensor 1 one clock ago. In other words, "1" is output only when the senna output 5 and the 7-rip 7C1-tube output 21 do not match. Similarly, the other XOR gates 14 to 16 compare the outputs 6 to 8 of the sensors 2 to 4 and the outputs 22 to 24 of the 7 lip-flops 10 to 12, and output @1m only when they do not match. If any one of the X0fL gates 13 to 16 outputs 1", the OR
The output of gate 17 is @l#.

ORゲート17の出力加はD型フリップフロップ釘のT
入力に供給される。このフリップフロップτは、その′
″O#側出力がD入力)二接続されているので、ORゲ
ート出力がか“O″から”l″に変化するたびC二状態
を反転する、いわゆるトグル動作を行なう。
The output of the OR gate 17 is T of the D type flip-flop nail.
supplied to the input. This flip-flop τ is its′
Since the O# side output is connected to the D input, a so-called toggle operation is performed in which the C2 state is inverted every time the OR gate output changes from O to L.

四は例えば発光ダイオードなどの表示素子であり、フリ
ップフロップγの出力321=よって駆動される。なお
、茨示素子四は、ブザーなどの音響素子などと置き替え
てもよい。
4 is a display element such as a light emitting diode, which is driven by the output 321 of the flip-flop γ. Note that the thorn indicating element 4 may be replaced with an acoustic element such as a buzzer.

本実施例の動作を以下(二説明する。The operation of this embodiment will be explained below.

まずセンサ1〜4のすべての状態が固定している場合(
オン状態かオフ状態かは問わない)、センナ1〜4の出
力5〜8の現時点の状態と、フリップフロップ9〜12
(ニラツチされている状態(ある時間だけ前の状態)と
は同一であり、センサ出力5〜8とフリップフロップ出
力21〜24の対応するもの同士は同一レベル″″1m
または@Om)である。
First, if all the states of sensors 1 to 4 are fixed (
), the current state of outputs 5 to 8 of sensors 1 to 4, and flip-flops 9 to 12
(This is the same as the nirvanitized state (the state a certain amount of time ago), and the corresponding sensor outputs 5 to 8 and flip-flop outputs 21 to 24 are at the same level ""1m.
or @Om).

したがって、XORゲート13〜16の出力はすべて″
0mであり、ORゲート17の出力は′″0”である。
Therefore, the outputs of XOR gates 13 to 16 are all "
0m, and the output of the OR gate 17 is ``0''.

ゆえに、7リツプ70ツブ4の状態は不変であり、表示
素子四は点灯したま\か、あるいは消灯したままである
Therefore, the state of the 7 lip 70 tube 4 remains unchanged, and the display element 4 remains lit or turned off.

ここで、例えばセンサlの機能をチェックするには、セ
ンサ1の状態を反転させて表示素子の状態を観察する。
Here, for example, to check the function of the sensor 1, the state of the sensor 1 is reversed and the state of the display element is observed.

例えば、センサ1がもしマイクロスイッチだとすると、
その作動部を適当な方法で作動させる。センサlが正常
ならその出力5の状態が変化し、クロック゛パルス31
のあるタイミングでフリップフロップ出力21とセンサ
出力5の状態が不一致になり、その[にORゲート17
の出カ漢が@1”になる。ORゲート出力漢が″1”l
:なる度に7リツプフロツプ4の状態つまりその出力3
2の状態が反転し、衣示素子四が点滅する。
For example, if sensor 1 is a microswitch,
The actuating part is actuated in an appropriate manner. If the sensor l is normal, the state of its output 5 changes and the clock pulse 31
At a certain timing, the states of the flip-flop output 21 and the sensor output 5 become inconsistent, and the OR gate 17
The output character of is @1". The OR gate output character is "1"l
:The state of 7 lip-flop 4, that is, its output 3
The state of 2 is reversed, and display element 4 blinks.

つまり、表示素+9が点滅すれば、センサ1が正常C=
動作しているとhうことである。センサ1を作動操作を
行なっても表示素+9が点灯したままか消灯したままな
らは、センサlが正常1;働いていないということであ
る。これは、以上の説明から容易に理解できよう。
In other words, if display element +9 blinks, sensor 1 is normal C=
It's amazing when it's working. If the display element +9 remains on or off even after the sensor 1 is operated, it means that the sensor 1 is normal 1; it is not working. This can be easily understood from the above explanation.

他のセンナ2〜4についても、同様の手順(:よって機
能チェックを行なうことができる。
The same procedure (: Therefore, the function check can be performed for the other sensors 2 to 4 as well.

ここまでの説明から明らかなように、本発明のセンサチ
ェック装置は、センナの状態そのものを調べるのではな
く、センサの状態変化を検出し、表示素子などの報告手
段で検出結果を報知するものである。
As is clear from the above description, the sensor check device of the present invention does not check the state of the sensor itself, but rather detects changes in the state of the sensor and reports the detection results using reporting means such as a display element. be.

以上、一実施例(一ついて説明したが、本発明はこの実
施例:二限定されるものではない。
Although one embodiment has been described above, the present invention is not limited to this embodiment.

まず、センナの個数は任意である。例えは繭記実M例で
は、センサのS+数ζ二合せて記憶回路18の7リツプ
フロツプおよび比較回路δのXORゲートの個数を増減
するだけで、任意の個数のセンナのチェックを行なうこ
とができる。
First, the number of senna is arbitrary. For example, in the case of the Mayuki real M example, an arbitrary number of sensors can be checked by simply increasing or decreasing the number of sensors S + number ζ 2, 7 lip-flops of the memory circuit 18, and the XOR gate of the comparator circuit δ. .

また、記憶回路18や比較回路5などの具体的構成は棉
々変形が可能であり、さら(二マイクロコンピュータの
機能で区き換えることも可能である。
Furthermore, the specific configurations of the memory circuit 18, the comparison circuit 5, etc. can be modified in various ways, and furthermore, it is also possible to change the functions of the two microcomputers.

本発明のセンサチェック装置は以上(二述べた如くであ
り、次のような利点を有する。
The sensor check device of the present invention has been described above and has the following advantages.

(1)センサの個数(二l係なく、チェック結果を報告
するための表示素子などは1つでよく、第1図の従来構
成のような問題が生じない。
(1) Regardless of the number of sensors (21), only one display element is required to report the check results, and the problem of the conventional configuration shown in FIG. 1 does not occur.

(2)第2図の従来技術のような切管スイッチが不要で
あり、切替スイッチの切替操作や、切替スイッチのポジ
ションとセンナとの対応を確認する必要がないため、チ
ェック作業が極めて簡単かり迅速(二なる。
(2) There is no need for a cut-off switch like in the conventional technology shown in Figure 2, and there is no need to operate the changeover switch or check the correspondence between the changeover switch position and the senna, making checking extremely easy. swift (secondary)

(3)センサの個数が多くなった場合に、従来構成より
も一般1ニコスト的に有利である。
(3) When the number of sensors increases, it is generally more cost effective than the conventional configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図および第2因はそれぞれ従来のセンサチェック装
置の構成を示すブロック図、$ 31:Qlは本発明に
よるセンサチェック装置の−&lJを示すブロック図で
ある。 1〜4・・・センサ、 9〜12.27・・・7リツプ
プロツプ、 13〜16・・・XORゲート、 17・
・・ORゲート、 18・・・記憶回路、 5・・・比
較111路、 四・・・表示素子。 第1図   第2図 第3図
FIGS. 1 and 2 are block diagrams showing the configuration of a conventional sensor check device, respectively, and $31:Ql is a block diagram showing -&lJ of the sensor check device according to the present invention. 1-4...sensor, 9-12.27...7 lip prop, 13-16...XOR gate, 17.
...OR gate, 18...memory circuit, 5...comparison 111 path, 4...display element. Figure 1 Figure 2 Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、複数のセンサのそれぞれの出力状態を一時記憶する
記憶手段と、該各センサの出力状態と該記憶手段に一時
記憶されている対応の出力状態とを比較し、該複数のセ
ンサのうちの1つでも不一致を検出すると信号を出力す
る比較手段と、該比較手段の出力信号C:応動する報知
手段とを具備することを特徴とするセンサチェック装置
1. A storage means for temporarily storing the output state of each of the plurality of sensors, and comparing the output state of each sensor with the corresponding output state temporarily stored in the storage means, A sensor check device comprising a comparison means that outputs a signal when even one discrepancy is detected, and a notification means that responds to the output signal C of the comparison means.
JP11505581A 1981-07-24 1981-07-24 Sensor checking apparatus Pending JPS5818798A (en)

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